JPS5951722B2 - 正特性サ−ミスタ等の電極形成法 - Google Patents

正特性サ−ミスタ等の電極形成法

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JPS5951722B2
JPS5951722B2 JP17204679A JP17204679A JPS5951722B2 JP S5951722 B2 JPS5951722 B2 JP S5951722B2 JP 17204679 A JP17204679 A JP 17204679A JP 17204679 A JP17204679 A JP 17204679A JP S5951722 B2 JPS5951722 B2 JP S5951722B2
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JP
Japan
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temperature coefficient
positive temperature
silver
electrode
formation method
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JP17204679A
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JPS5693302A (en
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時則 荒木
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Refrigeration Co
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は正特性サーミスタにオーム性接触する電極の形
成法に関するものである。
従来より正特性サーミスタの電極としては主としてオー
ム性接触を得るための銀焼付は電極やニッケル無電解メ
ッキ薄膜の上に外部端子と電気的接続するための接触抵
抗の小さい銀ペーストを塗布したものが用いられている
しかし、これらの銀電極材料の溶剤やメッキ液中に含ま
れる塩素イオンのために、長時間高湿度雰囲気に放置さ
れたり、その用途上常温から150℃程度の温度サイク
ルを非常に数多くくす返されると電極材料の主成分であ
る銀と塩素イオンが化学反応を生じて非導電性の塩化銀
(AgC1)が電極中に形成され、その結果、電極の固
有抵抗が上昇し、正特性サーミスタとしての特性を著し
く低下させていた。
本発明は上記のような欠点を除去するために、予め、銀
電極材料やニッケルメッキ層内に含まれている塩素イオ
ンを除去し、塩化銀の発生をなくすことにより耐湿性、
耐熱性のすぐれた電極を形成し信頼性の高い正特性サー
ミスタを得ることを目的とするもので゛ある。
以下、本発明による正特性サーミスタの電極形成法を一
実施例に従って詳述する。
第1図において1,1′は、絶縁材料で作られたケース
、2,2′は該ケースに互いに対面して植立された1対
のバネ端子で、バネ金属材をもって形成され、これらバ
ネ端子間には正特性サーミスタ3が挾持されている。
正特性サーミスタ3は第2図に示すように正特性サーミ
スタ素体4の両面に、ニッケル無電解メッキ層あるいは
錫、アルミニウム、亜鉛などの卑金属を鎖中に含有させ
た銀焼付層5. 5’と銀皮膜6,6′とが形成されて
いる。
ニッケル無電解メッキ層あるいは卑金属を含有させた銀
焼付層5,5′はいずれの場合もそれぞれ適当な温度で
処理することにより素体4との接着性を高められており
、素体とオーム性接触している(以下5,5′をオーミ
ック層と呼ぶ)。
銀皮膜6,6′は銀ペイントをスクリーン印刷した後に
加熱して前記オーミック層5,5′に完全に電気的に密
着している。
この銀皮膜6,6′はバネ端子2,2′との間の接触電
気抵抗を減じて、電流の流通開始時め大きな初期電流に
よる電極の焼損を防いでいる。
:しかしこのような正特性サーミスタ3の電極形成にお
いては、ニッケル無電解メッキ溶液や、銀電極材料の溶
剤の中に必然的に塩素イオンが含有きれるため、従来は
、正特性サーミスタを長時間高湿度雰囲気に放置したり
、その用途上常温から150℃程度の温度サイクルを非
常に数多くくす返すと、電極材料の主成分である銀と塩
素イオンが化学反応を生じて非導電性の塩化銀(AgC
1)が電極中に形成され、その結果電極の固有抵抗が上
昇し、正特性サーミスタとしの特性を著しく低下させて
いた。
本発明は、上記のような欠点を除去するために正特性サ
ーミスタ素体4の両面にオーミック層5.5′を形成し
、オーミック層の雨上面に銀皮膜6,6′を形成した正
特性サーミスタ3を純水にて煮沸し、100℃30分銀
電極材料やニッケルメッキ層内に含まれている塩素イオ
ンを除去した後、真空乾燥(700mmHg以下、12
0℃、120分)を施している。
次に、本発明の効果を確認するために、次に示す試験を
行った。
試験 従来の正特性サーミスタ素体4にオーミック層5.5′
を銀皮膜6,6′を形成しただけのサンプルnを10個
と、本発明による煮沸及び真空乾燥を施したサンプルn
を10個と同一恒温恒湿槽(40℃、95%)に放置し
、25℃における正特性サーミスタの抵抗値の経時変化
を測定した結果第3図に示すように500時間後の抵抗
上昇率は従来品Aに対し本発明Bが1/3程度と明らか
に効果があった。
また、第4図に示す回路でONI分間、 0FF5分間
の0N−OFFサイクルを加えて常温から150℃程度
の温度サイクルをくり返した結果も第5図に示すように
抵抗上昇率は低く効果があった。
以上の説明から明らかなように、本発明による正特性サ
ーミスタの電極形成法は、正特性サーミスタにおいて、
被着電極材料を正特性サーミスタの表面に付与した後、
純水にて煮沸し、その後真空乾燥に施しているので、銀
電極材料やニッケルメッキ層内に含まれている塩素イオ
ンが除去され、長時間高温雰囲気中に放置しても、常温
から約150℃程度の温度サイクルを数多くくり返して
も、塩素イオンがないため電極中に塩化銀は発生せず。
その結果、電極の固有抵抗も上昇せず、耐湿性、耐熱性
のすぐれた電極を得ることができるので、高温中に放置
しても、頻繁な反覆通電による温度サイクルによって特
性劣化を来たさない正特性サーミスタ等の電極を得るこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を実施した正特性サーミスタの取付状態
を示す断面図、第2図は第1図における正特性サーミス
タの縦断面図、第3図は本発明による正特性サーミスタ
と従来品の耐湿性テスト結果を示す比較グラフ、第4図
は正特性サーミスタに温度サイクルを加える0N−OF
Fテスト回路図、第5図は第4図の回路での温度サイク
ルテストの本発明による正特性サーミスタと従来品の比
較グラフである。 4・・・・・・素体、5,5′・・・・・・オーミック
層、6゜6′・・・・・・銀皮膜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 正特性サーミスタ等の素体表面にオーミック層を形
    成し、更にこのオーミック層の表面に銀皮膜を形成し、
    その後、純水にて煮沸し、さらに真空乾燥を施してなる
    正特性サーミスタ等の電極形成法。
JP17204679A 1979-12-26 1979-12-26 正特性サ−ミスタ等の電極形成法 Expired JPS5951722B2 (ja)

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JP17204679A JPS5951722B2 (ja) 1979-12-26 1979-12-26 正特性サ−ミスタ等の電極形成法

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JPS5693302A JPS5693302A (en) 1981-07-28
JPS5951722B2 true JPS5951722B2 (ja) 1984-12-15

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JP17204679A Expired JPS5951722B2 (ja) 1979-12-26 1979-12-26 正特性サ−ミスタ等の電極形成法

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JP (1) JPS5951722B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59130432U (ja) * 1983-02-19 1984-09-01 ヤンマー農機株式会社 排藁結束装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS59130432U (ja) * 1983-02-19 1984-09-01 ヤンマー農機株式会社 排藁結束装置

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JPS5693302A (en) 1981-07-28

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