JPS5952509B2 - 撮像管タ−ゲツト - Google Patents
撮像管タ−ゲツトInfo
- Publication number
- JPS5952509B2 JPS5952509B2 JP50088746A JP8874675A JPS5952509B2 JP S5952509 B2 JPS5952509 B2 JP S5952509B2 JP 50088746 A JP50088746 A JP 50088746A JP 8874675 A JP8874675 A JP 8874675A JP S5952509 B2 JPS5952509 B2 JP S5952509B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- tube target
- in2te3
- znte
- image pickup
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Light Receiving Elements (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は撮像管ターゲットの改良に関する。
本出願人は高感度など諸特性においてすぐれたZnSe
−(Znl−yCdyTe)1−、(In2Te3)2
の物質を用いた異種接合構造を持つた撮像管ターゲット
を提案してきた。しかしこのターゲットを用いた撮像管
においても使用電圧幅(ΔV)が2〜3Vフであり、一
方このΔVは撮像管としての使いやすさや画質に対応す
ることから、ΔVの向上は重要な問題であつたにこで、
ΔVはキズ発生電圧Vmaxと焼付消滅電圧Vm、nと
の差として定義される。)。夕 したがつて、本発明の
目的は使いやすく、しかも画質の向上を図ることのでき
る撮像管ターゲットを提供することにある。
−(Znl−yCdyTe)1−、(In2Te3)2
の物質を用いた異種接合構造を持つた撮像管ターゲット
を提案してきた。しかしこのターゲットを用いた撮像管
においても使用電圧幅(ΔV)が2〜3Vフであり、一
方このΔVは撮像管としての使いやすさや画質に対応す
ることから、ΔVの向上は重要な問題であつたにこで、
ΔVはキズ発生電圧Vmaxと焼付消滅電圧Vm、nと
の差として定義される。)。夕 したがつて、本発明の
目的は使いやすく、しかも画質の向上を図ることのでき
る撮像管ターゲットを提供することにある。
以下本発明を図面とともに説明する。
第1図は本発明の撮像管ターゲットの一例を示フす断面
図である。
図である。
図において、1はガラス基板、2は透明性導電膜、3は
ZnS、−xSexまたはZn、−wCdwS、4は(
Znl−yCdyTe)1−2(In。Te、)O、5
は(ZnTe)、−り(In″Te、)りである。次に
、その撮像管ターゲットの製造方法の一例をのべる。
ZnS、−xSexまたはZn、−wCdwS、4は(
Znl−yCdyTe)1−2(In。Te、)O、5
は(ZnTe)、−り(In″Te、)りである。次に
、その撮像管ターゲットの製造方法の一例をのべる。
あらかじめ透明性導電膜2を形成したガラス基板1上に
ZnS、−xSexまたはZn、−wCdwS、を基板
温度100〜400℃にて0.03〜1μmの厚さに蒸
着し、その上に(Zn、−yCdyTe)、−2J(I
n2Te3)Z4を基板温度150〜250℃にて1〜
7μm蒸着する。更に、その上に(ZnTe)1−り(
In2Te。)り5を基板温度100 〜250℃にて
0.03〜0.15μmの厚さに真空蒸着により形成す
る。このようにして得られた膜を真空中において300
〜700℃の温度範囲で5〜200分間の熱処理を施す
ことにより諸特性が優れ、とりわけΔVが大きく画質の
よい撮像管ターゲットが得られる。第2図に第一層とし
てZnsel第二層に(ZnO.7CdO.3Te)。
ZnS、−xSexまたはZn、−wCdwS、を基板
温度100〜400℃にて0.03〜1μmの厚さに蒸
着し、その上に(Zn、−yCdyTe)、−2J(I
n2Te3)Z4を基板温度150〜250℃にて1〜
7μm蒸着する。更に、その上に(ZnTe)1−り(
In2Te。)り5を基板温度100 〜250℃にて
0.03〜0.15μmの厚さに真空蒸着により形成す
る。このようにして得られた膜を真空中において300
〜700℃の温度範囲で5〜200分間の熱処理を施す
ことにより諸特性が優れ、とりわけΔVが大きく画質の
よい撮像管ターゲットが得られる。第2図に第一層とし
てZnsel第二層に(ZnO.7CdO.3Te)。
.95(In2Te3)。.05第三層に(ZnTe)
。.,9(In2Te3)。.01を用いて、第三層の
膜厚を変えた時の諸特性の変化を示す。この図さら明ら
かなように、膜厚が0.03μm以上でキズ発生電圧V
maxが向上し、焼付発生電圧Vminは0.15μm
以上で上昇しはじめる。従つてVminとVmaxとの
差ΔVは0.03〜0.15μmの間で最適値を有する
。かつまた、この時に画質の向上もみられる。また(Z
nTe)。.99(In2Te3)。.o)の存在によ
る他の諸特性は変化がみられない。なお特願昭48−8
8025号において提案したものでは(ZnTe)1−
v(In2Te3)vの存在により暗電流と赤感度の低
下をもたらすが、本発明ではそのような特性の変化を招
くことなくVmaxを向上させる格別の効果がある。第
3図には(ZnTe)1−v(In2Te3)V(7)
Vを変えた結果を示す。
。.,9(In2Te3)。.01を用いて、第三層の
膜厚を変えた時の諸特性の変化を示す。この図さら明ら
かなように、膜厚が0.03μm以上でキズ発生電圧V
maxが向上し、焼付発生電圧Vminは0.15μm
以上で上昇しはじめる。従つてVminとVmaxとの
差ΔVは0.03〜0.15μmの間で最適値を有する
。かつまた、この時に画質の向上もみられる。また(Z
nTe)。.99(In2Te3)。.o)の存在によ
る他の諸特性は変化がみられない。なお特願昭48−8
8025号において提案したものでは(ZnTe)1−
v(In2Te3)vの存在により暗電流と赤感度の低
下をもたらすが、本発明ではそのような特性の変化を招
くことなくVmaxを向上させる格別の効果がある。第
3図には(ZnTe)1−v(In2Te3)V(7)
Vを変えた結果を示す。
膜厚は全て0.10〜0.11μmである。vはその値
に関係なくVmaxを向上せしめ、ΔVを大きくしてい
る。従つて(ZnTe)1−v(In2Te3)は膜厚
が0.03〜0.15Δmとした時、諸特性を悪化させ
ることなくΔVとして3〜4V向上せしめ、画質の向上
をもたらす効果がある。カラー撮像管ターゲツトとして
使用する時は青感度を上昇させるために、Znsl−X
seX、またはZnl−WcdWsを用いる。このよう
に第一層が変化した時にも第三層がVmaxの向上に寄
与するかどうかをみたのが第1表である。同表から第三
層は第一層にかかわりなく、ΔVを向上させていること
がわかる。
に関係なくVmaxを向上せしめ、ΔVを大きくしてい
る。従つて(ZnTe)1−v(In2Te3)は膜厚
が0.03〜0.15Δmとした時、諸特性を悪化させ
ることなくΔVとして3〜4V向上せしめ、画質の向上
をもたらす効果がある。カラー撮像管ターゲツトとして
使用する時は青感度を上昇させるために、Znsl−X
seX、またはZnl−WcdWsを用いる。このよう
に第一層が変化した時にも第三層がVmaxの向上に寄
与するかどうかをみたのが第1表である。同表から第三
層は第一層にかかわりなく、ΔVを向上させていること
がわかる。
以上のことより、第一層の物質としては上記物質に限定
されるものではなくZnO等のバンドギヤツプが大なる
物質においても同様な効果が得られるものである。
されるものではなくZnO等のバンドギヤツプが大なる
物質においても同様な効果が得られるものである。
第1図は本発明の撮像管ターゲツトの一例を示す断面図
、第2図は(ZnTe)1−V(In2Te3)vの諸
特性に及ぼす膜厚の効果を説明する図、第3図は(Zn
Te)1−v(In2Te3)V(7)V依存性を示す
図である。 1・・・ガラス基板、2・・・透明性導電膜、3・・・
Znsl−XseXまたはZnl−WCdwS4...
(Znl−YCdyTe) 1−2 (In2Te3)
z、5・・・(ZnTe)1−v(1n2Te3)V
。
、第2図は(ZnTe)1−V(In2Te3)vの諸
特性に及ぼす膜厚の効果を説明する図、第3図は(Zn
Te)1−v(In2Te3)V(7)V依存性を示す
図である。 1・・・ガラス基板、2・・・透明性導電膜、3・・・
Znsl−XseXまたはZnl−WCdwS4...
(Znl−YCdyTe) 1−2 (In2Te3)
z、5・・・(ZnTe)1−v(1n2Te3)V
。
Claims (1)
- 1 透明性導電膜を有する透明基板上に少なくとも(Z
n_1−_yCd_yTe)_1−_z(In_2Te
_3)_zなる物質を第二層として含み、第一層として
第二層よりもバンドギャップが大なる物質を形成し、更
に第二層上に第三層として(ZnTe)_1−_v(I
n_2Te_3)_vなる物質を膜厚が0.03〜0.
15μmの範囲内にあるごとく形成してなる撮像管ター
ゲット。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50088746A JPS5952509B2 (ja) | 1975-07-18 | 1975-07-18 | 撮像管タ−ゲツト |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50088746A JPS5952509B2 (ja) | 1975-07-18 | 1975-07-18 | 撮像管タ−ゲツト |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5211816A JPS5211816A (en) | 1977-01-29 |
| JPS5952509B2 true JPS5952509B2 (ja) | 1984-12-20 |
Family
ID=13951465
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50088746A Expired JPS5952509B2 (ja) | 1975-07-18 | 1975-07-18 | 撮像管タ−ゲツト |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5952509B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56147343A (en) * | 1980-04-17 | 1981-11-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Manufacture of target for image pickup tube |
| JPH0325460U (ja) * | 1989-07-19 | 1991-03-15 |
-
1975
- 1975-07-18 JP JP50088746A patent/JPS5952509B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5211816A (en) | 1977-01-29 |
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