JPS5953640B2 - 記憶装置 - Google Patents
記憶装置Info
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- JPS5953640B2 JPS5953640B2 JP51137563A JP13756376A JPS5953640B2 JP S5953640 B2 JPS5953640 B2 JP S5953640B2 JP 51137563 A JP51137563 A JP 51137563A JP 13756376 A JP13756376 A JP 13756376A JP S5953640 B2 JPS5953640 B2 JP S5953640B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 3
- 208000011580 syndromic disease Diseases 0.000 description 8
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、情報処理装置に関し、特に電子計算機等の主
記憶装置の高速記憶装置に関する。
記憶装置の高速記憶装置に関する。
従来、電子計算機等の情報処理装置の主記憶装置等の高
速でかつ大容量の記憶装置においては、それに記憶され
た情報内容の信頼性を向上させるために、ハミング符号
等の誤り訂正符号を付加して用いていた。例えば、ハミ
ング符号数mは、情報符号数にとすれば、に≦2m−m
−1必要であり、情報符号数の少ないこの種の記憶装置
においては、誤り訂正符号数の割合が多くなり、経済性
を害することになる欠点があつた。本発明の目的は、誤
り訂正符号を複数個のアドレスの情報ビットに1つ各ア
ドレスに分散させて付加することにより、情報符号数に
対する誤り訂正符号数の割合を減少させると共に、各ア
ドレスの情報ビットに付加された誤り訂正符号の一部を
用いて、読み出された記憶情報に誤りがあるかどうかを
判定し、誤りがなければそのまま読出し、誤りがあれば
これらの複数個のアドレスの全てを読出し訂正を行なう
ことができる記憶装置を提供することにある。
速でかつ大容量の記憶装置においては、それに記憶され
た情報内容の信頼性を向上させるために、ハミング符号
等の誤り訂正符号を付加して用いていた。例えば、ハミ
ング符号数mは、情報符号数にとすれば、に≦2m−m
−1必要であり、情報符号数の少ないこの種の記憶装置
においては、誤り訂正符号数の割合が多くなり、経済性
を害することになる欠点があつた。本発明の目的は、誤
り訂正符号を複数個のアドレスの情報ビットに1つ各ア
ドレスに分散させて付加することにより、情報符号数に
対する誤り訂正符号数の割合を減少させると共に、各ア
ドレスの情報ビットに付加された誤り訂正符号の一部を
用いて、読み出された記憶情報に誤りがあるかどうかを
判定し、誤りがなければそのまま読出し、誤りがあれば
これらの複数個のアドレスの全てを読出し訂正を行なう
ことができる記憶装置を提供することにある。
本発明は、データと第1の検査ビットと第2の検査ビッ
トとを一組の情報とし、一群をなす複数組の前記情報の
うちの複数のデータによつて各組の第1の検査ビットが
作成され、各組に属するデータと第1の検査ビットのす
べてによりそれぞれの組の第2の検査ビットが作成され
る1以上の群を1組単位で記憶する記憶手段と、この記
憶手段のアドレスを指定するアドレス指定手段と、この
アドレス指定手段から出力されるアドレス指定信号によ
り前記一組の情報を読み出した後、前記一組の情報の全
てのビットに対し前記第2の検査ビットを用いてパリテ
イ検査を行ない1ビット誤りがあるか否かを検出する1
ビット誤り検出回路と、この検出により誤りがある場合
、この組が属する群の複数組の情報を前記記憶手段から
読み出してこの群の前記第1および第2の検査ビットを
用いて1ビット誤りを訂正する誤り訂正回路とを含むこ
とを特徴とする構成である。
トとを一組の情報とし、一群をなす複数組の前記情報の
うちの複数のデータによつて各組の第1の検査ビットが
作成され、各組に属するデータと第1の検査ビットのす
べてによりそれぞれの組の第2の検査ビットが作成され
る1以上の群を1組単位で記憶する記憶手段と、この記
憶手段のアドレスを指定するアドレス指定手段と、この
アドレス指定手段から出力されるアドレス指定信号によ
り前記一組の情報を読み出した後、前記一組の情報の全
てのビットに対し前記第2の検査ビットを用いてパリテ
イ検査を行ない1ビット誤りがあるか否かを検出する1
ビット誤り検出回路と、この検出により誤りがある場合
、この組が属する群の複数組の情報を前記記憶手段から
読み出してこの群の前記第1および第2の検査ビットを
用いて1ビット誤りを訂正する誤り訂正回路とを含むこ
とを特徴とする構成である。
本発明の原理を表1及び第1図を用いて説明する。
記憶装置のO及び1番地に、それぞれD。
,Dl,D2,D3及びD4,D5,D6,D7の各4
ビツトの情報符号を記憶させるものとする。特にD。−
D3及びD4〜D7がそれぞれ第1図の1及び2のよう
に与えられたとき、これらの情報符号から表1のパリテ
イ検査マトリクスを用いて上記マトリクスの各行のパリ
テイをとることにより誤り訂正符号POPlP2P3P
4P5がつくられる。これは、あらかじめ定められたデ
ータであり、この作成方法は以下に示すような式で作成
できる。これは、前記記憶装置に対して与えられ符号e
は排他的論理和を示す。
ビツトの情報符号を記憶させるものとする。特にD。−
D3及びD4〜D7がそれぞれ第1図の1及び2のよう
に与えられたとき、これらの情報符号から表1のパリテ
イ検査マトリクスを用いて上記マトリクスの各行のパリ
テイをとることにより誤り訂正符号POPlP2P3P
4P5がつくられる。これは、あらかじめ定められたデ
ータであり、この作成方法は以下に示すような式で作成
できる。これは、前記記憶装置に対して与えられ符号e
は排他的論理和を示す。
まず表1において
であり、表2に対しては、
であり、表3において
の各式によつて求めうる。
すなわち、表1においてOで囲まれたものが誤り訂正符
号P。
号P。
−P5としてつくられる。DO−D7にP。−P5が付
加されて第1図の3が生成されると、第1図の4及び5
がそれぞれO番地及び1番地に書き込まれる。次に、0
番地が読み出されると、第1図の6のような記憶内容が
読み出され、表1を用いて第1行すなわちC2の行のパ
リテイをとると、第1図の8のようにOとなり、第1図
の6の情報符号D。
加されて第1図の3が生成されると、第1図の4及び5
がそれぞれO番地及び1番地に書き込まれる。次に、0
番地が読み出されると、第1図の6のような記憶内容が
読み出され、表1を用いて第1行すなわちC2の行のパ
リテイをとると、第1図の8のようにOとなり、第1図
の6の情報符号D。
〜D3には誤りのないことがわかり、第1図の7のよう
な情報符号が読み出される。一方、第1図の9に示すよ
うに、例えばD。に誤りがある記憶情報がO番地から読
み出されると、表1のC2の行のパリテイをとると今度
は、第1図の10のように1となり、第1図の9に示さ
れた記憶情報中に誤りがあることがわかる。このような
場合には、1番地の記憶情報、第1図の11に示された
ものを読み出すことにより、DO−D7及びP。−P5
から表1を用いて、各行のパリテイをとつてシンドロー
ムC22C5ラCOラClyC3ラC4を求めると)第
1図の12のように、C2,CO,Clが1となるので
、表1からD。に誤りがあることがわかり、第1図の1
3のようにD。の誤りが訂正されて、正して情報が得ら
れる。以上の説明から明らかなように、0番地の記憶情
報D。
な情報符号が読み出される。一方、第1図の9に示すよ
うに、例えばD。に誤りがある記憶情報がO番地から読
み出されると、表1のC2の行のパリテイをとると今度
は、第1図の10のように1となり、第1図の9に示さ
れた記憶情報中に誤りがあることがわかる。このような
場合には、1番地の記憶情報、第1図の11に示された
ものを読み出すことにより、DO−D7及びP。−P5
から表1を用いて、各行のパリテイをとつてシンドロー
ムC22C5ラCOラClyC3ラC4を求めると)第
1図の12のように、C2,CO,Clが1となるので
、表1からD。に誤りがあることがわかり、第1図の1
3のようにD。の誤りが訂正されて、正して情報が得ら
れる。以上の説明から明らかなように、0番地の記憶情
報D。
−D3,PO−P2及び1番地の記憶情報D4〜D7,
P3〜P5に対して、それぞれパリテイC2及びC5を
求めることにより1ビツトの誤りがあるかどうか明らか
にされ、もし誤りがなければ、当該番地をそのまま読み
出し、一方誤りがあれば両番地を読み出すと共にシンド
ロームC2,C5,CO,Cl,C3,C4を得ること
により、1ビツトの訂正を行なつて読み出すことにより
、情報符号に対する誤り訂正符号の比率を少なくするこ
とができる。表2に示したのは、偶数番地へD。−D7
を奇数番地へD8〜Dl5が記憶されるような場合の誤
り訂正符号P。
P3〜P5に対して、それぞれパリテイC2及びC5を
求めることにより1ビツトの誤りがあるかどうか明らか
にされ、もし誤りがなければ、当該番地をそのまま読み
出し、一方誤りがあれば両番地を読み出すと共にシンド
ロームC2,C5,CO,Cl,C3,C4を得ること
により、1ビツトの訂正を行なつて読み出すことにより
、情報符号に対する誤り訂正符号の比率を少なくするこ
とができる。表2に示したのは、偶数番地へD。−D7
を奇数番地へD8〜Dl5が記憶されるような場合の誤
り訂正符号P。
−P5の発生方法を示すパリテイ検査マトリクスの1例
で、誤り訂正符号P。,P,,P2及びP3,P4,P
5はそれぞれ偶数番地及び奇数番地に情報符号D。−D
,及びD8〜D,,と共に記憶される。又、表3に示し
たのは、偶数番地へD。〜D,5を、奇数番地へD,6
〜D3lが記憶されるような場合の誤り訂正符号P。−
P,の発生方法を示すパリテイ検査マトリクスの1例で
、誤り訂正符号P。−P3及びP4〜P7はそれぞれD
。−Dl5と共に偶数番地及びD,6〜D3lと共に奇
数番地へ記憶される。なお、表2におけるP,及びP5
はそれぞれD。
で、誤り訂正符号P。,P,,P2及びP3,P4,P
5はそれぞれ偶数番地及び奇数番地に情報符号D。−D
,及びD8〜D,,と共に記憶される。又、表3に示し
たのは、偶数番地へD。〜D,5を、奇数番地へD,6
〜D3lが記憶されるような場合の誤り訂正符号P。−
P,の発生方法を示すパリテイ検査マトリクスの1例で
、誤り訂正符号P。−P3及びP4〜P7はそれぞれD
。−Dl5と共に偶数番地及びD,6〜D3lと共に奇
数番地へ記憶される。なお、表2におけるP,及びP5
はそれぞれD。
〜D7,PO,P2及びD,〜Dl,,P3,P4に対
してつくられ、表2におけるP,及びP,はそれぞれD
O5Dl59PO″P2及びDl6ゝD3lPP4″P
6に対してつくられ、表2に説明した場合と同様で、い
ずれも誤り訂正符号はOで囲まれたものが最終的につく
られる。ハミング符号と比べて、表2又は表3のパリテ
イ検査マトリクスを付加して、記憶情報を2つのアドレ
スへ記憶させた場合、いずれも1ビツトの誤り訂正符号
が減少することになる。
してつくられ、表2におけるP,及びP,はそれぞれD
O5Dl59PO″P2及びDl6ゝD3lPP4″P
6に対してつくられ、表2に説明した場合と同様で、い
ずれも誤り訂正符号はOで囲まれたものが最終的につく
られる。ハミング符号と比べて、表2又は表3のパリテ
イ検査マトリクスを付加して、記憶情報を2つのアドレ
スへ記憶させた場合、いずれも1ビツトの誤り訂正符号
が減少することになる。
次に本発明の一実施例について、第2図を参照して説明
する。
する。
第2図を参照すると、本発明の一実施例はkビツトの書
込情報70を入力とし、偶数アドレスの書き込情報を保
持する書込みレジスタ50、書込情報70を入力とし、
奇数アドレスの書込情報を保持する書込レジスタ51、
書込レジスタ50及び51の書込情報出力72及び73
を入力とし、偶数アドレスに書き込まれる誤り訂正符号
74及び奇数アドレスに書き込まれる誤り訂正符号75
を出力する1ビツトの誤り訂正符号発生回路52、偶数
アドレスへ書き込まれる符号74及び書込レジスタ50
の出力である72又は奇数アドレスへ書き込まれる符号
75及び書込レジスタ51の出力である73を、それぞ
れ誤り訂正符号76及び書込み情報77として出力する
マルチプレクサ53と、入力76及び77を指定された
アドレスに記憶させ誤り訂正符号78及び読出情報79
を出力とする記憶回路54、偶数番地から読み出された
誤り訂正符号78及び読出情報79を入力として、これ
らを保持する読出情報レジスタ55、奇数番地から読み
出された78及び79を入力として、これらを保持する
読出情報レジスタ56,55の出力である偶数アドレス
から読み出された誤り訂正符号及び読出情報80、並び
に56の出力である奇数アドレスから読み出された誤り
訂正符号及び読出情報81を入力とし、この情報80又
は81に1ビツトの誤りがあるかどうかを示す信号84
を出力する誤り検査回路57、前記情報80及び81を
入力としシンドローム符号82を出力するシンドローム
発生回路58、シンドローム82を入力とし、誤り位置
を解読し誤り位置を指定する信号83を出力とする誤り
位置解読回路59、誤り位置指定信号83、情報80及
び81のうち読出情報を入力として、誤り位置指定信号
83により80又は81の誤りを訂正し、かつ指定され
た偶数アドレス又は奇数アドレスに記憶された情報85
を出力する誤り訂正回路60と、アドレス及び読出又は
書込命令入力信号71並ぴに誤り検査回路の出力信号8
4を入力とし、書込レジスタ50及び51をそれぞれセ
ツトする信号86及び87、マルチプレクサ53の出力
76及び77が偶数アドレスへ書き込まれるものか、奇
数アドレスへ書き込まれるものかを切替える信号88記
憶回路54の指定されたアドレスに書込み又は読出しを
行なわせる信号89、読出しレジスタ55及び56にそ
れぞれ偶数アドレスの誤り訂正符号78及び読出情報7
9をセツトする信号90及び奇数アドレスの78及び7
9をセツトする信号91、誤り検査回路57の入力80
又は81のいずれかについて検査を行なわせるかを指定
する信号92、誤り位置解読回路59の出力83を出力
させる信号93と誤り訂正回路60の出力85として偶
数アドレスの情報と奇数アドレスの情報のうちいずれを
与えるかを指定する信号94を出力する制御回路61と
を含む。
込情報70を入力とし、偶数アドレスの書き込情報を保
持する書込みレジスタ50、書込情報70を入力とし、
奇数アドレスの書込情報を保持する書込レジスタ51、
書込レジスタ50及び51の書込情報出力72及び73
を入力とし、偶数アドレスに書き込まれる誤り訂正符号
74及び奇数アドレスに書き込まれる誤り訂正符号75
を出力する1ビツトの誤り訂正符号発生回路52、偶数
アドレスへ書き込まれる符号74及び書込レジスタ50
の出力である72又は奇数アドレスへ書き込まれる符号
75及び書込レジスタ51の出力である73を、それぞ
れ誤り訂正符号76及び書込み情報77として出力する
マルチプレクサ53と、入力76及び77を指定された
アドレスに記憶させ誤り訂正符号78及び読出情報79
を出力とする記憶回路54、偶数番地から読み出された
誤り訂正符号78及び読出情報79を入力として、これ
らを保持する読出情報レジスタ55、奇数番地から読み
出された78及び79を入力として、これらを保持する
読出情報レジスタ56,55の出力である偶数アドレス
から読み出された誤り訂正符号及び読出情報80、並び
に56の出力である奇数アドレスから読み出された誤り
訂正符号及び読出情報81を入力とし、この情報80又
は81に1ビツトの誤りがあるかどうかを示す信号84
を出力する誤り検査回路57、前記情報80及び81を
入力としシンドローム符号82を出力するシンドローム
発生回路58、シンドローム82を入力とし、誤り位置
を解読し誤り位置を指定する信号83を出力とする誤り
位置解読回路59、誤り位置指定信号83、情報80及
び81のうち読出情報を入力として、誤り位置指定信号
83により80又は81の誤りを訂正し、かつ指定され
た偶数アドレス又は奇数アドレスに記憶された情報85
を出力する誤り訂正回路60と、アドレス及び読出又は
書込命令入力信号71並ぴに誤り検査回路の出力信号8
4を入力とし、書込レジスタ50及び51をそれぞれセ
ツトする信号86及び87、マルチプレクサ53の出力
76及び77が偶数アドレスへ書き込まれるものか、奇
数アドレスへ書き込まれるものかを切替える信号88記
憶回路54の指定されたアドレスに書込み又は読出しを
行なわせる信号89、読出しレジスタ55及び56にそ
れぞれ偶数アドレスの誤り訂正符号78及び読出情報7
9をセツトする信号90及び奇数アドレスの78及び7
9をセツトする信号91、誤り検査回路57の入力80
又は81のいずれかについて検査を行なわせるかを指定
する信号92、誤り位置解読回路59の出力83を出力
させる信号93と誤り訂正回路60の出力85として偶
数アドレスの情報と奇数アドレスの情報のうちいずれを
与えるかを指定する信号94を出力する制御回路61と
を含む。
次にその動作について説明する。
先ず、記憶回路54の2m番地(偶数番地)及び2m+
1番地(奇数番地)にそれぞれ任意のkビツトの情報を
書き込む場合には、入力信号71によりアドレス2mを
指定すると共に、読出し命令を発すると、入力70とし
て最初に与えられた書込み情報は、信号86によりレジ
スタ50にセツトされ、次に入力70として与えられた
書込み情報は、信号87によりレジスタ51にセツトさ
れ、これらの出力72及び73は誤り訂正符号発生回路
52に与えられて、偶数アドレス及び奇数アドレスに記
憶される書込惰報と共にそれぞれ記憶される誤り訂正符
号74及び75が得られるが、回路52は例えば表1、
表2、表3に示したようなパリテイ検査マトリクスによ
り誤り訂正符号を発生するものである。
1番地(奇数番地)にそれぞれ任意のkビツトの情報を
書き込む場合には、入力信号71によりアドレス2mを
指定すると共に、読出し命令を発すると、入力70とし
て最初に与えられた書込み情報は、信号86によりレジ
スタ50にセツトされ、次に入力70として与えられた
書込み情報は、信号87によりレジスタ51にセツトさ
れ、これらの出力72及び73は誤り訂正符号発生回路
52に与えられて、偶数アドレス及び奇数アドレスに記
憶される書込惰報と共にそれぞれ記憶される誤り訂正符
号74及び75が得られるが、回路52は例えば表1、
表2、表3に示したようなパリテイ検査マトリクスによ
り誤り訂正符号を発生するものである。
次いで、マルチプレクサSは、出力信号76及び77と
してそれぞれ74及び72を出力するように、すなわち
記憶回路54の偶数アドレスに記憶される誤り訂正符号
及び書込み情報を出力するように、信号88により制御
された後、信号89が記憶回路54の2m番地に信号7
6及び77を書き込むよう発せられ、当該番地に書込み
が行なわれた後、信号88は、マルチプレクサ53の出
力76及び77をそれぞれ75及び73を出力するよう
に、すなわち記憶回路54の奇数アドレスに記憶される
誤り訂正符号及び書込み情報を出力するように発せられ
、信号89は記憶回路54の2n+1番地に信号76及
び77を書き込むように発せられて当該番地に書込みが
行なわれる。このようにして任意の対になつた偶数番地
及び奇数番地に対して書込みを行なうことができる。一
方、読出し時においては、まず入力信号71により指定
アドレス及び読出し命令力堵1脚回路61に入力される
が、以下では指定アドレスが2n番地(偶数番地)であ
る場合について説明する。
してそれぞれ74及び72を出力するように、すなわち
記憶回路54の偶数アドレスに記憶される誤り訂正符号
及び書込み情報を出力するように、信号88により制御
された後、信号89が記憶回路54の2m番地に信号7
6及び77を書き込むよう発せられ、当該番地に書込み
が行なわれた後、信号88は、マルチプレクサ53の出
力76及び77をそれぞれ75及び73を出力するよう
に、すなわち記憶回路54の奇数アドレスに記憶される
誤り訂正符号及び書込み情報を出力するように発せられ
、信号89は記憶回路54の2n+1番地に信号76及
び77を書き込むように発せられて当該番地に書込みが
行なわれる。このようにして任意の対になつた偶数番地
及び奇数番地に対して書込みを行なうことができる。一
方、読出し時においては、まず入力信号71により指定
アドレス及び読出し命令力堵1脚回路61に入力される
が、以下では指定アドレスが2n番地(偶数番地)であ
る場合について説明する。
Frjl脚回路61の出力信号89は、記憶回路54の
2n番地を読出すように発せられ、2n番地の誤り訂正
符号78及び読出し情報79が出力され信号90により
レジスタ55にセツトされた後、その出力80は誤り検
査回路57に入力されて、信号91は80のパリテイ検
査を行なうよう、すなわち例えば表1、表2のC2、表
3のC,のパリテイ検査を行なうよう発せられて、信号
80に1ビツトの誤りがあるかどうかが検査され、もし
誤りがなければ信号84は匍卿回路61に対して誤りの
ないことを通知するので、信号93は誤り位置解読回路
59の出力83にその指定を行なわないように発せられ
ると共に、誤り訂正回路60の出力は、偶数アドレスに
記憶された情報である80がそのまま読出し情報85と
して出力されるように信号94が発生されて、読出しが
行なわれる。ところが、誤り検査回路57において、記
憶情報80に1ビツトの誤りがあることが発見されると
、信号84は匍卿回路61に対して誤りのあることを通
知し、その結果、信号89が再び記憶回路54の2n+
1番地を読み出すよう発せられ、誤り訂正符号78及び
読出し情報79が出力され、信号91によりレジスタ5
6にそれらがセツトされた後、出力80及び出力81が
シンドローム発生回路58に与えられて、シンドローム
符号82が発生され、信号93は誤り位置解読回路59
の出力として解読信号83を出力するように発せられる
ので、誤り位置の解読が行なわれて、信号83が記憶情
報80及び81と共に誤り訂正回路60に与えられて、
信号94により偶数アドレスの記憶情報の1ビツトが訂
正されて、回路60の出力として読出し情報85が出力
されて、誤り訂正が行なわれる。読出しが2n+1番地
(奇数アドレス)に対して行なわれる場合も、偶数アド
レスの場合と同様で、もし誤りがないと誤り検査回路5
7により判断されれば、そのまま読み出され、1ビツト
の誤りが発見されると、対になつた偶数アドレス2n番
地の記憶情報を読み出すことにより、1ビツトの誤り訂
正を行なうことができる。
2n番地を読出すように発せられ、2n番地の誤り訂正
符号78及び読出し情報79が出力され信号90により
レジスタ55にセツトされた後、その出力80は誤り検
査回路57に入力されて、信号91は80のパリテイ検
査を行なうよう、すなわち例えば表1、表2のC2、表
3のC,のパリテイ検査を行なうよう発せられて、信号
80に1ビツトの誤りがあるかどうかが検査され、もし
誤りがなければ信号84は匍卿回路61に対して誤りの
ないことを通知するので、信号93は誤り位置解読回路
59の出力83にその指定を行なわないように発せられ
ると共に、誤り訂正回路60の出力は、偶数アドレスに
記憶された情報である80がそのまま読出し情報85と
して出力されるように信号94が発生されて、読出しが
行なわれる。ところが、誤り検査回路57において、記
憶情報80に1ビツトの誤りがあることが発見されると
、信号84は匍卿回路61に対して誤りのあることを通
知し、その結果、信号89が再び記憶回路54の2n+
1番地を読み出すよう発せられ、誤り訂正符号78及び
読出し情報79が出力され、信号91によりレジスタ5
6にそれらがセツトされた後、出力80及び出力81が
シンドローム発生回路58に与えられて、シンドローム
符号82が発生され、信号93は誤り位置解読回路59
の出力として解読信号83を出力するように発せられる
ので、誤り位置の解読が行なわれて、信号83が記憶情
報80及び81と共に誤り訂正回路60に与えられて、
信号94により偶数アドレスの記憶情報の1ビツトが訂
正されて、回路60の出力として読出し情報85が出力
されて、誤り訂正が行なわれる。読出しが2n+1番地
(奇数アドレス)に対して行なわれる場合も、偶数アド
レスの場合と同様で、もし誤りがないと誤り検査回路5
7により判断されれば、そのまま読み出され、1ビツト
の誤りが発見されると、対になつた偶数アドレス2n番
地の記憶情報を読み出すことにより、1ビツトの誤り訂
正を行なうことができる。
第2図の一実施例においては、書き込み時においては、
2n番地と2n+1番地に対し、1動作で書き込むよう
説明したが、書替えを行なうような場合には、一度2n
又は2n+1番地を読出した後、これらを書込み情報と
して用いると共に2n+1又は2n番地へ書込む情報を
外部から与えて書き込む動作を行なうような装置として
拡張できることも明らかである。
2n番地と2n+1番地に対し、1動作で書き込むよう
説明したが、書替えを行なうような場合には、一度2n
又は2n+1番地を読出した後、これらを書込み情報と
して用いると共に2n+1又は2n番地へ書込む情報を
外部から与えて書き込む動作を行なうような装置として
拡張できることも明らかである。
さらに、第2図の一実施例においては、誤り訂正符号を
共有する番地が2つであつたが、3つ以上に拡張するこ
とも容易にできることも明らかである。
共有する番地が2つであつたが、3つ以上に拡張するこ
とも容易にできることも明らかである。
本発明は、以上説明したように、同一アドレスに記憶さ
れる情報符号数をk1検査符号数をmとし、j個のアド
レスに対して1ビツトの誤りを訂正できる場合には、で
表わされ、従来の と比較した場合の如く2個のアドレスに対して1ビツト
の誤りを訂正できる場合は、となり、同一の符号検査数
mに対してm≧3の場合、同一アドレスに記憶される情
報符号数の許容範囲は、多くなる。
れる情報符号数をk1検査符号数をmとし、j個のアド
レスに対して1ビツトの誤りを訂正できる場合には、で
表わされ、従来の と比較した場合の如く2個のアドレスに対して1ビツト
の誤りを訂正できる場合は、となり、同一の符号検査数
mに対してm≧3の場合、同一アドレスに記憶される情
報符号数の許容範囲は、多くなる。
これはすなわち情報符号数に対する誤り訂正符号数の割
合を減少させると共に、各アドレスの情報ビツトに付加
された誤り訂正符号の一部を用いて読み出された記憶情
報に誤りがあるかどうか判定し、誤りがなければそのま
ま読み出し、誤りがあれば、これらの複数個のアドレス
の全てを読み出し訂正を行なうことができる効果がある
。本発明を用いた場合通常読出し情報に誤りがあること
は極めてまれであるので、複数個のアドレスを読み出す
ために要する時間の増加は問題とならないし、一方書込
み時には複数個のアドレスに書込みを行なうのに時間を
要するが、通常の高速記憶装置においては、読出しに比
べて書込みの比率が極めて低く、大きな問題とはならず
、さらに読出し専用記憶装置においては、非常に有効で
ある。
合を減少させると共に、各アドレスの情報ビツトに付加
された誤り訂正符号の一部を用いて読み出された記憶情
報に誤りがあるかどうか判定し、誤りがなければそのま
ま読み出し、誤りがあれば、これらの複数個のアドレス
の全てを読み出し訂正を行なうことができる効果がある
。本発明を用いた場合通常読出し情報に誤りがあること
は極めてまれであるので、複数個のアドレスを読み出す
ために要する時間の増加は問題とならないし、一方書込
み時には複数個のアドレスに書込みを行なうのに時間を
要するが、通常の高速記憶装置においては、読出しに比
べて書込みの比率が極めて低く、大きな問題とはならず
、さらに読出し専用記憶装置においては、非常に有効で
ある。
また、記憶装置に使用される誤り訂正符号を複数のアド
レスの情報符号に対して1つ与えると共に、1つのアド
レスの誤り訂正符号のみで当該アドレスに記憶された情
報に誤りがあるかどうかを検出することができるような
記憶装置を構成することにより、情報符号数に対する誤
り訂正符号数を減らすことにより、誤り訂正符号を用い
た記憶装置を安価につくることができる効果がある。
レスの情報符号に対して1つ与えると共に、1つのアド
レスの誤り訂正符号のみで当該アドレスに記憶された情
報に誤りがあるかどうかを検出することができるような
記憶装置を構成することにより、情報符号数に対する誤
り訂正符号数を減らすことにより、誤り訂正符号を用い
た記憶装置を安価につくることができる効果がある。
ところで、本発明によれば、読出し動作は誤りがほとん
どないので速いが、書込み動作は、誤り訂正符号が分散
されるので複数のアドレスに対して行なう必要があり遅
くなる。しかしながら、通常の計算機では、読出しの方
が書込みよりも比率がかなり高く、又読出し専用記憶装
置に対しては非常に有効となる。
どないので速いが、書込み動作は、誤り訂正符号が分散
されるので複数のアドレスに対して行なう必要があり遅
くなる。しかしながら、通常の計算機では、読出しの方
が書込みよりも比率がかなり高く、又読出し専用記憶装
置に対しては非常に有効となる。
第1図は本発明の原理を説明する図、第2図は本発明の
一実施例を説明する図である。 50,51・・・・・・書込レジスタ、52・・・・・
・誤り訂正符号発生回路、53・・・・・・マルチプレ
クサ、54・・・・・・主記憶部、55,56・・・・
・・読出レジスタ、57・・・・・・1ビツト誤り検査
回路、58・・・・・・シンドローム発生回路。
一実施例を説明する図である。 50,51・・・・・・書込レジスタ、52・・・・・
・誤り訂正符号発生回路、53・・・・・・マルチプレ
クサ、54・・・・・・主記憶部、55,56・・・・
・・読出レジスタ、57・・・・・・1ビツト誤り検査
回路、58・・・・・・シンドローム発生回路。
Claims (1)
- 1 データと第1の検査ビットと第2の検査ビットとを
一組の情報とし、一群をなす複数組の前記情報のうち複
数のデータによつて各組の第1の検査ビットが作成され
、各組に属するデータと第1の検査ビットのすべてによ
りそれぞれの組の第2の検査ビットが作成される1以上
の群を1組単位で記憶する記憶手段と、この記憶手段の
アドレスを指定するアドレス指定手段と、このアドレス
指定手段から出力されるアドレス指定信号により前記一
組の情報を読み出した後、前記一組の情報の全てのビッ
トに対し前記第2の検査ビットを用いてバリテイ検査を
行ない1ビットの誤りがあるか否かを検出する1ビット
誤り検出手段と、この検出により誤りがある場合、この
組が属する群の複数組の情報を前記記憶手段から読み出
してこの群の前記第1および第2の検査ビットを用いて
1ビット誤りを訂正する誤り訂正手段とを含むことを特
徴とする記憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51137563A JPS5953640B2 (ja) | 1976-11-15 | 1976-11-15 | 記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51137563A JPS5953640B2 (ja) | 1976-11-15 | 1976-11-15 | 記憶装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5361925A JPS5361925A (en) | 1978-06-02 |
| JPS5953640B2 true JPS5953640B2 (ja) | 1984-12-26 |
Family
ID=15201636
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51137563A Expired JPS5953640B2 (ja) | 1976-11-15 | 1976-11-15 | 記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5953640B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58129663A (ja) * | 1982-01-29 | 1983-08-02 | Nec Corp | エラ−検出回路 |
| JPH0679958B2 (ja) * | 1988-10-07 | 1994-10-12 | 東レ株式会社 | 糸条の巻取装置 |
-
1976
- 1976-11-15 JP JP51137563A patent/JPS5953640B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5361925A (en) | 1978-06-02 |
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