JPS5953661B2 - 質量分析計のための自動試料交換装置 - Google Patents

質量分析計のための自動試料交換装置

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JPS5953661B2
JPS5953661B2 JP51129566A JP12956676A JPS5953661B2 JP S5953661 B2 JPS5953661 B2 JP S5953661B2 JP 51129566 A JP51129566 A JP 51129566A JP 12956676 A JP12956676 A JP 12956676A JP S5953661 B2 JPS5953661 B2 JP S5953661B2
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mass spectrometer
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ハンスーデイーテル・ブルヴイーン
ハンスーペーテル・リツテル
ヘルマン・バルトール
ライネル・シユトレヴインスキイ
ヴアルテル・フツプ
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    • H01J49/04Arrangements for introducing or extracting samples to be analysed, e.g. vacuum locks; Arrangements for external adjustment of electron- or ion-optical components
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、固体および液体試料のための蒸発装置を有す
る質量分析計用の自動試料交換装置に関する。
この試料交換装置(以下サンプルチエンジヤと呼ぶ)は
、30個迄の試料るつぼの摺動ロツドのホルダーに連続
的な挿入および再びその取出しを確実にすることができ
る。蒸発させられる試料は摺動ロツドにより高度の真空
ロツクを介して質量分析計内に導入される。最近の数年
間で質量分析計は有機化学者の通常の道具となつて来て
いる。
質量分析計が使用される主な分野は、有機化合物の構造
を明らかにすることである。この目的のために必要な質
量分析計は、非常に高価な計器で、また引続き運転コス
トが高くつく。従つて、このような高い計器は、一日当
り8時間以上にわたる自動操作においてデータ処理装置
の助けを借りて使用することが望まし.い。質量分析計
は、市販され(例えば、バリアン(Varian)MA
T社のCH5型)、この目的に対して原理的に適してい
る。この型式の質量分析計を用いれば、サンプルは、加
熱冷却でき、かつ質量分析計のイオン発生源に対して高
度の真空ロツクを(介して挿入されるプツシユロツドに
より挿入される。蒸発されるサンプルは、摺動ロツドの
前端部に位置するるつぼ内におかれる。質量分析計にお
ける蒸発プロセスは、イオン発生源内に発生される全イ
オン流が時間的に一定となるように調整さqれている。
この調整は、自動的に運転する質量分析計において必要
欠くべからざるものである。これ等の質量分析計の回避
できぬ欠点は、サンプルるつぼが手によつて摺動ロツド
に挿入しなければならない点である。このため完全自動
操作のさまたげとなる。本発明は、完全自動分析を可能
とすると同時にデータ処理装置を使用するため、前記の
型式の質量分析計のための自動サンプルチエンジヤの提
供を目的とするものである。
詳細に述べれば、これは以下の如き要件を提供する。即
ち(a)質量分析計が人間が管理することなく夜間も運
転を続けることができるように運転の信頼度が高くなけ
ればならないこと、および(b)サンプルチエンジヤは
、質量分析計のサンプル導入個所にさしたる困難もなく
取付け可能であるような構造でなければならないことで
ある。
本発明によれば、(a)駆動部を含むサンプルチエンジ
ヤの摺動ロツドは、このロツドに平行に走行し、別個の
駆動部を有し、かつ質量分析計に面するその端面におい
て摺動ロツドの真空密の通路のためのパツキン箱を有す
るロツクキヤリツジ上に載置され、(b)Oリングシー
ルは、高度の真空の後部壁面上に取付けられ、ロツクキ
ヤリツジを移動させて摺動ロツドの区域において、ロツ
クの後部壁面とロツクキヤリツジの端面との間に残る空
間を封止し、(c)摺動ロツドに対し直角で摺動できる
サンプルマガジンがロツクキヤリツジの端面と高度の真
空ロツクの後部壁面間に嵌合され、サンプルるつぼは摺
動ロツドの端部に取付けられたホルダーによりマガジン
から選択的に取出すことができる。
もし摺動ロツドとロツクキヤリツジが共通のカードロッ
ド上に取付けられるならば有利である。
本発明の更に別の展開においては、サンプルマガジンは
るつぼをサンプルホルダーから取外すためのフオークが
設けられ、るつぼはフオークの開口に対応する環状溝を
有する。更に別の改良点において、サンプルマガジンは
、覆いフードにより囲繞され、保護作用ガスの元にある
これはサンプルを湿気および分解のおそれから保護する
。サンプルマガジンおよび摺動ロツド用としては歩進モ
ータが適していることが判つた。
これにより非常に正確な配置が実現できる。本発明によ
るサンプルチエンジヤの構造は、サンプルを質量分析計
に挿入する際に必要とされる高い精度を保証するもので
ある。
一方、簡単な構造のため比較的容易に既存の質量分析計
に取付けることが可能である。更に、重要な利点として
は、サンプルチエンジヤの取付けが高い真空シールに関
して何等問題を生じない事実がある。新らしいサンプル
チエンジヤを用いれば、第1にオペレータの立会を必要
とすることなく夜間の運転において通常の分析を実施す
ることが可能であることが実証された。本発明の一実施
例について添付図面を用いて以下に更に詳細に説明する
サンプルチエンジヤの構造(原理) サンプルチエンジヤの機構の作用原理について最初第1
a〜1e図に関して説明する。
サンプルチエンジヤは、高い真空密である主弁1を介し
て90゜の扇形フイールドの質量分析計のイオン発生源
2内に挿入される。サンプルチエンジヤの必須の要素は
、ロツクキヤリツジ3と、摺動ロツド4と、サンプルマ
ガジン5である。ロツクキヤリツジ3と摺動ロツド4は
、X軸(図示)の方向に移動できるように3本のロツド
6上に取付けられている。本文においてX軸は摺動ロツ
ド4の長手方向軸と一致する。この運転は、モータ7お
よび8により駆動されるスピンドル9と10により行な
われる。サンプルの作用においては、ロツクキヤノツジ
3と摺動ロツド4が別個に制御可能な駆動部を有する点
が重要である。摺動ロツド駆動部8は、ロツクキヤリツ
ジ3の後部壁面上に取付けられている共通のガイドロツ
ド6上のロツクキヤリツジ3と摺動ロツド4のベアリン
グは、摺動ブツシユ11と12により設けられている。
摺動ロツド4のための高度の真空密の通路を提供するた
めのパツキング箱13は、質量分析計に面するロツクキ
ヤリツジ3の端面上に取付けられている。
るつぼホルダーは摺動ロツド4(第2a図に示す)の左
手端部にある。サンプルマガジンは、高い真空ロツド1
の後部とロツクキヤリツジ3の端面間の空間に対して下
方から挿入される。
このためには、サンプルマガジン5は、図の平面に対し
て直角にとりつけられたガイドロツド14上で垂直方向
に摺動できるように取付けられている。サンプルマガジ
ン5を外方に移動させて、ロツクキヤリツジ3は、パツ
キング箱13がOリングシール15に当接する高度フの
真空のロツク1に向う方向に十分に移動するようにする
ことができる。
その結果、0リング内側のパツキング箱13の端面間空
間は、封止され、図示しない導管を介して真空にするこ
とができる。このため基本的には、高い真空のロツタ1
が大気と接続しないようにする。るつぼの自動的把握作
用 摺動ロツドの端部におけるサンプルのるつぼ16とその
ホルダーの形状は、第2a乃至3C図から判る。
るつぼは蓋部18を頂部にした円筒状の容器からなる。
環状溝19は蓋部18内に加工される。更に、サンプル
の蒸発のための約0.1mmの寸法の中心孔を有する。
るつぼの底部は円錐状を呈する。この形状は、るつぼホ
ルダー17への挿入を容易にする。るつぼ16はサンプ
ルマガジン板20の孔へその頭部で挿入され、この孔は
直線状に配置されている。サンプルマガジン板は摺動ロ
ツド4(X軸)に対して直角に摺動できる。このために
必要とされる機械作用については下記に記述する。るつ
ぼホルダー17は緊締作用スプリング22を有するシリ
ンダ21からなる。第2a乃至2C図は、るつぼの捕捉
作用の各段を示す。
捕捉作用については、るつぼ16はx軸(第2a図)と
整合関係になる。次いで摺動ロツド4は、マガジン板2
0の方向に移動し、ホルダー17(第2b図)内のるつ
ぼ16を堅固に緊締し、その始動位置へのその後の引込
み運動の間るつぼをマガジン板20(第2C図)に穿孔
された孔から引出す。質量分析計におけるサンプルの蒸
発の後、サンプルのるつぼ16は、ホルダーが次のるつ
ぼを充填されるようにホルダー17から取外されねばな
らない。
サンプルのるつぼ16のホルダー17からの取外し作用
は第3a乃至3C図に略図的に示されている。第3a図
において、サンプルを蒸発させたるつぼは、再び質量分
析計から取外されて、マガジン板20の位置に来る。こ
の位置においては、マガジン板20上に載置された保持
作用フオーク23は、この時サンプルのるつぼ16の環
状溝19と係合関係になる(第3b図)。摺動ロツド4
は、次にその最初の位置に戻される。その結果として、
るつぼ16は、るつぼホルダー17から取出されて、コ
ンテナ(添付図面には図示せず)内に落下する(第3C
図参照)。作用モードの説明 完全自動の質量分析計の作用シーケンスは、下記のチヤ
ートにより明確にされる。
第1a図における始動位置においては、サンプルのるつ
ぼ16は、前述の方法で摺動ロツド4へ挿入される。
この目的のため、サンプルマガジン5は、所望のサンプ
ルを含むるつぼは、るつぼ16が摺動ロツド4に挿入で
き、マガジンから取出すことができるように、x軸即ち
摺動ロツドに一致する迄、垂直上方向に押される。その
後、サンプルマガジン5は再び下方向に移動される。こ
の作用により、ロツクキヤリツジ3の経路を自由にする
(第]b図)。ロツクキヤリツジはこの時0リングシー
ル15迄上昇することによりロツクを閉鎖する。パツキ
ング箱13とロツクの後部壁面間の残りの軸方向空間は
、次いで予備真空ポンプにより抜気される。その後高い
真空ロツク1が開かれる。摺動ロツドの駆動部8が次に
作用に入り、サンプルを検査した摺動ロツド4は高い真
空ロツク1から質量分析計のイオン発生源2に通じる。
サンプルのるつぼ16はこの時計測位置にある(第1C
図参照)。この位置において、蒸発装置が0N位置に切
換えられる。サンプルが蒸発させられる間、質量のスペ
クトルが規則的な間隔で記録され、記憶される。蒸発作
用の完了の後、るつぼ16は再び質量分析計から取出さ
れる。
このためには、るつぼを有する摺動ロツドは高度の真空
ロツクの背後に引込められる。高度の真空ロツク1は、
次いで再び閉鎖される。その後るつぼ16は既に述べた
如くサンプルマガジン5上に取付けられたホルダーフオ
ク23により取出される。ロツクキヤリツジ3は最初の
位置に戻される(第1a図)。サンプルチエンジヤの構
造(第4および5図)サンプルチエンジヤは、2つの部
分、即ち摺動ロツド4と対応するガイド装置(第4図参
照)を有するロツクキヤリツジ3と、ガイド装置を有す
るサンプルマガジン5(第5図参照)からなる。
ロツクキヤリツジ3は、摺動ブツシユ12によりx軸に
平行に延がる3本のガイドロツド6上に支持されている
。摺動ブツシユ12は、その内部でボールベアリング(
ボール式ブツシユ)が設けられている。これは正確かつ
軽く走行する案内作用を行なう。ガイドロツド6はベー
ス板24にボルト締めされている。ロツタキヤリツジ3
の端面25と後部壁面26は連結ロツドにより一緒に保
持される。
摺動ロツド4は、一方ではガイド板28上に、他方では
ロツクキヤリツジ3の後部壁面26上に支持されている
。ガイド板28は、ロツクキヤリツジ3のようにボール
ベアリングによりガイドロツド6上に支持されている。
摺動ロツド4の駆動部8は、緊締ナツトを駆動する歩進
モータからなる。緊締ナツトの回転作用の結果として、
摺動ロツド4に結合されたスピンドル10(第1゛a図
参照)は、前後方向に運転させられる。ロツクキヤリツ
ジ3は、緊締ナツト29に対して回転するスピンドル9
を介して駆動される。緊締ナツト29は、ロツクキヤリ
ツジ3の後部壁面26上に固定される。駆動部7とスピ
ンドル9のためのベアリングは、ベース板上に取付けら
れる。駆動部7は、歯車箱3]と歯付きベルト32を介
してスピンドル9を駆動するD.C.モータからなる。
この2つの駆動部7と8は別々に制御される。「ロツク
キヤリツジ3に支持される摺動ロツド4」の構造は、摺
動ロツド4もまた必然的にロツクキヤリツジ3の各運動
をも確実に実行する。逆に、ロツクキヤリツジ3は、摺
動ロツドが駆動部8により運動させられる時静止位置に
止まる。ロツクキヤリツジ3の端面25は、テフロン製
のパツキング箱13が設けられている。
これは、摺動ロツド4のための高い真空密の通路を設け
る作用をする。ロツクキヤリツジを内方に移動(第1b
図参照)させると、パツキング箱13の端面は、高度の
真空ロツク1の後部壁面に対してOリングシール15を
介して当接する。これにより密封された軸方向空間は、
低い真空作用ポンプにより抜気できる。安全回路は、こ
の空間が予備真空迄抜気された時のみ高い真空のロツク
]が開口できるよう保証する。これは、高い真空のロツ
ク11がその入口側で大気に連通しないようにする。サ
ンプルチエンジヤに質量分析計2を機械的に接続するた
めには、フランジ33により行なわれる。ガイドロツド
6もまたこのフランジに支持されている。フランジ33
は、更にサンプルマガジ1ン5のベース板35が取付け
られる保持ロツド34を上下方向に向けて支持する。既
に述べたように、サンプルマガジン5は、摺動ロツド4
(即ち、図の平面)と直角に上方向に摺動できる。この
ためには、ガイドロツド14は、摺動ロツドに対して直
角に設けられている。サンプルマガジン5は、x軸の区
域においてサンプルのるつぼが高度の真空ロツク1に直
ぐ隣接する空間に送られるように取付けられている。こ
の空間においては、サンプルのるつばは、第2図に示す
如く摺動ロツドの端部に取付けられたるつぼホルダー1
7により受渡しされる。自体の駆動部を含むサンプルマ
ガジン5のためのガイド装置については、第5図に関し
て説明する。
全体のシステムは保持ロツド34を介してサンプルチエ
ンジヤに機械的に接続されている。第5図はまたロツク
キヤリツジと高度の真空ロツク1に対する3本のガイド
ロツド6の相対位置を示す。ロツクキヤリツジ3と同様
に、サンフ0ルマガ゛ジン5もまた、摺動できるように
ボールベアリング37によりガイドロツド14上に支持
されたキヤリツジ36からなる。孔38を有する実際の
マガジン板20はキヤリツジ36に固定されている。る
つぼ16はその頭部から孔38内に挿入される。この孔
38は相互に垂直下方向に位置されている。マガジン板
20内のるつぼ16は、フードで蓋をされている。るつ
ぼがサンプルチエンジヤ内に移動される時、このフード
はストラツプ40により後方を支持されている。フード
39はその側縁部により溝41内を摺動する。マガジン
板20が蓋をされていることにより、サンプルのるつぼ
16を保護作用ガスに対して平坦関係になることを可能
にする。これにより、サンプルが犬気と触れて待機時間
中に汚損されるおそれを予防する。保護用ガスは、例え
ば窒素で、ノズル42から供給される。計測シーケンス
の後サンプルのるつぼ16を取出すための保持用フオー
ク23(第3図の記述参照)は、マガジン板20に堅固
に接合されている。
サンプルキヤリツジ36のためのガイドロツド14は、
2枚のベース板35に係止されている。
駆動作用はスピンドル47に結合された歯車箱46を介
して歩進モータ45により行なわれる。スピンドルの回
転は、サンプルキヤリツジ36に更に接続された緊締ナ
ツト48の垂直軸の周囲で行なわれる。サンプルチエン
ジヤの全作用は、デジタル制御システムにより制御され
モニターされる。この制御システムは、また質量分析計
(サンプルの走査および蒸発)とこれに接続されたデー
タ処理装置の機能の正確な連関作用をも保証する。デー
タ処理装置は、主としてスペクトルを受取り記憶し、そ
の後そのデータを評価するように作用する。もちろん、
またサンプルチエンジヤは、手動にても操作できる。ヴ
アリアン(Arian)MAT社のCH5およびCH7
型計器を質量分析計として使用した。
ある典型的な夜間計測期間において約1000のスペク
トルを有する約30のサンプルが計測でき、分析の結果
その内約50のスベクトルが評価された。このことは、
計測能力における著しい増加を意味する。
【図面の簡単な説明】
第1a〜1c図は上方から見たサンプルチエンジヤの作
用モードおよび構造を示す部分断面図、第2a〜2c図
はサンプルるつばが摺動ロツドにより取出される方法を
示す図、第3a〜3c図はサンプルるつばの除去を示す
図、第4図はサンプルチエンジヤの構造を示す平面図(
ロツクキヤリJャcジと摺動ロツド)、および第5図はサ
ンプルチエンジヤ(サンプルマガジン)の構造を示す図
である。 2・・・・・・イオン発生源、3・・・・・・ロツクキ
ヤリツジ、4・・・・・・摺動ロツド、5・・・・・・
サンプルマガジン、6・・・・・・ガイドロツド、7,
8・・・・・・モータ、9,10・・・・・・スピンド
ル、13・・・・・・パツキング箱、、14・・・・・
・ガイドロツド、16・・・・・・るつぼ、17・・・
・・・るつばホルダー、20・・・・・・サンプルマガ
ジン板。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 蒸発装置と、摺動ロッドとを設け、前記ロッドの一
    端部は高い真空のロックを介して前記摺動ロッドにより
    質量分析計に挿入されるように蒸発させられる試料のる
    つぼを保持するためのるつぼホルダーが取付けられ、前
    記真空ロック内には前記摺動ロッドが、このロッドに対
    して独立して平行運動でき、かつ質量分析計に向けられ
    た端面を有するロックキャリッジ上に取付けられ、更に
    、前記ロックキャリッジがロック区域と接触するように
    移動した時、ロックキャリッジの端面とパッキング箱と
    質量分析計のロック区域間の空間を封止するための装置
    と摺動ロッドの真空密の通路のためのパッキング箱と、
    摺動ロッドに対して運動してサンプルのるつぼをるつぼ
    ホルダーによりマガジンから選択的にとり出させるため
    のサンプルマガジンとを設けたことを特徴とする質量分
    析計用の自動試料交換装置。 2 (a)ロックキャリッジ上に取付けられ、摺動ロッ
    ドに平行に伸び、別個の駆動部を有し、質量分析計に向
    いた端面で摺動ロッドの真空密の通路のためのパッキン
    グ箱を有する駆動部を有する摺動ロッドと、(b)高い
    真空のロックの後部壁面上に取付けられてロックキャリ
    ッジが内方に運動する時摺動ロッドの区域内でロックキ
    ャリッジのロック後部壁面と端面間に残る空間を封止す
    るように作用するOリングシールと、(c)摺動ロッド
    に対して直角に摺動でき、ロックキャリッジの端面と高
    い真空のロックの後部壁面間に嵌合され、これからサン
    プルのるつぼを摺動ロッドの端部に取付けられたホルダ
    ーにより選択的に取出すことができるサンプルマガジン
    とを設けた特許請求の範囲第1項に記載の質量分析計用
    の自動試料交換装置。 3 摺動ロッドとロックキャリアがそれ等の平行運動を
    案内するための共通のガイドロッドを有する特許請求の
    範囲第2項に記載の質量分析計用の自動試料交換装置。 4 サンプルマガジンが、るつぼをサンプルホルダーか
    ら取外すためのフォークを設けられ、るつぼは前記フォ
    ークの開口により係合されるための環状溝を有する特許
    請求の範囲第2項または第3項に記載の質量分析計用の
    自動試料交換装置。 5 サンプルマガジンが被覆するフードにより密閉され
    、保護作用ガスの下にある特許請求の範囲第2項乃至第
    4項のいずれか1つに記載の質量分析計用の自動試料交
    換装置。 6 サンプルマガジンおよび(または)摺動ロッドのた
    めの駆動部が歩進モータを有する特許請求の範囲第2項
    乃至第5項のいずれか1つに記載の質量分析計用の自動
    試料交換装置。
JP51129566A 1975-10-31 1976-10-29 質量分析計のための自動試料交換装置 Expired JPS5953661B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
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JPS5257883A JPS5257883A (en) 1977-05-12
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JP (1) JPS5953661B2 (ja)
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FR (1) FR2330006A1 (ja)
GB (1) GB1512747A (ja)

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