JPS5956313A - 導電性薄膜の製造方法 - Google Patents

導電性薄膜の製造方法

Info

Publication number
JPS5956313A
JPS5956313A JP16740082A JP16740082A JPS5956313A JP S5956313 A JPS5956313 A JP S5956313A JP 16740082 A JP16740082 A JP 16740082A JP 16740082 A JP16740082 A JP 16740082A JP S5956313 A JPS5956313 A JP S5956313A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
vacuum
conductive thin
thin film
atmosphere
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP16740082A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0447405B2 (ja
Inventor
山本 英
和明 佐々木
上田 善一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nitto Denko Corp
Original Assignee
Nitto Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nitto Electric Industrial Co Ltd filed Critical Nitto Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP16740082A priority Critical patent/JPS5956313A/ja
Publication of JPS5956313A publication Critical patent/JPS5956313A/ja
Publication of JPH0447405B2 publication Critical patent/JPH0447405B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Coating Of Shaped Articles Made Of Macromolecular Substances (AREA)
  • Treatments Of Macromolecular Shaped Articles (AREA)
  • Manufacturing Of Electric Cables (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は導電性薄膜の製造方法に関し、特に、耐アルカ
リ性にすぐれたポリエチレンテレフタレートフィルム基
材透明導電性**の製造方法に関する。
一般に可視光線領域で透明であり、且つ、導電性を有す
る薄膜は、゛液晶ディスプレイ、エレクトロルミネッセ
ンスディスプレイ等の新しいディスブイ方式における透
明電極のほか、透明物品の帯電防止や電磁波遮断等のた
めに用いられている。
従来、このような透明導電性薄膜として、ガラス上に酸
化インジウム膜を形成した所謂導電性ガラスがよく知ら
れているが、基材がガラスであるために、可撓性、加工
性に劣り、用途によっては好ましくない場合がある。従
って、近年、可撓性、加工性に加えて、耐衝撃性にすぐ
れ、軽量である等の利点により、合成樹脂を基材とする
透明導電性薄膜が使用ささるようになり、なかでも、ポ
リエチレンテレフタレートフィルムが、耐熱性、強度等
にすぐれるところから、基材フィルムとして好ましく用
いられている。
透明導電性薄膜は、例えば、透明電極として使用するに
は、所定の形状を有するようにパターン化されるが、こ
の過程で酸やアルカリが多く用いられる。一方において
、一般にポリエチレンテレフタレートフィルムは酸やア
ルカリによって加水分解されて、表面が粗面化される。
従って、このフィルム上に形成された導電性薄膜がフィ
ルムと・の省着11k・□に劣るとき、パターン化の過
程やその後にフィルムが透明性を失ない、また、薄膜が
剥;離したりするので、1高&質Φ透朋電極を得るこ、
とができ、な1いと共りこ、得、られる11#1膜′L
よ:耐久・性にこ著1シ<劣る。
本発明゛は上記した・間、、”題を1解決するため・に
なされたも、ので1あって、*2こアルカリ・kこ対し
て安定であり、従って、密着性、透・靭性へ導電性、耐
久性”にすぐれる、導電性情)膜の製造方法を提供する
ことをIll釣とする。
不発1朋・は、ボ゛リエチレンテレフクレートフイルム
表面りこ真空中で導電性薄膜を形1成する方法りこお、
いで、上記フィルムをアルゴンを少なくと65.0°%
含有するi K 1110−3= A * ト0ffO
yr:の雰1囲気にお□いて、It II〜、’3 i
(l W・秒/CMの・範:囲の放電処理量で、高、1
周波スパッタエツチング処理し、次・いて真空1度を実
質)的り二保持、したままで、導電性薄1膜を形:成す
るこ、とを゛特徴、とする。
スパッタエツチング処!!!!ll1l休゛は′既によ
く知られて・′いるが、本発明にこお1いて・′は、基
材であるボ・リエチレンテレフタシー上フィルムをスパ
ッタエツチング処理する雰面気が、アルゴンを少なくと
も5(O・に含有することを要し、好ましくは80%以
上含有するヵ雰皿気ガスがアルゴンを主体とすること′
ILよ、耐フルカ1)性にすぐれたボ1Jエチシンテレ
フタレートフィルJA共重合体導電性薄膜を得るためL
こ極めて重要でSす、アルゴンと同じく不活性な窒素や
ヘリウム等を主体とする雰・囲気を二よっては、不発1
朋、のよろLこ耐アルカ1J性にすぐれた導電竹生薄狽
をmることができなル)、イ且し、アルゴンが雰理気ガ
スの少なくとも50%を占める堰りは、残余のガスit
u成(は窒素、ヘララム−ネオン、水素、空気等、通常
、スパッタエツチング処理2こ用いられるガスであって
よl!1%、また、零可気ガスは水蒸気を含有していて
もよいわまた、雰洲気圧も重要であって、’l X 1
 @−3〜1 x IIQ ”T、、rr:tp3範、
囲であることを要する。上記範棚より高真空ではグロー
放電が不安定とな・りやすく、一方、上記範囲より抵真
′空でU:、スパックエツチング処理□による基材フィ
ルムの導電・性薄膜に対する密着性向上の効果が十分に
二発現5されなL)や 更〃こ、電極単位)面積当りΦ高i周、波用力(W/4
’9、と放電処理゛1時j間と1の積で表わされる放電
処理量221′、10、1−.3 @ W−秒/−の価
:囲で、Toす、上記範囲以下でもま処理効果が十分で
なく、上記範・囲以上で・ルまフィルムが変形したり、
着色したりするIので好ま・しくない。:RJl、高・
周、被電源・′は実用上、工業用割当:周波数である1
liL5・6M、・H,zを使用するのが好都合である
本発明の方法は、上記のよう・にスパッタエツチング処
理した雰、囲気の真空度を実質的に保持したままで、導
電性情・膜を形成する点に重要な一つの特徴を有する。
ここに、スパッタエツチング処理のN空・度を実質的シ
こ保持するとは、前記した1×10−3〜i X i 
’Or、orrの範囲の真空を破ることなく、且つ、こ
の真空度範囲で次の工程である導電性s股をフィルム表
面上に形成することを意味する。しかし、雰□囲気ガス
組成は必すしも同一である必要はなく、採用する導電性
薄膜の形成方法に従って適宜に変更されてよい。これに
対して、上記真空度でフィルムをスパッタエツチング処
理、した後、このフィルムを一旦′空気中記取り出し、
これを再び所定・の真′空零面気において導電性を形成
、しても、理111B 、’は必ずしも明らかではな・
いが、得・られる導電性薄7膜が耐アルカ1J性に劣る
本発明においては、基材ポリエチレンテレツクシートフ
ィルムをスパックエツチング処理した後、上記のように
その真空度を保持し、その真空零回気申で導電性薄膜を
形成する・限りは、導電性薄1膜の形成方法は任意のも
のを採用し得る。かかる導電性薄膜を形成する方法と、
しては、例えば、よく知られているように、真空蒸着法
、スパッタリング法、イオンブレーティング法等を挙げ
ることができる。また、薄膜材料も、特に制限されるも
ので毒よなく、例えば、酸化スズを含有する酸化インジ
ウム、アンチモンを含有する酸化スズ等が好ましく用い
られ、通常、上記処理をされたポリエチレンテレフタレ
ートフィルム表面上に厚み約数万人に形成される。しか
しながら、本発明の方法は、酸化インジウム−酸化スズ
導電性薄膜を真空蒸着法、スパッタリング法等によって
形成する場合に特に効果が顕著であり、耐アルカリ性に
すぐれ、従って、シート抵抗が低く、耐久性の格段にす
ぐれた導電性薄膜が得られる。
導電性薄膜を形成する雰囲気圧は、前記したように、1
×10−3〜1×10 Torrであるが、上記範囲よ
り低真空であれば、薄膜の形成効率に劣り、また、上記
範囲よりも高真空であれば、得られる膜の可視光領域の
透明性が低下するので好ましくないのである。
尚、本発明においては、基材フィルムは表面がポリエチ
レンテレフタレートであればよく、従って、ポリエチレ
ンテレフタレートを表面層とする他の樹脂フィルムとの
積層フィルムであってもよいのは勿論である。
以上のように、本発明によれば、基材であるポリエチレ
ンテレフタレートフィルムを所定のガスからなる真空雰
囲気中でスパッタエツチング処理し、次いで、上記雰囲
気の真空度を実質的に保持したままで、導電性薄膜を形
成するものであり、かかる方法によって得られる導電性
薄膜は、低抵抗であると共に、耐薬品性、特に耐アルカ
リ性にすぐれ、従って、フィルムとの密着性及び耐久性
にすぐれる。
以下に本発明の実施例を比較例と共に挙げるが、本発明
はこれら実施例に何ら限定されるものではない。尚、以
下において、得られたポリエチレンテレフタレートフィ
ルム基材導電性薄膜の耐アルカリ性は次のようにして評
価した。
即ち、フィルムを幅1 cmの短冊状に切断し、60℃
の恒温槽中の加温された1%力性ソーダ水溶液に5分単
位で浸漬した後、導電性薄膜のシート抵抗を測定し、そ
の変化率で耐アルカリ性を評価した。この操゛作を導電
性薄膜がフィルムから剥離するまで繰返した。また、シ
ート抵抗の測定には四端子法を用いた。
実施例1 ポリエチレンテレフタレートフィルムをアルゴン80%
及び酸素20%からなる4 X 10 ’Torrの雰
囲気中で、放電処理量3w・秒/C♂にてスパッタエツ
チング処理した。この後、上記真空を破ることなく、且
つ、同一の雰囲気ガス中で、インジウム−スズ合金を用
いた反応性スパッタリング法により、厚み400人の酸
化インジウム−酸化スズ導電性薄膜(以下、ITO膜と
いう。)を形成した。この膜のシート抵抗は200Ω/
口を示した。
このフィルム基材導電性薄膜を前記したように加温した
力性ソーダ水溶液に浸漬し、シート抵抗を経時的に測定
したところ、50分の浸漬後にも初期値の1.6倍にし
か増加しなかった。一方、比較のために、基材フィルム
をスパッタエツチング処理しない以外は、上記と全く同
様にしてITO膜を得て、力性ソーダ水溶液に浸漬した
ところ、僅か10分後には膜がフィルムから剥離した。
また、フィルムをスパッタエツチング処理した後、一旦
、大気中に取り出し、この後に上記と同じ雰囲気でIT
O膜を形成させたが、この膜は力性ソーダ水溶液に浸漬
して50分後には、シート抵抗が初期値の7倍にも達し
た。
実施例2 ポリビニルアルコールフィルムの両面に接着剤によりポ
リエチレンテレフタレートフィルムを貼着積層した積層
フィルムを基材フィルムとして用いた。この基材フィル
ムをアルゴン80%及び酸素20%からなる8 X 1
0  Torrの雰囲気で、放電処理量10W・秒/d
にてスパッタエツチング処理した。次いで、この真空雰
囲気をそのまま保持して、基材フィルムを100℃の温
度に加熱しつつ、インジウムとスズとの二元真空蒸着法
により、ITO膜を形成した。この膜は厚み400人、
シート抵抗300Ω/口であった。
この膜は力性ソーダ水溶液に50分間浸漬後も、シート
抵抗は初期値の2.5倍にしか増加しなかった。しかし
、比較のために、基材フィルムをスパッタエツチング処
理しない以外は、上記と全く同様にして得た膜は、10
分の浸漬で膜がフィルムから剥離し、また、スパッタエ
ツチング処理後、一旦、大気中にフィルムを取り出し、
その後に上記と同じ真空雰囲気中で形成した膜は、カ性
ソーダ水溶液に50分間浸漬した後に、そのシート抵抗
は初期値の13倍にも達した。
実施例3 ポリエチレンテレフタレートフィルムをアルゴン60%
及び酸素40%からなるI X 10  Torrの真
空雰囲気中で放電処理量0.5W・秒/ c++Iにて
スパッタエツチング処理した。次いで、この真空雰囲気
をそのまま保持して、酸化インジウム−酸化スズターゲ
ットを用いて、電子ビーム蒸着法によりITO膜を得た
。この後、この膜を90℃の温度で加熱処理して、透明
導電性ITO膜を得た。
この膜は厚み400人、シート抵抗350Ω/口であっ
た。
この膜は力性ソーダ水溶液に50分間浸漬した後も、シ
ート抵抗は初期値の3倍にしか増加しなかった。しかし
、比較のために、基材フィルムをスパッタエツチング処
理しない以外は、上記と全く同様にして得た膜は、10
分の浸漬で膜がフィルムから剥離し、また、スパッタエ
ツチング処理後、一旦、大気中にフィルムを取り出し、
その後1 に上記と同じ真空雰囲気中で形成した膜は、力性ソーダ
水溶液に50分間浸漬した後に、そのシート抵抗は初期
値の15倍にも達した。
比較例 実施例1において、フィルムをスパッタエツチング処理
する雰囲気ガスを窒素80%及び酸素20%とした以外
は、実施例1と全く同様にして■TO膜を得た。この膜
は厚み400人、シート抵抗200Ω/口であった。
この膜を加温した力性ソーダ水溶液に浸漬したところ、
10分後にはシート抵抗が初期値の3倍に増加し、20
分後には膜がフィルムから剥離した。
2 58

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (11ポリエチレンテレフタレートフィルム表面に真空
    中で導電性薄膜を形成する方法において、上記フィルム
    をアルゴンを少なくとも50%合有するI X 10−
    3〜1×lθ 丁6trの雰囲気において、0.1〜3
    0W・秒/−の範囲の放電処理量で高周波スパッタエツ
    チング処理し、次いで、真空度を実質的に保持したまま
    で、導電性lF膜を形成することを特徴とする導電性薄
    膜の製造方法。
JP16740082A 1982-09-24 1982-09-24 導電性薄膜の製造方法 Granted JPS5956313A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16740082A JPS5956313A (ja) 1982-09-24 1982-09-24 導電性薄膜の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16740082A JPS5956313A (ja) 1982-09-24 1982-09-24 導電性薄膜の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5956313A true JPS5956313A (ja) 1984-03-31
JPH0447405B2 JPH0447405B2 (ja) 1992-08-03

Family

ID=15848995

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16740082A Granted JPS5956313A (ja) 1982-09-24 1982-09-24 導電性薄膜の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5956313A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0227617A (ja) * 1988-07-15 1990-01-30 Nitto Denko Corp 透明導電性フイルムの製造法
JPH0266811A (ja) * 1988-08-31 1990-03-06 Nitto Denko Corp 透明導電性積層体の製造法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4855267A (ja) * 1971-11-13 1973-08-03
JPS5732506A (en) * 1980-08-04 1982-02-22 Hitachi Ltd Method of producing transparent conductive film

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4855267A (ja) * 1971-11-13 1973-08-03
JPS5732506A (en) * 1980-08-04 1982-02-22 Hitachi Ltd Method of producing transparent conductive film

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0227617A (ja) * 1988-07-15 1990-01-30 Nitto Denko Corp 透明導電性フイルムの製造法
JPH0266811A (ja) * 1988-08-31 1990-03-06 Nitto Denko Corp 透明導電性積層体の製造法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0447405B2 (ja) 1992-08-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3257913B2 (ja) 透明電極
JPH06136159A (ja) 透明導電性フィルムおよびその製造法
JP3176812B2 (ja) 透明導電性フィルム
AU2001255383A1 (en) Etching process for making electrodes
WO2001088998A2 (en) Etching process for making electrodes
JPS5956313A (ja) 導電性薄膜の製造方法
JP4260907B2 (ja) フィルム積層体
JPS61183809A (ja) 透明導電性積層体及びその製造方法
JP2944668B2 (ja) 透明導電性フイルムの製造法
JP3489844B2 (ja) 透明導電性フィルムおよびその製造方法
JP2653383B2 (ja) 透明導電性積層体の製造法
JPS6346526B2 (ja)
JP3334922B2 (ja) ガスバリアー性高分子フィルムおよびその製造方法
JPS60189118A (ja) 導電性透明薄膜の形成方法
JPS60258460A (ja) 透明導電性フイルムの製造方法
JPH0266158A (ja) 透明積層体の製造方法
JPS63289785A (ja) 透明面発熱体
JPH0345485B2 (ja)
JPS61183810A (ja) 透明電極
JPS61279004A (ja) 導電性積層体
JPH07168196A (ja) 積層型透明導電基材およびその製造方法
JPS6378404A (ja) 透明導電膜
JPH09174749A (ja) 透明導電性フィルム
JPS60175316A (ja) 導電性透明薄膜の製造方法
JPS5821230A (ja) 液晶表示セル用基板