JPS5958364A - 周波数測定方式 - Google Patents
周波数測定方式Info
- Publication number
- JPS5958364A JPS5958364A JP16895182A JP16895182A JPS5958364A JP S5958364 A JPS5958364 A JP S5958364A JP 16895182 A JP16895182 A JP 16895182A JP 16895182 A JP16895182 A JP 16895182A JP S5958364 A JPS5958364 A JP S5958364A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- signal
- measured
- frequency signal
- terminal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/02—Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（、ｉ＋全発明技術分野
本発明４Ｊ周波数測定方式に係り、特に簡単な手段によ
り未知の周波数の概略値を迅速に測定出来る様にした周
波数測定方式に関するものである。
り未知の周波数の概略値を迅速に測定出来る様にした周
波数測定方式に関するものである。
（ｂ）従来技術と問題点
従来の周波数測定方式の一例を第１図に示す。
図中１は分周器、２はカウンター、３はデコーダ 、−
１端子ａば被４（す定周波数信号の印加する端子、端子
すは基準周波数信号の印加する端子である。
１端子ａば被４（す定周波数信号の印加する端子、端子
すは基準周波数信号の印加する端子である。
以下第１図に従って従来の周波数測定の一例を説明する
。
。
端子すに印加される基準周波数ｆ。の信号は分周器１に
より、ｎ分周されて被測定周波数信号よりも周期の大き
い制御信号を設定する。此の制御信号により与えられる
成る一定の時間ｒ内におりる被測定周波数信号のパルス
数をカウンター２でカウントし、其の値をデコーダ３に
より読み取り、其の結果と、ｎ分周の関係とから、基準
周波数信号に対する被測定周波数信号の周波数比を知る
ことが出来る。此れは最も一般的な周波数測定の））法
で、 ｆ＝Ｎ／Ｔ” なる関係がある。但しｆは被測定周波数、Ｔは前記の基
Ｙｌｌ＋、周波数１゜の信号を分周器１により設定され
た成る一定の時間であり、ＮはＴ時間内におりる被測定
周波数信号のパルス数である。
より、ｎ分周されて被測定周波数信号よりも周期の大き
い制御信号を設定する。此の制御信号により与えられる
成る一定の時間ｒ内におりる被測定周波数信号のパルス
数をカウンター２でカウントし、其の値をデコーダ３に
より読み取り、其の結果と、ｎ分周の関係とから、基準
周波数信号に対する被測定周波数信号の周波数比を知る
ことが出来る。此れは最も一般的な周波数測定の））法
で、 ｆ＝Ｎ／Ｔ” なる関係がある。但しｆは被測定周波数、Ｔは前記の基
Ｙｌｌ＋、周波数１゜の信号を分周器１により設定され
た成る一定の時間であり、ＮはＴ時間内におりる被測定
周波数信号のパルス数である。
此の回路を実現するには、分周器と被測定周波数信号の
パルス数をカウントするカウンターとが最低限必要であ
る。
パルス数をカウントするカウンターとが最低限必要であ
る。
然しなから、被測定周波数信号の周波数の概略値を速く
且つ簡単に求めたい時には、例えばクロック等の監視を
する時には、此の様な回路では大変高価となるので、よ
り簡便な回路が必要である。
且つ簡単に求めたい時には、例えばクロック等の監視を
する時には、此の様な回路では大変高価となるので、よ
り簡便な回路が必要である。
本発明は此の様な要望に応えるものである。
ｔｃ＋発明の目的
本発明の目的は上記の欠点を除去し、より簡便に、且つ
迅速に未知の周波数の概略値を知ることの出来る周波数
測定方式を提供することである。
迅速に未知の周波数の概略値を知ることの出来る周波数
測定方式を提供することである。
ｆｄ＋発明の構成
」二記の目的は本発明によれば、
（１）シフト・レジスターのシフＩ−・クロ・ツクには
基準周波数信号を使用し、データ入力を′１”レベルに
固定し、且つ前記シフト・レジスターのりセントを被測
定周波数信号を微分したパルスにより行ない、リセソＩ
−と次のりセットとの間における前記シフト・レジスタ
ーのデータ人力゛ｌ″レー・ルの移動した位置により、
被測定周波数４８号と基準周波数信号との周波数比を求
めることを特徴とする周波数測定方式を提供することに
より達成され、 （２）シフト・レジスターのクロックに記被測定周波数
信号を使用し、データ入力を“１パレヘルに固定し、且
つ前記シフ１−・レジスターのりセソＩ・を基準周波数
信号を微分したパルスにより行い、基準周波数信号と被
測定Ｉｖｌ波数信号との周波数比を求めることを特徴と
する周波数測定方式を提供することにより達成される。
基準周波数信号を使用し、データ入力を′１”レベルに
固定し、且つ前記シフト・レジスターのりセントを被測
定周波数信号を微分したパルスにより行ない、リセソＩ
−と次のりセットとの間における前記シフト・レジスタ
ーのデータ人力゛ｌ″レー・ルの移動した位置により、
被測定周波数４８号と基準周波数信号との周波数比を求
めることを特徴とする周波数測定方式を提供することに
より達成され、 （２）シフト・レジスターのクロックに記被測定周波数
信号を使用し、データ入力を“１パレヘルに固定し、且
つ前記シフ１−・レジスターのりセソＩ・を基準周波数
信号を微分したパルスにより行い、基準周波数信号と被
測定Ｉｖｌ波数信号との周波数比を求めることを特徴と
する周波数測定方式を提供することにより達成される。
（ｅ１発明の実施例
以下本発明による周波数測定方式の一実施例を図面によ
って詳述する。第２図は本発明の周波数測定方式のｍ−
実施例を説明する為の図で、図中４は微分回路、５はシ
フト・レジスター、端子Ｃば基準周波数信号の印加する
端子、端子ｄは被測定周波数信号の印加する端子である
。
って詳述する。第２図は本発明の周波数測定方式のｍ−
実施例を説明する為の図で、図中４は微分回路、５はシ
フト・レジスター、端子Ｃば基準周波数信号の印加する
端子、端子ｄは被測定周波数信号の印加する端子である
。
以下第２図に従って本発明の説明を加える。基７１へ周
波数ｆ の信号を端子らに印加し、被測定周波数信号を
０１１１子ｄに印加する。被測定周波数信号は微分回路
４により、微分され、其の立ち上がりパルスによりシフ
ト・レジスター５をリセットする。
波数ｆ の信号を端子らに印加し、被測定周波数信号を
０１１１子ｄに印加する。被測定周波数信号は微分回路
４により、微分され、其の立ち上がりパルスによりシフ
ト・レジスター５をリセットする。
此の様な状態に於いて、シフ］−・レジスター５のデー
タ入力を“１゛レヘルに固定しておりば、データ“１゛
′は基準周波数信号のクロック・パルスにより順次シフ
１−され、１．２・・・・ＱまでシフＩ・されて、被測
定周波数信号が来るとりセットされる。リセットされた
後は再び元にもどり、データ“１゛′は基準周波数信号
のクロック・パルスにより、順次シフトされ、Ｑまで移
動する。
タ入力を“１゛レヘルに固定しておりば、データ“１゛
′は基準周波数信号のクロック・パルスにより順次シフ
１−され、１．２・・・・ＱまでシフＩ・されて、被測
定周波数信号が来るとりセットされる。リセットされた
後は再び元にもどり、データ“１゛′は基準周波数信号
のクロック・パルスにより、順次シフトされ、Ｑまで移
動する。
従ってデータ“１′”のシフＩ・された状況から、被測
定周波数と基準周波数との比を詐出することが出来る。
定周波数と基準周波数との比を詐出することが出来る。
例えばＱが３であれば、被測定周波数は基準周波数の１
／３倍である。
／３倍である。
尚以上の説明において被／Ｊｌ１１定周波数は基〆１へ
周波数より必ず低いことが必要であるが、若し被測定周
波数が基準周ｌＪＬ数より高い時は、端子Ｃに被測定周
波数信号を印加し、端子ｄにＪＡ ｔｊｌｓ周波数ｆｔ
の信号を印加ずれは良い。
周波数より必ず低いことが必要であるが、若し被測定周
波数が基準周ｌＪＬ数より高い時は、端子Ｃに被測定周
波数信号を印加し、端子ｄにＪＡ ｔｊｌｓ周波数ｆｔ
の信号を印加ずれは良い。
更に本発明においてはシフ１〜・レジスターを使用した
が、シフト・レジスターの代わりに複Ｋｋｌ因のＤ型フ
リップ・フロップを直列に接続して、使用しても全く同
様のことが出来る。
が、シフト・レジスターの代わりに複Ｋｋｌ因のＤ型フ
リップ・フロップを直列に接続して、使用しても全く同
様のことが出来る。
（ｆ１発明の効果
以上詳細に説明したように、本発明によれば、従来の技
術に比べ、大変簡単なバー１゛規検の回路により、周波
数の概略値を容易に知ることが出来るので、クロック等
の監視には、極めて適切である。
術に比べ、大変簡単なバー１゛規検の回路により、周波
数の概略値を容易に知ることが出来るので、クロック等
の監視には、極めて適切である。
第１図は従来の周波数測定方式の一例を示す図、第２図
は本発明の周波数測定方式の一実施例を示す図である。 図中１は分周器、２ばカウンター、３はテコーダー、端
子ａば被測定周波数信号の印加する端子、端子すは基準
周波数信号の印加する端子、４１，１微分回路、５はシ
フト・レジスター、端子Ｃは基準周波数信号の印加する
端子、端子ｄは被測定周波数信号の印加する端子である
。 ４２図 ３７５−
は本発明の周波数測定方式の一実施例を示す図である。 図中１は分周器、２ばカウンター、３はテコーダー、端
子ａば被測定周波数信号の印加する端子、端子すは基準
周波数信号の印加する端子、４１，１微分回路、５はシ
フト・レジスター、端子Ｃは基準周波数信号の印加する
端子、端子ｄは被測定周波数信号の印加する端子である
。 ４２図 ３７５−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ＋１．１シフ１−・レジスターのシフト・クロックには
占い１へ周波数信号を使用し、データ入力を” ｉ ”
レベルに固定し、且つ前記シフ１−・レジスターのり七
ノドを被測定周波数信号を微分したパルスにより行ない
、リセットと次のリセ・ノ］・との間における前記シフ
ｌ−・レジスターのデータ入力” １ ”レベルの移動
した位置により、被測定周波数信号と基〆（ζ周波数信
号との周波数比を求めることを特徴とする周波数測定方
式。 （２）シフト・レジスターのクロックに記被測定周波数
信号を使用し、データ入力を゛１゛°レヘルに固定し、
且つ前記シフト・レジスターのり七ノドを基（（Ｃ！周
波数信号を微分したパルスにより行い、基準周波数信号
と被測定周波数信号との周波数比を求めることを特徴と
する周波数測定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16895182A JPS5958364A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 周波数測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16895182A JPS5958364A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 周波数測定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5958364A true JPS5958364A (ja) | 1984-04-04 |
Family
ID=15877561
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16895182A Pending JPS5958364A (ja) | 1982-09-28 | 1982-09-28 | 周波数測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5958364A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6967503B2 (en) | 1999-07-12 | 2005-11-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Comparator |
-
1982
- 1982-09-28 JP JP16895182A patent/JPS5958364A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6967503B2 (en) | 1999-07-12 | 2005-11-22 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Comparator |
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