JPS5959475A - 薄膜サ−マルヘッドの製造方法 - Google Patents
薄膜サ−マルヘッドの製造方法Info
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- JPS5959475A JPS5959475A JP57171406A JP17140682A JPS5959475A JP S5959475 A JPS5959475 A JP S5959475A JP 57171406 A JP57171406 A JP 57171406A JP 17140682 A JP17140682 A JP 17140682A JP S5959475 A JPS5959475 A JP S5959475A
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- film
- metal lead
- lead layer
- resistive film
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B41—PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
- B41J—TYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/315—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material
- B41J2/32—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads
- B41J2/335—Structure of thermal heads
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は感熱記録装置の記録ヘッドとして用いられる
薄膜サーマルヘッドの製造方法に関する。
薄膜サーマルヘッドの製造方法に関する。
感熱記録装置の配録ヘッドとして用いられる薄膜サーマ
ルヘッドは、従来第1図1たけ第2図に示す如き桿・1
造を有している。即ち、アルミナ基板Ja上に保温性と
表面スムーズネスを得るべくグレーズ層1bを政十乃至
百ミクロン程度の厚さに形成し、更にその製造工程にお
ける各種薬品による腐蝕から保訛する為にTa20.等
の下地保詠層ICを形成し、これを絶縁性基板Iとして
いる。この絶縁性基板1上に発熱体としての抵抗fJH
’i 2,第1および第2のメタルリード膜3,4を積
層付加し、これをPEP (フォトエングレービングプ
ロセス)法ヲ用いてパターニングして、所望の記録解(
2)度を得るピッチ。
ルヘッドは、従来第1図1たけ第2図に示す如き桿・1
造を有している。即ち、アルミナ基板Ja上に保温性と
表面スムーズネスを得るべくグレーズ層1bを政十乃至
百ミクロン程度の厚さに形成し、更にその製造工程にお
ける各種薬品による腐蝕から保訛する為にTa20.等
の下地保詠層ICを形成し、これを絶縁性基板Iとして
いる。この絶縁性基板1上に発熱体としての抵抗fJH
’i 2,第1および第2のメタルリード膜3,4を積
層付加し、これをPEP (フォトエングレービングプ
ロセス)法ヲ用いてパターニングして、所望の記録解(
2)度を得るピッチ。
線幅に加工している。しかるのち、上記第1および第2
のメタルリード膜3,4の一部をエツチング除去して前
記抵抗膜2を露出させたのち、それらの上に耐摩耗性保
設膜5を形成して前記抵抗膜2等の酸化と感熱記録紙と
の摺動による摩粁から保護すZ)構造となっている。
のメタルリード膜3,4の一部をエツチング除去して前
記抵抗膜2を露出させたのち、それらの上に耐摩耗性保
設膜5を形成して前記抵抗膜2等の酸化と感熱記録紙と
の摺動による摩粁から保護すZ)構造となっている。
尚、上記第1」、−よび第2のメダルリード膜3゜4
L7) PEP法によるエツチング除去に際しては、1
ツチング液を適宜選択することにより、第1図および第
2図にそれぞカフ示すように複数層のリード膜3,4を
所謂階段状にl)(成して感熱記録紙との外的密着性を
高め、配録品質の向上と熱効率の改良を図るべく工夫が
なされている。
L7) PEP法によるエツチング除去に際しては、1
ツチング液を適宜選択することにより、第1図および第
2図にそれぞカフ示すように複数層のリード膜3,4を
所謂階段状にl)(成して感熱記録紙との外的密着性を
高め、配録品質の向上と熱効率の改良を図るべく工夫が
なされている。
寸た第2図に示すものは、4′¥に抵]1;、膜2ン・
その発p%(、gを含む所定範囲にのみ形成して、その
生産性を高めたものである。ちなみに、感熱記録に供さ
れる抵J/”(、膜2の発熱体長mけ通當数杓ミクロン
程度であり、llα厚や比抵抗を再現性良く安定にIn
る為、上記抵抗膜2の長さnl−1、従来一般に10〜
3()祁に定46られている。
その発p%(、gを含む所定範囲にのみ形成して、その
生産性を高めたものである。ちなみに、感熱記録に供さ
れる抵J/”(、膜2の発熱体長mけ通當数杓ミクロン
程度であり、llα厚や比抵抗を再現性良く安定にIn
る為、上記抵抗膜2の長さnl−1、従来一般に10〜
3()祁に定46られている。
ところで従来、この秤の薄膜サーマルヘッドにあっては
第1のメタルリード層4にはAuが用いられ、第20メ
4ルリード層3にIrJ−Crが用いられている為に非
常に高価なものとなることが否めなかった。即ち、Au
からなる第2のメタルリードM rtは、抵抗膜2に対
する主たるリード体として作用するものであり、通常】
乃至10ミクロン程度のlqさに形成される。そしてc
rからなる@Jのメタルリード層3ば、上記Auからな
る第2のメタルリード層4を安定・確実に付着させる為
に設けらhるもので、前記段1f+5の長さlにおいて
IJ −1・°休として機能する領l成ld O,5r
rm稈IWと、その抵抗膜については実際上殆んど無視
することができる。尚、この第」のメタルリード層3の
膜厚は500乃至] 000オングストロ一ム稈度であ
る。そして、このようにして第2のメタルリード層4と
してAuが用いられている為、前記保護膜5を形成する
に際しては、上記保護膜5がAuに直接付着し々いこと
から、Cr膜を介在させる等の工夫が施されている。つ
1す、抵抗膜2のリード体として従来一般[Auが用い
られている為に、その製作が困難であり、高価であると
言う問題があっブζ。
第1のメタルリード層4にはAuが用いられ、第20メ
4ルリード層3にIrJ−Crが用いられている為に非
常に高価なものとなることが否めなかった。即ち、Au
からなる第2のメタルリードM rtは、抵抗膜2に対
する主たるリード体として作用するものであり、通常】
乃至10ミクロン程度のlqさに形成される。そしてc
rからなる@Jのメタルリード層3ば、上記Auからな
る第2のメタルリード層4を安定・確実に付着させる為
に設けらhるもので、前記段1f+5の長さlにおいて
IJ −1・°休として機能する領l成ld O,5r
rm稈IWと、その抵抗膜については実際上殆んど無視
することができる。尚、この第」のメタルリード層3の
膜厚は500乃至] 000オングストロ一ム稈度であ
る。そして、このようにして第2のメタルリード層4と
してAuが用いられている為、前記保護膜5を形成する
に際しては、上記保護膜5がAuに直接付着し々いこと
から、Cr膜を介在させる等の工夫が施されている。つ
1す、抵抗膜2のリード体として従来一般[Auが用い
られている為に、その製作が困難であり、高価であると
言う問題があっブζ。
そこで近年、上記Auに代えて他のメタル利t1をリー
ド体として用いることが神々研究されてい乙。然し乍ら
、以下に示すようにイ(0々の問題があり、その実用化
が帷しかっブcつ即ち、Auに代えてA〕やCuを用い
ようとする場合、例え(ブTa 5i02からなる抵抗
膜2をPEP法により加工するとき、その工、7チング
液に)、硝酸液が用いられる為、上N? A7!やCu
も同時に侵されてしまうと言う問題が生じる。芥だAu
に代えてCrを用いようとすると、その比抵抗が約9倍
もあるので、リード膜厚を相当厚くする心火が生じる。
ド体として用いることが神々研究されてい乙。然し乍ら
、以下に示すようにイ(0々の問題があり、その実用化
が帷しかっブcつ即ち、Auに代えてA〕やCuを用い
ようとする場合、例え(ブTa 5i02からなる抵抗
膜2をPEP法により加工するとき、その工、7チング
液に)、硝酸液が用いられる為、上N? A7!やCu
も同時に侵されてしまうと言う問題が生じる。芥だAu
に代えてCrを用いようとすると、その比抵抗が約9倍
もあるので、リード膜厚を相当厚くする心火が生じる。
この為、その微細加工が問題となり、寸だその生産性の
点でも問題が生じた。更にはCrをリード体とした場合
、ICチ、fへのワイヤ・j?ンディングの取出しにお
けるボングビリティの問題も生じた。
点でも問題が生じた。更にはCrをリード体とした場合
、ICチ、fへのワイヤ・j?ンディングの取出しにお
けるボングビリティの問題も生じた。
本発明はこのような事情を考應してなされたもので、そ
の目的とするところは、リード体材料として安価なメタ
ル材料を用いて生産性良く薄膜サーマルヘッドを製作す
ることのできる実用性の高い′ffff−マルヘッドの
製造方法を提供することにある。
の目的とするところは、リード体材料として安価なメタ
ル材料を用いて生産性良く薄膜サーマルヘッドを製作す
ることのできる実用性の高い′ffff−マルヘッドの
製造方法を提供することにある。
本発明は絶1縁性基板上に帯状に抵抗膜を形1:tIン
し/(のぢ、その上に第1のメタルリ−ド層と安価なメ
タル材本′1からなる第2のメタルリード層とを積層形
成し、この積層体全ストライプ状に・ぞターン加工した
のち前記第2のメタルリード層のtJL抗膜に対向する
領域をエツチング除去してその喰なりをなくし、その後
第1のメタルリード層を部分的にエツチング除去して抵
抗j+′Lを露出さぜるようにしたものである。
し/(のぢ、その上に第1のメタルリ−ド層と安価なメ
タル材本′1からなる第2のメタルリード層とを積層形
成し、この積層体全ストライプ状に・ぞターン加工した
のち前記第2のメタルリード層のtJL抗膜に対向する
領域をエツチング除去してその喰なりをなくし、その後
第1のメタルリード層を部分的にエツチング除去して抵
抗j+′Lを露出さぜるようにしたものである。
Ueって本発明によれば、第2のメタルリード層が抵抗
膜と沖なり合うことがないので、抵抗膜のエツチング加
工時に第2のメタルリード層が侵されることがない。故
に第2のメタルリード層としてΔ!やCu等の安価なメ
タル材ネ1否・用いることが可能となり、生産性良く裾
゛l戻ザーマルヘッドを簡易に製作することを可能とす
るり1の実用上多大な効果が奏せらfl、る。
膜と沖なり合うことがないので、抵抗膜のエツチング加
工時に第2のメタルリード層が侵されることがない。故
に第2のメタルリード層としてΔ!やCu等の安価なメ
タル材ネ1否・用いることが可能となり、生産性良く裾
゛l戻ザーマルヘッドを簡易に製作することを可能とす
るり1の実用上多大な効果が奏せらfl、る。
す、下、図面を参照して本発明の一実施例につき説明す
る。
る。
第3図および第4図はそハ、それ本発明に係る薄膜サー
マルヘッド゛の実施例IM造を示す図である。尚、従来
へ、loと同一(%分には同−符号を付して説明する。
マルヘッド゛の実施例IM造を示す図である。尚、従来
へ、loと同一(%分には同−符号を付して説明する。
基板Iは、例ズ−ば熱伝導性が良く、月つ表面平滑化さ
iまた゛アルミナ′J7(板la上に、その保i%口件
と表面スj・−ズネスを得るべくり1/−ズfj;?、
I ++を騎士乃至百ミク【1ン稈nyの厚さに焼、
成付陪形成し、その上に薬品による廐蝕から保Kt!+
する為の下地保hΦ膜1cとしてTa2O3を05乃至
1.0ミクロンの厚さに付着して構成されろう このような(トイ成の絶縁性基板I上に抵抗膜2として
例えばTa S+02を厚さ3000 = 5000
X程度にス・Pワタリング形成する。この抵抗膜2の付
着形成の領域幅nは、財に示す如く所定の狭い範囲とす
る。尚、この際、幅nなるマスクを用いて上記抵抗膜2
をスパッタリング形成すると、前記基板Iとマスクとの
間に多少の隙間ができ、スノやツタリング膜(抵抗膜2
)が廻り込んで411着する。そしてこの膜は伺渚力が
弱いことから、その後リード層のエツチング形成を行う
とき、子の増大に耐えらノ1なくなって剥離するノry
< hが生じる。従って、#a nの抵抗膜2を・形I
JkするにUJ、■、抗模膜2舛板Iの全面、゛またけ
幅nより広い範囲に亘ってスパッタリング形成したのち
、PEP法によって幅nに寸法規制するようにすること
が好ましいう寸だ別の手段と1〜では、リフト詞フによ
りl1li1)nのイiシ状に抵抗ル・12乞形成して
もよく、このようにすれば生産性に優れると言う効果が
奏せられる。即ち、ホトレジストの如き塗料を幅nの領
域を除い−c(=J摺し、乾燥固化したのち、これをマ
スクとして抵抗llφ2をスノぐツタリング形)戊する
。その後、」−記塗料を有機溶剤にて酵解除去するよう
にすれは、幅nの抵抗v2をff1i易に、且つ確実に
イテ]漸形成することが可能となる。尚、上記抵抗膜2
の幅(1は、例えば5喘8度に定められる。まだこのよ
うな抵抗膜2の形成法によれば、所謂屋根瓦式に積重ね
てスパッタリング処理を行い?するので、その生産性が
良い。
iまた゛アルミナ′J7(板la上に、その保i%口件
と表面スj・−ズネスを得るべくり1/−ズfj;?、
I ++を騎士乃至百ミク【1ン稈nyの厚さに焼、
成付陪形成し、その上に薬品による廐蝕から保Kt!+
する為の下地保hΦ膜1cとしてTa2O3を05乃至
1.0ミクロンの厚さに付着して構成されろう このような(トイ成の絶縁性基板I上に抵抗膜2として
例えばTa S+02を厚さ3000 = 5000
X程度にス・Pワタリング形成する。この抵抗膜2の付
着形成の領域幅nは、財に示す如く所定の狭い範囲とす
る。尚、この際、幅nなるマスクを用いて上記抵抗膜2
をスパッタリング形成すると、前記基板Iとマスクとの
間に多少の隙間ができ、スノやツタリング膜(抵抗膜2
)が廻り込んで411着する。そしてこの膜は伺渚力が
弱いことから、その後リード層のエツチング形成を行う
とき、子の増大に耐えらノ1なくなって剥離するノry
< hが生じる。従って、#a nの抵抗膜2を・形I
JkするにUJ、■、抗模膜2舛板Iの全面、゛またけ
幅nより広い範囲に亘ってスパッタリング形成したのち
、PEP法によって幅nに寸法規制するようにすること
が好ましいう寸だ別の手段と1〜では、リフト詞フによ
りl1li1)nのイiシ状に抵抗ル・12乞形成して
もよく、このようにすれば生産性に優れると言う効果が
奏せられる。即ち、ホトレジストの如き塗料を幅nの領
域を除い−c(=J摺し、乾燥固化したのち、これをマ
スクとして抵抗llφ2をスノぐツタリング形)戊する
。その後、」−記塗料を有機溶剤にて酵解除去するよう
にすれは、幅nの抵抗v2をff1i易に、且つ確実に
イテ]漸形成することが可能となる。尚、上記抵抗膜2
の幅(1は、例えば5喘8度に定められる。まだこのよ
うな抵抗膜2の形成法によれば、所謂屋根瓦式に積重ね
てスパッタリング処理を行い?するので、その生産性が
良い。
しかるのち、上記抵抗膜2を形成してなる基板Iの上面
に、第1のメタル9〜1層3としてのCr膜をPe窒蒸
着またはスパッタリングにより約1.0μ7)2の厚さ
に付着形成すZ、。このリード層3についても例えば幅
qの範囲に亘って帯状に形成する。但し、上記幅は(q
>n)となるべく、Cr膜によって前記抵抗膜2が完全
に援われるようiCすることは言う捷でもない。
に、第1のメタル9〜1層3としてのCr膜をPe窒蒸
着またはスパッタリングにより約1.0μ7)2の厚さ
に付着形成すZ、。このリード層3についても例えば幅
qの範囲に亘って帯状に形成する。但し、上記幅は(q
>n)となるべく、Cr膜によって前記抵抗膜2が完全
に援われるようiCすることは言う捷でもない。
その後、上記Cr1liJ上に、第2のメタルリード層
4と17てのA!膜を真空蒸着またOまス・々ラグリン
グによって、約5μmの厚さに形成する。この人、A暎
pよ、例えば基板Iの全面に付着形成したのちPEPに
よって前記抵抗膜2に対向する部分を、例えば(2a+
m)の範囲に亘って窓状にエツチング除去したり、ある
いは上記(21+m)の範囲を除いて還択的に付着形成
するようにマスクを用いて行うようにしでもよい。
4と17てのA!膜を真空蒸着またOまス・々ラグリン
グによって、約5μmの厚さに形成する。この人、A暎
pよ、例えば基板Iの全面に付着形成したのちPEPに
よって前記抵抗膜2に対向する部分を、例えば(2a+
m)の範囲に亘って窓状にエツチング除去したり、ある
いは上記(21+m)の範囲を除いて還択的に付着形成
するようにマスクを用いて行うようにしでもよい。
これによって発熱抵抗膜2に対向する部r■に第2のメ
タルリード層(A’ Qi ) 4が存在することのな
い薄膜積層体ti’i造が得ら1Lる。
タルリード層(A’ Qi ) 4が存在することのな
い薄膜積層体ti’i造が得ら1Lる。
しかるのら上記祐層体を、所望とする解像度を1(でる
為の定められたピッチで、且つ紳幅合有慢′2.ストラ
イプ状マスクを用い、PEPV?lよってiR4−ニン
グする。この)やターニングは、図面中、紙面と垂直な
方向に所定ピッチで抵抗膜2が切断される如く行われる
。ぞして、これに上りβりえは84μm7Zピツチで5
4μm線幅の抵抗IIゑ2の配列パターンが得られるこ
とになる。尚、前述しプこ(2g−t−m )の幅は約
10悶程度に定められる。
為の定められたピッチで、且つ紳幅合有慢′2.ストラ
イプ状マスクを用い、PEPV?lよってiR4−ニン
グする。この)やターニングは、図面中、紙面と垂直な
方向に所定ピッチで抵抗膜2が切断される如く行われる
。ぞして、これに上りβりえは84μm7Zピツチで5
4μm線幅の抵抗IIゑ2の配列パターンが得られるこ
とになる。尚、前述しプこ(2g−t−m )の幅は約
10悶程度に定められる。
その後、前記抵抗膜2上のCr膜の一部f:PEP法に
より除去し、抵抗膜2の一部を露出させろ。
より除去し、抵抗膜2の一部を露出させろ。
この露出幅nlは、例えば2 (10μm程度に定めら
れる。そして、これらの処理を終了したのりその上に保
内膜5を形成して第3図寸たd、第4図に示す構造の薄
膜サーマルヘッドが完成される。
れる。そして、これらの処理を終了したのりその上に保
内膜5を形成して第3図寸たd、第4図に示す構造の薄
膜サーマルヘッドが完成される。
尚、第3図に示す構造のヘッド標−5Cr膜の・(j前
節aHを、抵抗膜2の端部に重なるM置からAノIl々
に重なる自r面゛までとしたものである。これに対して
第4図に示すものはCr1lφをΔ−4膜下の全域に残
したものである。このようにCr膜をその全域に残す(
U造とする場合、上11ピCr膜とA/膜とを連続的に
付着形成できるので生産性が良い等の効果が奏せられる
。またこの利点を活かす上では、Cr膜の膜厚をあ捷り
厚< 1.ない方が好ましい。
節aHを、抵抗膜2の端部に重なるM置からAノIl々
に重なる自r面゛までとしたものである。これに対して
第4図に示すものはCr1lφをΔ−4膜下の全域に残
したものである。このようにCr膜をその全域に残す(
U造とする場合、上11ピCr膜とA/膜とを連続的に
付着形成できるので生産性が良い等の効果が奏せられる
。またこの利点を活かす上では、Cr膜の膜厚をあ捷り
厚< 1.ない方が好ましい。
また前記保護膜5の形成幅D (/C関しては、Δe膜
の内側とするようにしてもよい。つ捷り第3図に示すも
のではD>(z/+m)なるφp囲に保護膜を形成して
いるが、D((’ 2 l十m )なる範囲としてもよ
い。この場合、(2γ十m)を小格<シてもよく、逆に
大きくすることによって達成してもよい。′8)だ大き
くする場合にけCr膜模の膜厚を厚くし、長さlが大き
くなってもり一1゛抵抗が大きくならないようにする等
の工夫を加じtことが望ましい。
の内側とするようにしてもよい。つ捷り第3図に示すも
のではD>(z/+m)なるφp囲に保護膜を形成して
いるが、D((’ 2 l十m )なる範囲としてもよ
い。この場合、(2γ十m)を小格<シてもよく、逆に
大きくすることによって達成してもよい。′8)だ大き
くする場合にけCr膜模の膜厚を厚くし、長さlが大き
くなってもり一1゛抵抗が大きくならないようにする等
の工夫を加じtことが望ましい。
かくして、上記の如き構造ICよれば、主としてリード
体としてナリjく第2のメタシリ−1゛層4が抵抗膜2
と重なることがないので、上記第2のメタルリード層4
としてAノ膜を用いても従来のような問題を招くことが
ない。つ甘り抵抗膜2のパターニング処理時に第2のメ
タルリート)督4が侵されることがなく、上述したAノ
膜の採用が可能となる。従って、Auに代えてAノを用
いるので、安価に製作することがFjJ能となり実用上
多大な効果が奏せられる。
体としてナリjく第2のメタシリ−1゛層4が抵抗膜2
と重なることがないので、上記第2のメタルリード層4
としてAノ膜を用いても従来のような問題を招くことが
ない。つ甘り抵抗膜2のパターニング処理時に第2のメ
タルリート)督4が侵されることがなく、上述したAノ
膜の採用が可能となる。従って、Auに代えてAノを用
いるので、安価に製作することがFjJ能となり実用上
多大な効果が奏せられる。
次に上配措造の薄膜サーマルヘッドの製造方法について
第5図および第6図に示す模式的り製造工程の流れに沿
って説明する。
第5図および第6図に示す模式的り製造工程の流れに沿
って説明する。
先ず絶縁性基板!上の全面に抵抗膜2を付着形成する(
第5図(a)、第6図(a))。しかるのら、この抵抗
III 2を帯状にエツチング形成するに4)5図(b
)(c) 、第6図(b) (e) ) 6そして、こ
の帯状の抵抗膜2を覆って前記基板1の全面に第1のメ
タルリード層3を形成する(第5は1(d)、第(11
941(d))。次に前記抵抗膜2に対向する領域を除
いて前記第1のメタルリード層3上に第2のメタルリー
ド層4を形成するか(第5図(e))、寸たは第1のメ
タルリード層3上の全域に第2のメタルリード層4を形
成する(第(1図(C))。これによって基板l上に抵
抗膜2.!a’;1および第2のメタルリート°層3,
4からηる積層体が形成されることになる〇 しかるのち、上記積層体を抵抗膜2の帯状方向と直角な
方向に所定ピッチ、所定幅でストライプ状に1FEP法
によりノ9ターニングする(第5図(f)、第6図(f
))。そして、第5図(f)の如くノ9ターニングされ
た積層体に対して抵抗膜2の中央部を露出させるべく、
第1のメタルリート“層3を部分的にエツチング除去す
る(第5図(g))。
第5図(a)、第6図(a))。しかるのら、この抵抗
III 2を帯状にエツチング形成するに4)5図(b
)(c) 、第6図(b) (e) ) 6そして、こ
の帯状の抵抗膜2を覆って前記基板1の全面に第1のメ
タルリード層3を形成する(第5は1(d)、第(11
941(d))。次に前記抵抗膜2に対向する領域を除
いて前記第1のメタルリード層3上に第2のメタルリー
ド層4を形成するか(第5図(e))、寸たは第1のメ
タルリード層3上の全域に第2のメタルリード層4を形
成する(第(1図(C))。これによって基板l上に抵
抗膜2.!a’;1および第2のメタルリート°層3,
4からηる積層体が形成されることになる〇 しかるのち、上記積層体を抵抗膜2の帯状方向と直角な
方向に所定ピッチ、所定幅でストライプ状に1FEP法
によりノ9ターニングする(第5図(f)、第6図(f
))。そして、第5図(f)の如くノ9ターニングされ
た積層体に対して抵抗膜2の中央部を露出させるべく、
第1のメタルリート“層3を部分的にエツチング除去す
る(第5図(g))。
壕だ第6図(f)に示す積層体にあっては、抵抗膜2上
に第1および第2のメタルリード が積層されていることから、先ず第2のメタルリード層
4の抵抗膜2に対向する領域をエツチング除去しく第6
図(g))、その後、これによって露出された第1のメ
タルリード層,?の中央音す分をエツチング除去して抵
抗膜2の中央部を露出させる(第6図(h))。そして
、このような工程を経たのち、その上に保護膜5を形成
してサーマルヘッドが完成されろう 尚、この製作工程において、抵抗膜2としてはTa S
+02の如きTa−81−0系,Cr−St−0系およ
びNl −Cr−Sl系等のフッ硝酸をエツチング液と
してエツチング加工されるものが用いられる。寸だこの
とき第2のメタルリード層4としテ、上記エツチング液
に侵されるAノやCuを用いても、第2のメタルリード
層4が抵抗膜2の形成領域を避けて設けられている為、
これによる悪影響を受ける虞れがない。従って第2のメ
タルリード層4として、従来のAuに代えて安価なAノ
やCu等を用いることが可能とケる。
に第1および第2のメタルリード が積層されていることから、先ず第2のメタルリード層
4の抵抗膜2に対向する領域をエツチング除去しく第6
図(g))、その後、これによって露出された第1のメ
タルリード層,?の中央音す分をエツチング除去して抵
抗膜2の中央部を露出させる(第6図(h))。そして
、このような工程を経たのち、その上に保護膜5を形成
してサーマルヘッドが完成されろう 尚、この製作工程において、抵抗膜2としてはTa S
+02の如きTa−81−0系,Cr−St−0系およ
びNl −Cr−Sl系等のフッ硝酸をエツチング液と
してエツチング加工されるものが用いられる。寸だこの
とき第2のメタルリード層4としテ、上記エツチング液
に侵されるAノやCuを用いても、第2のメタルリード
層4が抵抗膜2の形成領域を避けて設けられている為、
これによる悪影響を受ける虞れがない。従って第2のメ
タルリード層4として、従来のAuに代えて安価なAノ
やCu等を用いることが可能とケる。
ところで、上記の如き構造の薄膜サーマルヘッドの基板
上に、その駆動回路を実装する場合、次のようにすれば
よい。第7図(a)〜(d)はその例を示すもので、第
7図<−’I (b)は第3図に示す構造のサーマルヘ
ッドに対する実装例を、また第7図(C) (d)は第
4図に示す構造のサーマルヘッドにX;Jする実装例を
示している。即ち、第7図(a) (c)に示すものに
あっては、第2のメタルリード層4がAノ膜であること
から、■Cチ51.プロのづ?ンディングパッドとの間
でAノワイヤ、寸だばAuワイヤ7を用いてワイヤホゝ
ンディング接経:するように′1′ればよい。また第7
図(b)に示すようにICチップ6をはんだイ」け接続
する場合には、Aノllyニー3 (第2のメタルリー
ド層4)上にはんだが直接付かないことから、上記AA
IIffG lにTi1l保8゜Co膜9を順次積層
し、この上に前記ICチップ6をはんだイ寸けするよう
にすitば、にい。−また第7図((1)に示すように
Cr膜上にICチップ6′fK:はんだ付けする場合に
は、Cj[にはんだが直接付かないことからをよんだ用
のメタライセ゛−/ヨンとして前述したようにTi膜8
、 Cu膜9をCr膜上に+t:41JIy、するよ
うにすればよい。このようにす第1.げ、P+’、 2
のメタルリード層4としてA)膜を用いても その、駆
動回路であるICチ、第6の実装に何ら不都合を招くこ
とがない。尚、図中10に1はんだバンプ苓:示しでい
る。
上に、その駆動回路を実装する場合、次のようにすれば
よい。第7図(a)〜(d)はその例を示すもので、第
7図<−’I (b)は第3図に示す構造のサーマルヘ
ッドに対する実装例を、また第7図(C) (d)は第
4図に示す構造のサーマルヘッドにX;Jする実装例を
示している。即ち、第7図(a) (c)に示すものに
あっては、第2のメタルリード層4がAノ膜であること
から、■Cチ51.プロのづ?ンディングパッドとの間
でAノワイヤ、寸だばAuワイヤ7を用いてワイヤホゝ
ンディング接経:するように′1′ればよい。また第7
図(b)に示すようにICチップ6をはんだイ」け接続
する場合には、Aノllyニー3 (第2のメタルリー
ド層4)上にはんだが直接付かないことから、上記AA
IIffG lにTi1l保8゜Co膜9を順次積層
し、この上に前記ICチップ6をはんだイ寸けするよう
にすitば、にい。−また第7図((1)に示すように
Cr膜上にICチップ6′fK:はんだ付けする場合に
は、Cj[にはんだが直接付かないことからをよんだ用
のメタライセ゛−/ヨンとして前述したようにTi膜8
、 Cu膜9をCr膜上に+t:41JIy、するよ
うにすればよい。このようにす第1.げ、P+’、 2
のメタルリード層4としてA)膜を用いても その、駆
動回路であるICチ、第6の実装に何ら不都合を招くこ
とがない。尚、図中10に1はんだバンプ苓:示しでい
る。
1膜上本発明に係る薄膜サーマル−\ラドの第14造と
その製造方法につき説明したが、こねによって得られる
効井(は次の通りであろう先ず、本発明によh−ば、第
2のメタルリード層4としてAuの如き繊金属を用いる
ことなく、A/ −? Cu Mの安価な金属を用いる
ことができ、辰H%(記録へ7ドλ・安価に実現するこ
とができる。ま7F往来のものと一゛4なり、抵抗膜2
を狭い915囲にだ0形(戊ずれ(′」“よいので、そ
の生産性を高めることができる。しかもこのとき、屋根
瓦状に基板をね重ね−C1【(抗+11;32の形成を
行い得るので、生産能率の同一ヒを図り得る。壕ン琶抵
抗願2の工、チンダ液としてフッ硝酸を用いても、M記
Aノ膜が上記工1.チンダ液に触れることがないので、
Aノ膜がこれによって侵されることがないうちん的に(
If来のものにあっ−〔k−↓、抵抗膜2との重なり部
分(tCお・い−こA〕暎(第2のメタルリード層)が
侵され、消失してし斗う虞れがあり、実用上問題となっ
た。しかし、上述した、しりに第2のメタルリード層(
AI膜)が抵抗H!42の形成領域ンリ・ら離り、て設
けられた構造なので、このような不具合が生じることが
ない T、fiには本(’A造によizば、保商膜5を
極力狭い範囲にのみ設けることが可能となるので、その
生産性を高めることが可能となり、この場合でも屋根瓦
状に81重ねて保護膜5のス・ぐツタリング処理ができ
るので、生産能率の向上か期待できる。−1/こ従来、
貴金属リード上に保hφ嗅を形成することができない為
、Cr膜等の活はメタル層を■デ成したのち保訓膜5を
形成しているが、このような不具合も生じない等の効果
が奏せられる。このように本発明によれば、f・「々格
別の絶大なる利点効果が奏せられる。
その製造方法につき説明したが、こねによって得られる
効井(は次の通りであろう先ず、本発明によh−ば、第
2のメタルリード層4としてAuの如き繊金属を用いる
ことなく、A/ −? Cu Mの安価な金属を用いる
ことができ、辰H%(記録へ7ドλ・安価に実現するこ
とができる。ま7F往来のものと一゛4なり、抵抗膜2
を狭い915囲にだ0形(戊ずれ(′」“よいので、そ
の生産性を高めることができる。しかもこのとき、屋根
瓦状に基板をね重ね−C1【(抗+11;32の形成を
行い得るので、生産能率の同一ヒを図り得る。壕ン琶抵
抗願2の工、チンダ液としてフッ硝酸を用いても、M記
Aノ膜が上記工1.チンダ液に触れることがないので、
Aノ膜がこれによって侵されることがないうちん的に(
If来のものにあっ−〔k−↓、抵抗膜2との重なり部
分(tCお・い−こA〕暎(第2のメタルリード層)が
侵され、消失してし斗う虞れがあり、実用上問題となっ
た。しかし、上述した、しりに第2のメタルリード層(
AI膜)が抵抗H!42の形成領域ンリ・ら離り、て設
けられた構造なので、このような不具合が生じることが
ない T、fiには本(’A造によizば、保商膜5を
極力狭い範囲にのみ設けることが可能となるので、その
生産性を高めることが可能となり、この場合でも屋根瓦
状に81重ねて保護膜5のス・ぐツタリング処理ができ
るので、生産能率の向上か期待できる。−1/こ従来、
貴金属リード上に保hφ嗅を形成することができない為
、Cr膜等の活はメタル層を■デ成したのち保訓膜5を
形成しているが、このような不具合も生じない等の効果
が奏せられる。このように本発明によれば、f・「々格
別の絶大なる利点効果が奏せられる。
尚、本発明U、上述(7た実施例にのみ限定されるもの
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実
施することができろととは勿論のことである。
ではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実
施することができろととは勿論のことである。
第1図および第2図はそれぞね、従来の薄II(、X′
丈−マルヘッドの構造例を示す図、Ql’+ 3図およ
び第4図はそれぞれ本発明の実施例に係る薄膜サーマル
”’7.ドの構造例を示す図、第5図(a)〜(g)お
よび第6図(a)〜(h)はそれぞれ本発明の実施例に
係る薄膜サーマルヘッドの製造工程の流れを模式的に示
す+gI、第7図(a)〜(d)はそれぞれツ′−マル
ヘッド駆動回路の実装例を示す図である。 I・・・絶縁性基板、2・・抵抗膜、3・・・第1のメ
タルリード層、4・・第2のメタルリード層、5・保護
膜、6 ・ICチップ(駆動1町路)、?・・・Aノ(
A、u )ボ゛ンディングリー1’、8 ・−Ti膜、
9・Cu暎、IO・はんだゼイド。 出顧人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第5図
第6図
丈−マルヘッドの構造例を示す図、Ql’+ 3図およ
び第4図はそれぞれ本発明の実施例に係る薄膜サーマル
”’7.ドの構造例を示す図、第5図(a)〜(g)お
よび第6図(a)〜(h)はそれぞれ本発明の実施例に
係る薄膜サーマルヘッドの製造工程の流れを模式的に示
す+gI、第7図(a)〜(d)はそれぞれツ′−マル
ヘッド駆動回路の実装例を示す図である。 I・・・絶縁性基板、2・・抵抗膜、3・・・第1のメ
タルリード層、4・・第2のメタルリード層、5・保護
膜、6 ・ICチップ(駆動1町路)、?・・・Aノ(
A、u )ボ゛ンディングリー1’、8 ・−Ti膜、
9・Cu暎、IO・はんだゼイド。 出顧人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第5図
第6図
Claims (1)
- 絶6基板上に抵抗膜を帯状に形成する工程と、この抵抗
膜を覆って前記絶縁基板上に第1のメタルリード層を形
成する工程と、この第1のメタルリード層上の前記抵抗
膜に対向する部分を除く領域に第2のメタルリード層を
形成する工程と、上記抵抗膜と第1および第2のメタノ
しリード層からなる積層体を前記抵抗膜の帯状方向と直
交する方向にストライブ状にエツチング除去する工程と
、前記第1のメタルソー1゛層の前言12抵抗11!!
に対向する領域の中央γ9++ 4+ ffi工、・チ
ング除去する工程とを具備したことを!h徴とする薄1
漠ザーマルへ、ドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57171406A JPS5959475A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 薄膜サ−マルヘッドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57171406A JPS5959475A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 薄膜サ−マルヘッドの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5959475A true JPS5959475A (ja) | 1984-04-05 |
Family
ID=15922554
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57171406A Pending JPS5959475A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 薄膜サ−マルヘッドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5959475A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5637177A (en) * | 1979-09-03 | 1981-04-10 | Hitachi Ltd | Resistor for heat-sensitive recording head and manufacture thereof |
| JPS5689580A (en) * | 1979-12-20 | 1981-07-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Thin film type thermal head |
| JPS56157382A (en) * | 1980-05-09 | 1981-12-04 | Hitachi Ltd | Thermal head |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP57171406A patent/JPS5959475A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5637177A (en) * | 1979-09-03 | 1981-04-10 | Hitachi Ltd | Resistor for heat-sensitive recording head and manufacture thereof |
| JPS5689580A (en) * | 1979-12-20 | 1981-07-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Thin film type thermal head |
| JPS56157382A (en) * | 1980-05-09 | 1981-12-04 | Hitachi Ltd | Thermal head |
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