JPS5961760A - 光度計 - Google Patents
光度計Info
- Publication number
- JPS5961760A JPS5961760A JP17262482A JP17262482A JPS5961760A JP S5961760 A JPS5961760 A JP S5961760A JP 17262482 A JP17262482 A JP 17262482A JP 17262482 A JP17262482 A JP 17262482A JP S5961760 A JPS5961760 A JP S5961760A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interference filter
- light
- photometer
- sample components
- interference
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はガスクロマトグラフに用いる主に炎光光度計
に関し、さらに詳しくは反応カラムからの リーングル
成分の導入部と、サンプル成分の励起部と、励起された
サンプル成分が発する光の受光検知部と、サンプル成分
からの光を通過させるように受光４１を知部の前段に用
いる干渉フィルタ一部等からなる光度計において、干渉
フィルタ一部が円板状で中心回転軸において回転し、し
かもその回転軸を中心として多数の異なる波長の光に対
応する干渉フィルターが配されて構成されていて、異な
る光に対し干渉フィルターを適宜選択して用いることが
できることを特徴とする光度計に関するものである。
に関し、さらに詳しくは反応カラムからの リーングル
成分の導入部と、サンプル成分の励起部と、励起された
サンプル成分が発する光の受光検知部と、サンプル成分
からの光を通過させるように受光４１を知部の前段に用
いる干渉フィルタ一部等からなる光度計において、干渉
フィルタ一部が円板状で中心回転軸において回転し、し
かもその回転軸を中心として多数の異なる波長の光に対
応する干渉フィルターが配されて構成されていて、異な
る光に対し干渉フィルターを適宜選択して用いることが
できることを特徴とする光度計に関するものである。
従来の炎光光度訃の場合、干渉フィルターはリンやイオ
ウ成分の発する光の波長に対応する特定のものが単体で
納められている。このものにおいてはリンもしくはイオ
ウ成分についての分析はおこなえても他の炭素化合物等
の成分の分析は行なえないものである。
ウ成分の発する光の波長に対応する特定のものが単体で
納められている。このものにおいてはリンもしくはイオ
ウ成分についての分析はおこなえても他の炭素化合物等
の成分の分析は行なえないものである。
この発ｒＩＩｊは上記の点に鑑みてなしたもので、一台
の光度計においてリン、イオウの両成分と、さらに炭素
化合物等の他の成分をも分析できるように、干渉フイ／
ｌ／タ一部を円板状にかつ回転自在に信成し、多数のし
かもそれぞれが波長が異なる光に対応する机数枚の干渉
フィルターを取り付けてＪｌ、ｆｆ成したものである。
の光度計においてリン、イオウの両成分と、さらに炭素
化合物等の他の成分をも分析できるように、干渉フイ／
ｌ／タ一部を円板状にかつ回転自在に信成し、多数のし
かもそれぞれが波長が異なる光に対応する机数枚の干渉
フィルターを取り付けてＪｌ、ｆｆ成したものである。
この発すＪにおいて干渉フィルタ一部全梧成する干渉フ
ィルター数は１０枚程度とし、２００ ｎｍ−６００ｎ
ｍのそれぞれ異なる特定波長の光に対応する干渉フィル
ターを用いる。円板状への構成は、輪状の骨組体に各干
渉フィルターを取りトＪけるようにして行なえばよく、
萱に着脱自在の構成としておけば適宜の波長に対応する
干渉フィルターを自由に用いることができる。回く云は
円板の中央にモーターの回転軸全連結しておこない、モ
ーターとしては干渉フィルタ一部を正確に一定中の回転
を行なわすようにパルスモータ−を用いバばよい。
ィルター数は１０枚程度とし、２００ ｎｍ−６００ｎ
ｍのそれぞれ異なる特定波長の光に対応する干渉フィル
ターを用いる。円板状への構成は、輪状の骨組体に各干
渉フィルターを取りトＪけるようにして行なえばよく、
萱に着脱自在の構成としておけば適宜の波長に対応する
干渉フィルターを自由に用いることができる。回く云は
円板の中央にモーターの回転軸全連結しておこない、モ
ーターとしては干渉フィルタ一部を正確に一定中の回転
を行なわすようにパルスモータ−を用いバばよい。
以下この発す］を実施例図面により更に詳しく説明する
。
。
第１図はこの発明の全体ｔｆ４成を示す。（１）が反応
カラムで、この反応カラム（１）がサンプル成分の導入
部（２）に接続されている。この部分にはエアーパイプ
（３）および水素パイプ（４）が接続されている。（５
）が水素フレームで、この近傍がサンプル成分のＬＩＪ
起部（りを構成する。（７）が干渉フィルタ一部で、受
光検知部（８）の前段に設けられており、多数の異なる
波長の光に対応する干渉フィルター（７つで円板状に構
成され、この干渉フィルタ一部（７）１．Ｌ中心回転軸
がパルスモータ−（９）軸に連結され回転する。受光検
知部（８）ｋｔ７オトマルチプライ’Ｙ−（１ｏ）とエ
レクトロメータ（１１）とからなり、エレクトロメータ
ー（１１）はＡＴ）変換器（１２）に接続され、ＡＤ＊
換器（１２）はさらに制御部（１３）に接続される。（
１４）ｔｔＪ、位置検出装置斤で、干渉フィルタ一部（
７）が１館に回転しているかどうか全検知し、その信引
ｔ： ｉｉ制御部（１３）に送る。
カラムで、この反応カラム（１）がサンプル成分の導入
部（２）に接続されている。この部分にはエアーパイプ
（３）および水素パイプ（４）が接続されている。（５
）が水素フレームで、この近傍がサンプル成分のＬＩＪ
起部（りを構成する。（７）が干渉フィルタ一部で、受
光検知部（８）の前段に設けられており、多数の異なる
波長の光に対応する干渉フィルター（７つで円板状に構
成され、この干渉フィルタ一部（７）１．Ｌ中心回転軸
がパルスモータ−（９）軸に連結され回転する。受光検
知部（８）ｋｔ７オトマルチプライ’Ｙ−（１ｏ）とエ
レクトロメータ（１１）とからなり、エレクトロメータ
ー（１１）はＡＴ）変換器（１２）に接続され、ＡＤ＊
換器（１２）はさらに制御部（１３）に接続される。（
１４）ｔｔＪ、位置検出装置斤で、干渉フィルタ一部（
７）が１館に回転しているかどうか全検知し、その信引
ｔ： ｉｉ制御部（１３）に送る。
上記ハルレスモーター（９〕も制御部（１３）に接続さ
れていて、制御部（１３）の命令に基づいて駆動する。
れていて、制御部（１３）の命令に基づいて駆動する。
サンプル成分が反応カラム（１）から）９人部（２）を
経て水素フレーム（５）近傍のサンプル成分の励起部（
６）に到りこの部分で励起され、次に基底レベルへ戻る
際に発する光が干渉フィルタ一部（７）を通して受光倹
り１１部（８）で受光検知される。そしてこの信号がＡ
Ｔ） 父換器（１２）を経て制御部（１３）に送られ、
記録部（１５） においてガスクロマトグラムとして表
わされる。
経て水素フレーム（５）近傍のサンプル成分の励起部（
６）に到りこの部分で励起され、次に基底レベルへ戻る
際に発する光が干渉フィルタ一部（７）を通して受光倹
り１１部（８）で受光検知される。そしてこの信号がＡ
Ｔ） 父換器（１２）を経て制御部（１３）に送られ、
記録部（１５） においてガスクロマトグラムとして表
わされる。
干渉フィルタ一部（７）は、特定の成分のみをターゲッ
トとするように特定の干渉フィルクー（７つを固定的に
使用してもよいし、反応カラム（１）から溶出するピー
クごとにその成分の発する光に対応する干渉フィルター
（７りを干渉フィルタ一部（７を回転さセ”ながら選択
的に使用してもよいし、さらに干渉フィルタ一部（７）
を高速回転しながら使用して各ピークごとにそのピーク
の含有元素比を求めるように使用してもよい。
トとするように特定の干渉フィルクー（７つを固定的に
使用してもよいし、反応カラム（１）から溶出するピー
クごとにその成分の発する光に対応する干渉フィルター
（７りを干渉フィルタ一部（７を回転さセ”ながら選択
的に使用してもよいし、さらに干渉フィルタ一部（７）
を高速回転しながら使用して各ピークごとにそのピーク
の含有元素比を求めるように使用してもよい。
上記実施例においては水素フレーム金剛いる構成のもの
を示しているが、サンプル成分の励起はプラズマ放電に
よりお仁なってもよい。
を示しているが、サンプル成分の励起はプラズマ放電に
よりお仁なってもよい。
この発明は上述のように構成されており、この発り１に
よれば一台の光度計においてリン、イオウの白丸Ａ】、
さらには〃シ素化合物等の伸、の元素の分析も干渉フィ
ルタ一部を適宜回転させることによりおこなえるもので
ある。さらに各ピークに対して干渉フィルタ一部を高速
同転しながら分析金おこなえば、各ピークの同定（定性
）を？？／ｇ実におこなえ、さらに、時間、波長、濃度
の３次元のクロマトグラムが得られるものである。
よれば一台の光度計においてリン、イオウの白丸Ａ】、
さらには〃シ素化合物等の伸、の元素の分析も干渉フィ
ルタ一部を適宜回転させることによりおこなえるもので
ある。さらに各ピークに対して干渉フィルタ一部を高速
同転しながら分析金おこなえば、各ピークの同定（定性
）を？？／ｇ実におこなえ、さらに、時間、波長、濃度
の３次元のクロマトグラムが得られるものである。
第１図はこの発明の構成金示すイ草式図である。
（１）・・・・・反応カラム、（２）・・・・・ｔｉ７
人Ｗｉｔ、（５）・°°・・水素フレーム、（６）・
・・・・励起部、（７）・・・・干渉フィルタ一部、（
７す・・・・・干渉フィルター、（８片・・・・受光検
知部。 代理人 弁理士 野河信太部 ！ ・ ７．テ
人Ｗｉｔ、（５）・°°・・水素フレーム、（６）・
・・・・励起部、（７）・・・・干渉フィルタ一部、（
７す・・・・・干渉フィルター、（８片・・・・受光検
知部。 代理人 弁理士 野河信太部 ！ ・ ７．テ
Claims (1)
- １、反応カラムからのサンプル成分の導入部と、サンプ
ル成分の励起部と、励起されたサンプル成分が発する光
の受光検知部と、サンプル成分からの光を通過させるよ
うに受光検知部の前段に用いる干渉フィルタ一部等から
なる光度計において、干渉フィルタ一部が円板状で中心
回転軸において回転し、しかもその回転軸を中心として
多数の異なる波長の光に対応する干渉フィルターが配さ
れて構成されていて、具なる光に対し干渉フィルターを
適宜選択して用いることができることを特徴とする光度
計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17262482A JPS5961760A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17262482A JPS5961760A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5961760A true JPS5961760A (ja) | 1984-04-09 |
Family
ID=15945321
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17262482A Pending JPS5961760A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5961760A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006194880A (ja) * | 2005-01-12 | 2006-07-27 | Agilent Technol Inc | 改善された感度を有する炎光光度検出器 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4511997Y1 (ja) * | 1965-10-15 | 1970-05-27 | ||
| JPS5753644A (en) * | 1980-09-17 | 1982-03-30 | Olympus Optical Co Ltd | Photometric device using more than one wavelength |
| JPS57144446A (en) * | 1981-03-02 | 1982-09-07 | Toshiba Corp | Apparatus for spectrochemical analysis |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP17262482A patent/JPS5961760A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4511997Y1 (ja) * | 1965-10-15 | 1970-05-27 | ||
| JPS5753644A (en) * | 1980-09-17 | 1982-03-30 | Olympus Optical Co Ltd | Photometric device using more than one wavelength |
| JPS57144446A (en) * | 1981-03-02 | 1982-09-07 | Toshiba Corp | Apparatus for spectrochemical analysis |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006194880A (ja) * | 2005-01-12 | 2006-07-27 | Agilent Technol Inc | 改善された感度を有する炎光光度検出器 |
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