JPS5964589A - 結晶の成長方法 - Google Patents
結晶の成長方法Info
- Publication number
- JPS5964589A JPS5964589A JP17121382A JP17121382A JPS5964589A JP S5964589 A JPS5964589 A JP S5964589A JP 17121382 A JP17121382 A JP 17121382A JP 17121382 A JP17121382 A JP 17121382A JP S5964589 A JPS5964589 A JP S5964589A
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- JP
- Japan
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- crucible
- crystal
- melt
- diameter
- supplied
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B15/00—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
- C30B15/02—Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(a) 発明の技術分野
本発明は結晶の成長方法に関する。
()〕)技術の背景
現在の半導体集積回路はシリコン−(Si)、ガリウム
砒素(GaAs ) * インジウム燐(InP)など
の単体半導体或は化合物半導体の単結晶から切り出した
一定の結晶方位をもつ単結晶基板(ウェハ)を用いて形
成されている。
砒素(GaAs ) * インジウム燐(InP)など
の単体半導体或は化合物半導体の単結晶から切り出した
一定の結晶方位をもつ単結晶基板(ウェハ)を用いて形
成されている。
こ\で単結晶の成長方法にはチョクラルスキー法(略称
CZ法)とフローティングゾーン法(略称F’ Z法)
の2つがあり、前者は大きな直径のものが得やすい点で
また後者は高純度のものが得易い点に特色がある。
CZ法)とフローティングゾーン法(略称F’ Z法)
の2つがあり、前者は大きな直径のものが得やすい点で
また後者は高純度のものが得易い点に特色がある。
本発明はCZ法による単結晶の成長方法に関するもので
ある。
ある。
(c)従来技術と問題点
単結晶の成長に使用される坩堝は溶融させる材料により
白金(pt)+石英(S102)l窒化硼素(BN)な
ど各種の耐熱材料が使用され、この中に単結晶と同じ材
料からでる粉末を入れて加熱溶融し、この中に種結晶を
接触させ、徐々に引上げ 、。
白金(pt)+石英(S102)l窒化硼素(BN)な
ど各種の耐熱材料が使用され、この中に単結晶と同じ材
料からでる粉末を入れて加熱溶融し、この中に種結晶を
接触させ、徐々に引上げ 、。
ることにより結晶成長が行われている。
こ\で半導体集積回路などの半導体デバイスは何れも量
産されているものであp、特性の均等化およびコスト低
減の見地からバッチ生産に使用されるウェハの直径は益
々大型化に指向している。
産されているものであp、特性の均等化およびコスト低
減の見地からバッチ生産に使用されるウェハの直径は益
々大型化に指向している。
例えば3i について言えば径5〔インチ〕までの結晶
成長技術は既に実用化されており、現在径8〔インチ〕
の結晶成長を目指して努力がなされている。
成長技術は既に実用化されており、現在径8〔インチ〕
の結晶成長を目指して努力がなされている。
以下5ijl’結晶の成長を例にとり結晶成長方法を説
明する。
明する。
第1図は抵抗加熱形C2炉の引上げ機構を示す断面図で
あって、坩堝lは石英(Si02)からな9、特に酸素
(0〕混入を嫌う場合は窒化硅素(Si3N4)が内張
すされている。
あって、坩堝lは石英(Si02)からな9、特に酸素
(0〕混入を嫌う場合は窒化硅素(Si3N4)が内張
すされている。
こ\で径4〔インチ〕或は5〔インチ〕の結晶成長に使
用される坩堝は径約300[:am:]でありまた高さ
は2 (l O[龍]を越える。
用される坩堝は径約300[:am:]でありまた高さ
は2 (l O[龍]を越える。
か\る坩堝1の中に多結晶シリコンを入れ、坩堝1を取
り囲んで設けられているカーボンヒータ2に゛r2シ流
金通じて坩堝1を加熱することにより多結晶シリコンを
溶融して融液3とする。
り囲んで設けられているカーボンヒータ2に゛r2シ流
金通じて坩堝1を加熱することにより多結晶シリコンを
溶融して融液3とする。
こ\で加熱はアルゴン(Ar )雰囲気中で行い、温度
は輻射高温計を用いて±o、 2 C’C)以下に制御
されている。
は輻射高温計を用いて±o、 2 C’C)以下に制御
されている。
さて単結晶の育成は結晶成長させようとする結晶方位を
もつ種結晶4の先端葡融液3に接触させるが、この際の
融液3の温度は種結晶4の先端が僅かに融解しつ\均り
合いが保たれる温度に設定してあり、平衡に達した後、
毎分3〜5〔罷〕の速い引上げ速度で結晶を細く絞って
種結晶にある転位を外周に追い出すと共に転位の発生金
抑えて無転位化する。
もつ種結晶4の先端葡融液3に接触させるが、この際の
融液3の温度は種結晶4の先端が僅かに融解しつ\均り
合いが保たれる温度に設定してあり、平衡に達した後、
毎分3〜5〔罷〕の速い引上げ速度で結晶を細く絞って
種結晶にある転位を外周に追い出すと共に転位の発生金
抑えて無転位化する。
また第1図矢印5の方向に起っている熱対流や乱流によ
って生ずる融液3と引上げ結晶6との界面での熱の揺ぎ
を防ぐために種結晶4と坩堝1とをそれぞれ反対方向に
低速回転させて融液3の中に横方向の強制流を形成する
。
って生ずる融液3と引上げ結晶6との界面での熱の揺ぎ
を防ぐために種結晶4と坩堝1とをそれぞれ反対方向に
低速回転させて融液3の中に横方向の強制流を形成する
。
次に引上げ速度全下げ、また温度も徐々に下げて希望す
る直径にまで太らせ冷と共に長さ方向に単結晶を成長せ
しめる。
る直径にまで太らせ冷と共に長さ方向に単結晶を成長せ
しめる。
か\る成長方法を用いて直径の大きい単結晶を引上ける
場合に必要なことは、不純物が少く且つ不純物?農産分
布が均一で、更に長さが従来と略同程度又は長い結晶を
得ることで段)る。
場合に必要なことは、不純物が少く且つ不純物?農産分
布が均一で、更に長さが従来と略同程度又は長い結晶を
得ることで段)る。
すなわちSi増結晶の引上げにおいては適正値の酸素含
有量に保たれ且つ不純物濃度分布の異る成長縞のない均
一な特性をもつ結晶を作ることが必要である。
有量に保たれ且つ不純物濃度分布の異る成長縞のない均
一な特性をもつ結晶を作ることが必要である。
然し乍ら結晶引上げに際しては初期において特にt1′
¥′累d度が市くなυ一方熟熱対流よる成長縞の発生が
起り易い。
¥′累d度が市くなυ一方熟熱対流よる成長縞の発生が
起り易い。
こ\で従来の5〔インチ) E7の結晶成長に対し8〔
インチ〕径の大きな直径を有する結晶を成長させるには
使用する坩堝の直径を大きくするだけでは達成すること
ができない。
インチ〕径の大きな直径を有する結晶を成長させるには
使用する坩堝の直径を大きくするだけでは達成すること
ができない。
例えば5〔インチ〕径の結晶成長に使用される坩堝に1
li18〜20(k17)のシリコン(SL)多結晶粉
末が充填(jE用され、この場合、融液の上下において
Fj、 40〜80〔℃〕の温度差があるとされている
が、これをそのま\8〔インチ〕径の結晶成長・に適用
すると熱対流の影響が顕著となり高品質の結晶f:得る
ことは難しい。
li18〜20(k17)のシリコン(SL)多結晶粉
末が充填(jE用され、この場合、融液の上下において
Fj、 40〜80〔℃〕の温度差があるとされている
が、これをそのま\8〔インチ〕径の結晶成長・に適用
すると熱対流の影響が顕著となり高品質の結晶f:得る
ことは難しい。
(d) 発明の目的
本発明は直径が大きく且つ長さが従来と略同程度又は従
来よフ長い高品質な単結晶の引上げが可能な成長方法を
提供することを目的とする。
来よフ長い高品質な単結晶の引上げが可能な成長方法を
提供することを目的とする。
(e) 発明の溶成
本発明の目的は坩堝に収容された結晶成分からかる融液
に種結晶を接触させて該種結晶に結晶を成長させる際、
前す己坩堝の内部側面と結晶成長部との間に対流防止用
の隔壁を設け、前記坩堝のノ戊面又は側面から該坩堝内
に前記融液を補給することにより達成される。
に種結晶を接触させて該種結晶に結晶を成長させる際、
前す己坩堝の内部側面と結晶成長部との間に対流防止用
の隔壁を設け、前記坩堝のノ戊面又は側面から該坩堝内
に前記融液を補給することにより達成される。
(4)発明の実11!2例
成長装釘を用いて単結晶の引上げを行う場合、結晶は太
きf!直径で且つ長さが長いことが必要であり、均一の
酸素含有量の結晶を得る見地からもまた一kJ Mrの
見地からも長さの短い結晶では直径を大きくする意味が
ない。現在径4〔インチ〕および5〔インチ〕の81単
結晶については長さ1〔n1〕程度のものが作られてい
る。
きf!直径で且つ長さが長いことが必要であり、均一の
酸素含有量の結晶を得る見地からもまた一kJ Mrの
見地からも長さの短い結晶では直径を大きくする意味が
ない。現在径4〔インチ〕および5〔インチ〕の81単
結晶については長さ1〔n1〕程度のものが作られてい
る。
さて発明者等はかねてよpS1単結晶の引上げに際し熱
対流或は乱流の結晶への影響を緩和する方法どして隅壁
を設けることを提案している。。
対流或は乱流の結晶への影響を緩和する方法どして隅壁
を設けることを提案している。。
第2南回は隔壁17を有する坩堝11を用いて結晶成長
を行う場合の坩堝11の断面図、第2図(B)は隔壁1
7の斜視図を示している。
を行う場合の坩堝11の断面図、第2図(B)は隔壁1
7の斜視図を示している。
すなわち隔壁17は/組部18と直胴部19かりなり中
火部に例えば8〔インチ〕径の単結晶を成長させようと
する」易合、結晶引上げ用の面径約10〔インチ〕の開
口20が設けてル)る。
火部に例えば8〔インチ〕径の単結晶を成長させようと
する」易合、結晶引上げ用の面径約10〔インチ〕の開
口20が設けてル)る。
こ\で隔壁17の必要争件は1ii7ii 13よりも
低比、IS(で引上げ結晶16を中心として′1・IS
に浮上していること及び結晶成長中を通じメニスカスラ
インの観測の支障とならぬように引上げ結晶16と4号
部18との間には光分な間隙をもつ開口20 k ri
2けることが必要である。
低比、IS(で引上げ結晶16を中心として′1・IS
に浮上していること及び結晶成長中を通じメニスカスラ
インの観測の支障とならぬように引上げ結晶16と4号
部18との間には光分な間隙をもつ開口20 k ri
2けることが必要である。
本実施例の場合、隔壁17は石英(S’02 +比重2
、20 ) !、 9なりsi (比m、 2.33
) J: J)軽いため常に融液13上に浮いている。
、20 ) !、 9なりsi (比m、 2.33
) J: J)軽いため常に融液13上に浮いている。
それでか\る隔壁17が存在すると坩堝11の側壁に沿
って矢印15の方向に流れる熱対流および乱流を阻止で
きる。
って矢印15の方向に流れる熱対流および乱流を阻止で
きる。
然し長さの長い結晶を成長させるには通常の大きさの坩
堝即ち径300(mm)高さ200 Ctnm’ゴの坩
堝を用いる限り融液13の量が不足する。
堝即ち径300(mm)高さ200 Ctnm’ゴの坩
堝を用いる限り融液13の量が不足する。
そこで本発明は坩堝の側面は底面に連結管を設は別に設
けた坩堝より融液を−(llt給する。
けた坩堝より融液を−(llt給する。
第3図(はこの実施例であって1it堝の側面に設けら
れている例えば径5〔インチ〕の連結管23.7(通じ
て別な坩堝、例えば径300 Cmrn :]、高さ2
00(mm〕の坩堝22よりT、独液13が供給さ捗る
。
れている例えば径5〔インチ〕の連結管23.7(通じ
て別な坩堝、例えば径300 Cmrn :]、高さ2
00(mm〕の坩堝22よりT、独液13が供給さ捗る
。
こ\で2つの坩堝11..22id一体化して作られて
分り、Si 原料のlu;給・51本実施例の場合多
結晶81 ロッド1ゴを引上げ結晶16の引上げ速度
に対応させて融液13の中に浸漬することにより行って
いるが、3i粉末を少量ずつ連続的にイ↓(給する方法
を用いてもよい。
分り、Si 原料のlu;給・51本実施例の場合多
結晶81 ロッド1ゴを引上げ結晶16の引上げ速度
に対応させて融液13の中に浸漬することにより行って
いるが、3i粉末を少量ずつ連続的にイ↓(給する方法
を用いてもよい。
尚、本実施例では融液の補給を坩堝11の側面から坩堝
11内へ導入しているが坩堝11の底面から補給しても
よい。
11内へ導入しているが坩堝11の底面から補給しても
よい。
このように融液3全自動供給し液位を一定にして結晶引
上げを行えば径8〔インチ〕のLうに大きな結晶で成長
する場合でも従来の坩堝を用いること・ゲでき、また更
に浅い坩堝を用いても十分本発明の目的を達成できる。
上げを行えば径8〔インチ〕のLうに大きな結晶で成長
する場合でも従来の坩堝を用いること・ゲでき、また更
に浅い坩堝を用いても十分本発明の目的を達成できる。
また、隔壁17を使用するため熱対流の発生が少く坩堝
を回転しなくても熱対流や乱流の影響を無くすことがで
きる。そして本実力用例によれば約1〜2〔m〕の長さ
の単結晶を得ろことをi」能にする。
を回転しなくても熱対流や乱流の影響を無くすことがで
きる。そして本実力用例によれば約1〜2〔m〕の長さ
の単結晶を得ろことをi」能にする。
(g) 発明の効果
本発明は結晶成長が行われる坩堝内に隔壁を設且つ従来
と略同程度又は従来より長い高品質の結晶を得ることが
可能となる。
と略同程度又は従来より長い高品質の結晶を得ることが
可能となる。
第1図は結晶の引上げ成長を説明する18’r面図、第
2図は本発明に係る隔壁使用の説明図で囚は結晶成長を
説明する断irU園、(B)は隔壁の斜視図、第3図は
本発明に係る坩堝を用いた結晶成長を示す断面図である
。 図において ]、、11.22Fi坩堝、2はカーボンヒータ、3.
13は融液、6,16は引上げ結晶、17は隔壁、18
1t4i:4部、19は直胴部、21は連結管。
2図は本発明に係る隔壁使用の説明図で囚は結晶成長を
説明する断irU園、(B)は隔壁の斜視図、第3図は
本発明に係る坩堝を用いた結晶成長を示す断面図である
。 図において ]、、11.22Fi坩堝、2はカーボンヒータ、3.
13は融液、6,16は引上げ結晶、17は隔壁、18
1t4i:4部、19は直胴部、21は連結管。
Claims (1)
- 坩堝に収容された結晶成分からなる融液に種結晶を接触
させて該種結晶に結晶を成長させる際、前記坩堝の内部
側面と結晶成長部との間に対流防止用の隔壁f:11ツ
け、前記坩堝の底面又は側面から該坩堝内に前記融液を
補給することを荷動とする結晶の成長方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17121382A JPS5964589A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 結晶の成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17121382A JPS5964589A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 結晶の成長方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5964589A true JPS5964589A (ja) | 1984-04-12 |
Family
ID=15919128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17121382A Pending JPS5964589A (ja) | 1982-09-30 | 1982-09-30 | 結晶の成長方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5964589A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06211593A (ja) * | 1993-01-14 | 1994-08-02 | Nec Corp | 結晶育成装置用坩堝 |
-
1982
- 1982-09-30 JP JP17121382A patent/JPS5964589A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06211593A (ja) * | 1993-01-14 | 1994-08-02 | Nec Corp | 結晶育成装置用坩堝 |
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