JPS596528B2 - シユツリヨクバツフアカイロ - Google Patents
シユツリヨクバツフアカイロInfo
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- JPS596528B2 JPS596528B2 JP50151306A JP15130675A JPS596528B2 JP S596528 B2 JPS596528 B2 JP S596528B2 JP 50151306 A JP50151306 A JP 50151306A JP 15130675 A JP15130675 A JP 15130675A JP S596528 B2 JPS596528 B2 JP S596528B2
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- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/01—Modifications for accelerating switching
- H03K19/017—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits
- H03K19/01707—Modifications for accelerating switching in field-effect transistor circuits in asynchronous circuits
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は出力バッファ回路に関し、特に例えば電界効
果素子(FET)回路のように論理レベルの高い回路か
らTTL回路(TransistorTransist
or Logic)のように論理レベルの低い回路への
出力バッファ回路に関する。
果素子(FET)回路のように論理レベルの高い回路か
らTTL回路(TransistorTransist
or Logic)のように論理レベルの低い回路への
出力バッファ回路に関する。
第1図はこの発明の背景となる出力バッファ回路の一例
を示す回路図である。
を示す回路図である。
ディジタルMO8ICの出力バッファ回路は、一般に、
この第1図のようなプッシュプルタイプのインバータ回
路が用いられる。
この第1図のようなプッシュプルタイプのインバータ回
路が用いられる。
このようなインバーテイングバッファ回路の動作は、す
でに周知のことであり、その説明は省略する。
でに周知のことであり、その説明は省略する。
ここで、電源VDDtおよびVDD2は、それぞれ、こ
のバッファ回路がMO8回路であるため、例えば5■お
よび12Vである。
のバッファ回路がMO8回路であるため、例えば5■お
よび12Vである。
また、その出力VOUTIは、ローレベル(LowLe
vel : 「LJ )あるいはハイレベル(High
Level : [HJ )によって、はぼ0■あるい
は5■となる。
vel : 「LJ )あるいはハイレベル(High
Level : [HJ )によって、はぼ0■あるい
は5■となる。
一方、このMO8回路出力を受ける外部のTTL回路の
入力rHJ電圧はほぼ2,5■程度である。
入力rHJ電圧はほぼ2,5■程度である。
従って、このMO8IC(バッファ回路)からの「H」
出力は約3.0■程度で十分(上述のように5■も必要
ない)であろう。
出力は約3.0■程度で十分(上述のように5■も必要
ない)であろう。
さらに、この出力バッファ回路の入力VINかrLJか
ら「H」に変化すると、応じて出力VOUTtがrHJ
からrLJになるが、この過渡特性(遅延時間)につい
て考えると、放電時定数を同じとすれは、5■からrL
Jになるのと3■からrLJになるのを比べれば、当然
後者の方が時間は短い。
ら「H」に変化すると、応じて出力VOUTtがrHJ
からrLJになるが、この過渡特性(遅延時間)につい
て考えると、放電時定数を同じとすれは、5■からrL
Jになるのと3■からrLJになるのを比べれば、当然
後者の方が時間は短い。
このことは、充電の場合についても同様で、特に負荷容
量の大きい出力バッファ回路の場合に顕著である。
量の大きい出力バッファ回路の場合に顕著である。
そのため、相対的に論理レベルの高いMO8ICの出力
電圧(「H」のときの)を3■程度にクランプし、相対
的に論理レベルの低いTTL回路に与えることが考えら
れる。
電圧(「H」のときの)を3■程度にクランプし、相対
的に論理レベルの低いTTL回路に与えることが考えら
れる。
このようにクランプする方法として、典型的には、MO
8ICの外部においてクランプダイオードを付力目する
ことか考えられる。
8ICの外部においてクランプダイオードを付力目する
ことか考えられる。
しかしながら、この方法は、実装部品が増力口して組立
工数が増力口するという欠点かある。
工数が増力口するという欠点かある。
また、IC内部にこのようなダイオードを組込み、この
ダイオードによってその出力レベルを直接固定電源にク
ランプすることも考えられる。
ダイオードによってその出力レベルを直接固定電源にク
ランプすることも考えられる。
しかしながら、この方法によれは、前記ダイオードに多
大の電流が流れ、応じてIC内部における消費電力が増
加するという新らたな問題点か生じる。
大の電流が流れ、応じてIC内部における消費電力が増
加するという新らたな問題点か生じる。
それゆえに、この発明の主たる目的は、上述のととくの
欠点および問題点を解消した遅延時間を改善する出力バ
ッファ回路を提供することである。
欠点および問題点を解消した遅延時間を改善する出力バ
ッファ回路を提供することである。
この発明は、要約すれば、相対的に高い出力論理レベル
(「H」のとき)のディジタル信号を相対的に低い入力
論理レベルの論理回路に与えるための出力バッファ回路
であって、ともにFETからなる2段のプッシュプル回
路を縦続接続し、当該プッシュプル回路の後段の出力レ
ベルによって前段のプッシュプル回路の入力レベルをク
ランプするためのFET回路を付加し、それによって後
段のプッシュプル回路の出力レベルを所定値にクランプ
するようにした出力バッファ回路である。
(「H」のとき)のディジタル信号を相対的に低い入力
論理レベルの論理回路に与えるための出力バッファ回路
であって、ともにFETからなる2段のプッシュプル回
路を縦続接続し、当該プッシュプル回路の後段の出力レ
ベルによって前段のプッシュプル回路の入力レベルをク
ランプするためのFET回路を付加し、それによって後
段のプッシュプル回路の出力レベルを所定値にクランプ
するようにした出力バッファ回路である。
この発明の上述の目的およびその他の目的と特徴は図面
を参照して行なう以下の詳細な説明から一層明らかとな
ろう。
を参照して行なう以下の詳細な説明から一層明らかとな
ろう。
第2図はこの発明の一実施例を示す回路図である。
構成において、この回路のFETQ1〜Q8は、例えば
すべてNチャネルエンハンスメントタイプのFETとし
、その間値電圧vTをIVとし、電源電圧■DD1.■
DD2をそれぞれ5V、12Vとする。
すべてNチャネルエンハンスメントタイプのFETとし
、その間値電圧vTをIVとし、電源電圧■DD1.■
DD2をそれぞれ5V、12Vとする。
FETQl 、Q2によって前段のプッシュプル回路を
形成し、FETQ& 、Q7によって後段のプッシュプ
ル回路を形成し、これらFETQl 、Q2.Q6.Q
7によって、第1図のととくの、インバーテイングバッ
ファを構成する。
形成し、FETQ& 、Q7によって後段のプッシュプ
ル回路を形成し、これらFETQl 、Q2.Q6.Q
7によって、第1図のととくの、インバーテイングバッ
ファを構成する。
前記FETQIのゲート電極が入力端VIN とされる
。
。
さらに、FETQ3 、Q4 、Q5によってクランプ
回路を構成する。
回路を構成する。
すなわち、FETQ3のドレイン電極は、そのゲート電
極とともに、FETQ4のソース電極に接続され、ソー
ス電極は例えば接地される。
極とともに、FETQ4のソース電極に接続され、ソー
ス電極は例えば接地される。
また、FETQ4のドレイン電極は、そのゲート電極と
ともに電源VDDtに接続される。
ともに電源VDDtに接続される。
このFETQ3とQ4との接続点Bは、そのドレイン電
極が前記FETQ7のゲート電極(FETQl 、Q2
の接続点A)に接続された、FETQ5のソース電極に
接続される。
極が前記FETQ7のゲート電極(FETQl 、Q2
の接続点A)に接続された、FETQ5のソース電極に
接続される。
このFETQ5のゲート電極はFETQ6 、Q7の接
続点に接続される。
続点に接続される。
さらに前記FETQ6 、Q7の接続点Cすなわち出力
端VOUT2は、FETQ8のドレイン電極、ゲート電
極に共通的に接続され、FETQ8のソース電極は例え
ば接地される。
端VOUT2は、FETQ8のドレイン電極、ゲート電
極に共通的に接続され、FETQ8のソース電極は例え
ば接地される。
以上のような構成において、以下、第3図とともにその
動作を説明する。
動作を説明する。
第3図はこの発明の動作を示すレベルチャートの一例で
ある。
ある。
動作において、まず、入力1 I Nからの信号がIH
Jの場合を考える。
Jの場合を考える。
このとき、FETQl 、Q6が導通し、接続点Aおよ
び接続点C(出力端voUT2)は、ともにほぼO■の
接地電位に強制される。
び接続点C(出力端voUT2)は、ともにほぼO■の
接地電位に強制される。
従って出力端VOUT2は「L」となる。
つぎに、入力端VINが「L」の場合を考える。
このとき、FETQI 、Q’6はともにカットオフし
、接続点Aの電位は、FETQ2を介して電源VDD2
が与えられるため、上昇する。
、接続点Aの電位は、FETQ2を介して電源VDD2
が与えられるため、上昇する。
従って、FETQlが導通し、接続点Cかつ従って出力
端VOUT2の電位は、第3図の線aで示すように、上
昇する。
端VOUT2の電位は、第3図の線aで示すように、上
昇する。
上述のごとく、接続点Cの電位が上昇し、成る値以上に
達すると、FETQ5が導通し始め、FETQ3が導通
する。
達すると、FETQ5が導通し始め、FETQ3が導通
する。
従って、接続点Aの電位はこのFETQ3 、Q5の導
通に応じて成る値に低下する。
通に応じて成る値に低下する。
応じて、FETQlのゲート電圧が低下し、その導通状
態がややカットオフ方向に向い、出力端voUT2の電
位は、第3図の線aのように成る電位以上上昇し得ない
。
態がややカットオフ方向に向い、出力端voUT2の電
位は、第3図の線aのように成る電位以上上昇し得ない
。
ここで、FETQ3とQ4とのゲインファクタ(Gai
n Factor)βの比を適当に選んで接続点Bの電
位を所定の値に設定しておくことにより、出力端VOU
T2の電位は第3図のようにほぼ3■にクランプされる
。
n Factor)βの比を適当に選んで接続点Bの電
位を所定の値に設定しておくことにより、出力端VOU
T2の電位は第3図のようにほぼ3■にクランプされる
。
すなわち、各FETQ3 、Q4 、Q5 、Q7等の
ゲインファクタβを適当に選ぶ(この選定は当業者にと
って容易であろう)ことにより、その出力電圧圧を約3
■にクランプする。
ゲインファクタβを適当に選ぶ(この選定は当業者にと
って容易であろう)ことにより、その出力電圧圧を約3
■にクランプする。
第3図の線aのように、その出力電圧か約3■にクラン
プされると、例えば負荷容量による充電の際の遅延時間
および放電の際の遅延時間か、大幅に短縮され得る。
プされると、例えば負荷容量による充電の際の遅延時間
および放電の際の遅延時間か、大幅に短縮され得る。
例えば、第3図の線aのようにそのrHJの出力電圧が
3■になると、第3図の線すのようにその「H」の出力
電圧が5■の従来回路に比べて、「L」(約OV)に変
わるとき、その出力電圧の降下時の遅延時間は大幅に短
縮される。
3■になると、第3図の線すのようにその「H」の出力
電圧が5■の従来回路に比べて、「L」(約OV)に変
わるとき、その出力電圧の降下時の遅延時間は大幅に短
縮される。
すなわち、「H」の出力電圧が5■の際のrLJへの遅
延時間はt2となり、3vの際の「L」への遅延時間は
tlとなり、tl<t2である。
延時間はt2となり、3vの際の「L」への遅延時間は
tlとなり、tl<t2である。
また、出力端VOUT2に接続されたFETQ8は、上
述のクランプ動作には直接関与しないが、出力端voU
T2と接地との間にわずかに電流を流すことにより、F
ETQ7が完全にカットオフすることをさげる。
述のクランプ動作には直接関与しないが、出力端voU
T2と接地との間にわずかに電流を流すことにより、F
ETQ7が完全にカットオフすることをさげる。
これによって、FETQ5.Q7のオン−オフ動作の遅
れに起因する動作不安定を防止する。
れに起因する動作不安定を防止する。
なお、前述の接続点Bのバイアス電源は、個別に供給す
ることも可能である。
ることも可能である。
さらに、上述の実施例においては、Nチャネルエンハン
スメントタイプのFETによって構成されたインバーテ
イングバッファについて説明したが、これは反転動作を
しないものでも、PチャネルのFETでもよく、さらに
その他の形式のFETであってもよいことはもちろんで
ある。
スメントタイプのFETによって構成されたインバーテ
イングバッファについて説明したが、これは反転動作を
しないものでも、PチャネルのFETでもよく、さらに
その他の形式のFETであってもよいことはもちろんで
ある。
以上のように、この発明によれば、例えばIC外部に付
力目するダイオード等が不要であり、部品点数を減らす
ことができる。
力目するダイオード等が不要であり、部品点数を減らす
ことができる。
さらに、そのIC内部においても、バッファ出力を直接
固定電源にダイオードでクランプするような場合(この
ような方法は消費電力が大きい)に比べ、IC回路の消
費電力がごくわずか増えるのみで正確にクランプし得る
。
固定電源にダイオードでクランプするような場合(この
ような方法は消費電力が大きい)に比べ、IC回路の消
費電力がごくわずか増えるのみで正確にクランプし得る
。
このように簡単な構成によって、相対的に高い論理レベ
ルのFET回路から相対的に低い論理レベルの例えばT
TL回路への出力バッファ回路において、負荷容量によ
る動作遅延時間が大幅に短縮できる。
ルのFET回路から相対的に低い論理レベルの例えばT
TL回路への出力バッファ回路において、負荷容量によ
る動作遅延時間が大幅に短縮できる。
第1図はこの発明の背景となる出力バッファ回路の一例
を示す。 第2図はこの発明の一実施例の回路図である。 第3図はこの発明の動作の一例を示すレベルチャートで
ある。 図において、QlないしQ8はFET、A、B。 Cは接続点、VINは入力端、VOUT2は出力端であ
る。
を示す。 第2図はこの発明の一実施例の回路図である。 第3図はこの発明の動作の一例を示すレベルチャートで
ある。 図において、QlないしQ8はFET、A、B。 Cは接続点、VINは入力端、VOUT2は出力端であ
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 入力端子に入力された相対的に高い論理レベルの論
理回路からの信号を相対的に低いレベルの論理回路へ出
力するための出力バッファ回路であって、 第1の電源からの直流電圧によって1駆動され、前記入
力端子に入力された信号の極性を反転するための第1の
電界効果素子を含む反転回路、第2および第3の電界効
果素子が直列接続されて構成され、第2の電源からの直
流電圧によって駆動され、前記入力端子に入力された信
号が前記第2の電界効果素子のゲート電極に与えられ、
前記第1の電界効果素子によって反転された信号が前記
第3の電界効果素子のゲート電極に与えられるプッシュ
プル回路、および 前記反転回路の出力端と前記プッシュプル回路の出力端
との間に接続され、前記プッシュプル回路の出力レベル
が成る値以上になったことに応じて、前記第2の電界効
果素子のゲート電極に与えられる電圧を制御し、前記プ
ッシュプル回路の出力レベルを所定値以下に強制する第
4の電界効果素子と、前記第2の電源からの直流電圧を
前記第4の電界効果素子に与える第5の電界効果素子と
を含むクランプ回路を備えた、出力バッファ回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50151306A JPS596528B2 (ja) | 1975-12-17 | 1975-12-17 | シユツリヨクバツフアカイロ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50151306A JPS596528B2 (ja) | 1975-12-17 | 1975-12-17 | シユツリヨクバツフアカイロ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5274250A JPS5274250A (en) | 1977-06-22 |
| JPS596528B2 true JPS596528B2 (ja) | 1984-02-13 |
Family
ID=15515773
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50151306A Expired JPS596528B2 (ja) | 1975-12-17 | 1975-12-17 | シユツリヨクバツフアカイロ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS596528B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5421142A (en) * | 1977-07-19 | 1979-02-17 | Toshiba Corp | Semiconductor integrated circuit |
| JPS5567235A (en) * | 1978-11-14 | 1980-05-21 | Nec Corp | Output circuit |
| JPS62230219A (ja) * | 1986-03-31 | 1987-10-08 | Toshiba Corp | 小振幅信号出力回路 |
| US5541528A (en) * | 1995-08-25 | 1996-07-30 | Hal Computer Systems, Inc. | CMOS buffer circuit having increased speed |
-
1975
- 1975-12-17 JP JP50151306A patent/JPS596528B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5274250A (en) | 1977-06-22 |
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