JPS5969476U - 光電子分光分析装置 - Google Patents

光電子分光分析装置

Info

Publication number
JPS5969476U
JPS5969476U JP16597082U JP16597082U JPS5969476U JP S5969476 U JPS5969476 U JP S5969476U JP 16597082 U JP16597082 U JP 16597082U JP 16597082 U JP16597082 U JP 16597082U JP S5969476 U JPS5969476 U JP S5969476U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electric field
filter
bypass
low
pass filter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16597082U
Other languages
English (en)
Inventor
住友 征二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP16597082U priority Critical patent/JPS5969476U/ja
Publication of JPS5969476U publication Critical patent/JPS5969476U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
一面は本考案の実施例を示し、第1図は本考案   〜
の光電子分光分析装置のフィルタ式アナライザの概略を
示す断面図、第2図はバックグラウンドを有する光電子
スペクトルの線図、第3図はバイパススペクトルの線図
、第4図は第2図の光電子スペクトルからバラクグラウ
ンドを消去して得られた光電子スペクトルの線図である
。 1・・・試料、2・・・軟X′線、3・・・光電子、4
・・・フィルタ式アナライザ、5・・・減速電場、7・
・・ローパスフィルタ、8・・・バイパスフィルタ、9
・・・検出器、S、・・・光電子スペクトル、$2…バ
イパススペクトル、B・・・バックグラウンド。 1    ゛第3図 第4図

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 非分散型のフィルタ式アナライザを適用し、こり式アナ
    ライザのローパスフィルタの電位を、試料に照射される
    軟X線のエネルギよりも高く設定するとともに、減速電
    場とノ椅パスフィルタとを同電位とすることにより減速
    電場を通過した光電子が全て検出器に導かれるようにし
    、減速電場とバイパスフィルタとを同電位に保ちつつ走
    査することでバイパススペクトルを求め、次いでローパ
    スフィルタとバイパスフィルタの電位を通常の分析電位
    に設定して減速電場のみを走査することにより光電子ス
    ペクトルを求め、前記ノ1イパススペクトルの曲線を光
    電子ス外りトルのバッククラランドレベルに補正し、光
    電子スペクトルから補正されたバイパススペクトルを減
    算することにより光電子スペクトルのバックグラウンド
    を消去するようにしたことを特徴とする光電子分光分析
    装置。
JP16597082U 1982-10-31 1982-10-31 光電子分光分析装置 Pending JPS5969476U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16597082U JPS5969476U (ja) 1982-10-31 1982-10-31 光電子分光分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16597082U JPS5969476U (ja) 1982-10-31 1982-10-31 光電子分光分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5969476U true JPS5969476U (ja) 1984-05-11

Family

ID=30363471

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16597082U Pending JPS5969476U (ja) 1982-10-31 1982-10-31 光電子分光分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5969476U (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012533855A (ja) * 2009-07-17 2012-12-27 ケーエルエー−テンカー・コーポレーション 荷電粒子エネルギー分析器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012533855A (ja) * 2009-07-17 2012-12-27 ケーエルエー−テンカー・コーポレーション 荷電粒子エネルギー分析器

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1231485A3 (de) Röntgendetektor mit grossem Dynamikbereich
JPS58174856U (ja) 電子顕微鏡
JPS54154294A (en) Computer tomography device
Cottrell Dormancy effects on nonelectronics(equipment reliability models for stored components)
JPS608867U (ja) 螢光x線分析装置
JPS58116649U (ja) マクロアナライザ装置
JPS62229750A (ja) 荷電粒子エネルギ−アナライザ
JPH02118254U (ja)
JPS5810075U (ja) X線分析装置用パルス波高弁別回路
JPS5857065U (ja) 表面分析装置
JPS6065662U (ja) 赤外線ガス分析計
JPS637350U (ja)
JPS58136758U (ja) 赤外線輻射式ガス分析計
JPS58157958U (ja) 電子分光装置
Heintze e+ e-→ hadrons: results from the DESY-Heidelberg-collaboration
JPS59179361U (ja) X線分析装置
JPS603458U (ja) Exafs測定用螢光x線強度計測系保持具
JPS58184762U (ja) マルチチヤンネルアナライザ
JPS6372553U (ja)
DE19950919A1 (de) Auswerteeinheit zum Auswerten von Detektorereignissen
Franquiz et al. Measurement of right ventricular ejection fraction by equilibrium gated nuclear angiocardiography. Comparison of two methods of reprocessing data
JPS6083986U (ja) α線計測装置
JPS6132984U (ja) Ect用放射線検出器
JPS6059952U (ja) 赤外線ガス分析計用検出器
JPS5977085U (ja) 照射光検出装置