JPS5810075U - Ｘ線分析装置用パルス波高弁別回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は、従来用いられているＸ線分析装置の概略ブロ
ック図、第２図は、第１図に示されるＸ線検出器からの
出力信号の波形図、第３図、第４図は、パルスの波高レ
ベルＬと発生頻度との関係を示すグラフ、第５図は本考
案の一実施例の回路図である。 １・・・・・・試料、２・・・・・・照射放射線、３・
・・・・・反射数゛射線、４・・・・・・Ｘ線検出器、
５・・・・・・前置増幅器、６・・・・・・パルス増幅
器、７・・・・・・パルス波高弁別回路、８・・・・・
・データ処理回路、９・・・・・・高電圧電源回路、′
１０・・・・・・パルス波高弁別回路、１４．　１５．
　１６・・・・・・電圧比較器、１７・・・・・・比較
レベル発生器、１８．１９・・・・・・可変抵抗器、２
０・・・・・・上半側進同時計数回路、２１・・・・・
・下半側進同時計数回路、２２・・・・・・オア回路、
２３．２４・・・・・・周波数平滑器、２５・・・・・
・除数設定器、２６・・・・・・加減算カウンタ、２７
・・・・・・Ｄ／Ａコンバータ。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 試料に放射線を照射した際に該試料から得られ８Ｘ線の
   エネルギーに応じた波高値のパルスを発生せしめ該パル
   スの波高値データを統計処理することにより試料の分析
   を行なうようにしたＸ線分析装置用パルス波高弁別回路
   において、所要の第１、第２波高レベル及び前記第１波
   高レベルと前記第２波高レベルとの間にあ−る第３波高
   レベルとに夫々相応した第１乃至第３基準電圧を発生さ
   せる電圧発生器と、前記パルスの夫々について前記第１
   乃至第３基準電圧とのレベル比較を行なう第１乃至第３
   電圧比較器゛と、前記第１、第３電圧比較器の各出力に
   より制御される第１逆同時計数回路と、前記第２、第３
   電圧比較器の各出力により制御される第２逆同蒔計数回
   路と、前記第１、第２逆同時計数回路からの各出力のオ
   アをとるオア回路とを備えて成ることを特徴とするＸ線
   分析装置用パルス波高弁回路。