JPS5971741A - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
- Publication number
- JPS5971741A JPS5971741A JP57182484A JP18248482A JPS5971741A JP S5971741 A JPS5971741 A JP S5971741A JP 57182484 A JP57182484 A JP 57182484A JP 18248482 A JP18248482 A JP 18248482A JP S5971741 A JPS5971741 A JP S5971741A
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- 101000910423 Homo sapiens Coiled-coil and C2 domain-containing protein 1A Proteins 0.000 description 1
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Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、スキャン計測時における計測条件を設定し、
かつ、その設定開側条件を表示する機能を有するコンビ
ーータを利用したＸ線断層撮影装置（以下、単にＯＴ装
置という）の改良に関するものである。
かつ、その設定開側条件を表示する機能を有するコンビ
ーータを利用したＸ線断層撮影装置（以下、単にＯＴ装
置という）の改良に関するものである。
従来のＯＴ装置では、第１図に示すように、操作盤上に
スキャン計測時における計測条件を設定し、かつ、その
設定を表示する押釦スイッチ群、例えば、頭部（１ＩＥ
ＡＤ ） 、躯体部（［３０ＤＹ）等撮影部位（ＯＢＪ
ＥＣＴ）の指定、スキャン速度（ＳＰＥＩＩＤ）、画像
の大きさくＦｏｖ）、断層スライスの厚さくＤ）、管電
圧（ＫＶ）、管電流（７７ＬＡ） 等の押釦スイッチを
配設し、これらにより、スキャン開側前にあらかじめ計
測条件を設定して計測を行っている。
スキャン計測時における計測条件を設定し、かつ、その
設定を表示する押釦スイッチ群、例えば、頭部（１ＩＥ
ＡＤ ） 、躯体部（［３０ＤＹ）等撮影部位（ＯＢＪ
ＥＣＴ）の指定、スキャン速度（ＳＰＥＩＩＤ）、画像
の大きさくＦｏｖ）、断層スライスの厚さくＤ）、管電
圧（ＫＶ）、管電流（７７ＬＡ） 等の押釦スイッチを
配設し、これらにより、スキャン開側前にあらかじめ計
測条件を設定して計測を行っている。
また、第３図に示すように、あらかじめ計測条件モード
を数種類用意してコンビーータに登録し７ておき、操作
盤上には、第２図に示すように、その計測条件設定モー
ドの番号のみの押釦スイッチを設け、希望するモード番
号の押釦スイッチを押し、その計測条件を設定して計測
している。／例えばモード「１」の押釦スイッチを押す
と、撮影部位二頭部、スキャン速度＝４５秒１画像の大
きさ：２１０ｍｍ５１．断層スライスの厚さ：ｌｏ’ｍ
ｒｎ、 管電圧：１２０１（Ｖ、管電流：２５０ｍＡ
の開側条件が設定されるようになっている。
を数種類用意してコンビーータに登録し７ておき、操作
盤上には、第２図に示すように、その計測条件設定モー
ドの番号のみの押釦スイッチを設け、希望するモード番
号の押釦スイッチを押し、その計測条件を設定して計測
している。／例えばモード「１」の押釦スイッチを押す
と、撮影部位二頭部、スキャン速度＝４５秒１画像の大
きさ：２１０ｍｍ５１．断層スライスの厚さ：ｌｏ’ｍ
ｒｎ、 管電圧：１２０１（Ｖ、管電流：２５０ｍＡ
の開側条件が設定されるようになっている。
しかしながら、従来の前者の方法では、多数の押釦スイ
ッチを押さなければならないため、条件設定操作が煩雑
となり、操作ミスを生ずる欠点があった。
ッチを押さなければならないため、条件設定操作が煩雑
となり、操作ミスを生ずる欠点があった。
また、従来の後者の方法では、コンビーータに登録され
ている計測条件設定モード以外の組合わせの言１測条注
で開側したい場合には、その条件を作りコンビー−りに
再登録しなければならない欠点があった。
ている計測条件設定モード以外の組合わせの言１測条注
で開側したい場合には、その条件を作りコンビー−りに
再登録しなければならない欠点があった。
本発明の目的は、前記従来技術の欠点を除去し、使用頻
度の高い開側条件の組合わせはモード方式で計測条件を
設定し、該モード方式以外の計測条件で計測したい場合
には、開側条件のうち１つ、または、複数の条件を自由
に変え得る計測条件自由選択器で希望の計測条件を設定
し、設定された計測条件を表示するようにしたＸ線ＣＴ
装置を提供することにある。
度の高い開側条件の組合わせはモード方式で計測条件を
設定し、該モード方式以外の計測条件で計測したい場合
には、開側条件のうち１つ、または、複数の条件を自由
に変え得る計測条件自由選択器で希望の計測条件を設定
し、設定された計測条件を表示するようにしたＸ線ＣＴ
装置を提供することにある。
以下、実施例とともに本発明の詳細な説明する。
第４図〜第６図は、本発明の一実施例を説明するだめの
図であり、第４図は、操作盤の構成を示す図、第５図は
、計測条件モード選択器の回路構成を示す図、第６図は
、言１測条件自由選択器のスキャン速度選択回路構成を
示す図である。
図であり、第４図は、操作盤の構成を示す図、第５図は
、計測条件モード選択器の回路構成を示す図、第６図は
、言１測条件自由選択器のスキャン速度選択回路構成を
示す図である。
図中、１は撮影部位表示器、２はスキャン速度表示器、
３は画像の大きさを表示する画像サイズ表示器、４は断
層スライス厚表示器、５は管電圧表示器、６は管電流表
示器、１八〜６Ａはそれぞれ割血］条件の変更押釦スイ
ッチであり、フリーモード（ＦＲＥＥ ＭＯＩ）Ｅ ）
の時のみ有効となるものである。７は使用頻度の高い開
側柴件を組合わせた６種類の計測条件モードの設定押釦
スイッチであシ、この６種類の計測条件モードは第３図
のものと同一のものを使用する。８は希望する計測条件
を自由に設定するためのフリーモード設定押釦スイッチ
である。９は表示用レジスタ、１０はコンビ。−タ（以
下ＣＰＵという）、１１はアップカウンタ、１２１−ｊ
比較器等からなるアノプカウンタリセ、ト回路であり、
スキャン速度の種類の数に相当するピット数Ｐとア、プ
カウンク１１の出力Ｑを比較してＰ＝Ｑになったとき、
リセ、１・信号几を発生する。このリセット信号几はア
ップカウンタ１１をセットする。ここで、４測条件自由
選択器の他の計測条件の選択回路は、それぞれ、第５図
に示すスキャン選択回路と同様の回路構成になっている
ので省略する。
３は画像の大きさを表示する画像サイズ表示器、４は断
層スライス厚表示器、５は管電圧表示器、６は管電流表
示器、１八〜６Ａはそれぞれ割血］条件の変更押釦スイ
ッチであり、フリーモード（ＦＲＥＥ ＭＯＩ）Ｅ ）
の時のみ有効となるものである。７は使用頻度の高い開
側柴件を組合わせた６種類の計測条件モードの設定押釦
スイッチであシ、この６種類の計測条件モードは第３図
のものと同一のものを使用する。８は希望する計測条件
を自由に設定するためのフリーモード設定押釦スイッチ
である。９は表示用レジスタ、１０はコンビ。−タ（以
下ＣＰＵという）、１１はアップカウンタ、１２１−ｊ
比較器等からなるアノプカウンタリセ、ト回路であり、
スキャン速度の種類の数に相当するピット数Ｐとア、プ
カウンク１１の出力Ｑを比較してＰ＝Ｑになったとき、
リセ、１・信号几を発生する。このリセット信号几はア
ップカウンタ１１をセットする。ここで、４測条件自由
選択器の他の計測条件の選択回路は、それぞれ、第５図
に示すスキャン選択回路と同様の回路構成になっている
ので省略する。
次に、本実施例の動作を説明する。
通常の開側条件モード設定押釦スイッチ７の希望するｉ
ｔ ｌｌＸｌｌ条件モードの番号、例えば「２ｊを押す
と第；３図に示す計測条件モード２が設定され、０１）
Ｕｌｏへ匁「２」が読み込まれ、それに対応する撮影部
位二頭部、スキャン速度：９秒１画像の大きさ：２５６
ｍｍ＄、断層スライス厚：５龍。
ｔ ｌｌＸｌｌ条件モードの番号、例えば「２ｊを押す
と第；３図に示す計測条件モード２が設定され、０１）
Ｕｌｏへ匁「２」が読み込まれ、それに対応する撮影部
位二頭部、スキャン速度：９秒１画像の大きさ：２５６
ｍｍ＄、断層スライス厚：５龍。
管電圧：１００ＫＶ、管電流：２５０ｍＡの計測条件が
各々の表示器１〜６のレジスタ９へ送られ、表示器１〜
６に表示される。同時にＯＰＵ＋Ｏはスキャナ等の各部
へ必要なデータを送る。
各々の表示器１〜６のレジスタ９へ送られ、表示器１〜
６に表示される。同時にＯＰＵ＋Ｏはスキャナ等の各部
へ必要なデータを送る。
また、フリーモード設定押釦スイッチを押すとこの押釦
スイ、チアを押す前に表示されている開側多件のままに
表示しておき、変更したい計測条件の変更押釦スイッチ
１Ａ〜６Ａを希望する計測条件になるまで繰り返し押し
て希望計測条件に変更する。この時、例えば、スキャン
速度の変更では、変更押釦スイッチ２Ａを押すたびに、
例えば、４５秒−→９秒→２８秒→４５秒というように
計測条件が順次変わって行き、希望する数値に合わせる
ことによって希望計測条件を設定する。
スイ、チアを押す前に表示されている開側多件のままに
表示しておき、変更したい計測条件の変更押釦スイッチ
１Ａ〜６Ａを希望する計測条件になるまで繰り返し押し
て希望計測条件に変更する。この時、例えば、スキャン
速度の変更では、変更押釦スイッチ２Ａを押すたびに、
例えば、４５秒−→９秒→２８秒→４５秒というように
計測条件が順次変わって行き、希望する数値に合わせる
ことによって希望計測条件を設定する。
なお、本発明は、前記実施例に限定されること力く、そ
の９旨を変更しない範囲において種々変更し得ることは
勿論である。
の９旨を変更しない範囲において種々変更し得ることは
勿論である。
以上説明したように、本発明によれば、計測条件モード
選択器以外に開側条件自由選択器を追加することにより
計測条件モード以外の計測条件も簡単に設定することが
できる。
選択器以外に開側条件自由選択器を追加することにより
計測条件モード以外の計測条件も簡単に設定することが
できる。
第１図及び第２図は、従来のＯ’ＩＩ’装置の操作盤の
構成を示す図、第３図は、第２図に示す計測条件モード
の開側条件組合わせを示す図、第４図〜第６図は、本発
明の一実施例を説明するための図であり、第４図は、操
作盤の構成を示す図、第５図は、開側条件モード選択器
の回路構成を示す図、第６図は、言１測条件自由選択器
のスキャン速度選択回路構成を示す図である。 １ 撮影部位表示器、２ スキャン速度表示器、６ 画
像サイズ表示器、４ 断層スライス厚表示器、５ 管電
圧表示器、６−管電流表示器、１Ａ〜６Ａ 変更押釦ス
イッチ、７ 開側条件モードの設定押釦スイッチ、８
フリーモード設定押釦スイッチ、９ 表示用レジスタ、
１０ コンピュータ、１１ アップカウンタ、１２ ア
、プヵウンタリセ、ト回路。 代理人 弁理士 秋 １）収 喜
構成を示す図、第３図は、第２図に示す計測条件モード
の開側条件組合わせを示す図、第４図〜第６図は、本発
明の一実施例を説明するための図であり、第４図は、操
作盤の構成を示す図、第５図は、開側条件モード選択器
の回路構成を示す図、第６図は、言１測条件自由選択器
のスキャン速度選択回路構成を示す図である。 １ 撮影部位表示器、２ スキャン速度表示器、６ 画
像サイズ表示器、４ 断層スライス厚表示器、５ 管電
圧表示器、６−管電流表示器、１Ａ〜６Ａ 変更押釦ス
イッチ、７ 開側条件モードの設定押釦スイッチ、８
フリーモード設定押釦スイッチ、９ 表示用レジスタ、
１０ コンピュータ、１１ アップカウンタ、１２ ア
、プヵウンタリセ、ト回路。 代理人 弁理士 秋 １）収 喜
Claims (1)
- あらかじめ開側条件を組合わせた複数の計測条件モード
を選択設定する計測条件モード選択器ｈ′、前記計測条
件のうち１つ、ま゛たは、複数の条件を自由に変え得る
自由選択器と、設定された開側条件を表示する表示器を
具備したことを特徴とするＸ線ＯＴ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57182484A JPS5971741A (ja) | 1982-10-18 | 1982-10-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57182484A JPS5971741A (ja) | 1982-10-18 | 1982-10-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5971741A true JPS5971741A (ja) | 1984-04-23 |
Family
ID=16119078
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57182484A Pending JPS5971741A (ja) | 1982-10-18 | 1982-10-18 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5971741A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61171911U (ja) * | 1985-04-15 | 1986-10-25 | ||
| JPS6431041A (en) * | 1987-07-27 | 1989-02-01 | Shimadzu Corp | X-ray diffraction apparatus |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5014284A (ja) * | 1973-04-12 | 1975-02-14 | ||
| JPS53133388A (en) * | 1977-04-27 | 1978-11-21 | Iyoukiki Anzen Gijutsu Kenkiyuukumiai | X-ray diagnosis equipment |
| JPS54114991A (en) * | 1978-02-28 | 1979-09-07 | Toshiba Corp | Preset control unit for image pick up stand for radiation diagnosis unit |
| JPS5546289A (en) * | 1978-09-28 | 1980-03-31 | Shimadzu Corp | X-ray apparatus of photographing condition program establishing type |
-
1982
- 1982-10-18 JP JP57182484A patent/JPS5971741A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5014284A (ja) * | 1973-04-12 | 1975-02-14 | ||
| JPS53133388A (en) * | 1977-04-27 | 1978-11-21 | Iyoukiki Anzen Gijutsu Kenkiyuukumiai | X-ray diagnosis equipment |
| JPS54114991A (en) * | 1978-02-28 | 1979-09-07 | Toshiba Corp | Preset control unit for image pick up stand for radiation diagnosis unit |
| JPS5546289A (en) * | 1978-09-28 | 1980-03-31 | Shimadzu Corp | X-ray apparatus of photographing condition program establishing type |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61171911U (ja) * | 1985-04-15 | 1986-10-25 | ||
| JPS6431041A (en) * | 1987-07-27 | 1989-02-01 | Shimadzu Corp | X-ray diffraction apparatus |
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