JPS5972049A - 試料の発光寿命測定装置 - Google Patents
試料の発光寿命測定装置Info
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- JPS5972049A JPS5972049A JP57183244A JP18324482A JPS5972049A JP S5972049 A JPS5972049 A JP S5972049A JP 57183244 A JP57183244 A JP 57183244A JP 18324482 A JP18324482 A JP 18324482A JP S5972049 A JPS5972049 A JP S5972049A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/6408—Fluorescence; Phosphorescence with measurement of decay time, time resolved fluorescence
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は試料の発光寿命を測定する装置に関し殊に励起
光のパルス幅に比べてそれ程長くない寿命の発光を測定
するための装置に関する。
光のパルス幅に比べてそれ程長くない寿命の発光を測定
するための装置に関する。
励起光のパルス幅に比べて発光寿命が十分長いと、発光
波形のみ測定し、その減衰曲線から寿命を求めることが
できるが、励起光のパルス幅に比べて発光寿命がそれ程
長くない場合、発光波形はパルス幅の影響を受けて歪を
生じる。そのため、この場合は、発光波形のみならず励
起光パルス波形も測定する必要があり、これらの量は真
の発光波形とコンボリューション積分の式で表わされる
。
波形のみ測定し、その減衰曲線から寿命を求めることが
できるが、励起光のパルス幅に比べて発光寿命がそれ程
長くない場合、発光波形はパルス幅の影響を受けて歪を
生じる。そのため、この場合は、発光波形のみならず励
起光パルス波形も測定する必要があり、これらの量は真
の発光波形とコンボリューション積分の式で表わされる
。
ここにコンポルージョン積分の式とは、測定された発光
波形をＩ（ｔＬ励起光パルス波形をＰ （ｔ）、真の発
光波形をＧ（ｔ）とすると、 で表わされる。Ｈｔ）、Ｐ（ｔ）からデコンボリューシ
ョン演算によりＧ（ｔ）を求め、発光寿命を得る。
波形をＩ（ｔＬ励起光パルス波形をＰ （ｔ）、真の発
光波形をＧ（ｔ）とすると、 で表わされる。Ｈｔ）、Ｐ（ｔ）からデコンボリューシ
ョン演算によりＧ（ｔ）を求め、発光寿命を得る。
従来試料の発光寿命を時間相関光子計数法に基づいて求
める場合、１回の発光に対し単一の光電子パルスしか計
測できず、測光効率が悪いため測定に長時聞要した。
める場合、１回の発光に対し単一の光電子パルスしか計
測できず、測光効率が悪いため測定に長時聞要した。
この欠点を改良し、１回の発光で複数個の光電子パルス
を計測する装置として特開昭５７−１３７８４３号公報
に示されたものがある。この装置は概ね第１図に示すよ
うに、パルス光の発光源ｌと、該パルス光が照射された
試料２の発する光を受けて光電子パルスを発する光検出
器３と、前記発光源１のパルス光の発光時にスタートパ
ルスを発するスタートパルス発生手段４（通常、フォト
マル５と波形整形回路６とで構成される。）と、この手
段が発するスタートパルスによって前作し光検出器３が
発する複数個の光電子パルスをストップパルスとして順
次動作停止する複数個の時間−電圧変換器（以下、ＴＡ
Ｃという。）７と、該ＴＡＣ７の出力信号を順次取出す
マルチプレクサ８、およびそれからの出力信号を記憶演
算処理する回路手段９とから成っている。従来の装置に
よってデコンボリューション演算により発光寿命を求め
るには、試料の発光波形Ｉ（ｔ）の測定とは別の時間に
、試料２を散乱体に置き換えて、励起光パルス波形Ｐ（
ｔ）を測定しなければならない。通常ＴＡＣを多チヤン
ネル構成として測定時間の短縮を図ったとしても装置の
パルス対分解能に限度があり、この限界以内に複数個の
光電子パルスが発生した場合、個々の光電子パルスを区
す１４できず、いわゆるパイルアップ効果が起きるため
、多チャンネルＴＡＣの効果があまり発揮できず、やは
り測定に長時間を要するという欠点を残す。従って比較
的短寿命の試料ではパルス励起光の繰返し改を約２０
ＫＨｚとしても励起光パルス波形測定に１時間、発光波
形測定に１時間以上計２時間以上も置時間以上というよ
うな場合がある。また、このように測定時間が長いと励
起光のパルス波形が多少変化する場合もあるので、Ｐ（
ｔ）、■（ｔ）を別の時間に測定した場合、測定された
Ｐ（ｔ）はＩ（ｔ）測定時のＰ（ｔ）と多少異なってお
り、デコンボリューション演算で発光寿命を求めたとし
ても、誤差が大きくなるという欠点も生じる。
を計測する装置として特開昭５７−１３７８４３号公報
に示されたものがある。この装置は概ね第１図に示すよ
うに、パルス光の発光源ｌと、該パルス光が照射された
試料２の発する光を受けて光電子パルスを発する光検出
器３と、前記発光源１のパルス光の発光時にスタートパ
ルスを発するスタートパルス発生手段４（通常、フォト
マル５と波形整形回路６とで構成される。）と、この手
段が発するスタートパルスによって前作し光検出器３が
発する複数個の光電子パルスをストップパルスとして順
次動作停止する複数個の時間−電圧変換器（以下、ＴＡ
Ｃという。）７と、該ＴＡＣ７の出力信号を順次取出す
マルチプレクサ８、およびそれからの出力信号を記憶演
算処理する回路手段９とから成っている。従来の装置に
よってデコンボリューション演算により発光寿命を求め
るには、試料の発光波形Ｉ（ｔ）の測定とは別の時間に
、試料２を散乱体に置き換えて、励起光パルス波形Ｐ（
ｔ）を測定しなければならない。通常ＴＡＣを多チヤン
ネル構成として測定時間の短縮を図ったとしても装置の
パルス対分解能に限度があり、この限界以内に複数個の
光電子パルスが発生した場合、個々の光電子パルスを区
す１４できず、いわゆるパイルアップ効果が起きるため
、多チャンネルＴＡＣの効果があまり発揮できず、やは
り測定に長時間を要するという欠点を残す。従って比較
的短寿命の試料ではパルス励起光の繰返し改を約２０
ＫＨｚとしても励起光パルス波形測定に１時間、発光波
形測定に１時間以上計２時間以上も置時間以上というよ
うな場合がある。また、このように測定時間が長いと励
起光のパルス波形が多少変化する場合もあるので、Ｐ（
ｔ）、■（ｔ）を別の時間に測定した場合、測定された
Ｐ（ｔ）はＩ（ｔ）測定時のＰ（ｔ）と多少異なってお
り、デコンボリューション演算で発光寿命を求めたとし
ても、誤差が大きくなるという欠点も生じる。
本発明はこのような点にあって励起光パルス波形と発光
波形とを同時に測定できる装置を開発することによって
、上記諸欠点の解消を図ったものである。
波形とを同時に測定できる装置を開発することによって
、上記諸欠点の解消を図ったものである。
而して、本発明に係る試料の発光寿命測定装置は、パル
ス光の発光源と、該パルス光の基準時間としてのスター
トパルスの発生手段と、前記発光源のパルス光を２分す
る手段と、該手段にて分配された一方の光を受けて光電
子パルスを発する励起光パルス波形測定用の光検出器と
、他方の光を照射された試料からの発光を受けて光電子
パルスを発する発光波形測定用の光検出器と、前記各光
検出器に各別に接続された励起光パルス波形測定用ＴＡ
Ｃ及び発光波形測定用ＴＡＣを備え、各ＴＡＣは前記ス
タートパルスによって同時に動作すをストップパルスと
して、他方、発光波形測定用ＴＡＣは発光波形測定用光
検出器から送られる光電子パルスをストップパルスとし
て夫々動作開始時から光電子パルスを受けるまでの時間
に比例した電圧を出力するようにされ、両ＴＡＣの出力
は多チヤンネル波高分析器として動作するＡ／Ｄ変換器
とコンピューターにより励起パルス波形と発光波形のヒ
ストグラムを形成し、上記波形を基にデコンボルーショ
ンの演算処理により発光寿命を算出するようにしたこと
を要旨としている。
ス光の発光源と、該パルス光の基準時間としてのスター
トパルスの発生手段と、前記発光源のパルス光を２分す
る手段と、該手段にて分配された一方の光を受けて光電
子パルスを発する励起光パルス波形測定用の光検出器と
、他方の光を照射された試料からの発光を受けて光電子
パルスを発する発光波形測定用の光検出器と、前記各光
検出器に各別に接続された励起光パルス波形測定用ＴＡ
Ｃ及び発光波形測定用ＴＡＣを備え、各ＴＡＣは前記ス
タートパルスによって同時に動作すをストップパルスと
して、他方、発光波形測定用ＴＡＣは発光波形測定用光
検出器から送られる光電子パルスをストップパルスとし
て夫々動作開始時から光電子パルスを受けるまでの時間
に比例した電圧を出力するようにされ、両ＴＡＣの出力
は多チヤンネル波高分析器として動作するＡ／Ｄ変換器
とコンピューターにより励起パルス波形と発光波形のヒ
ストグラムを形成し、上記波形を基にデコンボルーショ
ンの演算処理により発光寿命を算出するようにしたこと
を要旨としている。
以下に図面に基づき本発明の一実施例を説明する。＠２
図は本発明の一実施例としての試料の発光寿命測定装置
を示し、図中、１１はパルス光の発光源、１２は該パル
ス光の基準時間としてのスタートパルスの発生手段で、
例えばフォトマル１３とパルス°整形回路１４とで構成
される。１５は前記発光源１１のパルス光を２分する手
段として例えばビームスプリンタ、１６は該手段１５で
分配された一方の光を受けて光電子パルスを発する励起
光パルス波形測定用の光検出器として例えばフォトマル
、１７は前記手段１５で分配された残りの光を照射され
る試料、１８は該試料１７から発する光を受けて光電子
パルスを発する発光波形測定用光検出器として例えばフ
ォトマル、１９．２０は前記各光検出器１６．１８に各
別に接続されたＴ Ａ Ｃである。光検出器１６に接続
されたＴＡＣを励起光パルス波形測定用′ｒ Ａ Ｃ１
光検出器１８に接続されたＴＡＣを発光波形測定用ＴＡ
Ｃと呼ぶ。各ＴＡＣＬ ９． ２０は、スタートパルス
によって同時にコンデンサを定電流で充電開始し、光電
子パルスが入力されると充電を終了するという原理に基
づいており、従ってスタートパルスで動作して後光電子
パルスが入力されるまでの時間に比例した電圧を出力す
る。また上記原理から明らかなように１個のＴＡＣは１
個の光電子パルスしか計数できないため、通常ＴＡＣ１
９，２＋）とも多チヤンネル構成とし、１回の発光で光
検出器が順次発する複故個の光電子パルスを各チャンネ
ルのＴＡＣで１個づつ計数できるように構成されている
。このような多チヤンネル構成の技術は特開昭ｓ ７−
１．３７８４３号公報にも開示されており公知である。
図は本発明の一実施例としての試料の発光寿命測定装置
を示し、図中、１１はパルス光の発光源、１２は該パル
ス光の基準時間としてのスタートパルスの発生手段で、
例えばフォトマル１３とパルス°整形回路１４とで構成
される。１５は前記発光源１１のパルス光を２分する手
段として例えばビームスプリンタ、１６は該手段１５で
分配された一方の光を受けて光電子パルスを発する励起
光パルス波形測定用の光検出器として例えばフォトマル
、１７は前記手段１５で分配された残りの光を照射され
る試料、１８は該試料１７から発する光を受けて光電子
パルスを発する発光波形測定用光検出器として例えばフ
ォトマル、１９．２０は前記各光検出器１６．１８に各
別に接続されたＴ Ａ Ｃである。光検出器１６に接続
されたＴＡＣを励起光パルス波形測定用′ｒ Ａ Ｃ１
光検出器１８に接続されたＴＡＣを発光波形測定用ＴＡ
Ｃと呼ぶ。各ＴＡＣＬ ９． ２０は、スタートパルス
によって同時にコンデンサを定電流で充電開始し、光電
子パルスが入力されると充電を終了するという原理に基
づいており、従ってスタートパルスで動作して後光電子
パルスが入力されるまでの時間に比例した電圧を出力す
る。また上記原理から明らかなように１個のＴＡＣは１
個の光電子パルスしか計数できないため、通常ＴＡＣ１
９，２＋）とも多チヤンネル構成とし、１回の発光で光
検出器が順次発する複故個の光電子パルスを各チャンネ
ルのＴＡＣで１個づつ計数できるように構成されている
。このような多チヤンネル構成の技術は特開昭ｓ ７−
１．３７８４３号公報にも開示されており公知である。
図示例ではＴＡＣ１９は２チャンネル１９ａ、１９ｂＳ
ＴＡＣ２０は６チヤンネル頭ａ・・・２０ｆとしている
。２１は前記両ＴＡＣ１９，２０の出力信号を収出し励
起光パルス波形と発光波形のヒストグラムを形成し、さ
らにＥ記ヒストグラムを基にデコンボリューションの演
算処理をする回路手段で、マルチプレクサ２２と、Ａ／
Ｄ変換器２３と、コンピュータ２４とから成っている。
ＴＡＣ２０は６チヤンネル頭ａ・・・２０ｆとしている
。２１は前記両ＴＡＣ１９，２０の出力信号を収出し励
起光パルス波形と発光波形のヒストグラムを形成し、さ
らにＥ記ヒストグラムを基にデコンボリューションの演
算処理をする回路手段で、マルチプレクサ２２と、Ａ／
Ｄ変換器２３と、コンピュータ２４とから成っている。
北記構成において、今、発光源１１が１回パルス光Ｐを
発すると、スタートパルス発生手段１２がパルス光Ｐの
立上り時を検出して第３図に示すようにスタートパルス
Ｐｏを発する。このパルスＰｏによってＴＡＣ１９，２
＋１が同時に前作する。
発すると、スタートパルス発生手段１２がパルス光Ｐの
立上り時を検出して第３図に示すようにスタートパルス
Ｐｏを発する。このパルスＰｏによってＴＡＣ１９，２
＋１が同時に前作する。
また前記パルス光Ｐはビームスプリッタ１５で２分され
、一方は励起光パルス波形測定用光検出器１６に、他方
は試料１７に照射される。光検出器１６は前記パルス光
を受けて光電子パルスヒ、珂を発し、他方、試料１７は
パルス光Ｐによって励起され、発光する。この発光は発
光波形測定用の光検出器１８で受けられ、光電子パルス
Ｐ、、 Ｐ２・・・を発する。そして、これら各パル
スＰζ＋ Ｒ＋ ＰＩ＋Ｐ２・・・は各別のＴＡＣ
１９，２０にストップパルスとして作用され、各ＴＡＣ
１９，２０，詳しくは各チャンネルのＴＡＣ１９ａ、
１９ ｂ、 ｚ Ｏａ。
、一方は励起光パルス波形測定用光検出器１６に、他方
は試料１７に照射される。光検出器１６は前記パルス光
を受けて光電子パルスヒ、珂を発し、他方、試料１７は
パルス光Ｐによって励起され、発光する。この発光は発
光波形測定用の光検出器１８で受けられ、光電子パルス
Ｐ、、 Ｐ２・・・を発する。そして、これら各パル
スＰζ＋ Ｒ＋ ＰＩ＋Ｐ２・・・は各別のＴＡＣ
１９，２０にストップパルスとして作用され、各ＴＡＣ
１９，２０，詳しくは各チャンネルのＴＡＣ１９ａ、
１９ ｂ、 ｚ Ｏａ。
２０ｂ・・・はスタートパルスによって同時に動作開始
してから光電子パルスＰ１＋ ｐ７＋ ＰＩ＋ ｐ
２・・・が入力されるまでの時間に比例したアナログ電
圧を出力する。この出力信号は、次段の回路手段２１に
取出され保持される。
してから光電子パルスＰ１＋ ｐ７＋ ＰＩ＋ ｐ
２・・・が入力されるまでの時間に比例したアナログ電
圧を出力する。この出力信号は、次段の回路手段２１に
取出され保持される。
かくして、発光源１１を繰返し発光させて、その度に各
ＴＡＣ１９，２０から出方信号を取出して波高分析器と
して＃褥するコンピュータの別々のメモリグループに記
憶される。その結果縦軸に電圧、横軸に同一の電圧の出
力信号があった回数（カウント数）をとってあらゎせば
、第３図中人、Ｂに示す如き光電子発生頻度のヒストグ
ラムが得られる。電圧に時間に対応するのでこのヒスト
グラムの曲線Ａは励起光パルス波形Ｐ（ｔ）をあられし
、曲線Ｂは発光波形１ ｒｔ）をあられｒ。従って、回
路手段２１中のコンピュータ２４において、」１記Ｐ
（ｔ）、Ｉ （ｔ）をデコンボリューションの演算処理
で真の発光波形Ｇ（ｔ）を求め、この波形Ｇ（ｔｌから
発光寿命が得られる。第４図に溶媒中のアントラセンを
試料として用いた場合の実測データを示す。
ＴＡＣ１９，２０から出方信号を取出して波高分析器と
して＃褥するコンピュータの別々のメモリグループに記
憶される。その結果縦軸に電圧、横軸に同一の電圧の出
力信号があった回数（カウント数）をとってあらゎせば
、第３図中人、Ｂに示す如き光電子発生頻度のヒストグ
ラムが得られる。電圧に時間に対応するのでこのヒスト
グラムの曲線Ａは励起光パルス波形Ｐ（ｔ）をあられし
、曲線Ｂは発光波形１ ｒｔ）をあられｒ。従って、回
路手段２１中のコンピュータ２４において、」１記Ｐ
（ｔ）、Ｉ （ｔ）をデコンボリューションの演算処理
で真の発光波形Ｇ（ｔ）を求め、この波形Ｇ（ｔｌから
発光寿命が得られる。第４図に溶媒中のアントラセンを
試料として用いた場合の実測データを示す。
横軸は時間、縦軸はカウント数である。尚、第３図にお
いて、直線ＣはＴＡＣ１９ａ、 １９ ｂの動作特性
、直線りはＴＡＣ２０ａ〜２０ｆの動作特性テあり、ｊ
Ｌ’ｊ≦＋ ｊｌｔ ｔ、・・・は各光電子パルス
ＰＩ′、Ｐ≦、’Ｐ、、Ｐ、・・・が入力されるまでの
時間、Ｖ；、 Ｖ；、 Ｖ、、 Ｖ、・・・は上記各時
間に対応した電圧である。
いて、直線ＣはＴＡＣ１９ａ、 １９ ｂの動作特性
、直線りはＴＡＣ２０ａ〜２０ｆの動作特性テあり、ｊ
Ｌ’ｊ≦＋ ｊｌｔ ｔ、・・・は各光電子パルス
ＰＩ′、Ｐ≦、’Ｐ、、Ｐ、・・・が入力されるまでの
時間、Ｖ；、 Ｖ；、 Ｖ、、 Ｖ、・・・は上記各時
間に対応した電圧である。
図中、各ＴＡＣの動作特性図は、スタートパルスを同一
の基準時間として重なって示されている。
の基準時間として重なって示されている。
また、第２図中、２５・・・は集光レンズ、２６は減光
手段、２７はフィルター又は分光器、２８はパルス整形
回路、２９は切換スイッチである。この切換スイッチ２
９を切換えると、ＴＡＣｌ９はＴＡＣ２０と並列に接続
され、合計８チヤンネルのＴＡＣで発光波形Ｉ（ｔ）を
測定できる。但し、この場合、励起光パルス波形Ｐ（ｔ
）は同時には測定できない。従って、切換スイッチ２８
を切換えることによって励起光のパルス幅に比べて寿命
の十分長い発光を多チャンネルＴＡＣの特色を生かし効
率よく測定することもでき、より広範な試料の測定に適
用することができる。
手段、２７はフィルター又は分光器、２８はパルス整形
回路、２９は切換スイッチである。この切換スイッチ２
９を切換えると、ＴＡＣｌ９はＴＡＣ２０と並列に接続
され、合計８チヤンネルのＴＡＣで発光波形Ｉ（ｔ）を
測定できる。但し、この場合、励起光パルス波形Ｐ（ｔ
）は同時には測定できない。従って、切換スイッチ２８
を切換えることによって励起光のパルス幅に比べて寿命
の十分長い発光を多チャンネルＴＡＣの特色を生かし効
率よく測定することもでき、より広範な試料の測定に適
用することができる。
本発明に係る試料の発光寿命測定装置は上記のように構
成したため次の如き効果がある。
成したため次の如き効果がある。
■ 発光波形■（ｔ）と励起光パルス波形Ｐ（ｔ）を同
時に測定することができるため、測定時間が半減できる
。特にＴＡＣを多チャンネルで構成すればそれによる測
光効率の向上と相俟って著しく測定時間が短縮でき、実
用的効果が高い。
時に測定することができるため、測定時間が半減できる
。特にＴＡＣを多チャンネルで構成すればそれによる測
光効率の向上と相俟って著しく測定時間が短縮でき、実
用的効果が高い。
■ 測定時間が短縮できるため、励起光の経時の影響が
少ないばかりか、たとえ励起光の波形が多少変化しても
、その効果が、同時に測定される励起光パルス波形Ｐ（
ｔ）と発光波形Ｉ（ｔ）に反映されるので、デコンボリ
ューションにより高精度の発光寿命が得られる。
少ないばかりか、たとえ励起光の波形が多少変化しても
、その効果が、同時に測定される励起光パルス波形Ｐ（
ｔ）と発光波形Ｉ（ｔ）に反映されるので、デコンボリ
ューションにより高精度の発光寿命が得られる。
■ 構成的には、特開昭５７−１３７８４３号公報に記
載の装置にビームスプリッタｔＳ、；功起光パルス波形
測定用検出器１６及びＴＡＣｌ ９を付加したものであ
るから、上記従来装置にこれらの部品を付加することに
よって簡単に本発明装置に改良できる。従って、本発明
は既存の装置の大半の部分を利用できるので実施化が容
易である。またこの場合、従来装置においてＴＡＣが多
チャンネルで構成されているなら、そのうちの何個かを
励起光パルス波形測定用ＴＡＣとして用いることもでき
、その場合は従来装置にビームスプリッタと光検出器を
、更にコンピュータからのＴＡＣコントロール信号の多
少の修正により本発明を実施できる。
載の装置にビームスプリッタｔＳ、；功起光パルス波形
測定用検出器１６及びＴＡＣｌ ９を付加したものであ
るから、上記従来装置にこれらの部品を付加することに
よって簡単に本発明装置に改良できる。従って、本発明
は既存の装置の大半の部分を利用できるので実施化が容
易である。またこの場合、従来装置においてＴＡＣが多
チャンネルで構成されているなら、そのうちの何個かを
励起光パルス波形測定用ＴＡＣとして用いることもでき
、その場合は従来装置にビームスプリッタと光検出器を
、更にコンピュータからのＴＡＣコントロール信号の多
少の修正により本発明を実施できる。
■ 一方、本発明装置は、励起光パルス波形測定用と発
光波形測定用という２組のＴＡＣを使用しているので、
実施例に示したように両者を切換スィノツチの切換によ
って並列的に接続できるように構成することにより、励
起光パルス幅に比べて発光寿命の十分長いものの測定を
行なう場合は、装置内に含む全てのＴＡＣを一系列とし
て有効に使用することにより、著しく測光効率を上げる
こともでき試料に応じた測定態様で実施できるという効
果も併せもつ。
光波形測定用という２組のＴＡＣを使用しているので、
実施例に示したように両者を切換スィノツチの切換によ
って並列的に接続できるように構成することにより、励
起光パルス幅に比べて発光寿命の十分長いものの測定を
行なう場合は、装置内に含む全てのＴＡＣを一系列とし
て有効に使用することにより、著しく測光効率を上げる
こともでき試料に応じた測定態様で実施できるという効
果も併せもつ。
第１図は従来の試料の発光寿命測定装置を示すブロック
図、第２図は本発明の一実施例を示すブロック図、第３
図は第２図の装置による発光寿命測定動作を説明する図
、第４図は第２図の装置によって測定したデータを示す
図である。 １１・・・発光源、１２・・・スタートパルス発生手段
、１５・・・分配手段（ビームスプリッタ）、１６・・
・励起光パルス波形測定用光検出器、１７・・・試料、
１８・・・発光波形測定用光検出器、１９・・・励起光
パルス波形測定用ＴＡＣ，２０・・・発光波形測定用Ｔ
ＡＣ。 第１図 ２ 一一眉 Ｖ−一一一 −ｍ−］ １ １５ｏ ０３ １ （） − （）■ ４醤 ・ １ ６１ ス １ １ Ｌ−。 ＴＴＩＴ ７ ＡＡＡ Ａ ｃｃｃｃ
図、第２図は本発明の一実施例を示すブロック図、第３
図は第２図の装置による発光寿命測定動作を説明する図
、第４図は第２図の装置によって測定したデータを示す
図である。 １１・・・発光源、１２・・・スタートパルス発生手段
、１５・・・分配手段（ビームスプリッタ）、１６・・
・励起光パルス波形測定用光検出器、１７・・・試料、
１８・・・発光波形測定用光検出器、１９・・・励起光
パルス波形測定用ＴＡＣ，２０・・・発光波形測定用Ｔ
ＡＣ。 第１図 ２ 一一眉 Ｖ−一一一 −ｍ−］ １ １５ｏ ０３ １ （） − （）■ ４醤 ・ １ ６１ ス １ １ Ｌ−。 ＴＴＩＴ ７ ＡＡＡ Ａ ｃｃｃｃ
Claims (1)
- パルス光の発光源と、該パルス光の基準時間としてのス
タートパルスの発生手段と、前記発光源のパルス光を２
分する手段と、該手段にて分配された一方の光を受けて
光電子パルスを発する励起光パルス波形測定用の光検出
器と、他方の光を照射された試料からの発光を受けて光
電子パルスを発する発光波形測定用の光検出器と、前記
各光検出器に各別に接続された励起光パルス波形測定用
ＴＡＣ及び発光波形測定用ＴＡＣを備え、各ＴＡＣは前
記スタートパルスによって同時に動作すると共に、励起
光パルス波形測定用ＴＡＣは励起光パルス測定用光検出
器から送られる光電子パルスをストップパルスとして、
他方、発光波形測定用ＴＡＣは発光波形測定用光検出器
から送られる光電子パルスをストップパルスとして夫々
動作開始時から光電子パルスを受けるまでの時間に比例
した電圧を出力するようにされ、もって、両Ｔ Ａ Ｃ
の出力信号を基にして得られたヒストグラムをデコンボ
ルーションの演算処理に従って発光寿命を測定するよう
にしたことを特徴とする試料の発光寿命測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57183244A JPS5972049A (ja) | 1982-10-19 | 1982-10-19 | 試料の発光寿命測定装置 |
| US06/539,680 US4600306A (en) | 1982-10-19 | 1983-10-06 | Apparatus for measuring the luminous lifetime of a sample |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57183244A JPS5972049A (ja) | 1982-10-19 | 1982-10-19 | 試料の発光寿命測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5972049A true JPS5972049A (ja) | 1984-04-23 |
| JPH0225136B2 JPH0225136B2 (ja) | 1990-05-31 |
Family
ID=16132295
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57183244A Granted JPS5972049A (ja) | 1982-10-19 | 1982-10-19 | 試料の発光寿命測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4600306A (ja) |
| JP (1) | JPS5972049A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4662748A (en) * | 1984-06-26 | 1987-05-05 | Horiba, Ltd. | Apparatus for measuring luminescence lifetime |
| WO2001094919A1 (fr) * | 2000-06-08 | 2001-12-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Procede et appareil de mesure de la fluorescence, et appareil pour evaluer un echantillon faisant appel a cet appareil de mesure |
| JP2009098149A (ja) * | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Gwangju Inst Of Science & Technology | 蛍光寿命測定方法および装置 |
| JP6946599B1 (ja) * | 2020-08-06 | 2021-10-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | 時間計測装置、蛍光寿命計測装置、及び時間計測方法 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPH06100532B2 (ja) * | 1986-08-25 | 1994-12-12 | 浜松ホトニクス株式会社 | 高空間・時間分解計測装置 |
| US5264905A (en) * | 1992-04-27 | 1993-11-23 | Grumman Aerospace Corporation | Electro-optic automated test equipment |
| DE4420572C2 (de) * | 1994-06-03 | 1999-02-04 | Hartmut Dr Rer Nat Lucht | Vorrichtung zur Bestimmung der Konzentration von fluoreszierenden Stoffen |
| JPH09196752A (ja) * | 1995-11-15 | 1997-07-31 | Bunshi Bio Photonics Kenkyusho:Kk | 測光装置 |
| US6766183B2 (en) | 1995-11-22 | 2004-07-20 | Medtronic Minimed, Inc. | Long wave fluorophore sensor compounds and other fluorescent sensor compounds in polymers |
| DE19718016A1 (de) * | 1997-04-29 | 1998-11-05 | Drexhage Karl Heinz | Verfahren zur optischen Detektion von Analytmolekülen in einem natürlichen biologischen Medium |
| US6055451A (en) * | 1997-12-12 | 2000-04-25 | Spectrx, Inc. | Apparatus and method for determining tissue characteristics |
| AU6139199A (en) | 1998-09-11 | 2000-04-03 | Spectrx, Inc. | Multi-modal optical tissue diagnostic system |
| US6342701B1 (en) * | 1999-07-08 | 2002-01-29 | International Business Machines Corporation | Time correlated photon counting |
| WO2002066986A2 (en) * | 2001-02-15 | 2002-08-29 | Medtronic Minimed, Inc. | Polymers functionalized with fluorescent boronate motifs |
| US7045361B2 (en) | 2001-09-12 | 2006-05-16 | Medtronic Minimed, Inc. | Analyte sensing via acridine-based boronate biosensors |
| US7332700B2 (en) * | 2004-04-26 | 2008-02-19 | Bruce Masato Ishimoto | Photomultiplier tube with dynode modulation for photon-counting |
| FR3002651B1 (fr) * | 2013-02-22 | 2015-04-10 | Areva Nc | Procede d'asservissement du gain et du zero d'un dispositif de comptage de photons a pixels multiples, et systeme de mesure de lumiere mettant en œuvre ce procede |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57137843A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-25 | Hokkaido Daigaku | Measuring apparatus of luminescence life of sample |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3918812A (en) * | 1973-05-07 | 1975-11-11 | Us Energy | Diagnoses of disease states by fluorescent measurements utilizing scanning laser beams |
-
1982
- 1982-10-19 JP JP57183244A patent/JPS5972049A/ja active Granted
-
1983
- 1983-10-06 US US06/539,680 patent/US4600306A/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JPS57137843A (en) * | 1981-02-20 | 1982-08-25 | Hokkaido Daigaku | Measuring apparatus of luminescence life of sample |
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| JP2009098149A (ja) * | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Gwangju Inst Of Science & Technology | 蛍光寿命測定方法および装置 |
| JP6946599B1 (ja) * | 2020-08-06 | 2021-10-06 | 浜松ホトニクス株式会社 | 時間計測装置、蛍光寿命計測装置、及び時間計測方法 |
| WO2022030062A1 (ja) * | 2020-08-06 | 2022-02-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | 時間計測装置、蛍光寿命計測装置、及び時間計測方法 |
| JP2022031264A (ja) * | 2020-08-06 | 2022-02-18 | 浜松ホトニクス株式会社 | 時間計測装置、蛍光寿命計測装置、及び時間計測方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4600306A (en) | 1986-07-15 |
| JPH0225136B2 (ja) | 1990-05-31 |
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