JPS5975165A - タイミング発生器 - Google Patents
タイミング発生器Info
- Publication number
- JPS5975165A JPS5975165A JP57186001A JP18600182A JPS5975165A JP S5975165 A JPS5975165 A JP S5975165A JP 57186001 A JP57186001 A JP 57186001A JP 18600182 A JP18600182 A JP 18600182A JP S5975165 A JPS5975165 A JP S5975165A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- phase
- signal
- output
- generator
- counter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G04—HOROLOGY
- G04G—ELECTRONIC TIME-PIECES
- G04G3/00—Producing timing pulses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、IC試験装置に用いるタイミング発生器に係
り、特に1テスト周期中に複数の位相信号を発生する機
能を有したタイミング発生器に関する。
り、特に1テスト周期中に複数の位相信号を発生する機
能を有したタイミング発生器に関する。
IC試験装置用タイミング発生器は、太きく分けるとテ
スト周期を決定するレイトジェネレータと、そのテスト
周期に対して任意の位相で信号を発生する複数個のフェ
イズジェネレータによって構成される。
スト周期を決定するレイトジェネレータと、そのテスト
周期に対して任意の位相で信号を発生する複数個のフェ
イズジェネレータによって構成される。
第1図は、従来のタイミング発生器を示すもので、同図
では、簡単のためフェイズジェネレータは1個としてい
る。そしてこれは、実時間でタイミングを変更するため
、外部からのタイミング選択信号17が入力されると、
それに対応したテスト周期信号16及び位相信号18が
出力されるもので、その動作の概略は次の通りである。
では、簡単のためフェイズジェネレータは1個としてい
る。そしてこれは、実時間でタイミングを変更するため
、外部からのタイミング選択信号17が入力されると、
それに対応したテスト周期信号16及び位相信号18が
出力されるもので、その動作の概略は次の通りである。
第1図に於て、タイミング選択信号17が入力されると
、それはそれまで出力されていたテスト周期信号16に
同期して、タイミングレジスタ8に取り込まれ、テスト
周期情報が書き込まれているレイトメモリ7と、位相信
号情報が書き込まれているフェイズメモリ11をアクセ
スし、テスト周期情報と位相信号情報を読み出す。
、それはそれまで出力されていたテスト周期信号16に
同期して、タイミングレジスタ8に取り込まれ、テスト
周期情報が書き込まれているレイトメモリ7と、位相信
号情報が書き込まれているフェイズメモリ11をアクセ
スし、テスト周期情報と位相信号情報を読み出す。
テスト周期を生成するレイトジェネレータ21では、発
振器1からの基本クロック周期の、整数倍のテスト周期
を決定するレイトカウンタ2と、基本クロックの周期以
上にテスト周期の分解能を向上させるだめの、レイトカ
ウンタ2の出力を遅延させるディレィライン6及びディ
レィライン3の1つを選択するレイトセレクタ4とによ
り、テスト周期信号16が生成される。このうち、レイ
トカウンタ2の分周比及びセレクタ4の選択はレイトレ
ジスタ5の内容により制御されるが、その内容は、ディ
レィライン3を用いて分解能を上げたため、前回のテス
ト周期で設定した遅延時間(レジスタ5に格納)と、今
回のテスト周期(メモリ7の出力)の基本クロックの周
期未満の設定値との加算演算を行うディレィアダーによ
り決定される。更に、位相信号18を作成するフェイズ
ジェネレータ22にテスト周期信号16と同位相の基本
クロックを供給するため、発搗器1の出力を遅延させる
ディレィライン9と、レイトレジスタ5の内容に応じて
遅延時間を選択するフェイズクロックセレクタ10とに
より、フェイズクロック19ヲ生成する。
振器1からの基本クロック周期の、整数倍のテスト周期
を決定するレイトカウンタ2と、基本クロックの周期以
上にテスト周期の分解能を向上させるだめの、レイトカ
ウンタ2の出力を遅延させるディレィライン6及びディ
レィライン3の1つを選択するレイトセレクタ4とによ
り、テスト周期信号16が生成される。このうち、レイ
トカウンタ2の分周比及びセレクタ4の選択はレイトレ
ジスタ5の内容により制御されるが、その内容は、ディ
レィライン3を用いて分解能を上げたため、前回のテス
ト周期で設定した遅延時間(レジスタ5に格納)と、今
回のテスト周期(メモリ7の出力)の基本クロックの周
期未満の設定値との加算演算を行うディレィアダーによ
り決定される。更に、位相信号18を作成するフェイズ
ジェネレータ22にテスト周期信号16と同位相の基本
クロックを供給するため、発搗器1の出力を遅延させる
ディレィライン9と、レイトレジスタ5の内容に応じて
遅延時間を選択するフェイズクロックセレクタ10とに
より、フェイズクロック19ヲ生成する。
一方、フェイズジェネレータ22では、フェイスメモリ
11かう読み出されてフェイズレジスタ12にセットさ
れた位相情報と、フェイズクロック19ヲフエイズカウ
ンタ16によって計数した値とが一致した時刻に一致出
カを生成し、更に位相分解能を上げるために、この−散
出カをディレィラインに入力し、その出力をフェイズセ
レクタ15により選択して位相信号18を出力する。
11かう読み出されてフェイズレジスタ12にセットさ
れた位相情報と、フェイズクロック19ヲフエイズカウ
ンタ16によって計数した値とが一致した時刻に一致出
カを生成し、更に位相分解能を上げるために、この−散
出カをディレィラインに入力し、その出力をフェイズセ
レクタ15により選択して位相信号18を出力する。
すなわち、フェイズジェネレータ22ば、1テスト周期
中に任意の位相パルスを1回出力する機能がある。
中に任意の位相パルスを1回出力する機能がある。
しかし、IC試験装置の試験対象であるメモリIC,ロ
ジックICは、高集積度化にともなってIC内部の素子
数が増加し、そのテストのためにはより一層複雑々タイ
ミングが必要になってきており、1テスト周期中に複数
個の位相信号が必要である。このため、従来は、フェイ
ズジェネレータ22を複数個設け、その出力位相信号を
組合せねばならず、タイミング発生器のハードウェアが
増大し、コスト及び消費電力の増大をもたらす、という
欠点があった。
ジックICは、高集積度化にともなってIC内部の素子
数が増加し、そのテストのためにはより一層複雑々タイ
ミングが必要になってきており、1テスト周期中に複数
個の位相信号が必要である。このため、従来は、フェイ
ズジェネレータ22を複数個設け、その出力位相信号を
組合せねばならず、タイミング発生器のハードウェアが
増大し、コスト及び消費電力の増大をもたらす、という
欠点があった。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなく1〜.
1テスト周期中に複数の位相信号を発生することのでき
るフェイズジェネレータを備えた、タイミング発生器を
提供することにある。
1テスト周期中に複数の位相信号を発生することのでき
るフェイズジェネレータを備えた、タイミング発生器を
提供することにある。
本発明は、選択信号により指定された個数の位相信号を
各テスト周期に発生するよう制御する、カウンタを中心
とした個数制御手段と、テスト周期信号から選択信号に
より指定された等時間間隔で上記各位相信号が発生する
ように制御するカウンタ、演算回路、ディレィ回路等よ
り成る位相制御手段とを設けたことを特徴とするもので
ある。
各テスト周期に発生するよう制御する、カウンタを中心
とした個数制御手段と、テスト周期信号から選択信号に
より指定された等時間間隔で上記各位相信号が発生する
ように制御するカウンタ、演算回路、ディレィ回路等よ
り成る位相制御手段とを設けたことを特徴とするもので
ある。
以下、本発明を実施例により説明する。第2図は、本発
明の装置の概略ブロック図で、このうちレイトジェネレ
ータ21は、従来の第1図のものとほぼ同じであり、本
発明の特徴とするフェイスジェネレータ22Aが第6図
に示されている。このジェネレータ22A1個により、
−テスト周期中に複数の位相信号18を生成する。その
° 4 構成及び動作は次の通りである。
明の装置の概略ブロック図で、このうちレイトジェネレ
ータ21は、従来の第1図のものとほぼ同じであり、本
発明の特徴とするフェイスジェネレータ22Aが第6図
に示されている。このジェネレータ22A1個により、
−テスト周期中に複数の位相信号18を生成する。その
° 4 構成及び動作は次の通りである。
第3図に於て、位相信号18の発生個数の制rA1は、
タイムズカウンタ24及びアンドゲート28を中心に行
われる。タイムズメモリ23には位相信号18の発生個
数が格納されており、タイミング選択信号20が入力さ
れると、タイムズメモリからこの個数(以下ではこれを
2とする)が読み出され、その読み出された値2は、テ
スト周期信号16によって、タイムズカウンタ24にロ
ードされ、同時に信号16によってRSフリップフロッ
プ27はセットされ、アンドゲート28は開状態となる
。
タイムズカウンタ24及びアンドゲート28を中心に行
われる。タイムズメモリ23には位相信号18の発生個
数が格納されており、タイミング選択信号20が入力さ
れると、タイムズメモリからこの個数(以下ではこれを
2とする)が読み出され、その読み出された値2は、テ
スト周期信号16によって、タイムズカウンタ24にロ
ードされ、同時に信号16によってRSフリップフロッ
プ27はセットされ、アンドゲート28は開状態となる
。
一方、テスト周期信号16によって、後で詳述するよう
に、フェイズメモリ30の内容が読み出され、カウンタ
31からの出力が1クロックディレィ′52.ディレィ
ライン36で位相の細かい制御を受けて位相信号1日と
して出力されるが、この位相信号18が1個出力される
毎に、1クロツクデイレイ32の出力によってアンドゲ
ート28.オアゲート29を介してフェイズカウンタ3
1にはフエイズメモリ60からの情報がとり込まれ、次
の位相信号18が出力される。そ1〜て位相信号18の
出力1個毎にタイムズカウンタ24の内容が1減算され
る。ところが、インバータ25とゲート26からなる回
路の出力は、タイムズカウンタ24の内容が1となった
時に1を出力してフリップフロップ27をリセットし、
アンドゲート28をオフ状態とするので、この時点の後
にはフェイズカウンタ31へのメモリ30からのロード
は行われない。すなわち、1テスト周期中にタイムズメ
モリ23に書き込まれている位相信号数(この場合2と
した)が出力されることになる0 以上が個数制御であるが、その各位相信号の位相制御は
、以下のように行われる。第4図はテスト周期Tと、位
相信号18の周期との関係を示しており、最初の位相信
号aまでの時間及び位相信号間の間隔は等しくTpであ
る。そして、説明の便宜上、第5図のように、フェイズ
クロック19の周期Tcを10ns+位相信号周期Tp
を25nsとする。テスト周期信号16が入力されると
、フェイズメモリ30からフェイズカウンタ61には2
(一般にはm−整数、以下同様)がロードされ、Dフリ
ップフロップ66には5(n)がセットされる。又Dフ
リップフロップ35はリセットされ、RSフリップフロ
ップろ8はセットされ、セレクタ37はフリップフロッ
プ38のセット条件によりフリップフロップ36の値5
(n)をその出力4として選択し、これによってディレ
ィライン33は遅延時間5ns(nをns年単位考え、
そのTc=10ns未満の値)に設定され、1クロツク
デイレイ32は0ns(同じくnをns年単位数値とし
た時のTc=10ns未満を切り捨てたTcの整数倍の
時間)に設定される。つまり1クロツクデイレイ′52
及びディレィライン63はセレクタ37出力lに相当す
るA=5nsの遅延を与える。
に、フェイズメモリ30の内容が読み出され、カウンタ
31からの出力が1クロックディレィ′52.ディレィ
ライン36で位相の細かい制御を受けて位相信号1日と
して出力されるが、この位相信号18が1個出力される
毎に、1クロツクデイレイ32の出力によってアンドゲ
ート28.オアゲート29を介してフェイズカウンタ3
1にはフエイズメモリ60からの情報がとり込まれ、次
の位相信号18が出力される。そ1〜て位相信号18の
出力1個毎にタイムズカウンタ24の内容が1減算され
る。ところが、インバータ25とゲート26からなる回
路の出力は、タイムズカウンタ24の内容が1となった
時に1を出力してフリップフロップ27をリセットし、
アンドゲート28をオフ状態とするので、この時点の後
にはフェイズカウンタ31へのメモリ30からのロード
は行われない。すなわち、1テスト周期中にタイムズメ
モリ23に書き込まれている位相信号数(この場合2と
した)が出力されることになる0 以上が個数制御であるが、その各位相信号の位相制御は
、以下のように行われる。第4図はテスト周期Tと、位
相信号18の周期との関係を示しており、最初の位相信
号aまでの時間及び位相信号間の間隔は等しくTpであ
る。そして、説明の便宜上、第5図のように、フェイズ
クロック19の周期Tcを10ns+位相信号周期Tp
を25nsとする。テスト周期信号16が入力されると
、フェイズメモリ30からフェイズカウンタ61には2
(一般にはm−整数、以下同様)がロードされ、Dフリ
ップフロップ66には5(n)がセットされる。又Dフ
リップフロップ35はリセットされ、RSフリップフロ
ップろ8はセットされ、セレクタ37はフリップフロッ
プ38のセット条件によりフリップフロップ36の値5
(n)をその出力4として選択し、これによってディレ
ィライン33は遅延時間5ns(nをns年単位考え、
そのTc=10ns未満の値)に設定され、1クロツク
デイレイ32は0ns(同じくnをns年単位数値とし
た時のTc=10ns未満を切り捨てたTcの整数倍の
時間)に設定される。つまり1クロツクデイレイ′52
及びディレィライン63はセレクタ37出力lに相当す
るA=5nsの遅延を与える。
一方フエイズカウンタ61は、周期Tc=10nsのフ
ェイズクロック190入力毎に1つづつその内容を減じ
て、0になった時出力する。従ってこれは設定値m=2
に対して2 TC= 20 n s(m’l”c)毎に
出力する0従って、第1回目の位相(i号a・ 7 ・ は、2Tc + 1(=5) =25 n sの所で出
力される(第5図)。この位相信号a出力により、RS
フリップフロップ68はリセットされ、セレクタ37は
、以後Dフリップフロップ35の出力をlとして選択す
る。
ェイズクロック190入力毎に1つづつその内容を減じ
て、0になった時出力する。従ってこれは設定値m=2
に対して2 TC= 20 n s(m’l”c)毎に
出力する0従って、第1回目の位相(i号a・ 7 ・ は、2Tc + 1(=5) =25 n sの所で出
力される(第5図)。この位相信号a出力により、RS
フリップフロップ68はリセットされ、セレクタ37は
、以後Dフリップフロップ35の出力をlとして選択す
る。
ここで、ディレィアダー34は、テスト周期信号16の
入力時には、■〕フリップフロップ35がテスト周期信
号16によってリセットされているため、Dフリップフ
ロップ35の値0と、フェイズメモリ35からの値5(
n)の加算演算を行い出力5(n)を得ている。従って
、最初の位相信号aを生成するフェイズカウンタ61の
出力信号によってDフリップフロップ35にはこの演算
結果5(n)がセットされ、ディレィアダー34は、こ
のDフリップフロップ65の値5 (n)と、フェイズ
メモリ30の値5(n)の加算演算を行い、出力に値1
0 (2n)を保持している。又、アンド回路28を介
してフェイズカウンタ31には2(m)がロードされて
いる。よって第5図の時刻4 (2mTc)にフェイズ
カウンタ31は出力を発生し、この出力によってD・
8 ・ フリップフロップ65には、ディレィアダー34の出力
値10(2n)が設定される。これによって、1クロツ
クデイレイは10nsに設定され、ディレィライン33
はOnSに設定される。それゆえフェイズカウンタ31
の出力は、設定された1クロツクデイレイ32及びディ
レィライン33の合せて10nsデイレイを通過し、第
5図の位相信号すを時刻5(2mTc+2nTc)に出
力する。
入力時には、■〕フリップフロップ35がテスト周期信
号16によってリセットされているため、Dフリップフ
ロップ35の値0と、フェイズメモリ35からの値5(
n)の加算演算を行い出力5(n)を得ている。従って
、最初の位相信号aを生成するフェイズカウンタ61の
出力信号によってDフリップフロップ35にはこの演算
結果5(n)がセットされ、ディレィアダー34は、こ
のDフリップフロップ65の値5 (n)と、フェイズ
メモリ30の値5(n)の加算演算を行い、出力に値1
0 (2n)を保持している。又、アンド回路28を介
してフェイズカウンタ31には2(m)がロードされて
いる。よって第5図の時刻4 (2mTc)にフェイズ
カウンタ31は出力を発生し、この出力によってD・
8 ・ フリップフロップ65には、ディレィアダー34の出力
値10(2n)が設定される。これによって、1クロツ
クデイレイは10nsに設定され、ディレィライン33
はOnSに設定される。それゆえフェイズカウンタ31
の出力は、設定された1クロツクデイレイ32及びディ
レィライン33の合せて10nsデイレイを通過し、第
5図の位相信号すを時刻5(2mTc+2nTc)に出
力する。
この例のように、ディレィ回路32.ろ6とそれらを制
御するディレィアダー64等により、フェイズクロック
19よりも細い位相の制御が可能である0 以上の実施例から明らかなように本発明によれハ、単一
の7エイズジエネレータによって複数の位相信号を発生
することができ、タイミング発生器内のフェイズジェネ
レータ数を減少できるという効果がある。
御するディレィアダー64等により、フェイズクロック
19よりも細い位相の制御が可能である0 以上の実施例から明らかなように本発明によれハ、単一
の7エイズジエネレータによって複数の位相信号を発生
することができ、タイミング発生器内のフェイズジェネ
レータ数を減少できるという効果がある。
第1図は従来のタイミング発生器のブロック図、第2図
は本発明のタイミング発生器の機能ブロック図、第6図
は本発明の特徴とするフェイズジェネレータの一実施例
を示す図、第4図はタイミング発生器の動作を示すタイ
ムチャート、第5図はフェイズジェネレータの動作を示
すタイムチャートである。 16・・・同期信号 18・・・位相信号 19・・・
フェイズクロック 20・・・選択信号 21・・・レ
イトジェネレータ 22A・・・フェイズジェネレータ
23・・・タイムズメモリ 24・・・タイムズカウ
ンタ30・・・フェイズメモリ 31・・・フェイズカ
ウンタ32・・・1クロツクデイレイ 66・・・ディ
レィライン 34・・・ディレィアダー ・11゜ 第 2 図 1 第3 図
は本発明のタイミング発生器の機能ブロック図、第6図
は本発明の特徴とするフェイズジェネレータの一実施例
を示す図、第4図はタイミング発生器の動作を示すタイ
ムチャート、第5図はフェイズジェネレータの動作を示
すタイムチャートである。 16・・・同期信号 18・・・位相信号 19・・・
フェイズクロック 20・・・選択信号 21・・・レ
イトジェネレータ 22A・・・フェイズジェネレータ
23・・・タイムズメモリ 24・・・タイムズカウ
ンタ30・・・フェイズメモリ 31・・・フェイズカ
ウンタ32・・・1クロツクデイレイ 66・・・ディ
レィライン 34・・・ディレィアダー ・11゜ 第 2 図 1 第3 図
Claims (1)
- 入力されたタイミングの選択信号が指定する周期を有す
る周期信号を内蔵するクロック発振器の1(i力から生
成するレイトジェネレータと、上記周期信号の各周期毎
に、上記選択信号の指定する個数の位置信号をカウンタ
の制御により生成する個数制御手段及び上記選択信号の
指定する時間間隔で上記位相信号が上記周期信号から等
間隔で出力されるように制御する位相制御手段によって
、上記−周期の間に複数の位相信号を生成するフェイズ
ジェネレータとを備えたことを特徴とするタイミング発
生器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57186001A JPS5975165A (ja) | 1982-10-25 | 1982-10-25 | タイミング発生器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57186001A JPS5975165A (ja) | 1982-10-25 | 1982-10-25 | タイミング発生器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5975165A true JPS5975165A (ja) | 1984-04-27 |
Family
ID=16180629
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57186001A Pending JPS5975165A (ja) | 1982-10-25 | 1982-10-25 | タイミング発生器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5975165A (ja) |
-
1982
- 1982-10-25 JP JP57186001A patent/JPS5975165A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6032282A (en) | Timing edge forming circuit for IC test system | |
| JPH0480350B2 (ja) | ||
| JPS60120421A (ja) | デイジタル・コンピユ−タのクロツク信号を最適に調節する方法 | |
| JP3466774B2 (ja) | 半導体試験装置における周期発生回路 | |
| JPS6096023A (ja) | タイミング信号発生器 | |
| JPS5975165A (ja) | タイミング発生器 | |
| JP3437407B2 (ja) | 半導体試験装置用タイミング発生器 | |
| JPS5944648B2 (ja) | 論理波形発生装置 | |
| JPH0356429B2 (ja) | ||
| JP3057538B2 (ja) | Lsiテスタ | |
| JP3119388B2 (ja) | Ic試験装置 | |
| JP3147129B2 (ja) | タイミング発生装置 | |
| JP2660688B2 (ja) | 論理波形発生装置 | |
| JPH0729506Y2 (ja) | シフト方式のパターン発生部をもつicテスタ | |
| JPH04147069A (ja) | テスト波形生成器 | |
| JPH0774818B2 (ja) | テスターのタイミング信号発生回路 | |
| JPH04265872A (ja) | Icテスターのタイミング発生回路 | |
| JPH0526147B2 (ja) | ||
| SU824191A1 (ru) | Устройство дл задержки сигналов | |
| JP2850671B2 (ja) | 可変遅延回路 | |
| JP2589780Y2 (ja) | Icテスタ用波形出力装置 | |
| JPS6273171A (ja) | 論理波形生成回路 | |
| JPH02305022A (ja) | 分周回路 | |
| JPH01151819A (ja) | パルス信号発生装置 | |
| JPS6285514A (ja) | タイミング信号発生装置 |