JPS5975652A - 半導体用リ−ドフレ−ムの製法 - Google Patents
半導体用リ−ドフレ−ムの製法Info
- Publication number
- JPS5975652A JPS5975652A JP57185576A JP18557682A JPS5975652A JP S5975652 A JPS5975652 A JP S5975652A JP 57185576 A JP57185576 A JP 57185576A JP 18557682 A JP18557682 A JP 18557682A JP S5975652 A JPS5975652 A JP S5975652A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead frame
- frame
- heat treatment
- wound
- stainless steel
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/01—Manufacture or treatment
- H10W70/04—Manufacture or treatment of leadframes
Landscapes
- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、集積回路(以下、ICと略記する)を形成
するリードフレームの熱処理工程に改良を施した製法に
関し、リードフレームをコイル状に巻回して熱処理する
際に、リードフレームの巻回層間に剥離材を介在するこ
とにより、熱処理侵のリードフレーム巻回肋間の貼り付
きを防止するようにしたbのである。
するリードフレームの熱処理工程に改良を施した製法に
関し、リードフレームをコイル状に巻回して熱処理する
際に、リードフレームの巻回層間に剥離材を介在するこ
とにより、熱処理侵のリードフレーム巻回肋間の貼り付
きを防止するようにしたbのである。
従来、この秤の半導体用リードフレーム、所謂” I
Cフレーム″と称されるリードフレームにおいては、F
e−N1−co金合金商標名:コバール)、42合金あ
るいはCu系合金(Feまたは3n少吊含有)等の単体
をフレーム素材として薄板化し、この薄板にIcの各種
パターンをフA1−レジストを使用しI形成するととも
に、1ツヂング装置により化学:Lツヂングづるか、ま
たはプレス加工を施JことにJ:り製造されている。
Cフレーム″と称されるリードフレームにおいては、F
e−N1−co金合金商標名:コバール)、42合金あ
るいはCu系合金(Feまたは3n少吊含有)等の単体
をフレーム素材として薄板化し、この薄板にIcの各種
パターンをフA1−レジストを使用しI形成するととも
に、1ツヂング装置により化学:Lツヂングづるか、ま
たはプレス加工を施JことにJ:り製造されている。
しかしながら、このような従来のリードフレームはコバ
ールあるいは42合金自体が高価で、しかも電気伝導性
が低く、耐蝕性も悪いなどの欠点を有し、またCu系合
金にあっては、安価で電気伝導性が良い反面、強度的に
弱く、このためリード部の折曲げに対りる耐久性に劣る
など、種々の不具合があ・)だ。
ールあるいは42合金自体が高価で、しかも電気伝導性
が低く、耐蝕性も悪いなどの欠点を有し、またCu系合
金にあっては、安価で電気伝導性が良い反面、強度的に
弱く、このためリード部の折曲げに対りる耐久性に劣る
など、種々の不具合があ・)だ。
゛ぞこC1上記した従来のリードフレームの諸欠点を補
うために、本出願人が+irt和57年4月30に11
;Jり出願の特願昭5−/−74158号に記載の発明
のJこうに、ステンレススチール基板(以下、s v
s g+板と略記する)をエツチング装置により化学]
エツチングするか、またはプレス加工を施すことにJ、
す、所望のフレーム形状に成形加工し、かつ該フレーム
の全表面にCuメッキを施しI、l:後、塑性加工また
は熱処理、あるいは塑性加工と熱処理などを施してなる
製法が提案されているが、周知のように、リードフレー
ムは複雑な形状をなし、特にAフセツ1−を深く入れた
形状のものにあっては、前処即時の変形に問題があるば
かり′Cなく、加熱炉への材料の出し入れの際、形状の
複雑化によるシール竹が悪く、しかも加熱炉の設備を大
きくする必要があったり、温度調整も難しいなどの不具
合があった。
うために、本出願人が+irt和57年4月30に11
;Jり出願の特願昭5−/−74158号に記載の発明
のJこうに、ステンレススチール基板(以下、s v
s g+板と略記する)をエツチング装置により化学]
エツチングするか、またはプレス加工を施すことにJ、
す、所望のフレーム形状に成形加工し、かつ該フレーム
の全表面にCuメッキを施しI、l:後、塑性加工また
は熱処理、あるいは塑性加工と熱処理などを施してなる
製法が提案されているが、周知のように、リードフレー
ムは複雑な形状をなし、特にAフセツ1−を深く入れた
形状のものにあっては、前処即時の変形に問題があるば
かり′Cなく、加熱炉への材料の出し入れの際、形状の
複雑化によるシール竹が悪く、しかも加熱炉の設備を大
きくする必要があったり、温度調整も難しいなどの不具
合があった。
この発明は、上記先願発明に(13ける熱処理工程段階
の不具合を解消することを目的としたものである。
の不具合を解消することを目的としたものである。
すなわら、この発明は、第1図に承りように、所望のフ
レーム形状に打扱き加工されかつその全表面にCIJメ
ッキが施されたS U S W板1を巻取り芯材2にコ
イル状に巻回するにおいて、該SUS基板1の巻回層間
に中性紙等からなる剥離材3を介在し、これをそのまま
加熱炉(図示せず)に挿入することにより熱処理してな
るもので、熱処理後、加熱炉から取出されたSUS基板
1を巻き戻して炭化した剥11t +Aの残渣を取除い
てなるものである。
レーム形状に打扱き加工されかつその全表面にCIJメ
ッキが施されたS U S W板1を巻取り芯材2にコ
イル状に巻回するにおいて、該SUS基板1の巻回層間
に中性紙等からなる剥離材3を介在し、これをそのまま
加熱炉(図示せず)に挿入することにより熱処理してな
るもので、熱処理後、加熱炉から取出されたSUS基板
1を巻き戻して炭化した剥11t +Aの残渣を取除い
てなるものである。
ところで、上記実施例において使用されるステンレスス
チールは、どんな種類のものを用いても良く、またフレ
ームの全表面に被覆形成されるCuメッギ層の厚さは片
面当り211m以[、好ましくは5μm以上で全体の板
厚の25%までとJ゛るもので、厚さが2μm以下では
電気伝導性が劣り、全体の板厚の25%以上では強度的
に弱くなるから(・ある3、さらにル−ムを塑性1〕1
ド1−リ゛る理由は、表面のC11メツキ層の結晶が塑
性側1−されて密度を晶″もめることがぐき、10製造
■稈、4”iにリード線に、J:るボンディング工程に
お番ノる熱による変化(拡散)を減少さUるしので、そ
の塑性側」−吊は2〜20%、好ましくは5〜10%の
範囲なら良く、2%以−トでは密度を高めさける効果が
ない。さらにまI、:、熱処理を施す理由は01137
1層の加熱によっ゛C結晶の結合が強化され、ICの製
造工程にお【Jる熱にJ:る変化(拡散)を減少させる
ことができるためで、使用ガスとしてはメッキ直後のメ
ッキ層はピンホール等の微小孔がおいているため、S
IJ S )F、板の表面の酸化を防ぐため不活性ガス
またはN2などの非酸化性ガスを用い、処理濡磨は35
0〜9;10℃、時間は10秒〜30分まCである。
チールは、どんな種類のものを用いても良く、またフレ
ームの全表面に被覆形成されるCuメッギ層の厚さは片
面当り211m以[、好ましくは5μm以上で全体の板
厚の25%までとJ゛るもので、厚さが2μm以下では
電気伝導性が劣り、全体の板厚の25%以上では強度的
に弱くなるから(・ある3、さらにル−ムを塑性1〕1
ド1−リ゛る理由は、表面のC11メツキ層の結晶が塑
性側1−されて密度を晶″もめることがぐき、10製造
■稈、4”iにリード線に、J:るボンディング工程に
お番ノる熱による変化(拡散)を減少さUるしので、そ
の塑性側」−吊は2〜20%、好ましくは5〜10%の
範囲なら良く、2%以−トでは密度を高めさける効果が
ない。さらにまI、:、熱処理を施す理由は01137
1層の加熱によっ゛C結晶の結合が強化され、ICの製
造工程にお【Jる熱にJ:る変化(拡散)を減少させる
ことができるためで、使用ガスとしてはメッキ直後のメ
ッキ層はピンホール等の微小孔がおいているため、S
IJ S )F、板の表面の酸化を防ぐため不活性ガス
またはN2などの非酸化性ガスを用い、処理濡磨は35
0〜9;10℃、時間は10秒〜30分まCである。
また、−ル−ムを塑性加工した後゛、熱処理づ−る手段
で(,1、上記した塑性加工効果と熱処理効果とによる
相乗効果を図ってなるもので、この場合の前処理条fl
は、塑性加工でCu層の密度が1αくなっているため、
300〜950℃で10秒〜30分までであり、また熱
処理した後に塑性側」−する手段でも同様な相乗効果を
得る、もので、その熱処理条件は熱処理にお(〕る条(
’+ど同じである。
で(,1、上記した塑性加工効果と熱処理効果とによる
相乗効果を図ってなるもので、この場合の前処理条fl
は、塑性加工でCu層の密度が1αくなっているため、
300〜950℃で10秒〜30分までであり、また熱
処理した後に塑性側」−する手段でも同様な相乗効果を
得る、もので、その熱処理条件は熱処理にお(〕る条(
’+ど同じである。
以上説明したように、この発明に係るリードフレームの
製法によれば1、SUS基板からなるフレームの全表面
にCuメッキを施してコイル状に巻回し、かつイの巻回
層間に剥wi材を介在して熱処理することから、剥離材
の介在によってSUS基板の巻回居間の貼りイ]きを防
止でき、また得られた製品は従来の42合金と比較して
安価で、電気伝導性、伸び、折曲げ性及び耐蝕性にづ”
ぐれ、C1l系のものと比較しても、引張り強さ、伸び
、硬度及び折曲げ性にりぐれ、ステンレスとQuとの特
性を含んだ強度的にかつ電気的に良好な作用を及ぼすも
のぐあり、さらに21板の表面に(、Uメッキ層を被覆
形成するに際して、011371層の塑性加工により微
視的な凹凸面が平滑化され、メッキ層の結晶構造も改善
されるため、IC製造工程におりる熱による変化(拡散
)を減少さけることができる。さらにまた、フレーム成
形加工後CUメッキを施してなることから、加工により
基板の断面が露出状態にあっても、メッキ処理で該断面
を覆うために、この1′J1分への半田付特性が良いな
ど加工性にも1ぐた効果を奏するものである
製法によれば1、SUS基板からなるフレームの全表面
にCuメッキを施してコイル状に巻回し、かつイの巻回
層間に剥wi材を介在して熱処理することから、剥離材
の介在によってSUS基板の巻回居間の貼りイ]きを防
止でき、また得られた製品は従来の42合金と比較して
安価で、電気伝導性、伸び、折曲げ性及び耐蝕性にづ”
ぐれ、C1l系のものと比較しても、引張り強さ、伸び
、硬度及び折曲げ性にりぐれ、ステンレスとQuとの特
性を含んだ強度的にかつ電気的に良好な作用を及ぼすも
のぐあり、さらに21板の表面に(、Uメッキ層を被覆
形成するに際して、011371層の塑性加工により微
視的な凹凸面が平滑化され、メッキ層の結晶構造も改善
されるため、IC製造工程におりる熱による変化(拡散
)を減少さけることができる。さらにまた、フレーム成
形加工後CUメッキを施してなることから、加工により
基板の断面が露出状態にあっても、メッキ処理で該断面
を覆うために、この1′J1分への半田付特性が良いな
ど加工性にも1ぐた効果を奏するものである
第1図はこの発明に係るIC用リードフレームの製法に
おりる熱処理段階峙の一実施例を示1説明図である。 1・・・リードフレーム、 2・・・ステンレススヂール基板、 3・・・(lメッキ層。 特許出願人 日本楽器製造株式会社 第1図
おりる熱処理段階峙の一実施例を示1説明図である。 1・・・リードフレーム、 2・・・ステンレススヂール基板、 3・・・(lメッキ層。 特許出願人 日本楽器製造株式会社 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 〈1)所望のフレーム形状に打抜き加1が施されたスデ
ンレススヂール基板をコイル状に巻回して前処J里をf
jなうにあノζす、 該コイル状に巻回された基板の巻回層間に剥離材を介在
さlることを特徴とする半導体用リードフレームの製法
。 (2、特許請求の範囲第1項に記載の半導体用リードフ
レームの製法において、 該11抜さ加1後のスデンレススヂール基板の全表17
11に(’、 B+メツ−1″を施すことを特徴とする
製法。 (:3)狛ffT :j’j求の範囲第1項に記載の半
)9体用リードフレ・−ムの製法において、 71へ7.11阿口AGJ、中11紙からなることを特
徴どりる製法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185576A JPS5975652A (ja) | 1982-10-22 | 1982-10-22 | 半導体用リ−ドフレ−ムの製法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57185576A JPS5975652A (ja) | 1982-10-22 | 1982-10-22 | 半導体用リ−ドフレ−ムの製法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5975652A true JPS5975652A (ja) | 1984-04-28 |
Family
ID=16173222
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57185576A Pending JPS5975652A (ja) | 1982-10-22 | 1982-10-22 | 半導体用リ−ドフレ−ムの製法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5975652A (ja) |
-
1982
- 1982-10-22 JP JP57185576A patent/JPS5975652A/ja active Pending
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