JPS597735Y2 - 質量分析装置のイオン源 - Google Patents
質量分析装置のイオン源Info
- Publication number
- JPS597735Y2 JPS597735Y2 JP1787582U JP1787582U JPS597735Y2 JP S597735 Y2 JPS597735 Y2 JP S597735Y2 JP 1787582 U JP1787582 U JP 1787582U JP 1787582 U JP1787582 U JP 1787582U JP S597735 Y2 JPS597735 Y2 JP S597735Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- filament
- ion source
- mass spectrometer
- sample
- ionization chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は質量分析装置のイオン源に関し、特に脱離化学
イオン化（Ｄｅｓｏｒｐｔｉｏｎ ＣｈｅｍｉｃａｌＩ
ｏｎｉｚａｔｉｏｎ，以下ＤＣＩと略称する）型イオン
源に関する。
イオン化（Ｄｅｓｏｒｐｔｉｏｎ ＣｈｅｍｉｃａｌＩ
ｏｎｉｚａｔｉｏｎ，以下ＤＣＩと略称する）型イオン
源に関する。
近時難揮発性化合物をイオン化する方法としてＤＣＩ法
が注目されている。
が注目されている。
該ＤＣＩ法では、反応ガスが満たされたイオン化室内で
試料を急速加熱する必要がある。
試料を急速加熱する必要がある。
従来は、例えば第１図ａに示す様に金属線Ｗに試料を付
着させた該金属線を通電加熱したり、同図ｂに示すよう
にタングステン線Ｗの表面に炭素等の針状結晶Ａを多数
戊長させた電界脱離イオン化用エミツタ（ＦＤエミツタ
）を兼用し、該エミツタの針状結晶部に試料を付着させ
て通電加熱することが行われている。
着させた該金属線を通電加熱したり、同図ｂに示すよう
にタングステン線Ｗの表面に炭素等の針状結晶Ａを多数
戊長させた電界脱離イオン化用エミツタ（ＦＤエミツタ
）を兼用し、該エミツタの針状結晶部に試料を付着させ
て通電加熱することが行われている。
性能的には後者の方が良いスペクトルが得られるので優
れているが、ＦＤエミツタは製作に手間がかかるので価
格が高い上、針状結晶を折らないように注意をはらわな
ければならないなど取り扱いにも難点がある。
れているが、ＦＤエミツタは製作に手間がかかるので価
格が高い上、針状結晶を折らないように注意をはらわな
ければならないなど取り扱いにも難点がある。
又前者で良好なスペクトルが得られない理由は金属線を
加熱した時に該金属線の中央部が高く端部が低いという
温度勾配が発生するためで、付着した場所によって試料
温度が異なってしまうがらである。
加熱した時に該金属線の中央部が高く端部が低いという
温度勾配が発生するためで、付着した場所によって試料
温度が異なってしまうがらである。
本考案は屈曲部を有するヘアピン型フィラメントを用い
ることにより上述した問題点を解決し、ＦＤエミツタを
用いたのと同等の良好なスペクトルを得ることのできる
イオン源を提供するものである。
ることにより上述した問題点を解決し、ＦＤエミツタを
用いたのと同等の良好なスペクトルを得ることのできる
イオン源を提供するものである。
以下図面を用いて本考案を詳説する。第２図は本考案の
一実施例の構或を示す断面図である。
一実施例の構或を示す断面図である。
図中１はイオン化箱、２はイオン化箱内のイオン化室へ
化学イオン化用の反応ガスを供給するためのパイプ、−
３はヘアピン型フィラメント４，支持電極５，６及び基
台７から構或される試料保持部材、８はフィラメント、
９は該フィラメント８から発生した電子線をイオン化室
へ導入し反応ガスを活性化するための穴、１０は活性化
された反応ガスとの反応により生戒されたイオンを外部
へ取出すための穴、１１は該穴１０へ向けてイオンを押
し出すりベラ電極である。
化学イオン化用の反応ガスを供給するためのパイプ、−
３はヘアピン型フィラメント４，支持電極５，６及び基
台７から構或される試料保持部材、８はフィラメント、
９は該フィラメント８から発生した電子線をイオン化室
へ導入し反応ガスを活性化するための穴、１０は活性化
された反応ガスとの反応により生戒されたイオンを外部
へ取出すための穴、１１は該穴１０へ向けてイオンを押
し出すりベラ電極である。
上述の如き構或において、ヘアピン型フィラメント４は
先端に屈曲部を持つため、試料付着の際該屈曲部を試料
溶液へつければ、多量の試料を該屈曲部へ集中的に付着
保持させることができる。
先端に屈曲部を持つため、試料付着の際該屈曲部を試料
溶液へつければ、多量の試料を該屈曲部へ集中的に付着
保持させることができる。
この様にヘアピン型フィラメントを用いれば多量の試料
を屈曲部に集中的に保持できるが、該フィラメントを加
熱した時その狭い屈曲部の範囲内での温度勾配は極めて
小さいとみなすことができるため、試料温度は略均一と
なる。
を屈曲部に集中的に保持できるが、該フィラメントを加
熱した時その狭い屈曲部の範囲内での温度勾配は極めて
小さいとみなすことができるため、試料温度は略均一と
なる。
従って試料温度が場所によって異なってしまうという従
来の欠点を完全になくすことができ、本考案の実験では
ＦＤエミツタを使用して得られたものと同等の良好なス
ペクトルを得ることができた。
来の欠点を完全になくすことができ、本考案の実験では
ＦＤエミツタを使用して得られたものと同等の良好なス
ペクトルを得ることができた。
尚第２図の構或で反応ガスの供給を停止し、フイラメン
ト４の長さを調節してフィラメント８からの電子線が通
る位置ヘフイラメンｌ− ４の屈曲部が来るようにすれ
ば、該屈曲部に保持した試料を電子衝撃によってイオン
化することも可能である。
ト４の長さを調節してフィラメント８からの電子線が通
る位置ヘフイラメンｌ− ４の屈曲部が来るようにすれ
ば、該屈曲部に保持した試料を電子衝撃によってイオン
化することも可能である。
以上詳述した如く本考案によれば、高価なＦＤエミツタ
を用いることなく良好なスペクトルを得ることのできる
ＤＣＩイオン源が実現される。
を用いることなく良好なスペクトルを得ることのできる
ＤＣＩイオン源が実現される。
第１図は従来例を説明するための図、第２図は本考案の
一美施例の構成を示す断面図である。 １：イオン化箱、２：パイプ、４：ヘアピン型フィラメ
ント、５，６：支持電極、７：基台、８：フィラメント
、９．１０：穴。
一美施例の構成を示す断面図である。 １：イオン化箱、２：パイプ、４：ヘアピン型フィラメ
ント、５，６：支持電極、７：基台、８：フィラメント
、９．１０：穴。
Claims (1)
- イオン化室と、該イオン化室内に配置される屈曲部を有
するフィラメントと、該フィラメントを通電加熱する手
段と、上記イオン化室内へ反応ガスを導入するための手
段と、該イオン化室内へ電子線を入射させるための電子
線発生源を備え、前記フィラメントの屈曲部に試料を付
着させるようにした質量分析装置のイオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1787582U JPS597735Y2 (ja) | 1982-02-10 | 1982-02-10 | 質量分析装置のイオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1787582U JPS597735Y2 (ja) | 1982-02-10 | 1982-02-10 | 質量分析装置のイオン源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58120556U JPS58120556U (ja) | 1983-08-17 |
| JPS597735Y2 true JPS597735Y2 (ja) | 1984-03-09 |
Family
ID=30030152
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1787582U Expired JPS597735Y2 (ja) | 1982-02-10 | 1982-02-10 | 質量分析装置のイオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS597735Y2 (ja) |
-
1982
- 1982-02-10 JP JP1787582U patent/JPS597735Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58120556U (ja) | 1983-08-17 |
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