JPS5984894U - Ic試験装置 - Google Patents
Ic試験装置Info
- Publication number
- JPS5984894U JPS5984894U JP18108682U JP18108682U JPS5984894U JP S5984894 U JPS5984894 U JP S5984894U JP 18108682 U JP18108682 U JP 18108682U JP 18108682 U JP18108682 U JP 18108682U JP S5984894 U JPS5984894 U JP S5984894U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magazine
- ics
- supply side
- test equipment
- side magazine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Attitude Control For Articles On Conveyors (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Warehouses Or Storage Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図はIC試験装置のハンドラの概略を説明゛するた
めの斜視図、第2図はマガジンとICの向の関係、を説
明するための正面図、第3図はこの考案の要部を説明す
るための正面図、第4図はその側面図である。 101:マガジン、101a:マガジンの閉塞端、10
1b:マガジンの開放端、300 :IGの向を反転さ
せる反転手段。
めの斜視図、第2図はマガジンとICの向の関係、を説
明するための正面図、第3図はこの考案の要部を説明す
るための正面図、第4図はその側面図である。 101:マガジン、101a:マガジンの閉塞端、10
1b:マガジンの開放端、300 :IGの向を反転さ
せる反転手段。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 A IGを整列保持しその整列方向の一端が閉塞され
、他端からICを順次取出す供給側マガジンと、 B この供給側マガジンから取出されたICを試験する
試験器と、 C試験器により試験されて良、不良を判定し、その判定
結果に基すいてICを分類して収納する上記供給側マガ
ジンと同一構造の受側マガジンと、 D 上記供給側マガジンと受側マガジンとの間に挿入さ
れICの向を反転させる反転手段と、を具備して成るI
C試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18108682U JPS5984894U (ja) | 1982-11-29 | 1982-11-29 | Ic試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18108682U JPS5984894U (ja) | 1982-11-29 | 1982-11-29 | Ic試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5984894U true JPS5984894U (ja) | 1984-06-08 |
Family
ID=30392482
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18108682U Pending JPS5984894U (ja) | 1982-11-29 | 1982-11-29 | Ic試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5984894U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105564974A (zh) * | 2015-12-17 | 2016-05-11 | 杭州长川科技股份有限公司 | 一种基于垂直背板式分选机的上料机构 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS552987A (en) * | 1978-06-23 | 1980-01-10 | Contrel Corp | Dipping device |
| JPS5857735A (ja) * | 1981-10-01 | 1983-04-06 | Nec Corp | 選別装置 |
-
1982
- 1982-11-29 JP JP18108682U patent/JPS5984894U/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS552987A (en) * | 1978-06-23 | 1980-01-10 | Contrel Corp | Dipping device |
| JPS5857735A (ja) * | 1981-10-01 | 1983-04-06 | Nec Corp | 選別装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105564974A (zh) * | 2015-12-17 | 2016-05-11 | 杭州长川科技股份有限公司 | 一种基于垂直背板式分选机的上料机构 |
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