JPS5986655U - 質量分析装置等用イオン源 - Google Patents
質量分析装置等用イオン源Info
- Publication number
- JPS5986655U JPS5986655U JP18335782U JP18335782U JPS5986655U JP S5986655 U JPS5986655 U JP S5986655U JP 18335782 U JP18335782 U JP 18335782U JP 18335782 U JP18335782 U JP 18335782U JP S5986655 U JPS5986655 U JP S5986655U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ion source
- light source
- sample
- mass spectrometers
- infrared light
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
添付図面は本考案の一実施例を示す概略図である。
１・・・・・・イオン化室、３・・・・・・分析系、４
・・・・・・ターゲット、５・・・・・・試料、６・・
・・・・ＦＡＢガン、７・・・・・・ファイバーグラス
、８・・・・・・赤外線光源、９・・・・・・電源、１
０・・・・・・レーザ光源、１１・・・・・・顕微鏡。
・・・・・・ターゲット、５・・・・・・試料、６・・
・・・・ＦＡＢガン、７・・・・・・ファイバーグラス
、８・・・・・・赤外線光源、９・・・・・・電源、１
０・・・・・・レーザ光源、１１・・・・・・顕微鏡。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 １ ターゲット上に保持された試料に高速粒子線を照射
し、該試料をイオン化する装置において、前記試料の表
面にその一端を対向させて赤外線を通すファイバーグラ
スの束を設置し、該ファイバーグラス束の他端は装置外
に置き、該他端部に赤外線の光源を設置してなる質量分
析装置等用イオン源。 ２ 前記赤外線光源に代えてレーザ光源が使用される実
用新案登録請求の範囲第１項記載の質量分析装置等のイ
オン源。 ３ 前記赤外線光源に代えて前記試料の表面を観察でき
る顕微鏡又はカメラを設置する実用新案登録請求の範囲
第１項又は第２項記載の質量分析装置等のイオン源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18335782U JPS5986655U (ja) | 1982-12-03 | 1982-12-03 | 質量分析装置等用イオン源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18335782U JPS5986655U (ja) | 1982-12-03 | 1982-12-03 | 質量分析装置等用イオン源 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5986655U true JPS5986655U (ja) | 1984-06-12 |
Family
ID=30396844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18335782U Pending JPS5986655U (ja) | 1982-12-03 | 1982-12-03 | 質量分析装置等用イオン源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5986655U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01186543A (ja) * | 1988-01-13 | 1989-07-26 | Nec Corp | 高分子分子構造分析装置 |
| JP2014182938A (ja) * | 2013-03-19 | 2014-09-29 | Toyama Co Ltd | レーザイオン化質量分析装置 |
-
1982
- 1982-12-03 JP JP18335782U patent/JPS5986655U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01186543A (ja) * | 1988-01-13 | 1989-07-26 | Nec Corp | 高分子分子構造分析装置 |
| JP2014182938A (ja) * | 2013-03-19 | 2014-09-29 | Toyama Co Ltd | レーザイオン化質量分析装置 |
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