JPS599503A - 判定回路を備えた表面粗さ測定器 - Google Patents
判定回路を備えた表面粗さ測定器Info
- Publication number
- JPS599503A JPS599503A JP11903182A JP11903182A JPS599503A JP S599503 A JPS599503 A JP S599503A JP 11903182 A JP11903182 A JP 11903182A JP 11903182 A JP11903182 A JP 11903182A JP S599503 A JPS599503 A JP S599503A
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- Japan
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- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発＋３１１は金属表面の表面粗さを測定し、測定結果
を評価し、合否判定を行なう回路を備え次表面粗さ測定
器に関するものである。
を評価し、合否判定を行なう回路を備え次表面粗さ測定
器に関するものである。
従来、金鵬表面の粗さを測定するには触針式の粗さ計か
または靜電容童式の粗さ針が用いられている。これらの
粗さ針はその測定値ｔ−ｌ示するか電気信号によｐ取出
せるようにしたものが多く、測定値の合否判定機能を持
つものではない。これら従来品にあらＡめて合否判定機
能を付加すると非常に高価と々るため、一般的に用いら
れるまでに至らない、このような理由から通常の粗さ管
理は抜取り検査によりオフラインで精密測定して行なわ
れ、製品の粗さ不良が発生してもタイムリーに発見し、
対ｆ４を実施できない欠点を持っている。
または靜電容童式の粗さ針が用いられている。これらの
粗さ針はその測定値ｔ−ｌ示するか電気信号によｐ取出
せるようにしたものが多く、測定値の合否判定機能を持
つものではない。これら従来品にあらＡめて合否判定機
能を付加すると非常に高価と々るため、一般的に用いら
れるまでに至らない、このような理由から通常の粗さ管
理は抜取り検査によりオフラインで精密測定して行なわ
れ、製品の粗さ不良が発生してもタイムリーに発見し、
対ｆ４を実施できない欠点を持っている。
本発明Ｉｌ′ｉ粗さ測定に関する上記欠点を改善するた
めのもので、表面粗さ測定器の測定回路に簡単な合否判
定回路を組込み、生産工程内の簡易計測により合否の判
定ができるようにするため、表面粗さに比例しｆｃｗ圧
を発生する検出器を有する表面粗さ測定器において、該
測定器Ｑ測定回路に検出器の出力を増巾する増巾器を検
出器の出力側に設け、該増巾器の出力側に検出値の合否
を判定する比較回路を接続し、該比較回路で判定の基準
となる値を島える基準設定器を比較回路の入力側に接続
したことを特徴とする判定回路を備えた表面粗さ測定器
を提供するものである。
めのもので、表面粗さ測定器の測定回路に簡単な合否判
定回路を組込み、生産工程内の簡易計測により合否の判
定ができるようにするため、表面粗さに比例しｆｃｗ圧
を発生する検出器を有する表面粗さ測定器において、該
測定器Ｑ測定回路に検出器の出力を増巾する増巾器を検
出器の出力側に設け、該増巾器の出力側に検出値の合否
を判定する比較回路を接続し、該比較回路で判定の基準
となる値を島える基準設定器を比較回路の入力側に接続
したことを特徴とする判定回路を備えた表面粗さ測定器
を提供するものである。
以下、本発明の一実施例につき図により説明する。
被測定面と電極との間が一定の間隔に保たれ、被測定面
の凹凸により生じた被測定面と電極との間の空間によっ
て形成されるコンデンサの静電容量の変化を表面粗さと
関係付ける静電容量型粗さ測定器において、静電容量の
変化によシ表匍粗さに比例した電圧を検出器１よす伝送
経路２により接続された増巾器３へ入力する。この増巾
器３の出力側４に下限比較回路５と上限比較回路６０入
力側を並列に接続し、下限比較回路５の他の入力端に下
限設定器７の出力側を接続し、上限比較回路６の他の入
力端に上限設定器８の出力側を接続する。下限比較回路
５の出力側９１ＮＯＴ回路１０に接続し、その出力側１
１Ｈ２方向に分岐して、一方を下限界以下の不合格出力
端子１２へ接続し、他方をＮＡＮＤ回路１３の入力側へ
接続する。上限比較回路６の出力側１４は２方向に分岐
して、一方ｆ ＮＡＮＤ回路１３０入力側へ接続し、他
方會−ＦＩＩＩＩＩ界以上の不合格出力端子１５−＼接
続する。ＮＡＮＤ １ｇ回路１３の出力側は合格出力端
子１６へ接続する。
の凹凸により生じた被測定面と電極との間の空間によっ
て形成されるコンデンサの静電容量の変化を表面粗さと
関係付ける静電容量型粗さ測定器において、静電容量の
変化によシ表匍粗さに比例した電圧を検出器１よす伝送
経路２により接続された増巾器３へ入力する。この増巾
器３の出力側４に下限比較回路５と上限比較回路６０入
力側を並列に接続し、下限比較回路５の他の入力端に下
限設定器７の出力側を接続し、上限比較回路６の他の入
力端に上限設定器８の出力側を接続する。下限比較回路
５の出力側９１ＮＯＴ回路１０に接続し、その出力側１
１Ｈ２方向に分岐して、一方を下限界以下の不合格出力
端子１２へ接続し、他方をＮＡＮＤ回路１３の入力側へ
接続する。上限比較回路６の出力側１４は２方向に分岐
して、一方ｆ ＮＡＮＤ回路１３０入力側へ接続し、他
方會−ＦＩＩＩＩＩ界以上の不合格出力端子１５−＼接
続する。ＮＡＮＤ １ｇ回路１３の出力側は合格出力端
子１６へ接続する。
この台台判定回路付靜電容蓋ｍ粗石創定器で４１％−Ｆ
限設定！７に↓ｐ下限界を指定し、上限設定器８１１Ｃ
より上限界を指定して予かしめ入力しておき、測定値と
比較する。粗さ測定器ＯａＵ＋定端子を被測定面に押し
付けると、検出器１は表面粗さに比例した電圧を増巾器
３へ伝送する。
限設定！７に↓ｐ下限界を指定し、上限設定器８１１Ｃ
より上限界を指定して予かしめ入力しておき、測定値と
比較する。粗さ測定器ＯａＵ＋定端子を被測定面に押し
付けると、検出器１は表面粗さに比例した電圧を増巾器
３へ伝送する。
増巾器３で測定電圧を増巾して、その出力を下限比較回
路５と上限比較回路６へ伝送する。下限比較回路５では
設足された下限界と測定結果とを比較し、その結果をＮ
ＯＴ［ｉ路ｌＯへ出力し、ＮＯＴ回路１０によって正負
を反転させた後、下限界側不合格出力端子１２とＮＡＮ
Ｄ回路１３へ出力する。一方、上限比較回路６では設定
された上限界とａｌｌ定結果とを比較し、その結果を下
限界側不合格出力端子１５とＮＡＮＤ回路１３へ出力す
る。
路５と上限比較回路６へ伝送する。下限比較回路５では
設足された下限界と測定結果とを比較し、その結果をＮ
ＯＴ［ｉ路ｌＯへ出力し、ＮＯＴ回路１０によって正負
を反転させた後、下限界側不合格出力端子１２とＮＡＮ
Ｄ回路１３へ出力する。一方、上限比較回路６では設定
された上限界とａｌｌ定結果とを比較し、その結果を下
限界側不合格出力端子１５とＮＡＮＤ回路１３へ出力す
る。
ＮＡＮＤ回路では測定結果が設定された上限値と下限値
の間に入っている場合に合格出力端子１６へ結果を出力
する。
の間に入っている場合に合格出力端子１６へ結果を出力
する。
以上のように本発明の判定回路を備えｆｃ衣表面さ測定
器では、粗さ評価に合否判定機能を付加されたことによ
シ、ｉｌｔ産工産肉場簡易計測し、容易に判別できるよ
うになる。従来の表面粗さ針が単に粗さを数値もしくは
メーター表示していただけであるのに対して、合否判定
まですることにより使用省が適切な判断を容易に下せる
ようになる。従って、表面粗さ管理の能率向上と不良品
の低減に寄与できる。工作機械や計測機械等の自動機に
取付けて、加工後ｑ）ｊＡ品に対する表面粗さの自動監
視や工具交換゛時期の自動検出に用いる仁とができ使用
範囲が拡がる。
器では、粗さ評価に合否判定機能を付加されたことによ
シ、ｉｌｔ産工産肉場簡易計測し、容易に判別できるよ
うになる。従来の表面粗さ針が単に粗さを数値もしくは
メーター表示していただけであるのに対して、合否判定
まですることにより使用省が適切な判断を容易に下せる
ようになる。従って、表面粗さ管理の能率向上と不良品
の低減に寄与できる。工作機械や計測機械等の自動機に
取付けて、加工後ｑ）ｊＡ品に対する表面粗さの自動監
視や工具交換゛時期の自動検出に用いる仁とができ使用
範囲が拡がる。
図は本発明による表面粗さ測定器の判定回路図である。
１・・・検出器 ３・・・増巾器
５・・・下限比較回路 ６・・・上限比較回路７・・・
下限設定器 ８・・・上所設定器下限界側不合格 １０・・・ＮＯＴ［１Ｉｉｌ路 １２・・・出方端
子特許用１人 トヨタ自動車株式会社 （行か１名）
下限設定器 ８・・・上所設定器下限界側不合格 １０・・・ＮＯＴ［１Ｉｉｌ路 １２・・・出方端
子特許用１人 トヨタ自動車株式会社 （行か１名）
Claims (1)
- （１）表面粗さに比例した電圧を発生する検出器を有す
る表面粗さ測定器において、該測定器の測定回路に検出
器出力を増巾する増巾器を検出器の出力＠に設け、該増
巾器の出力側に検出値の合否を判定する比較回路を接続
し、該比較回路で判定の基準となる値を与える基準設定
器を比較回路の入力側に接続し次ことを％徴とする判定
回路を備えｆｃ衣表面さ測定器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11903182A JPS599503A (ja) | 1982-07-08 | 1982-07-08 | 判定回路を備えた表面粗さ測定器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11903182A JPS599503A (ja) | 1982-07-08 | 1982-07-08 | 判定回路を備えた表面粗さ測定器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS599503A true JPS599503A (ja) | 1984-01-18 |
Family
ID=14751260
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11903182A Pending JPS599503A (ja) | 1982-07-08 | 1982-07-08 | 判定回路を備えた表面粗さ測定器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS599503A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01213502A (ja) * | 1988-02-20 | 1989-08-28 | Bando Chem Ind Ltd | 弾性体の稜線検査装置 |
| US7629872B2 (en) | 2004-08-26 | 2009-12-08 | Rohm Co., Ltd. | Chip type component and its manufacturing process |
-
1982
- 1982-07-08 JP JP11903182A patent/JPS599503A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01213502A (ja) * | 1988-02-20 | 1989-08-28 | Bando Chem Ind Ltd | 弾性体の稜線検査装置 |
| US7629872B2 (en) | 2004-08-26 | 2009-12-08 | Rohm Co., Ltd. | Chip type component and its manufacturing process |
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