JPS5995413A - 距離検出装置 - Google Patents
距離検出装置Info
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- JPS5995413A JPS5995413A JP20451682A JP20451682A JPS5995413A JP S5995413 A JPS5995413 A JP S5995413A JP 20451682 A JP20451682 A JP 20451682A JP 20451682 A JP20451682 A JP 20451682A JP S5995413 A JPS5995413 A JP S5995413A
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- zone
- distance
- circuits
- circuit
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/02—Details
- G01C3/06—Use of electric means to obtain final indication
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は距離検出装置、特に三角測距の原理を応用した
能動型の距離検出装置に関する。
能動型の距離検出装置に関する。
従来三角測距の原理を応用した能動型の距離検出装置と
して、１個の投光手段とこの投光手段から被測定物本に
投射された後、該物体から反射されて来る光を受ける２
個の受光素子を有し、該２個の受光素子の光量比により
該物体までの距離を判別する距離検出方式は、既に本出
願人の出願に係る特願昭５７−２７７８４号によシ提案
きれているが、本来、２個の受光素子の光量比を検出す
る測距方式では被測定物体の反射率の影響を受けないは
ずであるが、実際には被測定物体の反射率が低くなると
、受光量が減少し、測距誤差を生じてしまう欠点があっ
た。
して、１個の投光手段とこの投光手段から被測定物本に
投射された後、該物体から反射されて来る光を受ける２
個の受光素子を有し、該２個の受光素子の光量比により
該物体までの距離を判別する距離検出方式は、既に本出
願人の出願に係る特願昭５７−２７７８４号によシ提案
きれているが、本来、２個の受光素子の光量比を検出す
る測距方式では被測定物体の反射率の影響を受けないは
ずであるが、実際には被測定物体の反射率が低くなると
、受光量が減少し、測距誤差を生じてしまう欠点があっ
た。
第１図は上述の従来ｆｌＪを説明する線図であって、従
来２個の受光素子の光量比レベルと距離との関係は、被
測定物体の反射率は無視できて、１本の４１ ａ上にの
っていると考えられていたが、実際は光源の出力が小さ
いため、被測定物体の反射率が小さくなると、ノイズが
無視できなくなり、距離に対応する光量比レベルは高反
射率の物体では線すとなるのが、低反射率の物体では線
ｅとなり異なってくる。
来２個の受光素子の光量比レベルと距離との関係は、被
測定物体の反射率は無視できて、１本の４１ ａ上にの
っていると考えられていたが、実際は光源の出力が小さ
いため、被測定物体の反射率が小さくなると、ノイズが
無視できなくなり、距離に対応する光量比レベルは高反
射率の物体では線すとなるのが、低反射率の物体では線
ｅとなり異なってくる。
したがって、第２図に示すように近距離側から距離Ｍ１
〜Ｍ２をＡゾーン、Ｍ２〜Ｍ３をＢゾーン、Ｍ３〜Ｍ４
をＣ／−ン・・・というように分割してゾーンフォーカ
ス設定に行なうと、低反射率の物体の場合に測距エラー
を生じる。すなわち、第２図に示すものは高反射率の物
体の距離−光量比レベルに合せてゾーンを設定したもの
であるが、低反射率の物体の距離−光量比レベルのライ
ンは設定ゾーンから外れている部分があシ、この外れた
部分は測距エラーとなる。
〜Ｍ２をＡゾーン、Ｍ２〜Ｍ３をＢゾーン、Ｍ３〜Ｍ４
をＣ／−ン・・・というように分割してゾーンフォーカ
ス設定に行なうと、低反射率の物体の場合に測距エラー
を生じる。すなわち、第２図に示すものは高反射率の物
体の距離−光量比レベルに合せてゾーンを設定したもの
であるが、低反射率の物体の距離−光量比レベルのライ
ンは設定ゾーンから外れている部分があシ、この外れた
部分は測距エラーとなる。
例えば、Ａゾーンに物体があると仮定すると、高反射率
の物体はすベー（Ａゾーンの光量比レベル（Ｖｌ〜ｖ２
）に入っているが、低反射率の物体の場合ニ、一部ハｖ
２レベルトｖ３レベルとの間のレベル部分が存在し、Ｖ
ｌとｖ３の間の部分はＢゾーンと判定することになる。
の物体はすベー（Ａゾーンの光量比レベル（Ｖｌ〜ｖ２
）に入っているが、低反射率の物体の場合ニ、一部ハｖ
２レベルトｖ３レベルとの間のレベル部分が存在し、Ｖ
ｌとｖ３の間の部分はＢゾーンと判定することになる。
本発明は、上述の従来例の欠点を除去し、ゾーンフォー
カス設定に当シ、隣接ゾーンをそれぞれ一部重ね合せた
状態にフォーカス設定することによシ低反射率の物体測
距時の測距誤差を補正した能動型の距離検出装置を得る
ことを目的とする。
カス設定に当シ、隣接ゾーンをそれぞれ一部重ね合せた
状態にフォーカス設定することによシ低反射率の物体測
距時の測距誤差を補正した能動型の距離検出装置を得る
ことを目的とする。
以下、本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。
まず、第３図は本発明の−実施例に用いる距離検出回路
系の基本的構成を示すブロック図である。
系の基本的構成を示すブロック図である。
同図において、１０は投光器を構成する発光素子、１１
．１２は受光器を構成する受光素子である。１３．１４
は受光素子１１．１２でそれぞれ検出された受光量に関
する信号を増１＠シ、さらに自然光による信号と発射光
による信号を分離し、後者の信号のみを抽出し出力Ｏｆ
＋ ０２としてそれぞれ出す自然光除去用増幅回路、
１５は発光素子１０の駆動回路、１６は始動スイッチ、
１７はスイッチ１６の閉成によりワンパルスΦ３を発生
するワンショット回路（単安定マルチバイブレータ）、
１８は２個の受光素子１１．１２の検出増幅出力の比（
０１１０２）すなわち光量比を検出するだめの除算器、
１９．２０はそれぞれ受光素子１２．１１の検出増幅出
力のレベルが基準電圧よシ犬か小かを判別する比較器、
２１は比較器１９．２０の基準電圧（Ｖａ）源、２２．
２３は比較器２６．２７゜２８．２９の基準電圧源で、
２２の電圧ｖｂと２３の電圧ＶｃとはＶｃ 、＞ Ｖｂ
の関係にある。２４はスイッチ１６の閉成によシワンパ
ルスΦ２を発生するフンショット回路（単安定マルチバ
イブレータ）２６゜２７．２８．２９は除算器１８の出
力（０３）レベルを判別する比較器、３０はＮＯＲゲー
ト、３１はインバータ、３２，３３，３４．３５は翫ゲ
ー）、３６．３７，３８．３９は４ゾーンの弁別信号を
ラッチするランチ回路、４０，４１，４２゜４３はＡＮ
Ｄゲート、４４はＯＲゲート、４５はＯＲゲート４４の
信号で動作するマグネット駆動回路、４６はストッパー
４７を駆動するマグネット、４７はレバー４８を停止さ
せるストッパー、４８は例えばカメラの鏡筒に連結され
たレバーで、ストッパー４７の係合しうる鋸歯状の爪部
が形成されており、４９は接点で、レバー４８がレリー
ズされると矢印の方向に移動して接点５４の信号をゾー
ンに対応した接点５０．５１．５２．５３に伝達する。
．１２は受光器を構成する受光素子である。１３．１４
は受光素子１１．１２でそれぞれ検出された受光量に関
する信号を増１＠シ、さらに自然光による信号と発射光
による信号を分離し、後者の信号のみを抽出し出力Ｏｆ
＋ ０２としてそれぞれ出す自然光除去用増幅回路、
１５は発光素子１０の駆動回路、１６は始動スイッチ、
１７はスイッチ１６の閉成によりワンパルスΦ３を発生
するワンショット回路（単安定マルチバイブレータ）、
１８は２個の受光素子１１．１２の検出増幅出力の比（
０１１０２）すなわち光量比を検出するだめの除算器、
１９．２０はそれぞれ受光素子１２．１１の検出増幅出
力のレベルが基準電圧よシ犬か小かを判別する比較器、
２１は比較器１９．２０の基準電圧（Ｖａ）源、２２．
２３は比較器２６．２７゜２８．２９の基準電圧源で、
２２の電圧ｖｂと２３の電圧ＶｃとはＶｃ 、＞ Ｖｂ
の関係にある。２４はスイッチ１６の閉成によシワンパ
ルスΦ２を発生するフンショット回路（単安定マルチバ
イブレータ）２６゜２７．２８．２９は除算器１８の出
力（０３）レベルを判別する比較器、３０はＮＯＲゲー
ト、３１はインバータ、３２，３３，３４．３５は翫ゲ
ー）、３６．３７，３８．３９は４ゾーンの弁別信号を
ラッチするランチ回路、４０，４１，４２゜４３はＡＮ
Ｄゲート、４４はＯＲゲート、４５はＯＲゲート４４の
信号で動作するマグネット駆動回路、４６はストッパー
４７を駆動するマグネット、４７はレバー４８を停止さ
せるストッパー、４８は例えばカメラの鏡筒に連結され
たレバーで、ストッパー４７の係合しうる鋸歯状の爪部
が形成されており、４９は接点で、レバー４８がレリー
ズされると矢印の方向に移動して接点５４の信号をゾー
ンに対応した接点５０．５１．５２．５３に伝達する。
５０．５１．５２．５３はそれぞれＡゾーン、Ｂゾーン
、Ｃゾーン、Ｄゾーンに対応した接点、５４はＶ ｃ
ｃに接続きれた接点、５５はスイッチ１６の開成により
ワンパルスΦｌを発生するワン／ヨツト回路（単安定マ
ルチバイブレータ）である。
、Ｃゾーン、Ｄゾーンに対応した接点、５４はＶ ｃ
ｃに接続きれた接点、５５はスイッチ１６の開成により
ワンパルスΦｌを発生するワン／ヨツト回路（単安定マ
ルチバイブレータ）である。
第４図はその一実施例におけるゾーンフォーカス設定と
光量比レベルすなわち除算器１８の出力０３のレベルと
の関係を示す線区である。
光量比レベルすなわち除算器１８の出力０３のレベルと
の関係を示す線区である。
同図において、ＭｌはＡゾーンの近点、ＭｌはＡゾーン
の遠点、以下同様にＭ２および１辺２′はそれぞれＢゾ
ーンの近点および遠点、Ｍ３およびＭ３はそれぞれＣゾ
ーンの近点および遠点、Ｍ４およびＭ４はそれぞれＤゾ
ーンの近点および遠点でめって、隣接ゾーンは互いにそ
れぞれ一部重なった状態になっておシ、そのために例え
ばレンズ制御のピンチを適当に選んでυく。また、Ｖｌ
はへゾーンの光量比レベルの最小値、ＶｌはＡゾーンの
光量比レベルの最大値およびＢゾーンの光量比レベルの
最小値、以下同様にｖ３はＢゾーンの光量比レベルの最
大値およびＣ／−ンの光量比レベルの最小値、Ｖ４はＣ
レベルの光量比レベルの最大値およびＤゾーンの光量比
レベルの最小値で、Ｖｌ、■３はそれぞれゾーンを判別
する基準電圧Ｖｂ 、 Ｖｃに対応した除算器１８の出
力０３を表わしている。
の遠点、以下同様にＭ２および１辺２′はそれぞれＢゾ
ーンの近点および遠点、Ｍ３およびＭ３はそれぞれＣゾ
ーンの近点および遠点、Ｍ４およびＭ４はそれぞれＤゾ
ーンの近点および遠点でめって、隣接ゾーンは互いにそ
れぞれ一部重なった状態になっておシ、そのために例え
ばレンズ制御のピンチを適当に選んでυく。また、Ｖｌ
はへゾーンの光量比レベルの最小値、ＶｌはＡゾーンの
光量比レベルの最大値およびＢゾーンの光量比レベルの
最小値、以下同様にｖ３はＢゾーンの光量比レベルの最
大値およびＣ／−ンの光量比レベルの最小値、Ｖ４はＣ
レベルの光量比レベルの最大値およびＤゾーンの光量比
レベルの最小値で、Ｖｌ、■３はそれぞれゾーンを判別
する基準電圧Ｖｂ 、 Ｖｃに対応した除算器１８の出
力０３を表わしている。
次に、上記構成の動作について、特に４ゾーンを検出す
る場合の例について説明する。
る場合の例について説明する。
被測定物体が例えばＢゾーンの中間点に位置するとき、
反射信号光は受光素子１１．１２の中間に入射し、受光
素子１１．１２上での信号光分布はほぼ等量ずつ受光す
るように発光素子１０．受光素子１１．１２が配置され
ているとする。
反射信号光は受光素子１１．１２の中間に入射し、受光
素子１１．１２上での信号光分布はほぼ等量ずつ受光す
るように発光素子１０．受光素子１１．１２が配置され
ているとする。
一方、被測定物体がＣゾーンにあるときは受光素子１１
．１２上での信号光分布は受光素子１１の方に多く入射
し、光量としては受光素子１１が多量に反射光を受光す
る。
．１２上での信号光分布は受光素子１１の方に多く入射
し、光量としては受光素子１１が多量に反射光を受光す
る。
以上の前提をもとにして被測定物体がＣゾーンにあると
きの動作を説明すると、まず、スイッチ１６の閉成によ
シワンショット回路５５，２４゜１７から順次パルスが
発生し、ワンショット回路５５の出力パルスψｌによシ
ラッチ回路３６〜３９゜増幅回路１３．１４をリセット
する。次に、ワンショット回路２４の出力パルスΦ２に
より、発光素子１０が非発光時、すなわち自然光時の受
光光量が増幅回路１３．１４に導かれ、その後ワンショ
ット回路１７の出力パルスΦ３により駆動回路１５を通
じてパルスψ３の間のみ、発光素子１０が発光するよう
駆動され、物体に向は光が投射される。
きの動作を説明すると、まず、スイッチ１６の閉成によ
シワンショット回路５５，２４゜１７から順次パルスが
発生し、ワンショット回路５５の出力パルスψｌによシ
ラッチ回路３６〜３９゜増幅回路１３．１４をリセット
する。次に、ワンショット回路２４の出力パルスΦ２に
より、発光素子１０が非発光時、すなわち自然光時の受
光光量が増幅回路１３．１４に導かれ、その後ワンショ
ット回路１７の出力パルスΦ３により駆動回路１５を通
じてパルスψ３の間のみ、発光素子１０が発光するよう
駆動され、物体に向は光が投射される。
物体はＣゾーンにあるから、受光素子１１が受光素子１
２より多量に反射光を受光し、増幅回路１３および１４
に導かれる。増幅回路１３．１４は自然光を除去し、投
射光による信号を抽出する回路であるので、受光素子１
１．１２で受光した光量の信号はそれぞれ増幅回路ｉ３
．１４で発光素子１０の発光時の受光量より非発光時の
受光量を＄Ｃ算して発光素子１０から投射し物体より反
射した信号光のみを抽出しｏ、 ＋ ０２として出力す
る。
２より多量に反射光を受光し、増幅回路１３および１４
に導かれる。増幅回路１３．１４は自然光を除去し、投
射光による信号を抽出する回路であるので、受光素子１
１．１２で受光した光量の信号はそれぞれ増幅回路ｉ３
．１４で発光素子１０の発光時の受光量より非発光時の
受光量を＄Ｃ算して発光素子１０から投射し物体より反
射した信号光のみを抽出しｏ、 ＋ ０２として出力す
る。
出力０１と０２を比較すると物体がＣゾーンにあるから
０１＞０２となる。そして、このときの除算器１８の出
力０３のレベルはｖ３より上のレベルにあるので、比較
器２６〜２９のうち、比較器２９の出力がハイとなり、
ＡＮＤゲート３４の一方の入力にハイが入力される。Ａ
ＮＤゲート３４の残りの入力の１つはパルスψ３が入力
されており、他の入力はＯＲゲート３０に接続さｉ、Ｏ
Ｒゲート３０の入力は比較器１９．２０の出力に接続さ
れている。
０１＞０２となる。そして、このときの除算器１８の出
力０３のレベルはｖ３より上のレベルにあるので、比較
器２６〜２９のうち、比較器２９の出力がハイとなり、
ＡＮＤゲート３４の一方の入力にハイが入力される。Ａ
ＮＤゲート３４の残りの入力の１つはパルスψ３が入力
されており、他の入力はＯＲゲート３０に接続さｉ、Ｏ
Ｒゲート３０の入力は比較器１９．２０の出力に接続さ
れている。
そして、Ｃゾーンに物体がある場合の増１−回路１３の
出力０１のレベルは物体がＣゾーンの最遠点の位置にあ
るときに最小となるので比較器１９゜２０の共通の基準
電源２１の電圧Ｖａと上記最遠点の位置にあるときの出
力０１の関係を０１≧Ｖａに決めておくと、比較器２０
からノ・イが出力さｎ、ＯＲゲート３０を通して郡ゲー
ト３４にノ・イが入力され、パルスψ３のタイミングで
ＡＮＩ）ゲート３４が開いてラッチ回路３８にノ・可信
号をラッチさせ°る。
出力０１のレベルは物体がＣゾーンの最遠点の位置にあ
るときに最小となるので比較器１９゜２０の共通の基準
電源２１の電圧Ｖａと上記最遠点の位置にあるときの出
力０１の関係を０１≧Ｖａに決めておくと、比較器２０
からノ・イが出力さｎ、ＯＲゲート３０を通して郡ゲー
ト３４にノ・イが入力され、パルスψ３のタイミングで
ＡＮＩ）ゲート３４が開いてラッチ回路３８にノ・可信
号をラッチさせ°る。
一方、スイッチ１６の閉成で図示しない機構によりレバ
ー４８がレリーズされると、接点４９は第３図矢印の方
向に移動し、接点５４のハイレベルの信号を接点５０，
５１．５２．５３の順に伝達していくが、ＡＮＤゲート
４０．４１はラッチ回路３６．３７の出力がロウである
ので開かず、接点５２にハイ′の信号が入力されたとき
、ラッチ回路３８がハイであるからＡＮＤゲート４２が
開いてＯＲゲート４４を通過して駆動回路５５によりマ
グネット４６を駆動して、ストッパー４７でレバー４８
をストップさせる。
ー４８がレリーズされると、接点４９は第３図矢印の方
向に移動し、接点５４のハイレベルの信号を接点５０，
５１．５２．５３の順に伝達していくが、ＡＮＤゲート
４０．４１はラッチ回路３６．３７の出力がロウである
ので開かず、接点５２にハイ′の信号が入力されたとき
、ラッチ回路３８がハイであるからＡＮＤゲート４２が
開いてＯＲゲート４４を通過して駆動回路５５によりマ
グネット４６を駆動して、ストッパー４７でレバー４８
をストップさせる。
次に、物体がＢゾーンにあるときは、出力Ｏ３のレベル
はｖ３′と■２′の間になシ、比較器２７．２８よりＡ
ＮＤゲート３３が開いて、ラッチ回；ｌ各３７に７・可
信号がランチされ、レバー４８のＩＪ ＩＪ−スで接点
５１からノ・可信号がＡＮＤゲート４１に入力さ几るの
でＡＮＤゲート４１が開いてＯＲゲート４４１．駆動回
路４５によりマグイ・ット４６が駆動さｎ１接点５１の
位置まで接点４９が移動したときレノ＜−４８は停止す
る。
はｖ３′と■２′の間になシ、比較器２７．２８よりＡ
ＮＤゲート３３が開いて、ラッチ回；ｌ各３７に７・可
信号がランチされ、レバー４８のＩＪ ＩＪ−スで接点
５１からノ・可信号がＡＮＤゲート４１に入力さ几るの
でＡＮＤゲート４１が開いてＯＲゲート４４１．駆動回
路４５によりマグイ・ット４６が駆動さｎ１接点５１の
位置まで接点４９が移動したときレノ＜−４８は停止す
る。
同様に・勿体がへゾーンにあるときは０２＞０１となり
、出力０３はＶ２′より小さくなり、比較器２６．ＡＮ
Ｄゲート３２によりラッチ回路にノ・可信号がラッチさ
０、接点４９が接点５０を通過するときのノ・イの信号
でＡＮＤゲート４０が開き、ＯＲゲート４４を通じてマ
グネット４６が、駆動されレバー４８は停止する。
、出力０３はＶ２′より小さくなり、比較器２６．ＡＮ
Ｄゲート３２によりラッチ回路にノ・可信号がラッチさ
０、接点４９が接点５０を通過するときのノ・イの信号
でＡＮＤゲート４０が開き、ＯＲゲート４４を通じてマ
グネット４６が、駆動されレバー４８は停止する。
一方、物体が遠位置（Ｄゾーン以遠）にあるときは反射
光は小さくなり、０１，０２〈■ａとなり、比較器１９
．２０の出力はともにロウとなり、ＯＲゲート３０はロ
ウであるので、ＡＮＤゲート３２゜３３、：３４は閉じ
る。まだ、ＯＲゲート３０がロウであるのでインバータ
３１の出力はハイとなシ、パルスψ３に同期してＡＮＤ
ゲート３５が開き、ラッチ回路３９にハイ信号がラッチ
され、レバー４８が移動して接点５３にハイが入力され
ると、ＡＮＤゲート４３．ＯＲゲート４４．駆動回路４
５を通してマグネット４６が駆動され、レバー４８は停
止される。
光は小さくなり、０１，０２〈■ａとなり、比較器１９
．２０の出力はともにロウとなり、ＯＲゲート３０はロ
ウであるので、ＡＮＤゲート３２゜３３、：３４は閉じ
る。まだ、ＯＲゲート３０がロウであるのでインバータ
３１の出力はハイとなシ、パルスψ３に同期してＡＮＤ
ゲート３５が開き、ラッチ回路３９にハイ信号がラッチ
され、レバー４８が移動して接点５３にハイが入力され
ると、ＡＮＤゲート４３．ＯＲゲート４４．駆動回路４
５を通してマグネット４６が駆動され、レバー４８は停
止される。
そして、本実施例をカメラのゾーンフォーカス設定に利
用した場合について、各ゾーンは、上述のようにＡゾー
ンに設定した時は距離で・４、〜？Ａ１′が被写界深度
内にあり、同様にＢゾーンに設定した時は距離ＩＶＩＩ
２〜Ｍ２′が被写界深度内に入るように設定している。
用した場合について、各ゾーンは、上述のようにＡゾー
ンに設定した時は距離で・４、〜？Ａ１′が被写界深度
内にあり、同様にＢゾーンに設定した時は距離ＩＶＩＩ
２〜Ｍ２′が被写界深度内に入るように設定している。
このように設定した距離検出装置において、例えば被測
定物本が距離ｆｔ／［２とＭｌ′の間のＸ点にあると仮
定すると、該物件の反射率が高い場合は光量比レベルは
Ｖ、と■２′との間にあり１．該物体はへゾーンにある
と判定するが、該物体の反射率が低い場合は、光量比レ
ベルは■２′とｖ３′との間（Ｃあり、Ｂゾーンと判定
する。
定物本が距離ｆｔ／［２とＭｌ′の間のＸ点にあると仮
定すると、該物件の反射率が高い場合は光量比レベルは
Ｖ、と■２′との間にあり１．該物体はへゾーンにある
と判定するが、該物体の反射率が低い場合は、光量比レ
ベルは■２′とｖ３′との間（Ｃあり、Ｂゾーンと判定
する。
一ンの両方のゾーンの被写界ｑｗ内にあるので、どちら
のゾーンと判定されても測距ゾーンとしては正しいこと
になる。
のゾーンと判定されても測距ゾーンとしては正しいこと
になる。
同様に、被測定物体が距離Ｍ４〜１′４５の間のＹ点に
あると、高反射率の物体の場合はＣゾーン、低反射率の
物体の場合ばＤゾーンと判定するが、どちらも被写界深
度内に入れることができる。
あると、高反射率の物体の場合はＣゾーン、低反射率の
物体の場合ばＤゾーンと判定するが、どちらも被写界深
度内に入れることができる。
本発明は以上説明したように、三角測距の原理を応用（
〜だ能動型の距離検出装置において、隣接する１ｌｌｌ
距ゾーンをそれぞれ互いに重ね合せることによりゾーン
測距時に被測定体の反射率の大小にもとづく測距誤差を
補正することができる効果がるる。
〜だ能動型の距離検出装置において、隣接する１ｌｌｌ
距ゾーンをそれぞれ互いに重ね合せることによりゾーン
測距時に被測定体の反射率の大小にもとづく測距誤差を
補正することができる効果がるる。
Ｆ １図は距離と２１固の受光素子の光量比レベルの関
係を示す線図、第２図は従来例のゾーンフォーカス設定
と光量比レベルの関係を説明する線図、第３図は本発明
の一実施例に用いる距離検出回路系の基本的構成を示す
ブロック図、第４図は本発明の一実施例におけるゾーン
フォーカス設定と光量比レベルとの関係を説明する線図
である。 １０・・・投光器を構成する投光素子、１１．１２・・
受光器を構成する受光素子、１８・・受光素子の検出増
幅出力の比を検出する除算器、３６〜３９・・ゾーン信
号ラッチ回路、ｋ、Ｂ、Ｃ，叶−・測距ゾーン。 第１図 丘離 第２図 Ｍ＋ Ｍ＋’ Ｍ２’ ＭＳ’ Ｍ４’ Ｂ萬佳
Ｍ２ Ｍ２Ｓ Ｍ４ Ｍ！
係を示す線図、第２図は従来例のゾーンフォーカス設定
と光量比レベルの関係を説明する線図、第３図は本発明
の一実施例に用いる距離検出回路系の基本的構成を示す
ブロック図、第４図は本発明の一実施例におけるゾーン
フォーカス設定と光量比レベルとの関係を説明する線図
である。 １０・・・投光器を構成する投光素子、１１．１２・・
受光器を構成する受光素子、１８・・受光素子の検出増
幅出力の比を検出する除算器、３６〜３９・・ゾーン信
号ラッチ回路、ｋ、Ｂ、Ｃ，叶−・測距ゾーン。 第１図 丘離 第２図 Ｍ＋ Ｍ＋’ Ｍ２’ ＭＳ’ Ｍ４’ Ｂ萬佳
Ｍ２ Ｍ２Ｓ Ｍ４ Ｍ！
Claims (1)
- １１個の投光器と２個の受光器とを備え、２個の受光器
に入射する光量比を検出することにより複数ゾーンによ
る測距を行なうようにした距離検出装置において、隣接
ゾーンをそれぞれ一部重ね合せるように設定することに
よりゾーン測距を行なうことを特徴とする距離検出装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20451682A JPS5995413A (ja) | 1982-11-24 | 1982-11-24 | 距離検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20451682A JPS5995413A (ja) | 1982-11-24 | 1982-11-24 | 距離検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5995413A true JPS5995413A (ja) | 1984-06-01 |
Family
ID=16491821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20451682A Pending JPS5995413A (ja) | 1982-11-24 | 1982-11-24 | 距離検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5995413A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6227688A (ja) * | 1985-07-27 | 1987-02-05 | Kiiensu:Kk | 距離設定用光電スイツチ |
| JPS63108218A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 光学式変位測定装置 |
-
1982
- 1982-11-24 JP JP20451682A patent/JPS5995413A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6227688A (ja) * | 1985-07-27 | 1987-02-05 | Kiiensu:Kk | 距離設定用光電スイツチ |
| JPS63108218A (ja) * | 1986-10-27 | 1988-05-13 | Matsushita Electric Works Ltd | 光学式変位測定装置 |
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