JPS5995457A - 超音波探傷装置 - Google Patents
超音波探傷装置Info
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- JPS5995457A JPS5995457A JP57206352A JP20635282A JPS5995457A JP S5995457 A JPS5995457 A JP S5995457A JP 57206352 A JP57206352 A JP 57206352A JP 20635282 A JP20635282 A JP 20635282A JP S5995457 A JPS5995457 A JP S5995457A
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- Japan
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- vertical
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/36—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
- G01N29/40—Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by amplitude filtering, e.g. by applying a threshold or by gain control
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N2291/02—Indexing codes associated with the analysed material
- G01N2291/028—Material parameters
- G01N2291/02854—Length, thickness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、超音波？用いた探傷装置において。
一つの探触子−・ラド内に配置した１個又は複数個の垂
直探触子の底面エコー高さ変動計によって。
直探触子の底面エコー高さ変動計によって。
同一探触子ヘッド内の他の斜角探触子の探潟感度をｆｉ
ｌＪ ｉ即する超音波探傷装置に関するものである。
ｌＪ ｉ即する超音波探傷装置に関するものである。
一般に、被検材として鋼管を採湯する装置では。
銅管の管周上に、１個又は複数個の探触子ヘッドを配置
して採湯を行なうが、ここでは便宜上管周上に配置され
た探触子ヘッドの内の一つの探触子ヘッドについて説明
する。
して採湯を行なうが、ここでは便宜上管周上に配置され
た探触子ヘッドの内の一つの探触子ヘッドについて説明
する。
第１図は従来のこの種超音波深場装置の構成を示すもの
で１図において、（１）は超音波探傷装置全体の時間系
を制御する同期部、（２）は垂直探触子（４）の時間系
を制御する垂直系同期部、（３）は垂直系同期部（２）
よりの送信指令により送信信号を発生及び垂直探触子（
４）よりの底面反射信号等を受信するための送受信部、
（４）は超音波を発生する垂直探触子。
で１図において、（１）は超音波探傷装置全体の時間系
を制御する同期部、（２）は垂直探触子（４）の時間系
を制御する垂直系同期部、（３）は垂直系同期部（２）
よりの送信指令により送信信号を発生及び垂直探触子（
４）よりの底面反射信号等を受信するための送受信部、
（４）は超音波を発生する垂直探触子。
（５）は被検査物、（６）は底面反射信号等より、底面
エコーを検出するための底面エコー検出部、 −＋７１
は底面エコーを用いて、被検査物（５）の肉厚判定等を
行なうための垂直処理部、（８）は予め設定した基準信
号と、底面エコーとを比較し、底面エコー高さ変動量を
検出する比較部、（９）は比較部（８）よりの底面エコ
ー高さ変動量に比例する様垂直探触子の探傷感度を制御
する垂直制御部、 ｆｌｕ）は斜角探触子の時間系を制
御する斜角系同期部、０１）は斜角系同期部（１０）か
らの送信指令により送信信号の発生及び斜角探触子α２
）よりの反射信号を受信するための送受信部、０３）は
超音波を発生する斜角探触子、０４１は斜角探触子α３
）による反射信号より被検査物の欠陥エコーを検出する
ための欠陥エコー検出部、α５）は欠陥エコー検出部−
で検出された欠陥エコーの高さを判定し、外部に欠陥出
力するための判定処理部である。
エコーを検出するための底面エコー検出部、 −＋７１
は底面エコーを用いて、被検査物（５）の肉厚判定等を
行なうための垂直処理部、（８）は予め設定した基準信
号と、底面エコーとを比較し、底面エコー高さ変動量を
検出する比較部、（９）は比較部（８）よりの底面エコ
ー高さ変動量に比例する様垂直探触子の探傷感度を制御
する垂直制御部、 ｆｌｕ）は斜角探触子の時間系を制
御する斜角系同期部、０１）は斜角系同期部（１０）か
らの送信指令により送信信号の発生及び斜角探触子α２
）よりの反射信号を受信するための送受信部、０３）は
超音波を発生する斜角探触子、０４１は斜角探触子α３
）による反射信号より被検査物の欠陥エコーを検出する
ための欠陥エコー検出部、α５）は欠陥エコー検出部−
で検出された欠陥エコーの高さを判定し、外部に欠陥出
力するための判定処理部である。
次に動作について説明する。垂直系同期部（２）からの
送信指令により送受信部（３）は送信信号を発生し、垂
直探触子（４）に印カロする。垂直探触子（４）は送信
信号の印加により、超音波信号を発生して被検査物（５
）に超祈波を伝搬し、被検査物（５）の表面及び底面等
からの反射信号を送受信部（３）へ伝える。送受信部（
３）で受信された反射信号は、増巾されて。
送信指令により送受信部（３）は送信信号を発生し、垂
直探触子（４）に印カロする。垂直探触子（４）は送信
信号の印加により、超音波信号を発生して被検査物（５
）に超祈波を伝搬し、被検査物（５）の表面及び底面等
からの反射信号を送受信部（３）へ伝える。送受信部（
３）で受信された反射信号は、増巾されて。
垂直制御部（９に辺られ、垂直制御部（９）にて一定レ
ベルになる様探瘍感度を制御された後、底面エコー検出
部（６）にて底面エコーのみ検出される。検出された底
面エコーは９次の垂直処理部（７）に送られ。
ベルになる様探瘍感度を制御された後、底面エコー検出
部（６）にて底面エコーのみ検出される。検出された底
面エコーは９次の垂直処理部（７）に送られ。
被検査物（５）の肉厚判定処理等が行なわれ１判定結果
を垂直処理部（７）から外部に出力する。又、底面エコ
ーは、比較部（８）にも送られる。比較部（８）は底口
エコーと予め設定した基準信号とを比較して。
を垂直処理部（７）から外部に出力する。又、底面エコ
ーは、比較部（８）にも送られる。比較部（８）は底口
エコーと予め設定した基準信号とを比較して。
底面エコー高さ変動量を出力し、垂直制御部（９）Ｋて
、垂直探触子の採湯感度が一定レベルになる様制御して
いる。
、垂直探触子の採湯感度が一定レベルになる様制御して
いる。
一方、斜角探触子（１２＋には、斜角系同期部ＧＯ＋か
らの送信指令に対応して送受信部０υで発生された送信
信号が印加され、超音波信号を発生する。被検査物（５
）に伝搬された超音波信号は、被検査物（５）内の欠陥
で反射し、斜角探触子０渇を経て欠陥反射信ｑとして、
送受信部０々へ送られ、受信、増巾された後、欠陥検出
Ｈ１ｉＧ３＋で欠陥エコーのみを検出される。判定処理
部０４１は、検出された欠陥エコー高さを、予め設定し
た判定値と比較し、−ｆＩＩ定結果を外部へ出力する。
らの送信指令に対応して送受信部０υで発生された送信
信号が印加され、超音波信号を発生する。被検査物（５
）に伝搬された超音波信号は、被検査物（５）内の欠陥
で反射し、斜角探触子０渇を経て欠陥反射信ｑとして、
送受信部０々へ送られ、受信、増巾された後、欠陥検出
Ｈ１ｉＧ３＋で欠陥エコーのみを検出される。判定処理
部０４１は、検出された欠陥エコー高さを、予め設定し
た判定値と比較し、−ｆＩＩ定結果を外部へ出力する。
以上の椋に、従来の超音波探膓訣行では、垂直′探触子
（４）の底面エコーによって、同一の垂直探触子（４）
の探傷感度を制御する方法のみ用いられており、斜角探
触子α２）については、探傷感度の制御機能を有してな
かった。但し、斜角探潟系については、−例として、斜
角用振動子と垂直用振動子とを一つの探触子に内臓した
複合型探触子を用いて。
（４）の底面エコーによって、同一の垂直探触子（４）
の探傷感度を制御する方法のみ用いられており、斜角探
触子α２）については、探傷感度の制御機能を有してな
かった。但し、斜角探潟系については、−例として、斜
角用振動子と垂直用振動子とを一つの探触子に内臓した
複合型探触子を用いて。
垂直用振動子による底面エコー高さ変動量によって、斜
角用振動子の探傷感度を制御する方法を使用する場会も
あった。
角用振動子の探傷感度を制御する方法を使用する場会も
あった。
しかしながら、今後の傾向として超音波採湯装置は、探
傷処理の増大及び探勝処理能力の向上の傾向にあり、一
つの探触子ヘッド上に複数個の探触子を配置する多チャ
ンネルの探傷装置が多くなってきており、多チャンネル
な探傷装置の揚台においては、従来の複合型探触子を用
いて、探幅感度の制御を行なう等の方法では、探触子そ
のものの形状も大きくなり、又、一つの探触子ヘッド上
に複数個の探触子を配置する関係上、探触子ヘッドも大
きく９重量も重くなるため、追従特性を悪くする方向に
あり、多チャンネルな探傷装置において、斜角採湯の感
度を制御する機能から見て困難な要点があった。
傷処理の増大及び探勝処理能力の向上の傾向にあり、一
つの探触子ヘッド上に複数個の探触子を配置する多チャ
ンネルの探傷装置が多くなってきており、多チャンネル
な探傷装置の揚台においては、従来の複合型探触子を用
いて、探幅感度の制御を行なう等の方法では、探触子そ
のものの形状も大きくなり、又、一つの探触子ヘッド上
に複数個の探触子を配置する関係上、探触子ヘッドも大
きく９重量も重くなるため、追従特性を悪くする方向に
あり、多チャンネルな探傷装置において、斜角採湯の感
度を制御する機能から見て困難な要点があった。
この発明は、これらの欠点を改善するためになされたも
ので、従来用いられているような複合型探触子を用いる
方法によらず、一つの探触子ヘッド内に１個又は複数個
の垂直探触子を配置し、垂直探触子による底面エコー高
さの変動量によって。
ので、従来用いられているような複合型探触子を用いる
方法によらず、一つの探触子ヘッド内に１個又は複数個
の垂直探触子を配置し、垂直探触子による底面エコー高
さの変動量によって。
同一探触子ヘッド内に配置された。他の斜角探触子の探
傷感度を制御する方法を用いて、多チャンネルな探傷装
置においても、探ｔＭ感度の制御４１Ｆ４能を有するよ
うにした探傷装置を提供するものである。
傷感度を制御する方法を用いて、多チャンネルな探傷装
置においても、探ｔＭ感度の制御４１Ｆ４能を有するよ
うにした探傷装置を提供するものである。
以下第２図に示すこの発明の実施例について説明する。
第２図において、（１）は超音波探１４装置全体の時間
系を制御する同期部、（２）は垂直探触子（４）の時間
系を制御する垂直同期部、（３）は垂直系同期部（２）
からの送信指令により送信信号の発生及び垂直探触子（
４）からの底面反射信号等を受信するための送受信部、
（４）は超音波を発生する垂直探触子、（５）は被検査
物、（６）は底面反射信号等から底面エコーを検出する
ための底面エコー検出部、（７）は底面エコーを用いて
、被検査物（５）の肉厚判定等を行なうための垂直処理
部、（８）は予め設定した基準信号と、底面エコーとを
比較し、底面エコー高さ変動量を検出する比較部、（９
）は比較部（８）からの底面エコー高さ変動量に比例す
る様垂直探触子の探出感度を制御する垂直制御４１部、
ｕＯ）は斜角探触子の時間系を制御する斜角系同期部、
α１）は斜角系同期部（１０）からの送信指令により送
信信号を発生及び斜角探触子（１２ｉからの反射信号を
受信するための送受信部、０３（は超音波を発生する斜
角探触子、０信ま斜角探触子（１３）による反射信号か
ら被検査物の欠陥エコーを検出するための欠陥エコー検
出部、０５）は欠陥エコー検出部０Φで検出された欠陥
エコー高さを判定し、外部に欠陥出力するための判定処
理部、０６）は垂直探触子（４）から得られた底面エコ
ー変動量に比例するよう斜角探触子（１２＋の斜角探勝
感度を一定レベルに制御するための制御４１部である。
系を制御する同期部、（２）は垂直探触子（４）の時間
系を制御する垂直同期部、（３）は垂直系同期部（２）
からの送信指令により送信信号の発生及び垂直探触子（
４）からの底面反射信号等を受信するための送受信部、
（４）は超音波を発生する垂直探触子、（５）は被検査
物、（６）は底面反射信号等から底面エコーを検出する
ための底面エコー検出部、（７）は底面エコーを用いて
、被検査物（５）の肉厚判定等を行なうための垂直処理
部、（８）は予め設定した基準信号と、底面エコーとを
比較し、底面エコー高さ変動量を検出する比較部、（９
）は比較部（８）からの底面エコー高さ変動量に比例す
る様垂直探触子の探出感度を制御する垂直制御４１部、
ｕＯ）は斜角探触子の時間系を制御する斜角系同期部、
α１）は斜角系同期部（１０）からの送信指令により送
信信号を発生及び斜角探触子（１２ｉからの反射信号を
受信するための送受信部、０３（は超音波を発生する斜
角探触子、０信ま斜角探触子（１３）による反射信号か
ら被検査物の欠陥エコーを検出するための欠陥エコー検
出部、０５）は欠陥エコー検出部０Φで検出された欠陥
エコー高さを判定し、外部に欠陥出力するための判定処
理部、０６）は垂直探触子（４）から得られた底面エコ
ー変動量に比例するよう斜角探触子（１２＋の斜角探勝
感度を一定レベルに制御するための制御４１部である。
次に動作について説明する。垂直系同期部（２）よりの
送信指令により、送受信、１ｍ’（３１は送信信号を発
生し、垂直探触子（４）に印加する。垂直探触子（４）
は送信信号の印加により超音波信号を発生して、被検食
物（５）に超音波を伝搬し、被検査物（５）の表面及び
底面等からの反射信号を送受信部（３）へ伝える。
送信指令により、送受信、１ｍ’（３１は送信信号を発
生し、垂直探触子（４）に印加する。垂直探触子（４）
は送信信号の印加により超音波信号を発生して、被検食
物（５）に超音波を伝搬し、被検査物（５）の表面及び
底面等からの反射信号を送受信部（３）へ伝える。
送受信部（３）で受信された反射信号は、増巾されて。
垂直制御部（９）に送られ、垂直制御部（９）にて、底
面エコー高さの変ｇｔＪＪ量に比例する様に垂直探出感
度を制御された後、底面エコー検出部（６）にて底面エ
コーのみ検出される。検出された底面エコーは。
面エコー高さの変ｇｔＪＪ量に比例する様に垂直探出感
度を制御された後、底面エコー検出部（６）にて底面エ
コーのみ検出される。検出された底面エコーは。
次の垂直処理部（７）に送られ被検介′＋！／Ｊ（５１
の肉厚判定処理専行なわれ９判定結果を垂直処理部（７
）から外部に出力する。又、底面エコーは比較部（８）
に送られる。比較部（８）は、底面エコーと予め設定し
た基準信号とを比較して、底面エコー高さ変動量を出力
し、垂直制御部（９）にて、垂直探触子の探出感度が一
定レベルになるよう制御している。
の肉厚判定処理専行なわれ９判定結果を垂直処理部（７
）から外部に出力する。又、底面エコーは比較部（８）
に送られる。比較部（８）は、底面エコーと予め設定し
た基準信号とを比較して、底面エコー高さ変動量を出力
し、垂直制御部（９）にて、垂直探触子の探出感度が一
定レベルになるよう制御している。
一方、斜角探触子０２）には、斜角系同期部００）から
の送信指令に対応して、送受信部０］Ｊで発生された送
信信号が印加され、超音波信号を発生する。被検査物（
５）に伝搬された超音波信号は、被検査物（５）の欠陥
で反射し、斜角探触子０２を経て、欠陥反射信号として
、送受信部（１１１に送られ、受信、増巾された後、制
御部０５１に入力される。制御部０５）では。
の送信指令に対応して、送受信部０］Ｊで発生された送
信信号が印加され、超音波信号を発生する。被検査物（
５）に伝搬された超音波信号は、被検査物（５）の欠陥
で反射し、斜角探触子０２を経て、欠陥反射信号として
、送受信部（１１１に送られ、受信、増巾された後、制
御部０５１に入力される。制御部０５）では。
入力された欠陥反射信号の探出感度を、上記、比較部（
８）で得られた。垂直探触子（４）からの底面エコー高
さの変動量に比例するように制ｆＩ１４ＩＬ 、欠陥エ
コー検出部（１３）へ出力する。制御部０５）は、入力
された欠陥反射信号から欠陥エコーのみを検出し１次の
判定処理部０滲へ出力する。判定処理部−は、欠陥エコ
ー高さを予め設定した欠陥判定値と比較し。
８）で得られた。垂直探触子（４）からの底面エコー高
さの変動量に比例するように制ｆＩ１４ＩＬ 、欠陥エ
コー検出部（１３）へ出力する。制御部０５）は、入力
された欠陥反射信号から欠陥エコーのみを検出し１次の
判定処理部０滲へ出力する。判定処理部−は、欠陥エコ
ー高さを予め設定した欠陥判定値と比較し。
欠陥出力を外部に出力する。このため、被検査物（５）
の状態及び被検査物（５）と探触子との位置関係等によ
って、被検査物（５）への超音波信号の入射量が変化し
、斜角探触子０２の探勝感度が変動しても。
の状態及び被検査物（５）と探触子との位置関係等によ
って、被検査物（５）への超音波信号の入射量が変化し
、斜角探触子０２の探勝感度が変動しても。
垂直探触子（４）の底面エコー高さ変動量に比例するよ
うに制御されるので、斜角探触子（１２＋の採湯感度は
常に一定レベルになるようになっている。
うに制御されるので、斜角探触子（１２＋の採湯感度は
常に一定レベルになるようになっている。
従って、従来−例として用いられていた。腹合型探触子
等を用いず９通常の斜角探触子のまま用いることにより
、探触子〜ソドの型状２重量の増大が防げるため多チャ
ンネルな深場装置において感度制御機能を有することが
できる。
等を用いず９通常の斜角探触子のまま用いることにより
、探触子〜ソドの型状２重量の増大が防げるため多チャ
ンネルな深場装置において感度制御機能を有することが
できる。
なお、矛２図においては、一つの探触子ヘッド内（二１
昭の垂直探触子（４）を配置した場合について説明した
が、一つの探触子ヘッド内に複数１固の垂直探触子を配
置した場合でも、それぞれの垂直探Ｊ独子の底面エコー
高さ変動量に比例するよう予め決めた斜角探触子の採湯
感度な制御する方法又は複数量の垂直探触子の内の一つ
で、同−探触子ヘッド内（＝配置された全ての斜角探触
子の採湯感度を制御する方法等により、上記同様の効果
が得られる。
昭の垂直探触子（４）を配置した場合について説明した
が、一つの探触子ヘッド内に複数１固の垂直探触子を配
置した場合でも、それぞれの垂直探Ｊ独子の底面エコー
高さ変動量に比例するよう予め決めた斜角探触子の採湯
感度な制御する方法又は複数量の垂直探触子の内の一つ
で、同−探触子ヘッド内（＝配置された全ての斜角探触
子の採湯感度を制御する方法等により、上記同様の効果
が得られる。
また実施例では、被検材として鋼管を探傷する装置につ
いて説明したが、この発明は、これに限らず、棒鋼、鋼
板等の深場装置についても同様に使用することが出来る
ことは言うまでもない。
いて説明したが、この発明は、これに限らず、棒鋼、鋼
板等の深場装置についても同様に使用することが出来る
ことは言うまでもない。
以上のように、この発明（二係る超音波探傷装置では、
従来−例として用いられていた複合型探触子等を使用せ
ず、一つの探触子−ソド内に、１個又は複数量の垂直探
触子等の被検査物の底面エコーを検出可能な探触子を配
置し、上記垂直探触子等の底面エコー高さ変動量に比例
するよう斜角探触子の探傷感度を制御する手段を具備す
ることにより斜角探触子及び、多チャンネルな深場装置
においても探傷感度を制御する機能を有することが出来
る利点がある。
従来−例として用いられていた複合型探触子等を使用せ
ず、一つの探触子−ソド内に、１個又は複数量の垂直探
触子等の被検査物の底面エコーを検出可能な探触子を配
置し、上記垂直探触子等の底面エコー高さ変動量に比例
するよう斜角探触子の探傷感度を制御する手段を具備す
ることにより斜角探触子及び、多チャンネルな深場装置
においても探傷感度を制御する機能を有することが出来
る利点がある。
矛１図は従来の超音波操傷装置のブロック構成図・牙２
図はこの発明：二よる超音波採湯装置の実施例を示すプ
ロ゛ツク構成図であり９図中（１）は同期部・（２）は
垂直系同期部・（３）は送受信部・（４）は垂直探触子
・（５）は被検査物、（６）は底面エコー検出部。 （７）は垂直処理部、（８）は比較部、（９）は垂直制
御部。 側は斜角系同期部、ａυは送受信部、 ａ２１は斜角探
触子、 ｕ３１は欠陥エコー検出部、 （１４１は判定
処理部、０５）は制御部である。 なお２図中、同一あるいは、相当部分には同一符号を付
して示しである。 代理人 葛 野 信 −
図はこの発明：二よる超音波採湯装置の実施例を示すプ
ロ゛ツク構成図であり９図中（１）は同期部・（２）は
垂直系同期部・（３）は送受信部・（４）は垂直探触子
・（５）は被検査物、（６）は底面エコー検出部。 （７）は垂直処理部、（８）は比較部、（９）は垂直制
御部。 側は斜角系同期部、ａυは送受信部、 ａ２１は斜角探
触子、 ｕ３１は欠陥エコー検出部、 （１４１は判定
処理部、０５）は制御部である。 なお２図中、同一あるいは、相当部分には同一符号を付
して示しである。 代理人 葛 野 信 −
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 一つの探触子ヘッド内に探触子を複１５．個配置し。 被検材に対して斜角採湯な行なう超音波探傷装置におい
て、上記探触子ヘッド内に１１固又は複数個の斜角探触
子とともに、１個又は複数個の底面エコー？演出可能な
垂直探触子？配置し、上記垂直探触子の底面エコー高さ
変動量に比例するように斜角探ｆ等感度な一足レベルに
制御するための制御手段？具備し、垂直探触子と同一探
触子ヘッド内に配置された１個又は複数個の斜角探触子
の探傷感度？、垂直探触子の底面エコー高さ変動ｔ Ｋ
比しリするように制御するように構成したことを特徴と
する超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57206352A JPS5995457A (ja) | 1982-11-25 | 1982-11-25 | 超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57206352A JPS5995457A (ja) | 1982-11-25 | 1982-11-25 | 超音波探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5995457A true JPS5995457A (ja) | 1984-06-01 |
Family
ID=16521885
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57206352A Pending JPS5995457A (ja) | 1982-11-25 | 1982-11-25 | 超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5995457A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109142512A (zh) * | 2018-08-08 | 2019-01-04 | 爱德森（厦门）电子有限公司 | 一种在役轨道斜裂纹自动评估装置及方法 |
| WO2023202222A1 (zh) * | 2022-04-19 | 2023-10-26 | 南京拓控信息科技股份有限公司 | 一种双晶超声波探头及其探伤系统的灵敏度自动检测方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5097388A (ja) * | 1973-12-24 | 1975-08-02 |
-
1982
- 1982-11-25 JP JP57206352A patent/JPS5995457A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5097388A (ja) * | 1973-12-24 | 1975-08-02 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109142512A (zh) * | 2018-08-08 | 2019-01-04 | 爱德森（厦门）电子有限公司 | 一种在役轨道斜裂纹自动评估装置及方法 |
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