JPS599570A - 開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法 - Google Patents
開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法Info
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- JPS599570A JPS599570A JP57119339A JP11933982A JPS599570A JP S599570 A JPS599570 A JP S599570A JP 57119339 A JP57119339 A JP 57119339A JP 11933982 A JP11933982 A JP 11933982A JP S599570 A JPS599570 A JP S599570A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 title claims abstract description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 3
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- 238000009434 installation Methods 0.000 abstract 1
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/3271—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of high voltage or medium voltage devices
- G01R31/3272—Apparatus, systems or circuits therefor
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は開閉装置ａのコンデンサ開閉寿命試験方法に関
し、その目的は試験実施所要日数を短縮することにある
。
し、その目的は試験実施所要日数を短縮することにある
。
周知の通り開閉装置は製作時開閉寿命試験が行なわれる
。この試験方法として遮断責務とコンデンサ負荷投入責
務を別々の回路で行なわせる等価試験方法が知られてい
る。
。この試験方法として遮断責務とコンデンサ負荷投入責
務を別々の回路で行なわせる等価試験方法が知られてい
る。
これを第１図に示す。即ち、この方法は、第１図に示す
如く遮断電流■１を短絡発電機Ｇから限流リアクトルＬ
１を介して供試遮断器ＴＰに供給し遮断試験のみを実施
し、こわが終了すると結線がえを行ない、第１図（ｂ）
に示す如く、充電されｔココンデンサＣから限流リアク
トルＬ２を介して投入突流電流を供給し投入試験を実施
するものである。なお、Ｔは昇任用変圧器、孔は整流器
である。
如く遮断電流■１を短絡発電機Ｇから限流リアクトルＬ
１を介して供試遮断器ＴＰに供給し遮断試験のみを実施
し、こわが終了すると結線がえを行ない、第１図（ｂ）
に示す如く、充電されｔココンデンサＣから限流リアク
トルＬ２を介して投入突流電流を供給し投入試験を実施
するものである。なお、Ｔは昇任用変圧器、孔は整流器
である。
とＣろが開閉装置の寿命試験では、閉−開路動作で１回
の試験と計数されるので、上述の如く遮断試験と投入試
験を別々に実施する場合には、５０００回とか１０００
０回とかの寿命試験に対して２倍の日数を要することと
なる。例えば１００００回の開閉試験に対して供試器Ｔ
Ｐは、投入で１００００回、遮断で１ｏｏｏｏ回、合計
２００００回の動作が必要であり、試験日数は５００回
／日として４０日もかかることとなる。又、供試器の機
構部も保障回数以上に動くこととなる。
の試験と計数されるので、上述の如く遮断試験と投入試
験を別々に実施する場合には、５０００回とか１０００
０回とかの寿命試験に対して２倍の日数を要することと
なる。例えば１００００回の開閉試験に対して供試器Ｔ
Ｐは、投入で１００００回、遮断で１ｏｏｏｏ回、合計
２００００回の動作が必要であり、試験日数は５００回
／日として４０日もかかることとなる。又、供試器の機
構部も保障回数以上に動くこととなる。
これを改善するＴコめ、第２図に示す等価試験方法が案
出された。即ち、２台の遮断器（！Ｂ１ 、ＯＲ３を用
い、遮断器ＣＢ１開路状態で遮断器ＯＢ２を投入し、投
入後供試器’Ｉ’ Ｐを投入して投入電流■２を流す。
出された。即ち、２台の遮断器（！Ｂ１ 、ＯＲ３を用
い、遮断器ＣＢ１開路状態で遮断器ＯＢ２を投入し、投
入後供試器’Ｉ’ Ｐを投入して投入電流■２を流す。
その後遮断器ＯＢ２を開略し、遮断器ＯＪｈ を投入
して遮断電流■１を通電し、供試器１’Ｐを開略して電
流■１の遮断を行なう。
して遮断電流■１を通電し、供試器１’Ｐを開略して電
流■１の遮断を行なう。
しかし、この試験方法によるときは、２台の遮断器ＣＢ
１、ＯＲ３が６曽となり、又シーケンス的にも複雑にな
るという欠点がある。
１、ＯＲ３が６曽となり、又シーケンス的にも複雑にな
るという欠点がある。
本発明は双投断路器を使用することにより上述の欠点を
一掃しＴこものである。以下第６図、第４図に基づき本
発明を説明する。
一掃しＴこものである。以下第６図、第４図に基づき本
発明を説明する。
第６図において、ＤＳは双投断路器で第１接点８１と第
２接点Ｓ２を有し一方が閉路すれば他方は開略し両接点
が同時に閉路しない構造となっている。そして、供試器
ＴＰＯ補助常閉接点（ｂ接点）で双投断路器ＤＳの第２
接点８２を閉路させ、供試器ＴＰの補助常開接点（ａ接
点）で第１接点８１を閉路させ、ま１こ双投断路器Ｄ８
の第１接点８１側補助常開接点（ａ接点）により供試器
’ｒＰに引外し制御信号を付勢して開略させる様にシー
ケンスが組ま：１″１ている。その他用２図と同一符号
は同−若しくは相当符号を示す。
２接点Ｓ２を有し一方が閉路すれば他方は開略し両接点
が同時に閉路しない構造となっている。そして、供試器
ＴＰＯ補助常閉接点（ｂ接点）で双投断路器ＤＳの第２
接点８２を閉路させ、供試器ＴＰの補助常開接点（ａ接
点）で第１接点８１を閉路させ、ま１こ双投断路器Ｄ８
の第１接点８１側補助常開接点（ａ接点）により供試器
’ｒＰに引外し制御信号を付勢して開略させる様にシー
ケンスが組ま：１″１ている。その他用２図と同一符号
は同−若しくは相当符号を示す。
而して、第６図のものによる寄合試験は次の手ｎｙ４に
よる。
よる。
供試器ＴＰが開路状態ではその補助常閉接点が閉略し双
投断路器１）８の第２接点８２が閉略している。
投断路器１）８の第２接点８２が閉略している。
先づ供試器ＴＰに図示しない制御装置から投入制御信号
を与えてこれを閉略せしめる。するとコンデンサＣの蓄
積電荷に基づき供試器ＴＰには投入突流電流■２が供給
される。
を与えてこれを閉略せしめる。するとコンデンサＣの蓄
積電荷に基づき供試器ＴＰには投入突流電流■２が供給
される。
供試器ＴＰが閉略されると、その補助常閉接点（ｂ接点
）が開略し補助常開接点（ａ接点）が閉略するので双投
断路器ＤＳが第２接点８２を開略し第１接点８１を閉路
する。従って、発電機Ｇから供試器ＴＰに遮断電流■１
が供給されると共に、双投断路器］）Ｓの第１接点８１
側補助常開接点（ａ接点）が閉略するｔコめ供試器ＴＰ
に引外制御信号が与えられ、供試器ＴＰが開略せしめら
れてこの電流■１を遮断する。
）が開略し補助常開接点（ａ接点）が閉略するので双投
断路器ＤＳが第２接点８２を開略し第１接点８１を閉路
する。従って、発電機Ｇから供試器ＴＰに遮断電流■１
が供給されると共に、双投断路器］）Ｓの第１接点８１
側補助常開接点（ａ接点）が閉略するｔコめ供試器ＴＰ
に引外制御信号が与えられ、供試器ＴＰが開略せしめら
れてこの電流■１を遮断する。
供試器ＴＰＯ開略によりその補助常開接点（ａ接点）が
開略し補助常閉接点（ｂ接点）が閉路して双投断路器Ｄ
８の第１接点８１を開略し第２接点８２を閉略する。（
第６図の実線状態に戻る。）これで１回の閉−開路試験
が終了した訳であり、図示しない上記制御装置からある
一定周期で供試器ＴＰに投入制御信号ｍを連続的に与え
ることによってこれが自動的に繰り返されることとなる
。
開略し補助常閉接点（ｂ接点）が閉路して双投断路器Ｄ
８の第１接点８１を開略し第２接点８２を閉略する。（
第６図の実線状態に戻る。）これで１回の閉−開路試験
が終了した訳であり、図示しない上記制御装置からある
一定周期で供試器ＴＰに投入制御信号ｍを連続的に与え
ることによってこれが自動的に繰り返されることとなる
。
以上の動作をタイツ、チャートで示すと大略第４図の如
くなる。同図において、ｔｌ＆びｔ２は供試器ＴＰの投
入及び開極時間、ｔ８は双投断路器Ｄ８の第１接点８１
側開極時間、ｔ４は同第２接点８２側開極時間を示す。
くなる。同図において、ｔｌ＆びｔ２は供試器ＴＰの投
入及び開極時間、ｔ８は双投断路器Ｄ８の第１接点８１
側開極時間、ｔ４は同第２接点８２側開極時間を示す。
なお、コンデンサＣは常時整流型孔から充電が行なわれ
ており、次回の第２接点８２閉路時刻には定格電圧に達
するよう各回路定数が選ばれている。
ており、次回の第２接点８２閉路時刻には定格電圧に達
するよう各回路定数が選ばれている。
而して、本発明によるときは、供試器の開動作と閉動作
過程で、前記供試器の電流遮断試験と電流投入試験をそ
れぞれ実施することができ、第１図のものに比べ試験日
数が１／２に短縮される。しかも供試器は余分な動作を
しなくてよいので機械的ダメージが少なくなる。又、第
２図のものに比５− ベると、２台の遮断器にかえて双投断路器が用いられて
いるので、設備を安価ならしめることができる。更に双
投断路器を切換えて行なうためシーケンスが第２図のも
のに比べ単純になるといつ１こ効果を奏する。
過程で、前記供試器の電流遮断試験と電流投入試験をそ
れぞれ実施することができ、第１図のものに比べ試験日
数が１／２に短縮される。しかも供試器は余分な動作を
しなくてよいので機械的ダメージが少なくなる。又、第
２図のものに比５− ベると、２台の遮断器にかえて双投断路器が用いられて
いるので、設備を安価ならしめることができる。更に双
投断路器を切換えて行なうためシーケンスが第２図のも
のに比べ単純になるといつ１こ効果を奏する。
第１図は従来方法を説明するｔこめのものにして、（ａ
）は遮断責務を、（ｂ）はコンデンサ負荷投入責務をそ
れぞれ実施するｔこめの同略図、第２図は他の従来方法
を説明する回路図、第６図は本発明の詳細な説明するた
めの回路図、第４図は第６図のもののタイムチャートで
ある。 ＴＰ：供試器 ＤＳ：双投断路器 特許出願人 日新電機株式会社 ６−
）は遮断責務を、（ｂ）はコンデンサ負荷投入責務をそ
れぞれ実施するｔこめの同略図、第２図は他の従来方法
を説明する回路図、第６図は本発明の詳細な説明するた
めの回路図、第４図は第６図のもののタイムチャートで
ある。 ＴＰ：供試器 ＤＳ：双投断路器 特許出願人 日新電機株式会社 ６−
Claims (1)
- 供試器のコンデンサ負荷投入責務と遮断責務とを別々の
回路で実施するものにおいて、前記供試器の閉開略動作
の間で前記両回路を双投断路器によって自動的に切替え
連続して試験を行なう様にしたことを特徴とする開閉装
置のコンデンサ開閉寿命試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57119339A JPS599570A (ja) | 1982-07-08 | 1982-07-08 | 開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57119339A JPS599570A (ja) | 1982-07-08 | 1982-07-08 | 開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS599570A true JPS599570A (ja) | 1984-01-18 |
Family
ID=14759030
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57119339A Pending JPS599570A (ja) | 1982-07-08 | 1982-07-08 | 開閉装置のコンデンサ開閉寿命試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS599570A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103344909A (zh) * | 2013-06-25 | 2013-10-09 | 国家电网公司 | 断路器使用寿命的检测方法 |
| CN104076277A (zh) * | 2014-07-17 | 2014-10-01 | 国家电网公司 | 断路器防跳回路测试仪 |
| CN104215531A (zh) * | 2013-05-30 | 2014-12-17 | 深圳市海洋王照明工程有限公司 | 按键开关寿命测试电路 |
-
1982
- 1982-07-08 JP JP57119339A patent/JPS599570A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104215531A (zh) * | 2013-05-30 | 2014-12-17 | 深圳市海洋王照明工程有限公司 | 按键开关寿命测试电路 |
| CN103344909A (zh) * | 2013-06-25 | 2013-10-09 | 国家电网公司 | 断路器使用寿命的检测方法 |
| CN104076277A (zh) * | 2014-07-17 | 2014-10-01 | 国家电网公司 | 断路器防跳回路测试仪 |
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