JPS5996632A - マイクロ波イオン源 - Google Patents
マイクロ波イオン源Info
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- JPS5996632A JPS5996632A JP57207384A JP20738482A JPS5996632A JP S5996632 A JPS5996632 A JP S5996632A JP 57207384 A JP57207384 A JP 57207384A JP 20738482 A JP20738482 A JP 20738482A JP S5996632 A JPS5996632 A JP S5996632A
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/16—Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation
- H01J27/18—Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation with an applied axial magnetic field
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J27/00—Ion beam tubes
- H01J27/02—Ion sources; Ion guns
- H01J27/022—Details
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
- Particle Accelerators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、マイクロ波イオン源に関し、さらに詳しく
は、マイクロ波と磁界の間でエレクトロン・サイクロト
ロン・レゾナンスを起し、それによるマイクロ波放電で
イオンを成牛ずるマイクロ波イオン源に関する。
は、マイクロ波と磁界の間でエレクトロン・サイクロト
ロン・レゾナンスを起し、それによるマイクロ波放電で
イオンを成牛ずるマイクロ波イオン源に関する。
従来のマイクロ波イオン源の開示は、”N、 5a−k
udo、 K、 Tokiguahi、 H,Koik
e、 and工、 xanomata、 Rev。
udo、 K、 Tokiguahi、 H,Koik
e、 and工、 xanomata、 Rev。
8ci、 Instrum6. Vol、 48. A
7.762. July、 1977 ”および”
N、 5a)cudo、 K、 Tokiguchi、
H,Koike、 am工、Ka−nomata、
In5t、 Phyo、 0onf、 Sor、A 5
4 : Chapter 2゜1980”にある。 こ
の様な従来のイオン源において放電室内で生成されたイ
オンは、イオン引出電極による電界でイオン引出口より
放電室外へ引き出されるが、一部のイオンは引出し方向
とずれた方向に進行するので、引出し後のビームの平行
性が悪くなり、また有効なイオン電流となる効率が低下
するという問題がある。
7.762. July、 1977 ”および”
N、 5a)cudo、 K、 Tokiguchi、
H,Koike、 am工、Ka−nomata、
In5t、 Phyo、 0onf、 Sor、A 5
4 : Chapter 2゜1980”にある。 こ
の様な従来のイオン源において放電室内で生成されたイ
オンは、イオン引出電極による電界でイオン引出口より
放電室外へ引き出されるが、一部のイオンは引出し方向
とずれた方向に進行するので、引出し後のビームの平行
性が悪くなり、また有効なイオン電流となる効率が低下
するという問題がある。
この発明は、磁界の形成を改良することにより上記問題
をttn消したマイクロ波イオン源を提供するものであ
る。
をttn消したマイクロ波イオン源を提供するものであ
る。
すなわち、この発明は、イオン種導入口とイオン217
出口とを有する放電室、その放電室内にマイクロ波を放
射するマイクロ波放射手段、ml記放電室内に磁界を印
加する磁界印加手段、前記イオン押導入口よりniI記
放電室内にイオン種を供給するイオン種供給手段、およ
びイオン引出電極を具備してなり、そのイオン引出電極
は抵抗率11060a以下でかつ透磁率5以上の磁気材
料で形成され、イオン引出方向に伸びた形状の磁界を放
電室内およびイオン導出口からイオン引出電極にかけて
の空間に形成しうるものであるマイクロ波イオン源を提
供する。
出口とを有する放電室、その放電室内にマイクロ波を放
射するマイクロ波放射手段、ml記放電室内に磁界を印
加する磁界印加手段、前記イオン押導入口よりniI記
放電室内にイオン種を供給するイオン種供給手段、およ
びイオン引出電極を具備してなり、そのイオン引出電極
は抵抗率11060a以下でかつ透磁率5以上の磁気材
料で形成され、イオン引出方向に伸びた形状の磁界を放
電室内およびイオン導出口からイオン引出電極にかけて
の空間に形成しうるものであるマイクロ波イオン源を提
供する。
この発明のマイクロ波イオン源において、イオン引出電
極は、抵抗率が106Ωcm以下でかつ透磁率が5以上
の磁気材料にて作られる。言うまでもなく、様械的強度
があり、高温に耐えられる材料であることが必要である
。具体的には、磁性ステンレス、ニッケルおよびフェラ
イトを例示することができる。従来のイオン引出電極に
使われていた非磁性ステンレスやモリブデンは磁路とし
て不適であるから好ましくない。イオン引出m極の形状
は、イオン導出口に対回してイオンビームを引き出す開
口を有し、その開口の先端部分から磁界が出る(あるい
は磁界が入る]ような形状とするのが好ましい。
極は、抵抗率が106Ωcm以下でかつ透磁率が5以上
の磁気材料にて作られる。言うまでもなく、様械的強度
があり、高温に耐えられる材料であることが必要である
。具体的には、磁性ステンレス、ニッケルおよびフェラ
イトを例示することができる。従来のイオン引出電極に
使われていた非磁性ステンレスやモリブデンは磁路とし
て不適であるから好ましくない。イオン引出m極の形状
は、イオン導出口に対回してイオンビームを引き出す開
口を有し、その開口の先端部分から磁界が出る(あるい
は磁界が入る]ような形状とするのが好ましい。
以下、図に示す実施例に基いて、この発明をさ゛らに詳
説する。ただし、これによりこの発明が限定されるもの
ではない。
説する。ただし、これによりこの発明が限定されるもの
ではない。
第1図に示す(1)は、この発明のマイクロ波イオン源
の一実施例である。(2)は放電室で、イオン種導入口
(3)とイオン導出口(4)とを有している。マイクロ
波源(5)のマグネトロンで発生されたマイクロ波は、
同軸管(6)を介し、放電室(2)内部に突設されてい
るアンテナ(7)に供給され、アンテナ(7)から放電
室(2)内に放射される。イオン種導入口(3)は、外
部のイオン種供給手段(8)に接続されており、BF3
゜pH′6.ABH3等のガスあるいはオーブンで萎気
化されたB、 P、 As等を放電室(2)内に供給す
る。備は接続パイプ、■はイオン種ガス源、C31はバ
ルブである。イオン種ガス源■は、たとえばアルゴンガ
スボンベや金属蒸気化オーブンである。
の一実施例である。(2)は放電室で、イオン種導入口
(3)とイオン導出口(4)とを有している。マイクロ
波源(5)のマグネトロンで発生されたマイクロ波は、
同軸管(6)を介し、放電室(2)内部に突設されてい
るアンテナ(7)に供給され、アンテナ(7)から放電
室(2)内に放射される。イオン種導入口(3)は、外
部のイオン種供給手段(8)に接続されており、BF3
゜pH′6.ABH3等のガスあるいはオーブンで萎気
化されたB、 P、 As等を放電室(2)内に供給す
る。備は接続パイプ、■はイオン種ガス源、C31はバ
ルブである。イオン種ガス源■は、たとえばアルゴンガ
スボンベや金属蒸気化オーブンである。
(9)は放電室+21の外周に設置された円筒形永久磁
石で、放電室(2)に磁界を印加する。マイクロ波の周
波数がたとえば2.45 GHzのとき、放電室(2)
での磁界を875ガウスとすれば、公知のようにエレク
トロン・サイクロトロン・レゾナンスを生じ、イオンが
生成される。このイオンは、放電室(2)のイオン導出
口(4)から外へ拡散し、イオン引出電極叫の形成する
電界によってビームとなり、′N1図下方へ向う。
石で、放電室(2)に磁界を印加する。マイクロ波の周
波数がたとえば2.45 GHzのとき、放電室(2)
での磁界を875ガウスとすれば、公知のようにエレク
トロン・サイクロトロン・レゾナンスを生じ、イオンが
生成される。このイオンは、放電室(2)のイオン導出
口(4)から外へ拡散し、イオン引出電極叫の形成する
電界によってビームとなり、′N1図下方へ向う。
エレクトロン・サイクロトロン・レゾナンスを生じさせ
かつ効率よ(イオンを引き出すためには、磁界の形成が
特に重要である。すなわち、放電室(2)における磁界
の強さと形状とを適切に設定する必要がある。そこで、
この装置(1)では、ヘッドODを磁気材料製とするば
かりでなく、イオン引出電極00)およびその移動機構
αりを磁気材料(具体的にはたとえば磁性ステンレスλ
製としている。また、イオン引出電極(101の形状を
、イオン導出口(4)より遠さかる方向でかつ外側へ向
けて広がるコーン状とし、そのコーンの頂部にイオン導
出口(4)に対向する開口αJを設けている。また、ボ
ディ(l少を非磁気材料製としている。この結果、放電
室(2)における磁界は、ヘッド先端部(151とイオ
ン引出電極先端部(161とを結ぶ領域すなわち放電室
(2)内およびイオン導出口(4)からイオン引出電極
a〔にかけての空間C11)に集中することになる。こ
れは換言すれは、イオン引出方向に伸び、望ましいイオ
ンの進行方向とは異方向に無駄に広がらない、好ましい
形状である。さらに、磁気材料製の調整プレート0ηを
出し入れできる空隙−を磁路中に設けであるから、たと
えば第2図に示すようにネジ軸u9を回転して調整プレ
ート0ηを空隙(1811こ挿入する程度を変えること
により、磁界の強度を適切に調整できる。
かつ効率よ(イオンを引き出すためには、磁界の形成が
特に重要である。すなわち、放電室(2)における磁界
の強さと形状とを適切に設定する必要がある。そこで、
この装置(1)では、ヘッドODを磁気材料製とするば
かりでなく、イオン引出電極00)およびその移動機構
αりを磁気材料(具体的にはたとえば磁性ステンレスλ
製としている。また、イオン引出電極(101の形状を
、イオン導出口(4)より遠さかる方向でかつ外側へ向
けて広がるコーン状とし、そのコーンの頂部にイオン導
出口(4)に対向する開口αJを設けている。また、ボ
ディ(l少を非磁気材料製としている。この結果、放電
室(2)における磁界は、ヘッド先端部(151とイオ
ン引出電極先端部(161とを結ぶ領域すなわち放電室
(2)内およびイオン導出口(4)からイオン引出電極
a〔にかけての空間C11)に集中することになる。こ
れは換言すれは、イオン引出方向に伸び、望ましいイオ
ンの進行方向とは異方向に無駄に広がらない、好ましい
形状である。さらに、磁気材料製の調整プレート0ηを
出し入れできる空隙−を磁路中に設けであるから、たと
えば第2図に示すようにネジ軸u9を回転して調整プレ
ート0ηを空隙(1811こ挿入する程度を変えること
により、磁界の強度を適切に調整できる。
イオン引出電極+10)は、ボディ圓に固設されている
絶縁プレー) (20)に、移動機構uカを介して移動
可能に取り付けられており、ツマミシυ等を回すことで
水平方向に、またギヤ(社)等を回転させることで垂直
方向に位置を微調整できる。この微調整によりイオンビ
ームの安定性を向上し、またビーム強度も調整しつる。
絶縁プレー) (20)に、移動機構uカを介して移動
可能に取り付けられており、ツマミシυ等を回すことで
水平方向に、またギヤ(社)等を回転させることで垂直
方向に位置を微調整できる。この微調整によりイオンビ
ームの安定性を向上し、またビーム強度も調整しつる。
この装置(1)の温度制御は、ボディ圓に付属させた冷
却材ダクト(2)に冷却材を流すことと加熱ブロックQ
優のヒータ(ハ)に通電することとにより行われる。加
熱ブロック圓による加熱は、イオン種に含まれる不純分
やイオン種として用いられた金属蒸気が放電室+2]の
壁面に付層して汚染することを防止するのに有用である
。−万、冷却材ダクト(ハ)による冷却は、たとえばボ
ディαaと絶縁プレート■の間にある真空シールを熱か
ら保護するのに有用である。
却材ダクト(2)に冷却材を流すことと加熱ブロックQ
優のヒータ(ハ)に通電することとにより行われる。加
熱ブロック圓による加熱は、イオン種に含まれる不純分
やイオン種として用いられた金属蒸気が放電室+2]の
壁面に付層して汚染することを防止するのに有用である
。−万、冷却材ダクト(ハ)による冷却は、たとえばボ
ディαaと絶縁プレート■の間にある真空シールを熱か
ら保護するのに有用である。
(26)はイオンビーム量の検出器、同はコントローラ
である。コントローラーは、検出器12G+の出方変動
に応じて、マイクロ波源(5)のマイクロ波出力を制御
したり、イオン種供給手段(8)のイオン種供給量を制
御したり、調整プレートuηを移動して磁界の強度を制
御して、イオンビームを所定値に安定に保持する役割を
はたす。
である。コントローラーは、検出器12G+の出方変動
に応じて、マイクロ波源(5)のマイクロ波出力を制御
したり、イオン種供給手段(8)のイオン種供給量を制
御したり、調整プレートuηを移動して磁界の強度を制
御して、イオンビームを所定値に安定に保持する役割を
はたす。
上記装置(1)のサイズは直径約50mm、高さ約65
mmである。イオン引出電極Go+の開口径を3mmと
して実験したデータを第31!gl (A)(B)に示
す。
mmである。イオン引出電極Go+の開口径を3mmと
して実験したデータを第31!gl (A)(B)に示
す。
他の実施例としては、円筒形永久?磁石(9)に代えて
円筒形ソレノイドを用いたものが挙けられる。
円筒形ソレノイドを用いたものが挙けられる。
この場合、ソレノイドの電流を変えて磁界の強さを調節
できる。また、イオン引出電極の開口を多数設けたもの
が挙げられる。
できる。また、イオン引出電極の開口を多数設けたもの
が挙げられる。
以上の説明から理解されるように、この発明のマイクロ
波イオン源は、イオン引出電極を磁気材料製とし、磁路
としても用いつるように構成したことを主たる特徴とし
ている。
波イオン源は、イオン引出電極を磁気材料製とし、磁路
としても用いつるように構成したことを主たる特徴とし
ている。
そこで、磁界がイオン引出電極から放電室へ向けて集中
されると共に磁路の磁気抵抗が減少される。すなわち磁
界の形成効率が向上する。そこで磁界印加手段を小型化
できるようになり、磁界印加手段としてソレノイドを用
いた場合は消費電力を節約できる。また永久磁石を磁界
印加手段として用いることが可能となる。この場合、磁
界発生のための電力が不要となり非常に好ましい。
されると共に磁路の磁気抵抗が減少される。すなわち磁
界の形成効率が向上する。そこで磁界印加手段を小型化
できるようになり、磁界印加手段としてソレノイドを用
いた場合は消費電力を節約できる。また永久磁石を磁界
印加手段として用いることが可能となる。この場合、磁
界発生のための電力が不要となり非常に好ましい。
また、磁界の形状がイオンの引出方向に伸びた形状とな
るので、イオン引出方向とずれた方向に進行するイオン
が減少し、はとんどのイオンを引き出すことができるよ
うになる。すなわちイオンの引き出し効率が向上する。
るので、イオン引出方向とずれた方向に進行するイオン
が減少し、はとんどのイオンを引き出すことができるよ
うになる。すなわちイオンの引き出し効率が向上する。
この発明の発明者らの実験によれば、第3図(A)(B
)には示されていないが、95.5 mA/am の
イオン電流を取り出すことができた。ちなみに従来のマ
イクロ波イオン源によるイオン電流は約23 mA10
m 程度であるから、明らかに性能が同上している。
)には示されていないが、95.5 mA/am の
イオン電流を取り出すことができた。ちなみに従来のマ
イクロ波イオン源によるイオン電流は約23 mA10
m 程度であるから、明らかに性能が同上している。
第1図はこの発明のマイクロ波イオン源の一実施例の構
成説明図、第2図は第1図に示す装置における磁界強度
調節手段の要部平面図、第3図は実験データ図である。 (1)・・マイクロ波イオン源、 (2)・・放電室、 (3)・・・イオン種導入
口、(4)・・・イオン導出口、 (5)・・・マイク
ロ波源、(6)・・・同軸管、 (7)・・・ア
ンテナ、(8)・・・イオン種供給手段、 (9)・・・円筒形永久磁石、QQI・・・イオン引出
電極、0り・・・移動機構、 (13+・・開口、
Uη・・調整プレート、 (181・・・空隙、(ハ)
・・・ヒータ、 (至)・・検出器、翰・・コ
ントローラ、@・・・パイプ、(支)・・・イオン種供
給源、田・・・バルブ。 第2図 第3図 (△)
成説明図、第2図は第1図に示す装置における磁界強度
調節手段の要部平面図、第3図は実験データ図である。 (1)・・マイクロ波イオン源、 (2)・・放電室、 (3)・・・イオン種導入
口、(4)・・・イオン導出口、 (5)・・・マイク
ロ波源、(6)・・・同軸管、 (7)・・・ア
ンテナ、(8)・・・イオン種供給手段、 (9)・・・円筒形永久磁石、QQI・・・イオン引出
電極、0り・・・移動機構、 (13+・・開口、
Uη・・調整プレート、 (181・・・空隙、(ハ)
・・・ヒータ、 (至)・・検出器、翰・・コ
ントローラ、@・・・パイプ、(支)・・・イオン種供
給源、田・・・バルブ。 第2図 第3図 (△)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、 イオン種導入口とイオン導出口とを有する放電室
、その放電室内にマイクロ波を放射するマイクロ波放射
手段、前記放電室内に磁界を印加する磁界印加手段、前
記イオン種導入口より前記放電室内にイオン種を供給す
るイオン種供給手段、およびイオン引出電極を具備して
なり、そのイオン引出電極は抵抗率1060cm以下で
かつ透磁率5以上の磁気材料で形成され、イオン引出方
向に伸びた形状の磁界を放電室内およびイオン導出口か
らイオン引出電極にかけての空間に形成しうるものであ
るマイクロ波イオン源。 2、 イオン引出電極が、磁性ステンレスである請求の
範囲第1項記載のマイクロ波イオン源。 3、 イオン引出電極が、イオン導出口より遠ざかる方
向でかつ外側へ広がるコーン形状であり、イオン導出口
と対向して開口を頂部に有している請求の範囲第1項又
は第2項記載のマイクロ波イオン源。 4、 イオン引出電極が、イオン導出口に対する相対位
置を調節する移動機構をさらに具備している請求の範囲
第1項〜第3項のいずれかに記載のマイクロ波イオン源
。 5、磁界印加手段が、放電室外周に設置された円筒形永
久磁石である請求の範囲第1項〜第4項のいずれかに記
載のマイクロ波イオン源。 6、磁界印加手段が、放電室外周に設置された円筒形永
久磁石および磁路中に設置された磁気抵抗可変式の磁界
強度調節手段である請求の範囲第1項〜第4項のいずれ
かに記載のマイクロ波イオン源。 7、磁界印加手段が、放電室外周に設置されたソ゛レノ
イドである請求の範囲第1項〜第4項のいずれかに記載
のマイクロ波イオン源。 8、マイクロ波放射手段が、放電室内に突設されたアン
テナ、放電室外に設けられたマイクロ波源およびそのマ
イクロ波源と前記アンテナとを結ぶ同軸管からなる請求
の範囲第1項〜第7項のいずれかに記載のマイクロ波イ
オン源。 9、マイクロ波源が、マグネトロンである請求の範囲第
8項記載のマイクロ波イオン源。 】、0. イオン種供給手段が、イオン種ガス源、そ
のイオン種ガス源とイオン種導入口とを結ぶパイプおよ
びそのパイプの途中に設けられたバルブからなる請求の
範囲第1項〜第9項のいずれかに記載のマイクロ波イオ
ン源。 11、 イオン種ガス源が、アルゴンガスボンベであ
る請求の範囲第10項に記載のマイクロ波イオン源。 12、 イオン種ガス源が、金属を加熱気化するオー
ブンである請求の範囲5810項記載のマイクロ波イオ
ン源。 13、放電室壁などにイオン種ガス中の不純物などが付
着するのを防止するために放電室壁を加熱するヒータ手
段をさらに具備してなる請求の範囲第1項〜第12項の
いずれかに記載のマイクロ波イオン源。 14、 イオンビーム量検出器およびそのイオンビー
ム量検出器の出力変動に応じてマイクロ波強度もしくは
イオン種ガス供給量もしくは磁界強度を制御してイオン
ビーム量を一定に保つコントローラをさらに具備してい
る請求の範囲第1項〜m13項のいずれかに記載のマイ
クロ波イオン源。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57207384A JPS6043620B2 (ja) | 1982-11-25 | 1982-11-25 | マイクロ波イオン源 |
| US06/524,140 US4598231A (en) | 1982-11-25 | 1983-02-01 | Microwave ion source |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57207384A JPS6043620B2 (ja) | 1982-11-25 | 1982-11-25 | マイクロ波イオン源 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5996632A true JPS5996632A (ja) | 1984-06-04 |
| JPS6043620B2 JPS6043620B2 (ja) | 1985-09-28 |
Family
ID=16538836
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57207384A Expired JPS6043620B2 (ja) | 1982-11-25 | 1982-11-25 | マイクロ波イオン源 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4598231A (ja) |
| JP (1) | JPS6043620B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63257166A (ja) * | 1987-04-13 | 1988-10-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | マイクロ波イオン源 |
| US5053678A (en) * | 1988-03-16 | 1991-10-01 | Hitachi, Ltd. | Microwave ion source |
| JPH06124674A (ja) * | 1992-10-09 | 1994-05-06 | Nissin Electric Co Ltd | Ecr型イオン源 |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4691662A (en) * | 1983-02-28 | 1987-09-08 | Michigan State University | Dual plasma microwave apparatus and method for treating a surface |
| JPH0616384B2 (ja) * | 1984-06-11 | 1994-03-02 | 日本電信電話株式会社 | マイクロ波イオン源 |
| EP0169744A3 (en) * | 1984-07-26 | 1987-06-10 | United Kingdom Atomic Energy Authority | Ion source |
| US4727293A (en) * | 1984-08-16 | 1988-02-23 | Board Of Trustees Operating Michigan State University | Plasma generating apparatus using magnets and method |
| FR2572847B1 (fr) * | 1984-11-06 | 1986-12-26 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif d'allumage d'une source d'ions hyperfrequence |
| US4788473A (en) * | 1986-06-20 | 1988-11-29 | Fujitsu Limited | Plasma generating device with stepped waveguide transition |
| US4746799A (en) * | 1986-07-30 | 1988-05-24 | Mcmillan Michael R | Atomic jet radiation source |
| JPH0831305B2 (ja) * | 1986-09-25 | 1996-03-27 | ソニー株式会社 | イオンビ−ム装置 |
| US4749911A (en) * | 1987-03-30 | 1988-06-07 | Rpc Industries | Ion plasma electron gun with dose rate control via amplitude modulation of the plasma discharge |
| US4778561A (en) * | 1987-10-30 | 1988-10-18 | Veeco Instruments, Inc. | Electron cyclotron resonance plasma source |
| US4899084A (en) * | 1988-02-25 | 1990-02-06 | The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy | Particle accelerator employing transient space charge potentials |
| US4912367A (en) * | 1988-04-14 | 1990-03-27 | Hughes Aircraft Company | Plasma-assisted high-power microwave generator |
| US4883968A (en) * | 1988-06-03 | 1989-11-28 | Eaton Corporation | Electron cyclotron resonance ion source |
| US5089746A (en) * | 1989-02-14 | 1992-02-18 | Varian Associates, Inc. | Production of ion beams by chemically enhanced sputtering of solids |
| US5537009A (en) * | 1990-10-03 | 1996-07-16 | Chukanov; Kiril B. | Transition of a substance to a new state through use of energizer such as RF energy |
| US6936971B2 (en) * | 2001-11-21 | 2005-08-30 | Chukanov Quantum Energy, L.L.C. | Methods and systems for generating high energy photons or quantum energy |
| GB2386247B (en) | 2002-01-11 | 2005-09-07 | Applied Materials Inc | Ion beam generator |
| GB0703044D0 (en) * | 2007-02-16 | 2007-03-28 | Nordiko Technical Services Ltd | Apparatus |
| FR2912836B1 (fr) * | 2007-02-21 | 2012-11-30 | Snecma | Emetteur pour propulseur ionique. |
| WO2025074684A1 (ja) * | 2023-10-03 | 2025-04-10 | 浜松ホトニクス株式会社 | イオン源及びイオン銃 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1366023A (fr) * | 1963-05-02 | 1964-07-10 | Csf | Perfectionnements aux dispositifs de propulsion à faisceau ionique neutralisé |
| US3458743A (en) * | 1966-12-19 | 1969-07-29 | Radiation Dynamics | Positive ion source for use with a duoplasmatron |
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| FR2147497A5 (ja) * | 1971-07-29 | 1973-03-09 | Commissariat Energie Atomique | |
| US3955118A (en) * | 1975-02-19 | 1976-05-04 | Western Electric Company, Inc. | Cold-cathode ion source |
| US4045677A (en) * | 1976-06-11 | 1977-08-30 | Cornell Research Foundation, Inc. | Intense ion beam generator |
| US4393333A (en) * | 1979-12-10 | 1983-07-12 | Hitachi, Ltd. | Microwave plasma ion source |
| JPS5947421B2 (ja) * | 1980-03-24 | 1984-11-19 | 株式会社日立製作所 | マイクロ波イオン源 |
-
1982
- 1982-11-25 JP JP57207384A patent/JPS6043620B2/ja not_active Expired
-
1983
- 1983-02-01 US US06/524,140 patent/US4598231A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63257166A (ja) * | 1987-04-13 | 1988-10-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | マイクロ波イオン源 |
| US5053678A (en) * | 1988-03-16 | 1991-10-01 | Hitachi, Ltd. | Microwave ion source |
| JPH06124674A (ja) * | 1992-10-09 | 1994-05-06 | Nissin Electric Co Ltd | Ecr型イオン源 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
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