JPS6010167A - 超音波探傷信号処理装置 - Google Patents
超音波探傷信号処理装置Info
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- JPS6010167A JPS6010167A JP58117122A JP11712283A JPS6010167A JP S6010167 A JPS6010167 A JP S6010167A JP 58117122 A JP58117122 A JP 58117122A JP 11712283 A JP11712283 A JP 11712283A JP S6010167 A JPS6010167 A JP S6010167A
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- G01N29/44—Processing the detected response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
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- G01N29/0609—Display arrangements, e.g. colour displays
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- G01N29/0627—Cathode-ray tube displays
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波探傷信号処理装置に係り、管に物体に生
ずる内部亀裂空洞等を非破かい的に検出して探傷信号と
して電子計算機で処理するものである。
ずる内部亀裂空洞等を非破かい的に検出して探傷信号と
して電子計算機で処理するものである。
従来超音波探傷による探傷信号を電子計ｎ様に送り情報
として加工ファイルするシステムにおいては探触子にて
受信され超音波探傷器にて増幅された探傷信号を設定し
た時間範囲（ゲート範囲）において時間的に一定なスレ
ッショルドレベル（しきい値）を越えた信号についてピ
ークホールド又はサンプルホールドしアナログディジタ
ル変換（以下Ａ／Ｄ変換と呼称す）を行なったのち電子
計算機に送られる。超音波の特性としては探触子からの
距離に反比例して弱まり同−欠陥大きさでも距離によっ
て受信されるレベルが変化する。同様に被検査材料の結
晶組織にて発生する林状エコーも距離によって変化しこ
のため林状エコーに対して例えば２倍以上の信号を欠陥
信号として処理する場合近距離から遠距離までを林状エ
コーさ欠陥信号との比（ＳＮ）を同一比率にて区別する
ことができない。
として加工ファイルするシステムにおいては探触子にて
受信され超音波探傷器にて増幅された探傷信号を設定し
た時間範囲（ゲート範囲）において時間的に一定なスレ
ッショルドレベル（しきい値）を越えた信号についてピ
ークホールド又はサンプルホールドしアナログディジタ
ル変換（以下Ａ／Ｄ変換と呼称す）を行なったのち電子
計算機に送られる。超音波の特性としては探触子からの
距離に反比例して弱まり同−欠陥大きさでも距離によっ
て受信されるレベルが変化する。同様に被検査材料の結
晶組織にて発生する林状エコーも距離によって変化しこ
のため林状エコーに対して例えば２倍以上の信号を欠陥
信号として処理する場合近距離から遠距離までを林状エ
コーさ欠陥信号との比（ＳＮ）を同一比率にて区別する
ことができない。
このため探傷機の入力伯号増幅部において増幅量を時間
的に減少させＣＲＴディスプレイ上の表示としては林状
エコー又は欠陥信号を距離の変化に対して一定とする付
加機能が付けられている装置もある。しかし増幅器の時
間的な減少量そのものを表示されておらず、信頼性に乏
しく又その減少量を測定し探傷結果を保証する試験材料
を各製品ごとに作成し探傷のステップごとに確認する必
要があった。
的に減少させＣＲＴディスプレイ上の表示としては林状
エコー又は欠陥信号を距離の変化に対して一定とする付
加機能が付けられている装置もある。しかし増幅器の時
間的な減少量そのものを表示されておらず、信頼性に乏
しく又その減少量を測定し探傷結果を保証する試験材料
を各製品ごとに作成し探傷のステップごとに確認する必
要があった。
又、電子計ｎ機によるプログラミング制御には一定時間
を必要とするため、探傷器より繰返し得られる信号をそ
の才＼超音速にてディジタル化した信号を処理すること
ができず、前処理としてピークホールド回路又はディジ
タル比較回路によって一定時間内の最大値を電子計１Ｉ
Ａｉ機の情報としていた。このため、−パルス信号によ
って複数個の欠陥信号を受信し処理する高精度ノデータ
処理システムにおいては、処理速度の対応可能な高速な
大型電子計算機を必要とした。このためマイクロコンピ
ュータ−の処理速度では処理できずそれら複数個の欠陥
の中で最大の信号のみを処理していた。このような装置
では複数個の欠陥が内在して不合格となるレベルに欠陥
情報を得た場合には再度１人によってその欠陥部を確認
する必要があった０又特公昭ｋＡ−Ｊ４ＬＯＩ、０号公
報記載のように受信信号を直接Ａ／Ｄ変換する場合には
データ量が膨大となる。
を必要とするため、探傷器より繰返し得られる信号をそ
の才＼超音速にてディジタル化した信号を処理すること
ができず、前処理としてピークホールド回路又はディジ
タル比較回路によって一定時間内の最大値を電子計１Ｉ
Ａｉ機の情報としていた。このため、−パルス信号によ
って複数個の欠陥信号を受信し処理する高精度ノデータ
処理システムにおいては、処理速度の対応可能な高速な
大型電子計算機を必要とした。このためマイクロコンピ
ュータ−の処理速度では処理できずそれら複数個の欠陥
の中で最大の信号のみを処理していた。このような装置
では複数個の欠陥が内在して不合格となるレベルに欠陥
情報を得た場合には再度１人によってその欠陥部を確認
する必要があった０又特公昭ｋＡ−Ｊ４ＬＯＩ、０号公
報記載のように受信信号を直接Ａ／Ｄ変換する場合には
データ量が膨大となる。
特にノイズレベルの一倍以上の欠陥信号を処理する目的
では、表層近傍のノイズエコーを全て、信号として処理
しなければならない。前記公報においても欠陥信号を受
信してからＳＯμｅｅａ間のみをＡ／Ｄ変換しているだ
けで全域にわたりてＡ／ｎ変換を行なっておらす処理能
力上限界と思われる。
では、表層近傍のノイズエコーを全て、信号として処理
しなければならない。前記公報においても欠陥信号を受
信してからＳＯμｅｅａ間のみをＡ／Ｄ変換しているだ
けで全域にわたりてＡ／ｎ変換を行なっておらす処理能
力上限界と思われる。
以上の点を考慮して本発明では電子計算機からの信号に
より或は手動−にて調整可能な時間的に変化するスレッ
ショルドレベル信号を探傷信号を同−ＣＲＴディスプレ
イ上に表示し、又これらの（ｉ号を１１接比較して欠陥
信号のみを取り出すことができるようにして本来の探傷
信号を変化させることなく林状エコーに対して例えば一
倍以上の欠陥４Ｍ号を取り出すようにしたものである。
より或は手動−にて調整可能な時間的に変化するスレッ
ショルドレベル信号を探傷信号を同−ＣＲＴディスプレ
イ上に表示し、又これらの（ｉ号を１１接比較して欠陥
信号のみを取り出すことができるようにして本来の探傷
信号を変化させることなく林状エコーに対して例えば一
倍以上の欠陥４Ｍ号を取り出すようにしたものである。
また複数個の欠陥信号が一パルス信号によって受信され
、それらを超高速でＡ／Ｄ変換し１に子計ｎ機で処理す
る場合に、その電子計算機の処理速度に対応させるため
ディジタル信号を一時的にＰ°工ＦＯメモリーに格納し
マイクロコンピュータ−の処理速度でも高速なディジタ
ル信号を処理可能とするものである。
、それらを超高速でＡ／Ｄ変換し１に子計ｎ機で処理す
る場合に、その電子計算機の処理速度に対応させるため
ディジタル信号を一時的にＰ°工ＦＯメモリーに格納し
マイクロコンピュータ−の処理速度でも高速なディジタ
ル信号を処理可能とするものである。
尚、超音波探傷による受信信号の速度は２００μθＯＱ
程度（ｏ、ｓ ｙｎ日ｅａ）であり、又、探傷信号はパ
ルス信号であるため、各々のパルス信号０量隔は／／Ａ
Ｏ〜ｔ／ｌｏｏ ｓｅａ （／ ４ｍ５ｅｃ〜／θｍ５
ｅｃ ）である。又、複数の欠陥を処理可能とするため
には／μｓｅｃごとにデータ処理をする必要がある０こ
の点ではＦ工ＦＯメモリ（Ｆ工ＦＯバッファレジスタ或
は一時格納用バッファメモリ）を用いることによりパル
ス信号の間に（／Ａｍ５ｅｃ〜／θ７ｇ ５ｅｃ）デー
タ処理を行えばよいことになる。尚Ｆ工ＦＯは処理速度
への対応であり、林状エコーの２倍以上の信号はスレッ
ショルドレベルと探傷信号の比較によって可能となる。
程度（ｏ、ｓ ｙｎ日ｅａ）であり、又、探傷信号はパ
ルス信号であるため、各々のパルス信号０量隔は／／Ａ
Ｏ〜ｔ／ｌｏｏ ｓｅａ （／ ４ｍ５ｅｃ〜／θｍ５
ｅｃ ）である。又、複数の欠陥を処理可能とするため
には／μｓｅｃごとにデータ処理をする必要がある０こ
の点ではＦ工ＦＯメモリ（Ｆ工ＦＯバッファレジスタ或
は一時格納用バッファメモリ）を用いることによりパル
ス信号の間に（／Ａｍ５ｅｃ〜／θ７ｇ ５ｅｃ）デー
タ処理を行えばよいことになる。尚Ｆ工ＦＯは処理速度
への対応であり、林状エコーの２倍以上の信号はスレッ
ショルドレベルと探傷信号の比較によって可能となる。
第３図はこの場合の信号例線図でａ、 ａ、はパルス信
号、ｂは欠陥信号、Ｃは欠陥信号の受信される時間θ、
ｊｍＢｅｃ、ｄ １ｉＦＩＦＯメモリなしの処理時間で
ある。
号、ｂは欠陥信号、Ｃは欠陥信号の受信される時間θ、
ｊｍＢｅｃ、ｄ １ｉＦＩＦＯメモリなしの処理時間で
ある。
かくて本発明は超音波探傷の探傷信号を電子計算機を介
して処理する場合においてクロック信号をもとに発生す
るトリガ信号を受けて時間的に変化するスレッショルド
レベル信号とゲート範囲信号とを発生するスレッショル
ド回路と、前記探傷信号とスレッショルドレベル信号と
を与えられ欠陥信号だけをとりたす比較回路と、前記欠
陥（ｇ号をディジタル化するサンプルボールド回路並び
にＡ／Ｄｉ換回路と、前記ディジタル化ぜる欠陥信号を
一時的に格納する第１のＦ工ＦＯメモリと、前記ゲート
範囲信号のスタート並びにエンド信号々クロック信号が
送られクロック数がカウントされるカウンタ回路と、前
記クロッ、クイ６号のカウンタ量をとりだし、欠陥信号
との一致により距離信号としてとりだす一致回路並びに
前記距離信号を一時的に格納する第一のＦ工ＦＯメモリ
とを備え、これら格納された信号をＣＰＵに組込才れた
プログラムにもとすいてデータの解析処理を行いその結
果を主メモリに格納するようにしたことを特徴とする−
０かくて本発明によれば先の特公昭！；ｔ−３’ｌＯＡ
θ号公報と相異して最大ｌμ！ｏｏＨＨ間を処理する必
要がある場合膨大なメモリと超高速な処理が必要で現実
的には不可能であるのをアナログ比較回路によってデー
タ量を減少させることによって、Ａ／Ｄ変換する範囲を
限定することなく処理が行なえるようにしたものである
。
して処理する場合においてクロック信号をもとに発生す
るトリガ信号を受けて時間的に変化するスレッショルド
レベル信号とゲート範囲信号とを発生するスレッショル
ド回路と、前記探傷信号とスレッショルドレベル信号と
を与えられ欠陥信号だけをとりたす比較回路と、前記欠
陥（ｇ号をディジタル化するサンプルボールド回路並び
にＡ／Ｄｉ換回路と、前記ディジタル化ぜる欠陥信号を
一時的に格納する第１のＦ工ＦＯメモリと、前記ゲート
範囲信号のスタート並びにエンド信号々クロック信号が
送られクロック数がカウントされるカウンタ回路と、前
記クロッ、クイ６号のカウンタ量をとりだし、欠陥信号
との一致により距離信号としてとりだす一致回路並びに
前記距離信号を一時的に格納する第一のＦ工ＦＯメモリ
とを備え、これら格納された信号をＣＰＵに組込才れた
プログラムにもとすいてデータの解析処理を行いその結
果を主メモリに格納するようにしたことを特徴とする−
０かくて本発明によれば先の特公昭！；ｔ−３’ｌＯＡ
θ号公報と相異して最大ｌμ！ｏｏＨＨ間を処理する必
要がある場合膨大なメモリと超高速な処理が必要で現実
的には不可能であるのをアナログ比較回路によってデー
タ量を減少させることによって、Ａ／Ｄ変換する範囲を
限定することなく処理が行なえるようにしたものである
。
本発明を図の実施例装置について説明すると、第７図は
超音波探傷信号処理装丁のブロック構成図である。図で
ｌは探触子５２は超音波探傷器、３はクロック回路、弘
はトリガー回路、Ｓはスレッショルド回路、乙は比較回
路、りはサンプルホールド回路％ｇはＡ／Ｄ変換回路、
？は第１のＦ工ＦＯメモリー、ＩＯはカウンタ回路、ｌ
／は一致回路、ｌコは第一のＦ工ＦＯメモリである。
超音波探傷信号処理装丁のブロック構成図である。図で
ｌは探触子５２は超音波探傷器、３はクロック回路、弘
はトリガー回路、Ｓはスレッショルド回路、乙は比較回
路、りはサンプルホールド回路％ｇはＡ／Ｄ変換回路、
？は第１のＦ工ＦＯメモリー、ＩＯはカウンタ回路、ｌ
／は一致回路、ｌコは第一のＦ工ＦＯメモリである。
その低電子計算機に属するものでは、１３はＣＰＵ、／
４Ｉはメモリ、或は図示しないが入出力コントローラ′
、演算制御器等があり／３はパスラインであり、パスラ
インは一例として１６ビツトのデータバスとｌクピット
のアドレスバス並びにλビットのコントロールバスで構
成されるものとする。次に第１図について動作説明を行
う。
４Ｉはメモリ、或は図示しないが入出力コントローラ′
、演算制御器等があり／３はパスラインであり、パスラ
インは一例として１６ビツトのデータバスとｌクピット
のアドレスバス並びにλビットのコントロールバスで構
成されるものとする。次に第１図について動作説明を行
う。
まずＯＰＵ／、？がクロック回路３に始動信号を与える
ことによりクロック回路３においてクロック信号を発生
し、これをもとにトリガー回路グに与えてトリガー信号
を発生する。このトリガー信号を超音波探傷器−に与え
ることによりパルス信号としては探触子／から超音波を
被検査物に向って発生しこれにより被検査物の内部に存
する亀裂や空洞などが探触子ｌから探傷器コへの反射波
中に探傷信号として含まれてとりだされる。一方スレッ
ショルド回路３はトリガー回ｊ１１１５１Ｉよりのトリ
ガー信号を受けて時間的に変化するスレッショルドレベ
ル信号とゲート信号を発生し探傷器コに送られ探傷器コ
のＯＲＴディスプレイ上に探傷信号と同時に表示される
。
ことによりクロック回路３においてクロック信号を発生
し、これをもとにトリガー回路グに与えてトリガー信号
を発生する。このトリガー信号を超音波探傷器−に与え
ることによりパルス信号としては探触子／から超音波を
被検査物に向って発生しこれにより被検査物の内部に存
する亀裂や空洞などが探触子ｌから探傷器コへの反射波
中に探傷信号として含まれてとりだされる。一方スレッ
ショルド回路３はトリガー回ｊ１１１５１Ｉよりのトリ
ガー信号を受けて時間的に変化するスレッショルドレベ
ル信号とゲート信号を発生し探傷器コに送られ探傷器コ
のＯＲＴディスプレイ上に探傷信号と同時に表示される
。
又探傷器λよりの探傷信号とスレッショルド回路ｌより
発生せるスレッショルドレベル信号（！：ゲート範囲信
号つまりゲートの始動信号と終了信号は比較回路乙に送
られ欠陥信号だけが取り出される。この欠陥信号はアナ
ログ信号であるのでサンプルホールド回路７とＡ／Ｄ変
挽回路ｇによってディジタル化された電圧レベル信号と
してとりだされ第１のＦＩＦＯメモリープに一時的に格
納される。又、クロック回路よりのクロック信号はスレ
ッショルド回路よりのゲート範囲の始動信号によってカ
ウンタ回路ｉｏに送られてクロック数がカウントされ始
め終了信号によりカウントアウトされる。カウンタ回路
１０よりのカウンタ量と比較回路６よりの欠陥信号は一
致回路／ｌに与えられ°にのカウント数は距離信号つま
り探触子ｌから超音波が亀裂等にて反射され探傷器コで
受信されるまでの時間信号として取り出され、第一のＦ
ＩＦＯメモリー／コに一時的に格納される。尚この距離
信号はカウンタ回路ｉｏで処理されるので数値処理が既
にディジタルでありＡ／Ｄ変換器は不用である。これら
第７と第一のＦＩＦＯメモリーも１２に格納された信号
はＣＰＵに組み込まれたプログラムに基づいてデーター
の解析処理を行ないその結果を主メモＩＪ−ｔｌｌに格
納するもので必要に応じ読みだすことができる。
発生せるスレッショルドレベル信号（！：ゲート範囲信
号つまりゲートの始動信号と終了信号は比較回路乙に送
られ欠陥信号だけが取り出される。この欠陥信号はアナ
ログ信号であるのでサンプルホールド回路７とＡ／Ｄ変
挽回路ｇによってディジタル化された電圧レベル信号と
してとりだされ第１のＦＩＦＯメモリープに一時的に格
納される。又、クロック回路よりのクロック信号はスレ
ッショルド回路よりのゲート範囲の始動信号によってカ
ウンタ回路ｉｏに送られてクロック数がカウントされ始
め終了信号によりカウントアウトされる。カウンタ回路
１０よりのカウンタ量と比較回路６よりの欠陥信号は一
致回路／ｌに与えられ°にのカウント数は距離信号つま
り探触子ｌから超音波が亀裂等にて反射され探傷器コで
受信されるまでの時間信号として取り出され、第一のＦ
ＩＦＯメモリー／コに一時的に格納される。尚この距離
信号はカウンタ回路ｉｏで処理されるので数値処理が既
にディジタルでありＡ／Ｄ変換器は不用である。これら
第７と第一のＦＩＦＯメモリーも１２に格納された信号
はＣＰＵに組み込まれたプログラムに基づいてデーター
の解析処理を行ないその結果を主メモＩＪ−ｔｌｌに格
納するもので必要に応じ読みだすことができる。
尚、第一図ハ従来のスレッショルドレベルにおける探傷
線図、第３図は同距離振幅補正回路を用いた探傷線図、
第９図は本発明による探傷線図である。−例としてトリ
ガー信号は６０〜２ ｋ ＯＨｚ、サンプルホールドと
しては３０μｓｅｃで欠陥信号を標本化し、／μｓｅｃ
の間連続して量子化するこ１とによりその間の最大差圧
を抽出し、サンプルホールド回路で抽出された差圧を１
ＩｓｏμＳｅｃに２ｇビットの数値にアナロクーテデイ
ジタル変換部でディジタル化する。
線図、第３図は同距離振幅補正回路を用いた探傷線図、
第９図は本発明による探傷線図である。−例としてトリ
ガー信号は６０〜２ ｋ ＯＨｚ、サンプルホールドと
しては３０μｓｅｃで欠陥信号を標本化し、／μｓｅｃ
の間連続して量子化するこ１とによりその間の最大差圧
を抽出し、サンプルホールド回路で抽出された差圧を１
ＩｓｏμＳｅｃに２ｇビットの数値にアナロクーテデイ
ジタル変換部でディジタル化する。
この発明は、以上説明したように探傷信号をそのま＼に
して林状エコーの２倍以上の信号を取り出すことができ
、さらに繰返し発生する高速のディジタル化された信号
をマイクロコンピュータ−にて処理できることより、安
価なシステムにて信頼性の高い超音波探傷信号を得るこ
とが不可能になった。
して林状エコーの２倍以上の信号を取り出すことができ
、さらに繰返し発生する高速のディジタル化された信号
をマイクロコンピュータ−にて処理できることより、安
価なシステムにて信頼性の高い超音波探傷信号を得るこ
とが不可能になった。
図面は本発明超音波探傷信号処理装置の実施例で第７図
はブロック４昔成図、第２図は従来のスレッショルドレ
ベルにおける探傷線図、第３図は同距離振幅補正回路を
用いた探傷線図、第９図は本発明による探傷線図、第Ｓ
図は説明のための信号例線図である。 図で／は探触子、コは超音波探傷器、３はクロック発生
回路、ダはトリガー回路、５はスレッショルドレベル発
生回路、乙は比較回路、りはサンプルホールド回路、ｇ
はアナログディジタル変換回路、ワは第１のＦ工ＦＯメ
モＩＪ−１／θはカウンタ一部、／／は一致回路、／２
は第コのＦＩＦＯメモリー、１３はＣＰＵ％ｌグはメモ
リー〇 ＃％軒出出願人 株式会社日本製鍋所
はブロック４昔成図、第２図は従来のスレッショルドレ
ベルにおける探傷線図、第３図は同距離振幅補正回路を
用いた探傷線図、第９図は本発明による探傷線図、第Ｓ
図は説明のための信号例線図である。 図で／は探触子、コは超音波探傷器、３はクロック発生
回路、ダはトリガー回路、５はスレッショルドレベル発
生回路、乙は比較回路、りはサンプルホールド回路、ｇ
はアナログディジタル変換回路、ワは第１のＦ工ＦＯメ
モＩＪ−１／θはカウンタ一部、／／は一致回路、／２
は第コのＦＩＦＯメモリー、１３はＣＰＵ％ｌグはメモ
リー〇 ＃％軒出出願人 株式会社日本製鍋所
Claims (1)
- （１） 超音波探傷の探傷信号を電子計算機を介して処
理する場合においηクロック信号をもとに発生するトリ
ガ信号を受けて時間的に変化するスレッショルドレベル
信号とゲート範囲信号とを発生するスレッショルド回路
と、前記探ｍ 信号とスレッショルドレベル信号とを与
えられ欠陥信号だけをとりだす比較回路と、前記欠陥信
号をディジタル化するサンプルホールド回路並びにＡ／
Ｄ変換回路と、前記ディジタル化せる欠陥信号を一時的
に格納する第１のＦ工ＦＯメモリと、前記ゲート範囲信
号のスタート並びにエンド信号とクロック信号が送られ
クロック数がカウントされるカウンター回路と、前記ク
ロック信号のカウンタ量をとりだし欠陥信号との一致に
より距離信号としてとりだす一致回路並びに前記距離信
号を一時的に格納する第コのＦ工ＦＯメモリとを備え、
これら格納された信号をＣＰＨに組込まれたプログラム
にもとすいてデータの解析処理を行いその、結果を主メ
モリに格納するようにしたことを特徴とする超音波探傷
信号処理装置０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58117122A JPS6010167A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 超音波探傷信号処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58117122A JPS6010167A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 超音波探傷信号処理装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6010167A true JPS6010167A (ja) | 1985-01-19 |
| JPH0123730B2 JPH0123730B2 (ja) | 1989-05-08 |
Family
ID=14703973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58117122A Granted JPS6010167A (ja) | 1983-06-30 | 1983-06-30 | 超音波探傷信号処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6010167A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61181958A (ja) * | 1985-02-07 | 1986-08-14 | Tokyo Keiki Co Ltd | 探傷器用リジエクシヨン回路 |
| JPH02110365A (ja) * | 1988-10-20 | 1990-04-23 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器のゲート回路 |
| JPH02116746A (ja) * | 1988-10-27 | 1990-05-01 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器のゲート回路 |
| JPH02206759A (ja) * | 1989-02-06 | 1990-08-16 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 超音波探傷装置 |
| US4986566A (en) * | 1988-07-29 | 1991-01-22 | Suzuki Jidosha Kogyo Kabushiki Kaisha | Suspending apparatus for vehicles |
-
1983
- 1983-06-30 JP JP58117122A patent/JPS6010167A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61181958A (ja) * | 1985-02-07 | 1986-08-14 | Tokyo Keiki Co Ltd | 探傷器用リジエクシヨン回路 |
| US4986566A (en) * | 1988-07-29 | 1991-01-22 | Suzuki Jidosha Kogyo Kabushiki Kaisha | Suspending apparatus for vehicles |
| JPH02110365A (ja) * | 1988-10-20 | 1990-04-23 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波探傷器のゲート回路 |
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| JPH02206759A (ja) * | 1989-02-06 | 1990-08-16 | Tokyo Electric Power Co Inc:The | 超音波探傷装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0123730B2 (ja) | 1989-05-08 |
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