JPS6010827B2 - 連続鋳造の鋳片表面監視装置 - Google Patents
連続鋳造の鋳片表面監視装置Info
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- JPS6010827B2 JPS6010827B2 JP55163848A JP16384880A JPS6010827B2 JP S6010827 B2 JPS6010827 B2 JP S6010827B2 JP 55163848 A JP55163848 A JP 55163848A JP 16384880 A JP16384880 A JP 16384880A JP S6010827 B2 JPS6010827 B2 JP S6010827B2
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- JP
- Japan
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- continuous casting
- slab
- slab surface
- optical fiber
- temperature
- Prior art date
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- Continuous Casting (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、鋼スラブ連続鋳造モールド出口部分におけ
る銭片の両短辺コーナーを含む3面の表面状況を監視す
る連続鋳造の鏡片表面監視装置に関する。
る銭片の両短辺コーナーを含む3面の表面状況を監視す
る連続鋳造の鏡片表面監視装置に関する。
鏡片の表面を監視する方法には、■放射温度計による表
面温度測定、■ITV(工業用テレビジョン)カメラに
よる直視、■リニャアレィカメラによる表面放射ェネル
ギ分布計測等が一般的であるが、■については限られた
点の測定であり、■、■は面又は直線の測定であるが、
いずれも一面以上の情報を同時に観測することは困難で
ある。
面温度測定、■ITV(工業用テレビジョン)カメラに
よる直視、■リニャアレィカメラによる表面放射ェネル
ギ分布計測等が一般的であるが、■については限られた
点の測定であり、■、■は面又は直線の測定であるが、
いずれも一面以上の情報を同時に観測することは困難で
ある。
連続鋳造のモールドでは溶鋼がモールド壁で冷却され、
凝固シェルを形成し収縮するから、モールド壁のテーパ
をその収縮量に合わせて制御し、均一でしかもモールド
出口では十分な強度をもつ凝固シェルを形成することが
重要である。省エネルギの要求から連続鋳造化が急激で
あるが、能率向上のため鋳造速度の高速化も進んでいる
。
凝固シェルを形成し収縮するから、モールド壁のテーパ
をその収縮量に合わせて制御し、均一でしかもモールド
出口では十分な強度をもつ凝固シェルを形成することが
重要である。省エネルギの要求から連続鋳造化が急激で
あるが、能率向上のため鋳造速度の高速化も進んでいる
。
鋳造速度を高速化すると、モールド内のシェル形成の安
定成長が妨げられ、シェル形成の管理は極めて重要な項
目となる。シェル形成が不完全であると、その一部が内
部の溶鋼静圧を押えきれずに破れ、溶鋼が流れ出るいわ
ゆるブレークアウトと称する事故になり、非常に危険で
あると共に損失が大きい。銭片のシェル形成は銭片のコ
ーナーが両側から冷却されるため最も先に行なわれ、次
に鏡片の中心部が溶鋼静圧でモールドの冷却壁に押しつ
けられているから、シェル形成が行なわれ、コーナーの
両側の凝固は最も遅れる(モールドの断面形状は凝固に
よる断面方向の収縮に対して変化できない)したがって
、ブレークアウトを起こす部分は、このシェル形成の遅
れた部分に発生するから、第1図に示すように銭片コー
ナCの両側部の合計8箇所(図示○印を施した部分)を
監視する必要がある。一方、熱伝導の理論からシェルの
厚みの薄いところは内部の溶鋼温度の影響を受けるため
、モ−ルドから出ると直ちに温度が高くなる(復熱する
)。
定成長が妨げられ、シェル形成の管理は極めて重要な項
目となる。シェル形成が不完全であると、その一部が内
部の溶鋼静圧を押えきれずに破れ、溶鋼が流れ出るいわ
ゆるブレークアウトと称する事故になり、非常に危険で
あると共に損失が大きい。銭片のシェル形成は銭片のコ
ーナーが両側から冷却されるため最も先に行なわれ、次
に鏡片の中心部が溶鋼静圧でモールドの冷却壁に押しつ
けられているから、シェル形成が行なわれ、コーナーの
両側の凝固は最も遅れる(モールドの断面形状は凝固に
よる断面方向の収縮に対して変化できない)したがって
、ブレークアウトを起こす部分は、このシェル形成の遅
れた部分に発生するから、第1図に示すように銭片コー
ナCの両側部の合計8箇所(図示○印を施した部分)を
監視する必要がある。一方、熱伝導の理論からシェルの
厚みの薄いところは内部の溶鋼温度の影響を受けるため
、モ−ルドから出ると直ちに温度が高くなる(復熱する
)。
したがって、この表面からの放射ェネルギの分析を監視
していれば、種々の要因によって突発的に発生するシェ
ル厚み形成の異常を早期に発見できる。この場合、コー
ナを基準とし、その両側の放射ェネルギが相対的にどの
程度高かということによって適切な判断が可能となるが
、前述したようにセンサの検出能力が一面しかないため
前述の■の方法ではセンサの数を増やす必要があり、■
、■の方法では少なくとも両側で6台(片側3台ずつ計
6台)のカメラが必要であった。また、モールド直下の
鏡片サポート構造は高速化によって、空間が無くなる方
向にあり、センサを取り付けることがほとんど困難にな
っている。したがって、きわめて薄い間隙を利用するセ
ンサシステムが必要である。この発明は上記の点に鑑み
てなされたもので、連続鋳造の銭片表面温度を監視する
ものにおいて、連続鋳造モールド出口部分における銭片
の両端辺コーナを含む3面の表面状況を監視するように
し、モールド表面の冷却によって生じる凝固シェル生成
の異常を早期に発見することができ、しかもその異常検
出をより良好にできる連続鋳造の鋳片表面監視装置を提
供することを目的とする。
していれば、種々の要因によって突発的に発生するシェ
ル厚み形成の異常を早期に発見できる。この場合、コー
ナを基準とし、その両側の放射ェネルギが相対的にどの
程度高かということによって適切な判断が可能となるが
、前述したようにセンサの検出能力が一面しかないため
前述の■の方法ではセンサの数を増やす必要があり、■
、■の方法では少なくとも両側で6台(片側3台ずつ計
6台)のカメラが必要であった。また、モールド直下の
鏡片サポート構造は高速化によって、空間が無くなる方
向にあり、センサを取り付けることがほとんど困難にな
っている。したがって、きわめて薄い間隙を利用するセ
ンサシステムが必要である。この発明は上記の点に鑑み
てなされたもので、連続鋳造の銭片表面温度を監視する
ものにおいて、連続鋳造モールド出口部分における銭片
の両端辺コーナを含む3面の表面状況を監視するように
し、モールド表面の冷却によって生じる凝固シェル生成
の異常を早期に発見することができ、しかもその異常検
出をより良好にできる連続鋳造の鋳片表面監視装置を提
供することを目的とする。
以下この発明の一実施を図面を参照して説明する。第2
図は本発明装置を設置する場所の概略を示すもので、1
は鏡片2(内部は末だ溶融状態)のコーナをコの字状に
はさむセンサ、3はモールド、4はモールド直下のフー
トローラを示す。モールド直下の鉾片サポートはこの図
ではフートローラであるが、ウオーキングバー型式、冷
却格子型式等様々のものがある。いずれにしてもモール
ド2とその直下のサポート装置の間には隙間があり、そ
の隙間にセンサ1を設置する。センサ1の設置方法とし
てはモールド下面に一体化しても良いし、モールド直下
銭片サポート上部構造に一体化しても良い。第3図は本
装置の構成を示す一例であり、センサハウジング10の
内部にはオプチカルフアィバロッドFR,〜FR56が
銭片2のコーナをはさむ3面に対して垂直方向に一定間
隔で一平面上に配列され、全体として銭辺2のコーナを
コの字状に囲むよう構成されている。
図は本発明装置を設置する場所の概略を示すもので、1
は鏡片2(内部は末だ溶融状態)のコーナをコの字状に
はさむセンサ、3はモールド、4はモールド直下のフー
トローラを示す。モールド直下の鉾片サポートはこの図
ではフートローラであるが、ウオーキングバー型式、冷
却格子型式等様々のものがある。いずれにしてもモール
ド2とその直下のサポート装置の間には隙間があり、そ
の隙間にセンサ1を設置する。センサ1の設置方法とし
てはモールド下面に一体化しても良いし、モールド直下
銭片サポート上部構造に一体化しても良い。第3図は本
装置の構成を示す一例であり、センサハウジング10の
内部にはオプチカルフアィバロッドFR,〜FR56が
銭片2のコーナをはさむ3面に対して垂直方向に一定間
隔で一平面上に配列され、全体として銭辺2のコーナを
コの字状に囲むよう構成されている。
そして、上記各オプチカルフアイバロツドFR,〜FR
56にはそれぞれオプチカルフアイバF,〜F56が接
続されている。このオプチカルフアイバF.〜F56は
フレキシブルであり、センサ1の中で1本に束ねられ、
光フアィバ東FBとして光学スキャン装置100に導入
される。オプチカルフアィバは公洋由のとおり光ヱネル
ギを伝送する媒体であり、銭片からの放射ェネルギを光
学スキャン装置に伝送する。第4図はオプチカルフアイ
バロツドが鍵片2からの放射ェネルギ受光視野を示すも
ので、たとえば、n番目のオプチカルフアイバロッドF
Rnの中心士IQ蚊から放射されるェネルギに対し90
%以上の感度を有するように、鎌片からの距離1を設定
する。また、隣接するファイバロツドとの間隔はこの場
合1仇岬とした。また、ファイバロッドFRnには石英
ガラスを用いオプチカルフアイバFnとの融着面Aを介
してその受光ェネルギをオプチカルフアィバFnに伝達
する。オプチカルフアィバロッドFRnは先端/ぐ−ジ
金物11によって保持され、オプチカルフアイバFnは
更に端末金具12によって先端が固定される。また、冷
却エアーはセンサ1の中に送り込まれ、先端パージ金物
11の周辺のヱアパージ溝13を通ってロッドFRnの
先端をパージしながら鏡片2の方向に吹き出す。このパ
ージによってロッドFRnの先端は常に清浄に保たれ、
放射ェネルギの受光感度を維持することができる。とこ
ろで、第3図において、光学スキャン装置10川こ導入
された個々のオプチカルフアィバF,〜F56は回転デ
ィスク103の上の同一円周上に配列、固定される。上
記回転ディスク103は同期モー夕101によってベル
ト102を介して一定速度で回転する。また、上記オプ
チカルフアイバF,〜F56の先様に対向する上記回転
ディスク103上の一点には、石英ロッド105が埋め
込まれている。この石英ロッド105はオプチカルフア
ィバF,〜F船からの光を受光して回転ディスク103
の中心に導くものである。この光学スキャン菱贋100
は具体的には第5図の如く構成されている。第5図にお
いて、第3図と同一部分には同一符号が付されている。
すなわち、オプチカルフアイバF,〜F56は、ステー
タ107に埋め込まれた石英ロッド108に接続されて
おり、このステータ107は定位直に固定されている。
また、オプチカルファィバF,〜F56からの光を回転
ディスク103の中心に導く上記石英ロッド105は図
示の如く折曲部に反射プリズムP,Pを設け、光を折曲
させて伝送している。そして、ステータ107の中心に
は上記回転ディスク103の中心に位置する石英ロッド
105に対向するように石英ロッド109が埋め込まれ
、この石英ロッド109は光取り出し用のオブチカルフ
アイバ110が接続されている。このような構成として
、回転ディスク103を回転させれば、光取り出し用の
オプチカルフアィバ110には順次、銭片2の各点に対
応する放射ェネルギが走査伝達される。
56にはそれぞれオプチカルフアイバF,〜F56が接
続されている。このオプチカルフアイバF.〜F56は
フレキシブルであり、センサ1の中で1本に束ねられ、
光フアィバ東FBとして光学スキャン装置100に導入
される。オプチカルフアィバは公洋由のとおり光ヱネル
ギを伝送する媒体であり、銭片からの放射ェネルギを光
学スキャン装置に伝送する。第4図はオプチカルフアイ
バロツドが鍵片2からの放射ェネルギ受光視野を示すも
ので、たとえば、n番目のオプチカルフアイバロッドF
Rnの中心士IQ蚊から放射されるェネルギに対し90
%以上の感度を有するように、鎌片からの距離1を設定
する。また、隣接するファイバロツドとの間隔はこの場
合1仇岬とした。また、ファイバロッドFRnには石英
ガラスを用いオプチカルフアイバFnとの融着面Aを介
してその受光ェネルギをオプチカルフアィバFnに伝達
する。オプチカルフアィバロッドFRnは先端/ぐ−ジ
金物11によって保持され、オプチカルフアイバFnは
更に端末金具12によって先端が固定される。また、冷
却エアーはセンサ1の中に送り込まれ、先端パージ金物
11の周辺のヱアパージ溝13を通ってロッドFRnの
先端をパージしながら鏡片2の方向に吹き出す。このパ
ージによってロッドFRnの先端は常に清浄に保たれ、
放射ェネルギの受光感度を維持することができる。とこ
ろで、第3図において、光学スキャン装置10川こ導入
された個々のオプチカルフアィバF,〜F56は回転デ
ィスク103の上の同一円周上に配列、固定される。上
記回転ディスク103は同期モー夕101によってベル
ト102を介して一定速度で回転する。また、上記オプ
チカルフアイバF,〜F56の先様に対向する上記回転
ディスク103上の一点には、石英ロッド105が埋め
込まれている。この石英ロッド105はオプチカルフア
ィバF,〜F船からの光を受光して回転ディスク103
の中心に導くものである。この光学スキャン菱贋100
は具体的には第5図の如く構成されている。第5図にお
いて、第3図と同一部分には同一符号が付されている。
すなわち、オプチカルフアイバF,〜F56は、ステー
タ107に埋め込まれた石英ロッド108に接続されて
おり、このステータ107は定位直に固定されている。
また、オプチカルファィバF,〜F56からの光を回転
ディスク103の中心に導く上記石英ロッド105は図
示の如く折曲部に反射プリズムP,Pを設け、光を折曲
させて伝送している。そして、ステータ107の中心に
は上記回転ディスク103の中心に位置する石英ロッド
105に対向するように石英ロッド109が埋め込まれ
、この石英ロッド109は光取り出し用のオブチカルフ
アイバ110が接続されている。このような構成として
、回転ディスク103を回転させれば、光取り出し用の
オプチカルフアィバ110には順次、銭片2の各点に対
応する放射ェネルギが走査伝達される。
また、回転ディスク103にはその回転基準位置を示す
マークMが付され、1回転毎に検出器Dによって検出す
ることにより、この信号を基準にして、走査される信号
に番号を付せば、銭片2の位置に走査出力を対応させる
ことができる。上記光取り出し用のオプチカルフアィバ
110からの走査出力は、光分岐器120によって2つ
の光に分岐し、それぞれ単波長入,、^2を透過するフ
ィル夕121,122によって光の中の波長入,、入2
のスペクトルを得ることができる。
マークMが付され、1回転毎に検出器Dによって検出す
ることにより、この信号を基準にして、走査される信号
に番号を付せば、銭片2の位置に走査出力を対応させる
ことができる。上記光取り出し用のオプチカルフアィバ
110からの走査出力は、光分岐器120によって2つ
の光に分岐し、それぞれ単波長入,、^2を透過するフ
ィル夕121,122によって光の中の波長入,、入2
のスペクトルを得ることができる。
この2つのスペクトルを光スイッチ123により交互に
光電変換器124に入れて、そのスペクトル比を演算す
る演算回路125によって、波長入,、入2から成る2
色温度信号S^を得ることができる。この光分岐器12
0から演算回路125までの動作は、一般の2色温度計
の原理に近年一般化した光装置を適用したものである。
そして、上記演算回路125からの2色温度信号S^は
展開回路128に入力される。一方、回転ディスク10
3に付されたマークMを検出する検出器Dからは、マー
クMを検出するごとに検出信号が出力され、この検出信
号はスタート検出器126に送られる。
光電変換器124に入れて、そのスペクトル比を演算す
る演算回路125によって、波長入,、入2から成る2
色温度信号S^を得ることができる。この光分岐器12
0から演算回路125までの動作は、一般の2色温度計
の原理に近年一般化した光装置を適用したものである。
そして、上記演算回路125からの2色温度信号S^は
展開回路128に入力される。一方、回転ディスク10
3に付されたマークMを検出する検出器Dからは、マー
クMを検出するごとに検出信号が出力され、この検出信
号はスタート検出器126に送られる。
スタート検出器126では検出器Dからのマーク検出信
号が入力される毎にスタート信号としてパルスを1発出
力してアドレス生成回路127に送る。このアドレス生
成回路127には同期モータ101からの回転パルスが
供給されており、これにより現在の走査位置を求め、ア
ドレス信号iが求められる。このアドレス信号iは上記
展開回路128に入力される。これにより展開回路12
8ではアドレス信号iを機軸に、上記演算回路125に
よって求められた2色温度信号S^を機軸にとって2次
元図表に展開する。第6図は上記展開回路128で展開
された2次元図表を示すもので、機軸はオプチカルフア
イバロツドFR,〜FR56に対応したアドレス、縦軸
は26温度信号S^であり、これにより、鏡片2のコー
ナを挟むセンサ1の3面の表面温度分布を監視すること
ができる。図中、C,.C2は銭片2のコーナ部で最も
冷却されている部分であり、その両側に凝固遅れによる
ピークが現われるので、この形状を指数化することによ
り、自動的にかつ良好に銭片2のコーナの凝固遅れを検
出する。そして、凝固遅れが検出されると、警報を出し
たり、引抜き速度を制御するなどの処理を行なうことに
よりブレークアウトを未然に防止できる。第7図は第6
図から得られる温度分布展開図であり、x,は銭片2の
長辺前面のコーナ側最大温度位置、均は短辺前面側コー
ナ、x3は短辺前面側最大温度位置、丸は短辺中央部最
小温度位贋、x5は短辺後面側最大温度位贋、x6は短
辺後面側コーナ、x7は長辺後面のコーナ側最大温度位
置を示ている。
号が入力される毎にスタート信号としてパルスを1発出
力してアドレス生成回路127に送る。このアドレス生
成回路127には同期モータ101からの回転パルスが
供給されており、これにより現在の走査位置を求め、ア
ドレス信号iが求められる。このアドレス信号iは上記
展開回路128に入力される。これにより展開回路12
8ではアドレス信号iを機軸に、上記演算回路125に
よって求められた2色温度信号S^を機軸にとって2次
元図表に展開する。第6図は上記展開回路128で展開
された2次元図表を示すもので、機軸はオプチカルフア
イバロツドFR,〜FR56に対応したアドレス、縦軸
は26温度信号S^であり、これにより、鏡片2のコー
ナを挟むセンサ1の3面の表面温度分布を監視すること
ができる。図中、C,.C2は銭片2のコーナ部で最も
冷却されている部分であり、その両側に凝固遅れによる
ピークが現われるので、この形状を指数化することによ
り、自動的にかつ良好に銭片2のコーナの凝固遅れを検
出する。そして、凝固遅れが検出されると、警報を出し
たり、引抜き速度を制御するなどの処理を行なうことに
よりブレークアウトを未然に防止できる。第7図は第6
図から得られる温度分布展開図であり、x,は銭片2の
長辺前面のコーナ側最大温度位置、均は短辺前面側コー
ナ、x3は短辺前面側最大温度位置、丸は短辺中央部最
小温度位贋、x5は短辺後面側最大温度位贋、x6は短
辺後面側コーナ、x7は長辺後面のコーナ側最大温度位
置を示ている。
これにより、次に示す各種指数C,〜C7を求める。C
,=(y,/y2)/(x2一×,) C2ニ(匁/牧)/(x3−×2) C3={沙4/(y3十y5)}/(×5一も)C4ニ
(y5/弥)/(×6一×5)Gニ(y7ノ松)/(×
7一×6) C6=(y,、蛇、y5、y7の最大値)/(地、y4
、y6の最小値)C7=C6と同位層 ただし、C,は長辺前面側コーナ凝固遅れ指数、C2は
短辺前面側コーナ凝固遅れ指数、C3は短辺バルジング
指数、C4は短辺後面側コーナ凝固遅れ指数、ちは長辺
後面側コーナ凝固遅れ指数である。
,=(y,/y2)/(x2一×,) C2ニ(匁/牧)/(x3−×2) C3={沙4/(y3十y5)}/(×5一も)C4ニ
(y5/弥)/(×6一×5)Gニ(y7ノ松)/(×
7一×6) C6=(y,、蛇、y5、y7の最大値)/(地、y4
、y6の最小値)C7=C6と同位層 ただし、C,は長辺前面側コーナ凝固遅れ指数、C2は
短辺前面側コーナ凝固遅れ指数、C3は短辺バルジング
指数、C4は短辺後面側コーナ凝固遅れ指数、ちは長辺
後面側コーナ凝固遅れ指数である。
なお、スキャン速度は0.6秒であるが、このスピード
は鋳造速度を3の/分としても銭片の長さで3仇舷毎に
サンプリングするものであるため、実用上十分であり、
データ処理上も1点当りlow sec以上あるため、
マイクロコンピュータで容易に機成し得る。このように
各点X,〜X7における光ヱネルギの相対的変化率を検
出することによって銭片の凝固遅れの程度をより高い精
度で良好に検出することができる。なお、上記実施例に
おいてはオブチカルフアイバを用いて、銭片表面からの
放射ェネルギの強度を銭片の各点に対応して走査するこ
とにより取り出すようにしたが、オプチカルフアイバで
なく、第8図に示すようにSi太陽電池アレイを用いて
も良い。
は鋳造速度を3の/分としても銭片の長さで3仇舷毎に
サンプリングするものであるため、実用上十分であり、
データ処理上も1点当りlow sec以上あるため、
マイクロコンピュータで容易に機成し得る。このように
各点X,〜X7における光ヱネルギの相対的変化率を検
出することによって銭片の凝固遅れの程度をより高い精
度で良好に検出することができる。なお、上記実施例に
おいてはオブチカルフアイバを用いて、銭片表面からの
放射ェネルギの強度を銭片の各点に対応して走査するこ
とにより取り出すようにしたが、オプチカルフアイバで
なく、第8図に示すようにSi太陽電池アレイを用いて
も良い。
第8図において、200はSi太陽電池アレイを用いた
センサ、201はSi太陽電池、202は走査回路、2
03は発振器、204は2次元展開回路である。この場
合は、太陽電池の合光感度によって銭片表面温度との対
応がつくが、一般にSi太陽電池は0.5〜1.1仏の
波長の光ェネルギにしか感じないため、単色温度計とし
ての特性を有している。この太陽電池を用いた場合のデ
ータの取扱いはオプチカルフアィバの場合と同様である
。この装置の特徴はオプチカルフアィバの場合と同様に
Si太陽電池アレイがきわめて薄く作れるため、冷却を
含めても15側程度(オプチカルフアイバの場合は2仇
廠程度)の厚さでセンサを絹立てることができることに
ある。以上説明したようにこの発明によれば、連続鋳造
の鋳片表面温度を監視するものにおいて、連続鋳造モル
ド出口部分における銭片の両端辺コーナを含む3面の表
面状況を監視するようにし、これによりモールド表面の
冷却によって生じる凝固シェル生成の異常を早期に発見
することができるとともに良好に検出でき、しかも鍵片
の両端辺コーナを含む3面を囲むセンサは2仇岬以下の
厚さとすることができ、センサの取付けが容易となる連
続鋳造の鰭片表面監視装置を提供できる。
センサ、201はSi太陽電池、202は走査回路、2
03は発振器、204は2次元展開回路である。この場
合は、太陽電池の合光感度によって銭片表面温度との対
応がつくが、一般にSi太陽電池は0.5〜1.1仏の
波長の光ェネルギにしか感じないため、単色温度計とし
ての特性を有している。この太陽電池を用いた場合のデ
ータの取扱いはオプチカルフアィバの場合と同様である
。この装置の特徴はオプチカルフアィバの場合と同様に
Si太陽電池アレイがきわめて薄く作れるため、冷却を
含めても15側程度(オプチカルフアイバの場合は2仇
廠程度)の厚さでセンサを絹立てることができることに
ある。以上説明したようにこの発明によれば、連続鋳造
の鋳片表面温度を監視するものにおいて、連続鋳造モル
ド出口部分における銭片の両端辺コーナを含む3面の表
面状況を監視するようにし、これによりモールド表面の
冷却によって生じる凝固シェル生成の異常を早期に発見
することができるとともに良好に検出でき、しかも鍵片
の両端辺コーナを含む3面を囲むセンサは2仇岬以下の
厚さとすることができ、センサの取付けが容易となる連
続鋳造の鰭片表面監視装置を提供できる。
第1図は連続鋳造による鍵片のシェル形成の遅れ部分を
説明するための図、第2図はこの発明装置が適用される
連続鋳造システムの概略構成図、第3図はこの発明の一
実施例の全対的な構成図、第4図は同実施例において使
用するオプチカルフアィバロッドの受光視野を示す図、
第5図は第3図で示した光学スキャン装置の詳細を示す
図、第6図は同実施例において展開回路で展開された2
次元図表を示す図、第7図は第6図から得られる温度分
布展開図、第8図はこの発明においてオプチカルフアィ
バの代わりにSi太陽電池アレイを用いた実施例の干鰯
略を示す図である。 1・・・・・・センサ、2・・・・・・鏡片、FR,〜
FR56・・・・・・オプチカルフアイバロツド、F,
〜F56……オプチカルフアィバ、100・・・・・・
光学スキャン装置、2oo・…・・Si太陽電池アレイ
。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図
説明するための図、第2図はこの発明装置が適用される
連続鋳造システムの概略構成図、第3図はこの発明の一
実施例の全対的な構成図、第4図は同実施例において使
用するオプチカルフアィバロッドの受光視野を示す図、
第5図は第3図で示した光学スキャン装置の詳細を示す
図、第6図は同実施例において展開回路で展開された2
次元図表を示す図、第7図は第6図から得られる温度分
布展開図、第8図はこの発明においてオプチカルフアィ
バの代わりにSi太陽電池アレイを用いた実施例の干鰯
略を示す図である。 1・・・・・・センサ、2・・・・・・鏡片、FR,〜
FR56・・・・・・オプチカルフアイバロツド、F,
〜F56……オプチカルフアィバ、100・・・・・・
光学スキャン装置、2oo・…・・Si太陽電池アレイ
。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図 第7図 第8図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 連続鋳造の鋳片表面温度を監視するものにおいて、
鋳片のコーナ部を含む3面をコの字状に挾むように形成
された巾狭なセンサ筐体と、先端面が上記鋳片に対向す
る如く上記センサ筐体にコ字状に一列に配置され順次走
査駆動されることにより鋳片表面のコーナ部近傍の各点
の温度を光エネルギとして取り出す手段と、この手段よ
り取り出された各点の光エネルギの相対的変化特性を分
析することにより鋳片のコーナ部に発生する凝固遅れの
程度を検出する手段とを具備したことを特徴とする連続
鋳造の鋳片表面監視装置。 2 上記鋳片表面の各点の温度を光エネルギとして取り
出す手段としてオプチカルフアイバを用いたことを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載の連続鋳造の鋳片表面
監視装置。 3 上記鋳片表面の各点の温度を光エネルギとして取り
出す手段として、太陽電池アレイを用たことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載の連続鋳造の鋳片表面監視
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55163848A JPS6010827B2 (ja) | 1980-11-20 | 1980-11-20 | 連続鋳造の鋳片表面監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP55163848A JPS6010827B2 (ja) | 1980-11-20 | 1980-11-20 | 連続鋳造の鋳片表面監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5788956A JPS5788956A (en) | 1982-06-03 |
| JPS6010827B2 true JPS6010827B2 (ja) | 1985-03-20 |
Family
ID=15781898
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP55163848A Expired JPS6010827B2 (ja) | 1980-11-20 | 1980-11-20 | 連続鋳造の鋳片表面監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6010827B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017032392A1 (en) * | 2015-08-21 | 2017-03-02 | Abb Schweiz Ag | A casting mold and a method for measuring temperature of a casting mold |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5725619B2 (ja) * | 1974-06-19 | 1982-05-31 | ||
| JPS52450A (en) * | 1975-06-23 | 1977-01-05 | Hitachi Ltd | Angle detector |
| JPS5736331Y2 (ja) * | 1976-10-08 | 1982-08-11 | ||
| JPS5584259A (en) * | 1978-12-21 | 1980-06-25 | Kawasaki Steel Corp | Preventing method of breakout of slab at continuous casting |
-
1980
- 1980-11-20 JP JP55163848A patent/JPS6010827B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5788956A (en) | 1982-06-03 |
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