JPS6013512B2 - 印鑑の照合装置 - Google Patents
印鑑の照合装置Info
- Publication number
- JPS6013512B2 JPS6013512B2 JP57071542A JP7154282A JPS6013512B2 JP S6013512 B2 JPS6013512 B2 JP S6013512B2 JP 57071542 A JP57071542 A JP 57071542A JP 7154282 A JP7154282 A JP 7154282A JP S6013512 B2 JPS6013512 B2 JP S6013512B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- seal imprint
- pattern
- inclination angle
- registered
- registered seal
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/20—Image preprocessing
- G06V10/24—Aligning, centring, orientation detection or correction of the image
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Collating Specific Patterns (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は機械により印鑑の照合を行なう照合装置に関す
るものである。
るものである。
(背景技術)
従来の印影の照合装置を第1図に示す。
第1図は、被検印影を謙取部1にて読み取った被照合印
影パターン2の中心点座標および傾斜角度をそれぞれ位
置検出部3および傾斜角検出部4にて検出し、一方登録
印影パターン5の中心点座標および傾斜角度を、それぞ
れ位置検出部6および煩斜角検出部7にて検出し、該検
出結果に応じて両印影パターン2および5の中心点と煩
斜角度とが互いに一致するように被照合印影パターン2
を位置整合部8により位置整合した後、一致判定部9に
て両印影パターンの一致あるいは不一致を判定する装置
である。ところで、位置検出の微小な誤差や懐斜角検出
の微小な誤差を補償するために、一致判定部9の出力を
位置整合部8にフィードバックして、位置および煩斜角
を徴調する操作を数回繰り返した後に被検印影の真偽を
判定する装置である。従って、この装置の場合、位置検
出部3と6および煩斜角検出部4と7の検出精度が低い
と、位置整合の徴調と一致判定とを繰り返す回数が多く
必要とされ、印鑑照合に要する時間が長くなってしまう
。
影パターン2の中心点座標および傾斜角度をそれぞれ位
置検出部3および傾斜角検出部4にて検出し、一方登録
印影パターン5の中心点座標および傾斜角度を、それぞ
れ位置検出部6および煩斜角検出部7にて検出し、該検
出結果に応じて両印影パターン2および5の中心点と煩
斜角度とが互いに一致するように被照合印影パターン2
を位置整合部8により位置整合した後、一致判定部9に
て両印影パターンの一致あるいは不一致を判定する装置
である。ところで、位置検出の微小な誤差や懐斜角検出
の微小な誤差を補償するために、一致判定部9の出力を
位置整合部8にフィードバックして、位置および煩斜角
を徴調する操作を数回繰り返した後に被検印影の真偽を
判定する装置である。従って、この装置の場合、位置検
出部3と6および煩斜角検出部4と7の検出精度が低い
と、位置整合の徴調と一致判定とを繰り返す回数が多く
必要とされ、印鑑照合に要する時間が長くなってしまう
。
ところで、位置検出の方法や傾斜角検出の方法には各々
いくつかの方法が考えられ、特に鏡斜角検出の方法は、
各検出方法の間にそれぞれ利害得失がある。
いくつかの方法が考えられ、特に鏡斜角検出の方法は、
各検出方法の間にそれぞれ利害得失がある。
というのは、例えば、印鑑には必らず外枠があることか
ら、外枠の外形特徴から煩斜角を検出できれば、複雑で
ある内部パターンを参照しなくてよいため簡略な処理が
可能となるのであるが、印鑑形状は一般に小判型、丸型
および角型の三種類があり、小判型と角型とは外形特徴
から傾斜角を検出することができるのに対して、丸型の
場合には外形特徴から煩斜角を検出することは不可能で
あり、内部パターンの内部特徴を参照する傾斜角検出方
法を採用せざるをえないといったことである。しかるに
従来装置においては、いかなる印影パターンに対しても
同一の傾斜角検出方法や位置検出方法を適用するために
、例えば丸型への適用を可能とするために、内部パター
ンの内部特徴を参照する傾斜角検出方法により4・判型
や角型の頭斜角をも検出するといった無駄や、印影形状
に応じて最適な傾斜角検出方法を探りえない場合が生ず
るため、特定印影の検出精度が低下するといった欠点が
あった。
ら、外枠の外形特徴から煩斜角を検出できれば、複雑で
ある内部パターンを参照しなくてよいため簡略な処理が
可能となるのであるが、印鑑形状は一般に小判型、丸型
および角型の三種類があり、小判型と角型とは外形特徴
から傾斜角を検出することができるのに対して、丸型の
場合には外形特徴から煩斜角を検出することは不可能で
あり、内部パターンの内部特徴を参照する傾斜角検出方
法を採用せざるをえないといったことである。しかるに
従来装置においては、いかなる印影パターンに対しても
同一の傾斜角検出方法や位置検出方法を適用するために
、例えば丸型への適用を可能とするために、内部パター
ンの内部特徴を参照する傾斜角検出方法により4・判型
や角型の頭斜角をも検出するといった無駄や、印影形状
に応じて最適な傾斜角検出方法を探りえない場合が生ず
るため、特定印影の検出精度が低下するといった欠点が
あった。
(発明の課題)
本発明の目的はこれらの欠点を除去するため、登録印影
パターンを登録する際に登録印影ラベルとして、位置や
懐斜角などの各種特徴を検出する際の最適検出法を指示
する印影パターン情報をも同時に登録しておき、印鑑照
合を行なう際には登録印影ラベルを参照することにより
、その印影にとって最適な検出法を適用することができ
るようにしたものであり以下詳細に説明する。
パターンを登録する際に登録印影ラベルとして、位置や
懐斜角などの各種特徴を検出する際の最適検出法を指示
する印影パターン情報をも同時に登録しておき、印鑑照
合を行なう際には登録印影ラベルを参照することにより
、その印影にとって最適な検出法を適用することができ
るようにしたものであり以下詳細に説明する。
(発明の構成および作用)
第2図は本発明の第1の実施例であって、30は被照合
印影パターンの中心点座標などの位置を検出する位置検
出部、40は被照合印影パターンの傾斜角を検出する傾
斜角検出部、60は登録印影パターンの中心点座標など
の位置を検出する位置検出部、7川ま登録印影パターン
の煩斜角を検出する懐斜角検出部、100は登録印影パ
ターンを登録する際に付加しておいた登録印影ラベルで
あり、第1図と同一部分については同一符号を付し説明
を省略する。
印影パターンの中心点座標などの位置を検出する位置検
出部、40は被照合印影パターンの傾斜角を検出する傾
斜角検出部、60は登録印影パターンの中心点座標など
の位置を検出する位置検出部、7川ま登録印影パターン
の煩斜角を検出する懐斜角検出部、100は登録印影パ
ターンを登録する際に付加しておいた登録印影ラベルで
あり、第1図と同一部分については同一符号を付し説明
を省略する。
煩斜角検出方法のうち、代表的なもの4種につき以下に
説明する。
説明する。
【1ー 本出願人が既に出願した袴欧昭56−1594
67(樽関昭58一62767)には、パターンの輪郭
線を追跡しつつ直線近似を行ない、パターンの角や直線
部や円弧部などを抽出してパターン形状を識別すると共
に煩斜角を検出する方法につき言及されており、パター
ンの輪郭点のみしか参照しないため処理時間の速い簡略
な方法であり、角型印影の傾斜角検出には最適な方法の
一つである。
67(樽関昭58一62767)には、パターンの輪郭
線を追跡しつつ直線近似を行ない、パターンの角や直線
部や円弧部などを抽出してパターン形状を識別すると共
に煩斜角を検出する方法につき言及されており、パター
ンの輪郭点のみしか参照しないため処理時間の速い簡略
な方法であり、角型印影の傾斜角検出には最適な方法の
一つである。
但し、丸型印影には適していない。〔以後輪郭追跡法と
略称する〕。【21 本出願人が既に出願した特願昭5
6‐205114(特関昭斑−106662)には印影
パターンの文字と文字との間や、文字列と文字列との間
にある間隙(以後、見通し線と略称する)を検出し、見
通し線の傾斜角をもつて印影パターンの傾斜角とする方
法につき言及されており、パターンの内部特徴まで参照
する割には、抽出特徴が単純なものであるため処理も比
較的簡略である上、大半の印影パターンに適用可能であ
るから好適な方法ではあるが、外形特徴のみにて検出し
うる角型印影にとっては、処理の簡略さという点からこ
の方法よりも前記輪郭追跡法の方がより適していると言
えよう。
略称する〕。【21 本出願人が既に出願した特願昭5
6‐205114(特関昭斑−106662)には印影
パターンの文字と文字との間や、文字列と文字列との間
にある間隙(以後、見通し線と略称する)を検出し、見
通し線の傾斜角をもつて印影パターンの傾斜角とする方
法につき言及されており、パターンの内部特徴まで参照
する割には、抽出特徴が単純なものであるため処理も比
較的簡略である上、大半の印影パターンに適用可能であ
るから好適な方法ではあるが、外形特徴のみにて検出し
うる角型印影にとっては、処理の簡略さという点からこ
の方法よりも前記輪郭追跡法の方がより適していると言
えよう。
そこでこの方法は丸型印影に最適な方法の一つであると
言える。ただし、内部文字の配列によっては、例えば「
佐佐木」などの三文字を縦−列に配置されている場合な
ど中心点付近に見通し線を検出することができないため
、見通し線を検出するための基準点を、中心点付近に初
期設定すると、見通し線を検出するまでに多数回の試行
錯誤を必要とするため基準点の初期設定位置あるいは基
準点の移動方法に関して若干の違いを設けることが望ま
しい。そこで基準点の移動範囲を×,Y両鞠問に各々士
2メッシュ程度と狭く設定したもの〔以後空隙直線法1
と略称する〕とXY両軸方向に各々外枠寸法の土1/4
程度と広く設定したもの〔以後空隙直線法2と略称する
〕との2方法に分割する。{31印影の文字パターンは
一般に水平方向あるいは垂直方向の線分が多いことに着
目し、基準点から放射線を周囲全方向にわたって例えば
lo刻みに放射し、該放射線上に存在するパターン線分
のうち最長のものを抽出するという操作を、基準点を移
動させつつ行ない、全処理手順中での最長線分の煩斜角
からパターンの煩斜角を得るという方法であり、外枠を
取り除き内部文字パターンだけを取りだしたパターンに
適用する場合には、かなり良好な方法であるが外枠を含
めたパターンに適用すると、外枠部分から最長線分を検
出してしまう場合があり、その場合には外枠を除去する
必要が生じ処理が複雑となり、あまり適用範囲の広い方
法とは言えないが、丸型でかつ1文字しか文字のない印
影など見通し線のない印影パターンの場合には、この方
法を使うのが適当であるということになる。
言える。ただし、内部文字の配列によっては、例えば「
佐佐木」などの三文字を縦−列に配置されている場合な
ど中心点付近に見通し線を検出することができないため
、見通し線を検出するための基準点を、中心点付近に初
期設定すると、見通し線を検出するまでに多数回の試行
錯誤を必要とするため基準点の初期設定位置あるいは基
準点の移動方法に関して若干の違いを設けることが望ま
しい。そこで基準点の移動範囲を×,Y両鞠問に各々士
2メッシュ程度と狭く設定したもの〔以後空隙直線法1
と略称する〕とXY両軸方向に各々外枠寸法の土1/4
程度と広く設定したもの〔以後空隙直線法2と略称する
〕との2方法に分割する。{31印影の文字パターンは
一般に水平方向あるいは垂直方向の線分が多いことに着
目し、基準点から放射線を周囲全方向にわたって例えば
lo刻みに放射し、該放射線上に存在するパターン線分
のうち最長のものを抽出するという操作を、基準点を移
動させつつ行ない、全処理手順中での最長線分の煩斜角
からパターンの煩斜角を得るという方法であり、外枠を
取り除き内部文字パターンだけを取りだしたパターンに
適用する場合には、かなり良好な方法であるが外枠を含
めたパターンに適用すると、外枠部分から最長線分を検
出してしまう場合があり、その場合には外枠を除去する
必要が生じ処理が複雑となり、あまり適用範囲の広い方
法とは言えないが、丸型でかつ1文字しか文字のない印
影など見通し線のない印影パターンの場合には、この方
法を使うのが適当であるということになる。
〔以後連続直線法と略称する〕。【41 基準点から放
射線を周囲全方向にわたって例えば10刻みに放射し、
該放射線上に存在するパターン・ドットの両端(両外殻
)の点の間隔を検出するという操作を、基準点を移動さ
せつつ行ない、全処理手順を通じての最大値を与えた時
の放射線の傾斜角から楕円などの煩斜角を得るという方
法であり、長さの異なる長鞠と短軸とを有する小判型印
影に最適な方法の一つであると言える。
射線を周囲全方向にわたって例えば10刻みに放射し、
該放射線上に存在するパターン・ドットの両端(両外殻
)の点の間隔を検出するという操作を、基準点を移動さ
せつつ行ない、全処理手順を通じての最大値を与えた時
の放射線の傾斜角から楕円などの煩斜角を得るという方
法であり、長さの異なる長鞠と短軸とを有する小判型印
影に最適な方法の一つであると言える。
〔以後、最外殻点間距離法と略称する〕。以上より、各
種印影パターンに最適な傾斜角検出方法を組みあわせる
と、例えば次のような組み合わせ方法が得られる。
種印影パターンに最適な傾斜角検出方法を組みあわせる
と、例えば次のような組み合わせ方法が得られる。
角型印影・・・・・・輪郭追跡法
小判型印影・・・・・・最外殻点間距離法見通し線が中
心付近にある丸型印影・・・・・・空隙直線法1見通し
線はあるが中心付近にはない丸型印影・・・・・・空隙
直線法2見通し線のない丸型印影・・・・・・連続直線
法よって、登録印影パターンの登録時に例えばオペレー
タが鍵盤等から、【1}印影形状の丸型/角型/小判型
の別、■見通し線の有無、‘3’見通し線が中心付近に
有るか否かなどのラベルを対応する数字あるいは記号な
りあるいは対応するコードなりにて入力しておき、照合
時に該登録印影ラベル100を読みだし、その読みだし
結果に応じて、第3図に示した判断手順により、懐斜角
検出部40および70に使用すべき額斜角検出方法を指
示するため、印影パターンに応じた最適検出方法を使用
することができる。
心付近にある丸型印影・・・・・・空隙直線法1見通し
線はあるが中心付近にはない丸型印影・・・・・・空隙
直線法2見通し線のない丸型印影・・・・・・連続直線
法よって、登録印影パターンの登録時に例えばオペレー
タが鍵盤等から、【1}印影形状の丸型/角型/小判型
の別、■見通し線の有無、‘3’見通し線が中心付近に
有るか否かなどのラベルを対応する数字あるいは記号な
りあるいは対応するコードなりにて入力しておき、照合
時に該登録印影ラベル100を読みだし、その読みだし
結果に応じて、第3図に示した判断手順により、懐斜角
検出部40および70に使用すべき額斜角検出方法を指
示するため、印影パターンに応じた最適検出方法を使用
することができる。
また中心点座標などの位置検出法にも、各方法それぞれ
の利害得失がある。
の利害得失がある。
例えば印影外枠に外接する正方形あるいは長方形の中心
点を算出する方法は極めて処理が簡単でありかつ、正確
であるが、押捺不良に起因する外枠のカスレなどがある
とそれがそのまま検出誤差に反映されてしまう。そこで
外枠のカスレがある場合には全パターン内黒点の亀○を
算出して中心点を決定した方が、処理はやや複雑になる
が精度は向上するといったことである。そこで登録印影
ラベル100に、外枠のカスレの有無をも記録しておけ
ば、位置検出方法をも、該当印影パターンに通した方法
をとるようにすることができる。
点を算出する方法は極めて処理が簡単でありかつ、正確
であるが、押捺不良に起因する外枠のカスレなどがある
とそれがそのまま検出誤差に反映されてしまう。そこで
外枠のカスレがある場合には全パターン内黒点の亀○を
算出して中心点を決定した方が、処理はやや複雑になる
が精度は向上するといったことである。そこで登録印影
ラベル100に、外枠のカスレの有無をも記録しておけ
ば、位置検出方法をも、該当印影パターンに通した方法
をとるようにすることができる。
なお本発明は、登録印影ラベルに応じて各種検出法を選
択するわけであるから、登録印影の見通し線が中心付近
にある丸型印影の場合には空隙直線法1によって頚斜角
を検出することになる。
択するわけであるから、登録印影の見通し線が中心付近
にある丸型印影の場合には空隙直線法1によって頚斜角
を検出することになる。
ところで被照合印影には見通し線がなかったとすると空
隙直線法1では傾斜角検出に狂いを生ずることになる。
しかしながら、印鑑照合の場合、登録印影と型の異なる
被照合印影は、不一致と判定するのが当然なのであるか
ら、元々型の違う印影である場合に被照合印影の傾斜角
検出が狂っても一向にさしつかえはないわけである。以
上説明したように、第1の実施例では、登録印影ラベル
の情報に応じて、登録印影パターンに最適な傾斜角や位
置などの特徴検出法を用いることができるため、精度の
高い位置整合が可能であるという利点がある。
隙直線法1では傾斜角検出に狂いを生ずることになる。
しかしながら、印鑑照合の場合、登録印影と型の異なる
被照合印影は、不一致と判定するのが当然なのであるか
ら、元々型の違う印影である場合に被照合印影の傾斜角
検出が狂っても一向にさしつかえはないわけである。以
上説明したように、第1の実施例では、登録印影ラベル
の情報に応じて、登録印影パターンに最適な傾斜角や位
置などの特徴検出法を用いることができるため、精度の
高い位置整合が可能であるという利点がある。
なお登録印影パターンの登録時にオペレータが行なうべ
き作業がふえることになるが、登録時は一般にオペレー
タが何らかの作業をするために介在する場合が多い上、
登録印影ラベルは印影形状などオペレータが一目みてわ
かるような種類の情報だけであるから大した手間にはな
らず、照合精度の向上や、ひいては位置整合の精度が高
いわけであるから、位置整合の微調と一致判定を繰り返
す回数が大幅に低減して照合に要する時間が短縮される
という効果は、前記した手間の増加とは比較にならない
ほど絶大な利点である。
き作業がふえることになるが、登録時は一般にオペレー
タが何らかの作業をするために介在する場合が多い上、
登録印影ラベルは印影形状などオペレータが一目みてわ
かるような種類の情報だけであるから大した手間にはな
らず、照合精度の向上や、ひいては位置整合の精度が高
いわけであるから、位置整合の微調と一致判定を繰り返
す回数が大幅に低減して照合に要する時間が短縮される
という効果は、前記した手間の増加とは比較にならない
ほど絶大な利点である。
第1の実施例は、蟻斜角検出法と位置検出法とを登録印
影ラベルに応じて選択する装置につき説明したが、印影
の大中小あるいは寸法や内部の文字数などをも登録印影
ラベルに追加して、より精度の高い位置整合や一致判定
に利用することもできる。
影ラベルに応じて選択する装置につき説明したが、印影
の大中小あるいは寸法や内部の文字数などをも登録印影
ラベルに追加して、より精度の高い位置整合や一致判定
に利用することもできる。
第1の実施例は登録印影パターンと被照合印影パターン
との位置整合をとるために被照合印影パターンを移動・
回転する装置につき説明したが、両印影パターンの相対
的な位置整合がとれればよいわけであるから、登録印影
パターンを移動・回転する装置でも同様の効果が生じる
。
との位置整合をとるために被照合印影パターンを移動・
回転する装置につき説明したが、両印影パターンの相対
的な位置整合がとれればよいわけであるから、登録印影
パターンを移動・回転する装置でも同様の効果が生じる
。
(発明の効果)
本発明は、登録印影ラベルに応じて、照合すべき印影に
最適な特徴検出法を使用しうるので位置整合の精度が高
く、一致判定に要する時間が短縮されるという利点があ
り、図形の照合装置特に印鑑の照合装置に利用すること
ができる。
最適な特徴検出法を使用しうるので位置整合の精度が高
く、一致判定に要する時間が短縮されるという利点があ
り、図形の照合装置特に印鑑の照合装置に利用すること
ができる。
第1図は従来の印鑑の照合装置のブロック図、第2図は
本発明の一実施例のブロック図、第3図は本発明の一実
施例における最適傾斜角検出方法選択のためのフローチ
ャートである。 1・・・・・・読取部、2・・・・・・被照合印影パタ
ーン、3・・・・・・位置検出部、4・・・・・・懐斜
角検出部、5・…・・登録印影パターン、6・・・・・
・位置検出部、7・・・・・・頃斜角検出部、8・・・
・・・位置整合部、9・・・・・・一致判定部、30…
…位置検出部、40……傾斜角検出部、60……位置検
出部、70……傾斜角検出部、100・…・・登録印影
ラベル。 ゑノ図 第2四 節3図
本発明の一実施例のブロック図、第3図は本発明の一実
施例における最適傾斜角検出方法選択のためのフローチ
ャートである。 1・・・・・・読取部、2・・・・・・被照合印影パタ
ーン、3・・・・・・位置検出部、4・・・・・・懐斜
角検出部、5・…・・登録印影パターン、6・・・・・
・位置検出部、7・・・・・・頃斜角検出部、8・・・
・・・位置整合部、9・・・・・・一致判定部、30…
…位置検出部、40……傾斜角検出部、60……位置検
出部、70……傾斜角検出部、100・…・・登録印影
ラベル。 ゑノ図 第2四 節3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 登録印影パターンを記憶する手段と、 各登録印影
パターン毎の付加情報を有する登録印影ラベルを記憶す
る手段と、 被照合印影を読取る読取部と、 読取部に読取られた被照合印影パターンおよび登録印
影パターンのそれぞれから前記登録印影ラベルに従って
定まる所定の検出法に従って位置および傾斜角を検出す
る位置検出部および傾斜角検出部と、 前記位置検出部
および傾斜角検出部の検出結果に応じて登録印影パター
ンと被照合印影パターンとの位置を整合する位置整合部
と、 位置整合された両印影パターンを比較して一致ま
たは不一致の判定を行なうと共に必要により前記位置整
合部の再調整を指示する一致判定部とを有し、 前記登
録印影ラベルは、位置及び傾斜角をふくむ各種特徴のう
ち傾斜角を含む少なくとも一種以上を検出する際の最適
な検出法を指示するに十分な登録印影パターン情報を各
登録印影パターン毎に含み、 前記位置検出部および傾
斜角検出部は該登録印影パターン情報の内容に応じた最
適な検出法を選択するごとく構成されることを特徴とす
る印鑑の照合装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57071542A JPS6013512B2 (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | 印鑑の照合装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57071542A JPS6013512B2 (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | 印鑑の照合装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58189776A JPS58189776A (ja) | 1983-11-05 |
| JPS6013512B2 true JPS6013512B2 (ja) | 1985-04-08 |
Family
ID=13463728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57071542A Expired JPS6013512B2 (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | 印鑑の照合装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6013512B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61194415A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-28 | Ricoh Co Ltd | 光学装置 |
-
1982
- 1982-04-30 JP JP57071542A patent/JPS6013512B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61194415A (ja) * | 1985-02-22 | 1986-08-28 | Ricoh Co Ltd | 光学装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58189776A (ja) | 1983-11-05 |
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