JPS60140306A - 広視野測距カメラ - Google Patents
広視野測距カメラInfo
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- JPS60140306A JPS60140306A JP24590283A JP24590283A JPS60140306A JP S60140306 A JPS60140306 A JP S60140306A JP 24590283 A JP24590283 A JP 24590283A JP 24590283 A JP24590283 A JP 24590283A JP S60140306 A JPS60140306 A JP S60140306A
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- light
- distance measurement
- signal
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- light emitting
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は投光素子から被写体に向けて投光された光の被
写体による反射光を一定基線長だけ離れた受光素子によ
り検出して被写体までの距離を測定して撮影レンズを躯
動するいわゆるアクティブタイプのオートフォーカス機
構（以下ＡＦ［構と称す）を有するカメラに関する。特
に測距範囲を広くした広視野測距ＡＦ右カメラ関する。
写体による反射光を一定基線長だけ離れた受光素子によ
り検出して被写体までの距離を測定して撮影レンズを躯
動するいわゆるアクティブタイプのオートフォーカス機
構（以下ＡＦ［構と称す）を有するカメラに関する。特
に測距範囲を広くした広視野測距ＡＦ右カメラ関する。
従来のアクティブタイプのＡＰ機構は第１図に示すよう
に投光レンズｌを受光レンズ２を基線長距ａＬだけ離し
て配置し、それぞれの焦点位曾に投光素子３（例えばＩ
ＲＥＩ） ）及び受光素子４（例えば光半導体装置横用
索子Ｒ８Ｄ）を設けて−る射光が戻ってくるが投光軸上
にない被写体、例えばＭ１図における被写体５ａ、５ｂ
には投光素子３の光が投光されず測距が行えながった。
に投光レンズｌを受光レンズ２を基線長距ａＬだけ離し
て配置し、それぞれの焦点位曾に投光素子３（例えばＩ
ＲＥＩ） ）及び受光素子４（例えば光半導体装置横用
索子Ｒ８Ｄ）を設けて−る射光が戻ってくるが投光軸上
にない被写体、例えばＭ１図における被写体５ａ、５ｂ
には投光素子３の光が投光されず測距が行えながった。
従って、第２図に示す如くカメラのファインダ６体を測
距視野マーク７に合わせて撮影を行うことによ如測距失
敗を防いで−な。
距視野マーク７に合わせて撮影を行うことによ如測距失
敗を防いで−な。
しかしながら上述の方法では撮影に際して主被写体を必
ずファインダ６内の測距視野マーク７に合わせなければ
ならないため画面構成上制約が大きく撮影者が自由に画
面構成を行い撮影することができなかった〇 このため従来のカメラにおいてはまず主被写体をカメラ
のファインダ６の測距視野マーク７に合わせてシャッタ
ーボタンの第１ストロークを押圧することによシ測距を
行ψ、第１ストロークを押圧したまま力メシのｔ句きを
変えることにょ多自由に画面構成を変えその１１シヤツ
ターボタンの第２ストロークを押圧して撮影を行なうよ
うにしたシ、あるいはカメラをセルフモードにしてシャ
ッターボタンを第２ストロークまで押し込んだときに、
測距を行うようにしてセルフタイムｄ１時中にカメラの
同きを変え自由に画面構成を変えて撮１を行うことによ
シ周面構成の制約を解消していた。
ずファインダ６内の測距視野マーク７に合わせなければ
ならないため画面構成上制約が大きく撮影者が自由に画
面構成を行い撮影することができなかった〇 このため従来のカメラにおいてはまず主被写体をカメラ
のファインダ６の測距視野マーク７に合わせてシャッタ
ーボタンの第１ストロークを押圧することによシ測距を
行ψ、第１ストロークを押圧したまま力メシのｔ句きを
変えることにょ多自由に画面構成を変えその１１シヤツ
ターボタンの第２ストロークを押圧して撮影を行なうよ
うにしたシ、あるいはカメラをセルフモードにしてシャ
ッターボタンを第２ストロークまで押し込んだときに、
測距を行うようにしてセルフタイムｄ１時中にカメラの
同きを変え自由に画面構成を変えて撮１を行うことによ
シ周面構成の制約を解消していた。
しかしながら、これらの方法ではシャッターボタンの第
１ストロークを押托して力・ら、レリーズボタンをその
状態に保持し続けているため非宮に操作がわずられしい
ばかりか、撮影に際してもレリーズボタンの縞２ストロ
ークまで押し込んで撮影を実際に行うまで時間がかかる
という欠点もあった０ これら上述の点に鑑みて投光素子から投光されて被写体
からのその反射光を受ける受光素子を有し、この受光素
子に入射した反射光の受光素子上での入射位置に応じて
被写棒筐での距離を検ｔＢする自動合焦装置において、
投光素子からの光束を機械的に走査することにより受光
素子から複数の距離情報を得て、このうち１つを選択す
るようにしたいわゆる広視野？１１１距を行う技術が本
山願人により特願昭５８−９’ｉ’１６１として提案さ
れている。しかしながら、前述の技術においては機械的
に走査を行うため構成が複雑になるばかシが経年変化ｔ
（よｐカタが生じたりして′Ｍ度が低下することがある
という欠点があった。
１ストロークを押托して力・ら、レリーズボタンをその
状態に保持し続けているため非宮に操作がわずられしい
ばかりか、撮影に際してもレリーズボタンの縞２ストロ
ークまで押し込んで撮影を実際に行うまで時間がかかる
という欠点もあった０ これら上述の点に鑑みて投光素子から投光されて被写体
からのその反射光を受ける受光素子を有し、この受光素
子に入射した反射光の受光素子上での入射位置に応じて
被写棒筐での距離を検ｔＢする自動合焦装置において、
投光素子からの光束を機械的に走査することにより受光
素子から複数の距離情報を得て、このうち１つを選択す
るようにしたいわゆる広視野？１１１距を行う技術が本
山願人により特願昭５８−９’ｉ’１６１として提案さ
れている。しかしながら、前述の技術においては機械的
に走査を行うため構成が複雑になるばかシが経年変化ｔ
（よｐカタが生じたりして′Ｍ度が低下することがある
という欠点があった。
本発明はこの点に鑑み可動部のない構成により広視！７
ＮＩｌ距を実現することを目的とする。
ＮＩｌ距を実現することを目的とする。
以下回向を用いて本発明を旺述する。
第３図は本発明の一実施例の広視野測距カメラの投受光
系の原理を示す原理図である。第３図において１．２．
３．４．５は同一基板上に形成された発光素子で発光素
子アレイ６を構成している。
系の原理を示す原理図である。第３図において１．２．
３．４．５は同一基板上に形成された発光素子で発光素
子アレイ６を構成している。
９は発光素子アレイの光を集光して被写体に投光する投
光レンズ、１１は前記投光光とは基線長りだけ離れた受
光レンズ被写体からの反射光を後述のＰｓｉ）１２上に
集光させる。１２は前記Ｐ Ｓ Ｉ）で、被写体が距離
１３１の位置にあるとき発光素子ｌから投光された光線
はＰＳＤＩ２のＡの部分に受光され、発光素子２から投
光された光線はＰｓｉ）１２のＢの部分に受光され、発
光素子３から投光された光線はＰＳＤ１２０Ｃの部分に
受光さｎ１発光素子４から投光された光線はＰｓｉ）１
２のＤの部分に受光さｎ１発光素子５から投光された光
線はＰＳＤＩ２０Ｅの部分に受光される。同様にして被
写体距離が０１．盪ノ２．１）３、Ｄ４の位Ｕにあると
きのそれぞれの発光素子とＰ Ｓ １）の投受光位置の
関係は第４図に示される。すなわち本発明においてはど
の発光素子が発光したかを検出し、更にＰ Ｓ Ｄのど
の位置に該発光素子の反射光が入射したかを検出するこ
とにより被写ｆ４−距離を検出することができる。
光レンズ、１１は前記投光光とは基線長りだけ離れた受
光レンズ被写体からの反射光を後述のＰｓｉ）１２上に
集光させる。１２は前記Ｐ Ｓ Ｉ）で、被写体が距離
１３１の位置にあるとき発光素子ｌから投光された光線
はＰＳＤＩ２のＡの部分に受光され、発光素子２から投
光された光線はＰｓｉ）１２のＢの部分に受光され、発
光素子３から投光された光線はＰＳＤ１２０Ｃの部分に
受光さｎ１発光素子４から投光された光線はＰｓｉ）１
２のＤの部分に受光さｎ１発光素子５から投光された光
線はＰＳＤＩ２０Ｅの部分に受光される。同様にして被
写体距離が０１．盪ノ２．１）３、Ｄ４の位Ｕにあると
きのそれぞれの発光素子とＰ Ｓ １）の投受光位置の
関係は第４図に示される。すなわち本発明においてはど
の発光素子が発光したかを検出し、更にＰ Ｓ Ｄのど
の位置に該発光素子の反射光が入射したかを検出するこ
とにより被写ｆ４−距離を検出することができる。
以上のように、発光素１〜５を別々に点滅させることに
よシ、第３図に示されるように被写体がＤｌの距離にあ
ればα、からβ１によって示はれる区間による被写体の
測距が行え、同様に被写体が−Ｄ２の距離にあればα、
がらβ！、Ｄ３の距離にあれば６Ｍからβ３、Ｄ４の距
朧にあればα４から／ｊ４にょシ示される区間にある被
写体の測距を行うことができ第１図に示す従来の方法に
比して広範囲の測距を行うことができる。
よシ、第３図に示されるように被写体がＤｌの距離にあ
ればα、からβ１によって示はれる区間による被写体の
測距が行え、同様に被写体が−Ｄ２の距離にあればα、
がらβ！、Ｄ３の距離にあれば６Ｍからβ３、Ｄ４の距
朧にあればα４から／ｊ４にょシ示される区間にある被
写体の測距を行うことができ第１図に示す従来の方法に
比して広範囲の測距を行うことができる。
第５図は本発明の一実施例の回路ブロック図である。
第５ 図Ｋ ！ａイ１．１２ ！ｄｉ１５ Ｐ Ｓ ｌ
）、１３１ｄＰＳＤ１２０）２つのｆｄ号−子よ多出力
さ１”Ｌ；６′＃ｄＪ流Ｉａ、 ＩｂからＰＳＤＩ ２
のどの位置に反射光が入射したかを検出する受光位置検
出回路、２７は前記発光素子アレイ６を駆鯛するための
発光素子駆動回路、４７は受光位置検出回路１３から出
力された受光位置悟号を測距信号に変換する測距信号変
換回路、１０７は硬敗の測距信号から最適な測距信号を
〜るための測距信号変換回路、１０９は測距制御回路で
ある。
）、１３１ｄＰＳＤ１２０）２つのｆｄ号−子よ多出力
さ１”Ｌ；６′＃ｄＪ流Ｉａ、 ＩｂからＰＳＤＩ ２
のどの位置に反射光が入射したかを検出する受光位置検
出回路、２７は前記発光素子アレイ６を駆鯛するための
発光素子駆動回路、４７は受光位置検出回路１３から出
力された受光位置悟号を測距信号に変換する測距信号変
換回路、１０７は硬敗の測距信号から最適な測距信号を
〜るための測距信号変換回路、１０９は測距制御回路で
ある。
次に各ブロックで示された回路を第６図から第１５図を
用いて説明する。
用いて説明する。
第６図は第５図で示した受光位置検出回路１３の構成を
示すブロック図である。第６図において、１５け特開昭
５８−８７５４３号公報に開示される如きプリアンプ、
バッファ回路、加算器、猷算器、減算器から構成される
回路でＰＳＤ１２０２つの出力電流１ａ、Ｉｂの信号を
電圧信号Ｖａ、Ｖｂに変換し、信号線２１にＰＳＤの反
射光の入射位置に相１心した電圧（Ｖａ−Ｖｂ）／（Ｖ
ａ＋Ｖｂ）’ｒ出力する信号処理回路、１７はＡ／Ｄ変
換器で信号部ｍＩＥＪＩｌｂ １５ ノ出力１ｍ圧（Ｖ
ａ−Ｖｂ）／（Ｖａ十Ｖｂ）を３ｂｉｔのデジタル情報
にＡ／Ｄ変換してｆｄ＠線２３．２４．２５に出力する
。尚、ＰＳＤＩ ２への入射光の入射位置と信号線２３
，２４．２５にＡ／Ｄ変換器１７から出力される信号の
対Ｉｂは第７図の様に設定される。
示すブロック図である。第６図において、１５け特開昭
５８−８７５４３号公報に開示される如きプリアンプ、
バッファ回路、加算器、猷算器、減算器から構成される
回路でＰＳＤ１２０２つの出力電流１ａ、Ｉｂの信号を
電圧信号Ｖａ、Ｖｂに変換し、信号線２１にＰＳＤの反
射光の入射位置に相１心した電圧（Ｖａ−Ｖｂ）／（Ｖ
ａ＋Ｖｂ）’ｒ出力する信号処理回路、１７はＡ／Ｄ変
換器で信号部ｍＩＥＪＩｌｂ １５ ノ出力１ｍ圧（Ｖ
ａ−Ｖｂ）／（Ｖａ十Ｖｂ）を３ｂｉｔのデジタル情報
にＡ／Ｄ変換してｆｄ＠線２３．２４．２５に出力する
。尚、ＰＳＤＩ ２への入射光の入射位置と信号線２３
，２４．２５にＡ／Ｄ変換器１７から出力される信号の
対Ｉｂは第７図の様に設定される。
第８図は測距制御回路１０９の構成を示す回路図である
。第８図において１１］から１１６はＤ形の７リクプ７
０ツブ（以下Ｄ−ＦＦと称す）でシフトレジスタを構成
し、１１１，１１２，１１３，１１４゜１１５のＤ −
Ｆ ）’の出力Ｑはそれぞれ信号１Ｍ４１，４２４３
、４４ 、４５として出力される。
。第８図において１１］から１１６はＤ形の７リクプ７
０ツブ（以下Ｄ−ＦＦと称す）でシフトレジスタを構成
し、１１１，１１２，１１３，１１４゜１１５のＤ −
Ｆ ）’の出力Ｑはそれぞれ信号１Ｍ４１，４２４３
、４４ 、４５として出力される。
１１７はＮＯＲゲートで、Ｄ−ＦＦＩＩＩから１１６の
出力Ｑの信号がすべてＬレベルのときＨレベルの信号を
１）−ＦＦＩＩＩの入力りに与える。１１９はカウンタ
で、基準クロックＣＰをクロック人力としており端子Ｑ
、 、 Ｑ、 、 Ｑ、にはそれぞれの基準クロックＣ
Ｐをｚｇ 、 ２３ 、２４分周した信号が出力される
。１２１はアンドゲートで、Ｄ−ＦＦ１１６の出力Ｑと
カウンタ１１９の出力Ｑ４を入力としてお夛、Ｄ−ＦＦ
１１６の出力ＱがＨレベルの期間カウンタ１１９の出力
Ｑ４をシフトレジスタのクロックとして出力する。１２
３はアンドゲートで、カウンタ１１９の出力Ｑ、 、
Ｑ３とインバータ１２５の出力を入力としている。カウ
ンタ１１９とＤ−ＦＦのすべては不図示のパワーアップ
クリア回路によシリセットされるため通電開始時ＦＦの
出力ＱはすべてＬレベルになる。ここで第９図により第
８図の測距制御回路１０９の動作は説明される。尚、第
９図は第８図に示す測距側（ａｌ１ｇｌ路１０９のタイ
ムチャートである。第９図においてＱｔ ｒ Ｑｓ ｔ
Ｑ４１４１ ｔ４２．４３，４４，４５．７５はそれ
ぞれ第８図に示す回路において同じ符号を付した箇所の
出口波形である。
出力Ｑの信号がすべてＬレベルのときＨレベルの信号を
１）−ＦＦＩＩＩの入力りに与える。１１９はカウンタ
で、基準クロックＣＰをクロック人力としており端子Ｑ
、 、 Ｑ、 、 Ｑ、にはそれぞれの基準クロックＣ
Ｐをｚｇ 、 ２３ 、２４分周した信号が出力される
。１２１はアンドゲートで、Ｄ−ＦＦ１１６の出力Ｑと
カウンタ１１９の出力Ｑ４を入力としてお夛、Ｄ−ＦＦ
１１６の出力ＱがＨレベルの期間カウンタ１１９の出力
Ｑ４をシフトレジスタのクロックとして出力する。１２
３はアンドゲートで、カウンタ１１９の出力Ｑ、 、
Ｑ３とインバータ１２５の出力を入力としている。カウ
ンタ１１９とＤ−ＦＦのすべては不図示のパワーアップ
クリア回路によシリセットされるため通電開始時ＦＦの
出力ＱはすべてＬレベルになる。ここで第９図により第
８図の測距制御回路１０９の動作は説明される。尚、第
９図は第８図に示す測距側（ａｌ１ｇｌ路１０９のタイ
ムチャートである。第９図においてＱｔ ｒ Ｑｓ ｔ
Ｑ４１４１ ｔ４２．４３，４４，４５．７５はそれ
ぞれ第８図に示す回路において同じ符号を付した箇所の
出口波形である。
第１０図は発光素子駆動回路２７の構成を示すブロック
図である。第１０図において６は発光素子、２７はドラ
イバ回路で、第８図にボした測距制御回路１０９からの
コントロール信号が信号線４１．４２，４３，４４，４
５ から人力し、ドライブトランジスタ、定電流回路及
び不図示の発振回路から構成されるドライバ回路３１，
３２，３３，３４，３５によシ所定の周期で発光素子１
，２，３，４．５を駆動する動作を行う。Ｍ１１図は測
距信号変換回路４７の構成を示すブロック図である。第
１１図において４９は２進−８進変換回路で、受光位置
検出回路１３から信号線２３．２４．２５を通して入力
される受光位置信号を変換してＰＳＤＩ２トの位ｉｉＡ
、Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、ＨＫ対応し７’ｅ端子に信
号を出力する。
図である。第１０図において６は発光素子、２７はドラ
イバ回路で、第８図にボした測距制御回路１０９からの
コントロール信号が信号線４１．４２，４３，４４，４
５ から人力し、ドライブトランジスタ、定電流回路及
び不図示の発振回路から構成されるドライバ回路３１，
３２，３３，３４，３５によシ所定の周期で発光素子１
，２，３，４．５を駆動する動作を行う。Ｍ１１図は測
距信号変換回路４７の構成を示すブロック図である。第
１１図において４９は２進−８進変換回路で、受光位置
検出回路１３から信号線２３．２４．２５を通して入力
される受光位置信号を変換してＰＳＤＩ２トの位ｉｉＡ
、Ｂ、Ｃ，Ｄ、Ｅ、Ｆ、Ｇ、ＨＫ対応し７’ｅ端子に信
号を出力する。
５１から６０は２人力型のオアゲート、６１から７０は
２人力型のアンドグー）、７１．７２ｕ５人力型のオア
ゲートでこれらのゲート回路により信号線４１，４２，
４３，４４，４５の発光素子のコントルール信号とＰＳ
ＤＩ２の受光位置信号とから被写体距離を演算して被写
体距離信号をＭ１２図に示す端子７３．７４の信号に変
換して測距信号として出力する。
２人力型のアンドグー）、７１．７２ｕ５人力型のオア
ゲートでこれらのゲート回路により信号線４１，４２，
４３，４４，４５の発光素子のコントルール信号とＰＳ
ＤＩ２の受光位置信号とから被写体距離を演算して被写
体距離信号をＭ１２図に示す端子７３．７４の信号に変
換して測距信号として出力する。
例えば、信号線４３の信号にょシ発光票子３が選択され
た時で２進−日進変換回路４９の端子りがＨレベルであ
ったときにはオアグー） ５１．５３，５６゜５７は出
力がＨレベルとなカ、オアグー）５２，５４５５．５Ｂ
、５９．６０ は出力がＬレベルとなる。
た時で２進−日進変換回路４９の端子りがＨレベルであ
ったときにはオアグー） ５１．５３，５６゜５７は出
力がＨレベルとなカ、オアグー）５２，５４５５．５Ｂ
、５９．６０ は出力がＬレベルとなる。
ここで信号線４３の信号がＨレベルで信号線４１゜４２
．４４．４５の信号がＬレベルだからアンドゲート６３
の出力がＨレベルとなシ、アンドゲート６１．６２，６
４，６５，６６．６７．６Ｂ、６９．７０の出力ＦｉＬ
レベルとなる。従ってオアゲート７１の川力がＨレベル
、オアゲート７２の出力がＬレベルとなる。
．４４．４５の信号がＬレベルだからアンドゲート６３
の出力がＨレベルとなシ、アンドゲート６１．６２，６
４，６５，６６．６７．６Ｂ、６９．７０の出力ＦｉＬ
レベルとなる。従ってオアゲート７１の川力がＨレベル
、オアゲート７２の出力がＬレベルとなる。
同様にして信号線４１，４２，４３，４４，４５の信号
と信号線２３，２４．２５の信号によってオアゲート’
７１．７２の出力は決定される。
と信号線２３，２４．２５の信号によってオアゲート’
７１．７２の出力は決定される。
第１３図は測距信号評価回路１０７の構成を示すブロッ
ク図である。第１３図にお絶て７６．７７゜７Ｂ、７９
．８０はシフトレジスタでＰ入力がＨレベルのとき端子
ＤＩ、Ｄ２のデータをとシ込み、クロック入力によシ出
力Ｑからデータを転送する２ビツトのパラレルインシリ
アルアウトのデータ変換動作を行う。８１，８２，８３
，８４．８５はアンドゲートで、測距制御回路１０９か
らのコントロール信号である。信号＠４１，４２，４３
，４４．４５および７５の第９図に示すイｄ号の組合わ
せによシフトレジスタ７６．７７．７Ｂ、７９．８０へ
端子Ｐにパラレル人カイば号を与える。このパラレル人
力信号によりシフトレジスタ７６．７７、’７Ｂ、’７
９．８０にはそれぞれ発光素子１，２，３，４．５を点
灯したときに得られる測距イｇ＠がラッチされる。８６
゜８７．８８，８９．９０はそれぞれ不図示のタイミン
グ回路から入力される第１４図に示すＴ１からＴ１．に
示すタイミング１ｄ号のうちタイミング信号’ｆ、 、
Ｔ、 、 ｉ’。
ク図である。第１３図にお絶て７６．７７゜７Ｂ、７９
．８０はシフトレジスタでＰ入力がＨレベルのとき端子
ＤＩ、Ｄ２のデータをとシ込み、クロック入力によシ出
力Ｑからデータを転送する２ビツトのパラレルインシリ
アルアウトのデータ変換動作を行う。８１，８２，８３
，８４．８５はアンドゲートで、測距制御回路１０９か
らのコントロール信号である。信号＠４１，４２，４３
，４４．４５および７５の第９図に示すイｄ号の組合わ
せによシフトレジスタ７６．７７．７Ｂ、７９．８０へ
端子Ｐにパラレル人カイば号を与える。このパラレル人
力信号によりシフトレジスタ７６．７７、’７Ｂ、’７
９．８０にはそれぞれ発光素子１，２，３，４．５を点
灯したときに得られる測距イｇ＠がラッチされる。８６
゜８７．８８，８９．９０はそれぞれ不図示のタイミン
グ回路から入力される第１４図に示すＴ１からＴ１．に
示すタイミング１ｄ号のうちタイミング信号’ｆ、 、
Ｔ、 、 ｉ’。
’１’、 、 Ｔ、がそれぞれルベルのときシフトレジ
スタ’７６．７７．７８，７９．８０にラッチされた測
距信号をオアゲート９１を通して順次出力するアンドゲ
ートである。９１はアンドゲート８６，８７，８８゜８
９．９０の出力する信号のオアを出力するオアゲート、
９３．９５は第１４図のＴ、□＋’ｒｕに示すクロック
入力に１１５じて入力端子りからのデータを取シ込む２
ｂｉｔのシフトレジスタ、９７はシフトレジスタ９３か
らのデータを端子Ｂから取り込み、シフトレジスタ９５
からのデータを端子へから取り込み端子Ｂから取シ込ん
だデータの方が端子Ａから取り込んだデータの方が端子
Ａから１１１！シ込んだデータよシも大きいときには端
子Ａ＜Ｂから１ルベルの４Ｂ号を出力するディジタルコ
ンパレータ、９９はＤ−ＦＦでディジタルコンパレータ
９７の端子Ａ（Ｂの信号をｇ １４図に゛”＋１に示す
クロック入力にシサにてラッチする。１０１ 、１０３
はアンドゲートでオアゲート１０５とともにシフトレジ
スタ９５の端子りへの入力信号のセレクトゲートを構成
している。
スタ’７６．７７．７８，７９．８０にラッチされた測
距信号をオアゲート９１を通して順次出力するアンドゲ
ートである。９１はアンドゲート８６，８７，８８゜８
９．９０の出力する信号のオアを出力するオアゲート、
９３．９５は第１４図のＴ、□＋’ｒｕに示すクロック
入力に１１５じて入力端子りからのデータを取シ込む２
ｂｉｔのシフトレジスタ、９７はシフトレジスタ９３か
らのデータを端子Ｂから取り込み、シフトレジスタ９５
からのデータを端子へから取り込み端子Ｂから取シ込ん
だデータの方が端子Ａから取り込んだデータの方が端子
Ａから１１１！シ込んだデータよシも大きいときには端
子Ａ＜Ｂから１ルベルの４Ｂ号を出力するディジタルコ
ンパレータ、９９はＤ−ＦＦでディジタルコンパレータ
９７の端子Ａ（Ｂの信号をｇ １４図に゛”＋１に示す
クロック入力にシサにてラッチする。１０１ 、１０３
はアンドゲートでオアゲート１０５とともにシフトレジ
スタ９５の端子りへの入力信号のセレクトゲートを構成
している。
以上の如く構成された測距信号評価回路の動作を第９図
、第１４図のタイムチャートを用いて説明する。
、第１４図のタイムチャートを用いて説明する。
すべてのシフトレジスタ、およびフリップフロッグ９９
は不図示のパワーアップクリア回路によシミ源投入時リ
セットされる。
は不図示のパワーアップクリア回路によシミ源投入時リ
セットされる。
信号線７３．７４を通して測距信号変換回路４７からの
信号が信号線４１，４２，４３，４４．４５．７５から
入力する測距制御回路１０９の信号に応じてシフトレジ
スタ７６．７７、）８．フ９，８０に人力する。
信号が信号線４１，４２，４３，４４．４５．７５から
入力する測距制御回路１０９の信号に応じてシフトレジ
スタ７６．７７、）８．フ９，８０に人力する。
すなわち発光素子１，２，３，４．５のそれぞれの発光
によシ得られた測距情報がそれぞれシフトレジスタ７６
．７７．７８．フ９，８０に入力してラッチされる。
によシ得られた測距情報がそれぞれシフトレジスタ７６
．７７．７８．フ９，８０に入力してラッチされる。
次に、＠１４図のタイムチャートのＴ、 、 Ｔ２．
Ｔ、 、 Ｔ。
Ｔ、 、 Ｔ。
Ｔｓに示す信号に基づきアントゲ−） ８６．８７．８
８８９．９０を介してシフトレジスタ７６ ｍ ７ ？
＊Ｔ８゜７９．８０に２ツチされた測距情報が順次シ
フトレジスタ９３に入力する。詳しく説明すると初めに
シフトレジスタ７６の情報が第１４図のＴ６に示すタイ
ミングでシフトレジスタ９３に入力を完了しラッチされ
る。この時点ではシフトレジスタ９５はリセットされて
いるためディジタルコンパレータ９７の端子Ａ＜Ｂの出
力はＨレベルである。
８８９．９０を介してシフトレジスタ７６ ｍ ７ ？
＊Ｔ８゜７９．８０に２ツチされた測距情報が順次シ
フトレジスタ９３に入力する。詳しく説明すると初めに
シフトレジスタ７６の情報が第１４図のＴ６に示すタイ
ミングでシフトレジスタ９３に入力を完了しラッチされ
る。この時点ではシフトレジスタ９５はリセットされて
いるためディジタルコンパレータ９７の端子Ａ＜Ｂの出
力はＨレベルである。
従って、第１４図のＴ工に示すＨレベルの信号が出力さ
れたときからシフトレジスタ９３の情報がアンドゲート
１０１を介してシフトレジスタ９５に入力して第１４図
のＴＩ島に示す１回目および２回目のパルスでラッチさ
れる。シフトレジスタ９３の情報がシフトレジスタ９５
に入力していくと同時にシフトレジスタッフの情報が第
１４図のＴ、に示すタイミングでシフトレジスタ９３に
入力してラッチされ、シフトレジスタ９３の情報とシフ
トレジスタ９５の情報とがディジタルコンパレータ９９
にて比較され第１４図の’Ｉ’１ｍに示す２回目のパル
スで比較結果がＤ−ＦＦ９９にラッチされる。
れたときからシフトレジスタ９３の情報がアンドゲート
１０１を介してシフトレジスタ９５に入力して第１４図
のＴＩ島に示す１回目および２回目のパルスでラッチさ
れる。シフトレジスタ９３の情報がシフトレジスタ９５
に入力していくと同時にシフトレジスタッフの情報が第
１４図のＴ、に示すタイミングでシフトレジスタ９３に
入力してラッチされ、シフトレジスタ９３の情報とシフ
トレジスタ９５の情報とがディジタルコンパレータ９９
にて比較され第１４図の’Ｉ’１ｍに示す２回目のパル
スで比較結果がＤ−ＦＦ９９にラッチされる。
ここでシフトレジスタ９３の情報がシフトレジスタ９５
の情報よシも大きいときにはゲイジタルコンパレータ９
９の端子Ａ＜ＢからＨレベルの信号が出力式れるためＤ
−ＦＦ’９９の端子ＱはＨレベルになシアンドゲート１
０１ ｉ、１．開きシフトレジスタ９３の情報がシフト
レジスタ９５に入力する。シフトレジスタ９３の情報が
シフトレジスタ９５の情報、Ｃりも大きくない場合には
ディジタルコンパレータ９９の端子Ａ＜ＢからＬレベル
の信号が出力されるためＤ−ＦＦ９９の端子ＱはＬレベ
ル、端子ＱはＨレベルになシ、アントゲ−）１０１は閉
じ、アンドゲート１０３は開くためシフトレジスタ９３
の情報はシフトレジスタ９５に入力せず、シフトレジス
タ９５の情報はアンドゲート１０３を介して再びシフト
レジスタ９５に人力して保持される。
の情報よシも大きいときにはゲイジタルコンパレータ９
９の端子Ａ＜ＢからＨレベルの信号が出力式れるためＤ
−ＦＦ’９９の端子ＱはＨレベルになシアンドゲート１
０１ ｉ、１．開きシフトレジスタ９３の情報がシフト
レジスタ９５に入力する。シフトレジスタ９３の情報が
シフトレジスタ９５の情報、Ｃりも大きくない場合には
ディジタルコンパレータ９９の端子Ａ＜ＢからＬレベル
の信号が出力されるためＤ−ＦＦ９９の端子ＱはＬレベ
ル、端子ＱはＨレベルになシ、アントゲ−）１０１は閉
じ、アンドゲート１０３は開くためシフトレジスタ９３
の情報はシフトレジスタ９５に入力せず、シフトレジス
タ９５の情報はアンドゲート１０３を介して再びシフト
レジスタ９５に人力して保持される。
以下同様の処理が行われ、シフトレジスタ９５にはシフ
トレジスタ’ｉ１６．７７．７Ｂ、’７９，８０の情報
のうちで最も大きい情報がラッチされることになる。従
って、シフトレジスタ９５の出力する測距情報は最も近
い被写体距離を示すものとなる。
トレジスタ’ｉ１６．７７．７Ｂ、’７９，８０の情報
のうちで最も大きい情報がラッチされることになる。従
って、シフトレジスタ９５の出力する測距情報は最も近
い被写体距離を示すものとなる。
以上の如く構成される本発明の実施例の全体の動作につ
いて説明する。
いて説明する。
不図示のレリーズボタンの第１ストロークが押し込まれ
ると第５図に示す全回路が通電され不図示のパワーアッ
プ回路によ多回路を構成するフリップフロップがリセッ
トされる。次に測距制御回路１０９に−よシ第９図に示
す信号が出力される。
ると第５図に示す全回路が通電され不図示のパワーアッ
プ回路によ多回路を構成するフリップフロップがリセッ
トされる。次に測距制御回路１０９に−よシ第９図に示
す信号が出力される。
測距制御回路１０９の出力する信号線４１，４２゜４３
．４４，４５の信号によシ発光素子駆動回路２７が駆動
され発光素子アレイ６の発光素子が１．２３．４．５の
順で点灯される。発光１子アレイの発光の被写体による
反射光が断続して時系列にＰＳＤＩ２上に入射し、ＰＳ
Ｄ１２の出力電流Ｉａ、 Ｔｂから受光位置検出回路１
３によシ信号Ｉ！ｉ！２３ 、２４２５に断続して時系
列にＰＳＤ１２のどの位置に反射光が入射したかを示す
３ｂｉｔのデジタル情報が出力される。測距信号変換回
路４７は前記測距制御回路１０９の出力する信号線４１
、４２ 、４３．４４４５の信号から前記のデジタル
の情報を測距情報に変換して信号線フ３，７４に時系列
に出力する。
．４４，４５の信号によシ発光素子駆動回路２７が駆動
され発光素子アレイ６の発光素子が１．２３．４．５の
順で点灯される。発光１子アレイの発光の被写体による
反射光が断続して時系列にＰＳＤＩ２上に入射し、ＰＳ
Ｄ１２の出力電流Ｉａ、 Ｔｂから受光位置検出回路１
３によシ信号Ｉ！ｉ！２３ 、２４２５に断続して時系
列にＰＳＤ１２のどの位置に反射光が入射したかを示す
３ｂｉｔのデジタル情報が出力される。測距信号変換回
路４７は前記測距制御回路１０９の出力する信号線４１
、４２ 、４３．４４４５の信号から前記のデジタル
の情報を測距情報に変換して信号線フ３，７４に時系列
に出力する。
測距信号評価回路１０７は信号１Ｍ７３，７４に出力さ
れた測距信号から最も近い被写体距離を示す信号を選択
し、不図示の撮影レンズが該信号によ多制御されシャッ
ターレリーズボタンの第２ストロークの押圧に応じてフ
ィルム露光を行うことによシ、カメラは広視野測距を行
って最も近い位置にある被写体にピントを自動的に合わ
せた撮影を行−うことにがる。
れた測距信号から最も近い被写体距離を示す信号を選択
し、不図示の撮影レンズが該信号によ多制御されシャッ
ターレリーズボタンの第２ストロークの押圧に応じてフ
ィルム露光を行うことによシ、カメラは広視野測距を行
って最も近い位置にある被写体にピントを自動的に合わ
せた撮影を行−うことにがる。
ここで、本実施例には本発明の受光手段としてＰＳＤ１
２を用いたが本発明の受光手段はＰｓｉ）に限るもので
はなく例えば特開昭５６−２９１１０号公報において知
られている受光素子を用いてもよいことは勿論である。
２を用いたが本発明の受光手段はＰｓｉ）に限るもので
はなく例えば特開昭５６−２９１１０号公報において知
られている受光素子を用いてもよいことは勿論である。
また本実施例においては投光素子を時系列に発光させ前
記受光手段の信号から複数の測距情報を出力する制御手
段として受光集子駆動回路２７、測距信号変換回路４７
、測距制御回路１０９としたＯ また該制御手段の複数の測距情報から１つを選択する選
択手段として測距信号評価回路１０７として最も被写体
距離の近いことを示す測距信号を選択したが、最も被写
体距離の近いことを示す測距信号を選択することに限ら
ず例えば、中間の被写体距離であることを示す測距信号
を選択してもよいしその選択の方法は任意である。
記受光手段の信号から複数の測距情報を出力する制御手
段として受光集子駆動回路２７、測距信号変換回路４７
、測距制御回路１０９としたＯ また該制御手段の複数の測距情報から１つを選択する選
択手段として測距信号評価回路１０７として最も被写体
距離の近いことを示す測距信号を選択したが、最も被写
体距離の近いことを示す測距信号を選択することに限ら
ず例えば、中間の被写体距離であることを示す測距信号
を選択してもよいしその選択の方法は任意である。
以上の如く本発明に依れば投光素子と、肋膜光素子と一
定基線長だけ離して配置した受光手段とを具備し、前記
投光素子の光による被写体からの反射光の前記受光手段
への入射位置を検出することによυ測距情報を得、自動
焦点合わせな行うカメラにおいて、前記投光素子を複数
設けて、該投光素子を時系列に発光させ前記受光手段の
信号から複数の測距情報を出力する制御手段と、該制御
手段の複数の測距情報から１つを選択する選択手段とを
具備したので可動部のない構成によシ広視野測距を実現
することができ、機械的に走査を行う方法に比して構成
が簡単になるばかシか、経矩変化によシガタが生じて精
度が低下する等の欠点を一掃することができ、きわめて
効果大なるものである。
定基線長だけ離して配置した受光手段とを具備し、前記
投光素子の光による被写体からの反射光の前記受光手段
への入射位置を検出することによυ測距情報を得、自動
焦点合わせな行うカメラにおいて、前記投光素子を複数
設けて、該投光素子を時系列に発光させ前記受光手段の
信号から複数の測距情報を出力する制御手段と、該制御
手段の複数の測距情報から１つを選択する選択手段とを
具備したので可動部のない構成によシ広視野測距を実現
することができ、機械的に走査を行う方法に比して構成
が簡単になるばかシか、経矩変化によシガタが生じて精
度が低下する等の欠点を一掃することができ、きわめて
効果大なるものである。
第１図は従来のアクティブタイプのオートフォーカス機
構の原理を示す原理図、第２図は従来のアクティブタイ
プのオートフォーカス機構を備えたファインダの図、第
３図は本発明の一実施例の広視野測距カメラの投受光系
の原理を示す原理図、第４図は発光電子とＰＳＤとの投
受光位置の関係を示す図％Ｍ５図は本発明の一実施例の
回路ブロック図、第６図は受光位置検出回路１３の構成
を示すブロック図、第７図は第６図に示した受光位置検
出回路１３のＰＳＤ１２の入射光の入射位置とＮ山変換
器１７から出力さ扛る信号の対応を示す図、嬉８図は測
距制御回路１０９の構成を示す回路図、第９図は第８図
に示す測距制御回路１０９のタイムチャート、第１０図
は発光素子駆動回路２７の構成を示すブロック図、第１
１図は測距信号変換回路４７の構成を示すブロック図、
第１２図は測距信号変換回路４７の信号線７３．７４の
信号と被写体距離の関係を示す図、第１３図は測距信号
評価回路ｌＯ７の構成を示すブロック図、第１４図は第
１３図に示す測距信号評価回路１０７の各端子に入力す
る信号のタイムチャートである０１．２．３，４，５−
−−一発光素子１，１２−−−一−Ｐ Ｓ Ｄ 。 １３−−−−９光位置検出回路、２ ’７、−ｍ−発光
素子駆動回路、４７−−−−測距信号変換回路、１０７
−−−−−測距信号評価回路、１０９−−−一測距制御
回路。 特許出願人 キャノン株式会社 第４［Ｚｌ 第５履
構の原理を示す原理図、第２図は従来のアクティブタイ
プのオートフォーカス機構を備えたファインダの図、第
３図は本発明の一実施例の広視野測距カメラの投受光系
の原理を示す原理図、第４図は発光電子とＰＳＤとの投
受光位置の関係を示す図％Ｍ５図は本発明の一実施例の
回路ブロック図、第６図は受光位置検出回路１３の構成
を示すブロック図、第７図は第６図に示した受光位置検
出回路１３のＰＳＤ１２の入射光の入射位置とＮ山変換
器１７から出力さ扛る信号の対応を示す図、嬉８図は測
距制御回路１０９の構成を示す回路図、第９図は第８図
に示す測距制御回路１０９のタイムチャート、第１０図
は発光素子駆動回路２７の構成を示すブロック図、第１
１図は測距信号変換回路４７の構成を示すブロック図、
第１２図は測距信号変換回路４７の信号線７３．７４の
信号と被写体距離の関係を示す図、第１３図は測距信号
評価回路ｌＯ７の構成を示すブロック図、第１４図は第
１３図に示す測距信号評価回路１０７の各端子に入力す
る信号のタイムチャートである０１．２．３，４，５−
−−一発光素子１，１２−−−一−Ｐ Ｓ Ｄ 。 １３−−−−９光位置検出回路、２ ’７、−ｍ−発光
素子駆動回路、４７−−−−測距信号変換回路、１０７
−−−−−測距信号評価回路、１０９−−−一測距制御
回路。 特許出願人 キャノン株式会社 第４［Ｚｌ 第５履
Claims (1)
- 投光素子と、該投光素子と一定基線長だけ離して配置し
た受光手段とを具備し、前記投光素子の光による被写体
からの反射光の前記受光手段への入射位置を検出するこ
とにより測距情報を得、自動焦点・合わせを行うカメラ
において、前記投光素子を複数設けて、該投光素子を時
系列に発光させ前記受光手段の信号から複数の測距情報
を出力する制御手段と、該制御手段の伽数の測距情報か
ら１つを選択する選択手段とを具備することを特徴とす
る広視野測距カメラ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24590283A JPS60140306A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | 広視野測距カメラ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24590283A JPS60140306A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | 広視野測距カメラ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60140306A true JPS60140306A (ja) | 1985-07-25 |
Family
ID=17140516
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24590283A Pending JPS60140306A (ja) | 1983-12-28 | 1983-12-28 | 広視野測距カメラ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60140306A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3709907A1 (de) * | 1986-03-26 | 1987-10-08 | Chinon Ind Inc | Entfernungsmesser |
| JPH0346814U (ja) * | 1989-09-14 | 1991-04-30 |
-
1983
- 1983-12-28 JP JP24590283A patent/JPS60140306A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3709907A1 (de) * | 1986-03-26 | 1987-10-08 | Chinon Ind Inc | Entfernungsmesser |
| JPH0346814U (ja) * | 1989-09-14 | 1991-04-30 |
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