JPS60142226A - 圧力モニタ及び温度補償された圧力測定システム - Google Patents
圧力モニタ及び温度補償された圧力測定システムInfo
- Publication number
- JPS60142226A JPS60142226A JP59201404A JP20140484A JPS60142226A JP S60142226 A JPS60142226 A JP S60142226A JP 59201404 A JP59201404 A JP 59201404A JP 20140484 A JP20140484 A JP 20140484A JP S60142226 A JPS60142226 A JP S60142226A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pressure
- waveguide loop
- waveguide
- loop
- diaphragm
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L1/00—Measuring force or stress, in general
- G01L1/24—Measuring force or stress, in general by measuring variations of optical properties of material when it is stressed, e.g. by photoelastic stress analysis using infrared, visible light, ultraviolet
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
- G01L9/0041—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms
- G01L9/0076—Transmitting or indicating the displacement of flexible diaphragms using photoelectric means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
- G01L11/00—Measuring steady or quasi-steady pressure of a fluid or a fluent solid material by means not provided for in group G01L7/00 or G01L9/00
- G01L11/02—Measuring steady or quasi-steady pressure of a fluid or a fluent solid material by means not provided for in group G01L7/00 or G01L9/00 by optical means
- G01L11/025—Measuring steady or quasi-steady pressure of a fluid or a fluent solid material by means not provided for in group G01L7/00 or G01L9/00 by optical means using a pressure-sensitive optical fibre
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Fluid Pressure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は、光による圧力測定のシステム、一層詳細には
、応力誘起複屈折(この用511は゛圧力により誘起さ
れる複屈折″を意味する)を生じて導波路ループ内の共
振周波数に偏移を生じさぼるダイアフラムを有するガラ
ス材料から製作された圧力ドランスデューサに係る。
、応力誘起複屈折(この用511は゛圧力により誘起さ
れる複屈折″を意味する)を生じて導波路ループ内の共
振周波数に偏移を生じさぼるダイアフラムを有するガラ
ス材料から製作された圧力ドランスデューサに係る。
背狽技Mi
圧力トランスデユーサは圧力の変化をモニタηるために
用いられる装置である。圧力トランスデ:L−りは圧力
測定システムの一体部分であり、受圧位置に配置される
。圧力ドランスデユー1ノは、トランスデューりの位置
で圧力変化を通信する電気、空気圧、油圧又は光信号に
よりモニタ又はインターロゲー(−される。先導波路の
使用の劇的な増大に伴い、あらゆる形式の先代センリ−
が提案されてきた。例えば多重コア圧力応答性光フアイ
バ導波路が″ファイバオプティックひずみセンサ″とい
う名称の1981年10月20日イ;)米国特許第4,
295,738号明細出に開示されている。
用いられる装置である。圧力トランスデ:L−りは圧力
測定システムの一体部分であり、受圧位置に配置される
。圧力ドランスデユー1ノは、トランスデューりの位置
で圧力変化を通信する電気、空気圧、油圧又は光信号に
よりモニタ又はインターロゲー(−される。先導波路の
使用の劇的な増大に伴い、あらゆる形式の先代センリ−
が提案されてきた。例えば多重コア圧力応答性光フアイ
バ導波路が″ファイバオプティックひずみセンサ″とい
う名称の1981年10月20日イ;)米国特許第4,
295,738号明細出に開示されている。
光導波路に作用するひずみ変化がコアから放射する光の
相対的強さを測定でることにより測定される。
相対的強さを測定でることにより測定される。
特に関心が持たれるものとしてp roceeding
sof 5PrE (1983)、Vo1412、Fi
beropNc alld 1−aser3enSO1
’S中のCl1fford G、 Walkerの論文
” P hotoelastic a旧1fq 1ec
tro −Q ptic 5ensors” (光弁4
9&び電気光学式セン+J)に記載されている受動的レ
ーザー加重11がある。この論文の第1図に、リング共
振器を含んでいるレーザー加速度計が示されている。非
常に狭いスペクトル線幅を右Jるレーリ゛−源の出力ビ
ームが2つの別々のビーフ)に分割されて、別々にブラ
ッグ・セルに通される1、fl−光子が一つのビームを
90度回転さけ、そのビームが次いでリング共振器に与
えられる9、リンク′JL振器に作用する応力が、周波
数差を追跡することにより測定され得る。しかし、この
論文により示唆されている先代センサは、高品質の光学
的月利から形成されたダイアフラムの圧力作用下の変形
と結びつけられる応力誘起複屈折の変化を測定づ−るた
めの広帯域非干渉性の光エネルギ源を示唆しではいない
。発明の開示 本発明の目的は、腐食F+気体及び液体内のような苛酷
な環境で広い温度範囲に亙り正確且再現可f1に1.>
圧力測定を行ない得るように、光学材料から製作された
圧力ドランスデューサを有する圧力測定システムを提供
することである。
sof 5PrE (1983)、Vo1412、Fi
beropNc alld 1−aser3enSO1
’S中のCl1fford G、 Walkerの論文
” P hotoelastic a旧1fq 1ec
tro −Q ptic 5ensors” (光弁4
9&び電気光学式セン+J)に記載されている受動的レ
ーザー加重11がある。この論文の第1図に、リング共
振器を含んでいるレーザー加速度計が示されている。非
常に狭いスペクトル線幅を右Jるレーリ゛−源の出力ビ
ームが2つの別々のビーフ)に分割されて、別々にブラ
ッグ・セルに通される1、fl−光子が一つのビームを
90度回転さけ、そのビームが次いでリング共振器に与
えられる9、リンク′JL振器に作用する応力が、周波
数差を追跡することにより測定され得る。しかし、この
論文により示唆されている先代センサは、高品質の光学
的月利から形成されたダイアフラムの圧力作用下の変形
と結びつけられる応力誘起複屈折の変化を測定づ−るた
めの広帯域非干渉性の光エネルギ源を示唆しではいない
。発明の開示 本発明の目的は、腐食F+気体及び液体内のような苛酷
な環境で広い温度範囲に亙り正確且再現可f1に1.>
圧力測定を行ない得るように、光学材料から製作された
圧力ドランスデューサを有する圧力測定システムを提供
することである。
本発明による先代圧力センナの一つの特徴は、ダイアフ
ラムがイの周縁で一体に形成されたリムにより剛固に保
持されて圧力ドランスデューサの中心に配置され−Cい
ることである。一つの面にヂ「川りる圧ノJによるダイ
アフラムの一変形が導波路ループ内に応力誘起複屈折を
生じさけ、従ってJ、Iζ、スーパーラジアント・ダイ
オードのような比較的広いスペクトル線幅の光源からの
光エネルギにより誘導される共振周波数に相応の変化を
生じさぜる。
ラムがイの周縁で一体に形成されたリムにより剛固に保
持されて圧力ドランスデューサの中心に配置され−Cい
ることである。一つの面にヂ「川りる圧ノJによるダイ
アフラムの一変形が導波路ループ内に応力誘起複屈折を
生じさけ、従ってJ、Iζ、スーパーラジアント・ダイ
オードのような比較的広いスペクトル線幅の光源からの
光エネルギにより誘導される共振周波数に相応の変化を
生じさぜる。
本発明による先代圧ノノセンリ−の他の特徴は、丈夫で
耐久性に富む低損失カラスから製作された圧ツノトラン
スデユーサが圧力変化を測>:: 4−るのに用いられ
ていることである。ダイアフラムの一つの面上の導波路
ループが応力誘起複層11iを生じ、イーれが閉ループ
内を伝搬する光」丁ネルキの成分に相対的位相差を生じ
さける。この位相差に比例する出力信号が、共振光1ネ
ルギの一部分を出力導波路と光エネルギのスペクトル成
分を分析する光検出器とに結合することにより形成され
る。
耐久性に富む低損失カラスから製作された圧ツノトラン
スデユーサが圧力変化を測>:: 4−るのに用いられ
ていることである。ダイアフラムの一つの面上の導波路
ループが応力誘起複層11iを生じ、イーれが閉ループ
内を伝搬する光」丁ネルキの成分に相対的位相差を生じ
さける。この位相差に比例する出力信号が、共振光1ネ
ルギの一部分を出力導波路と光エネルギのスペクトル成
分を分析する光検出器とに結合することにより形成され
る。
本発明の上記及び他の目的、特徴及び利点は以下の好ま
しい実施例及び添(st図101の説明から 層間らか
になろう。
しい実施例及び添(st図101の説明から 層間らか
になろう。
発明を実IM−J−るための最良の形態最初に第1図を
参照覆ると、本発明による光弐斤ツノLンυの主要なI
M成9.9索が簡III化した形態で示されている。圧
力トランスデユーサ−10は流体斥力の変化が測定され
るべき位置に配置されている。圧力ドランスデューサ1
0の中心部分にダイアフラム12がリム14と一体に形
成されており、リム14は圧力トランスデユーサ10の
周縁を囲繞している。一つの端面16(第1図″c見て
上側の而は)ダイアフラム12の端面に形成された導波
路ルー118を含んでいる。入力導波路20も圧力]−
ランステ゛ユーリ10の端面1Gに形成されCおり、好
ましい実施例では、導波路ループ18に1ネルギ授受点
24 t−接りる接線又は弦とリム]4の周縁との交点
の一方22から他方25へ延び−Cいる。出ノJ導波路
も圧力トランスデ“j−リ10の端面16に形成されて
遺り、導波路ルーフ18に出力側の]−ネルギ授受点2
8で接η−る接線又は弦とリム14の周縁との交点の一
7″i27から他方330へ延びている。
参照覆ると、本発明による光弐斤ツノLンυの主要なI
M成9.9索が簡III化した形態で示されている。圧
力トランスデユーサ−10は流体斥力の変化が測定され
るべき位置に配置されている。圧力ドランスデューサ1
0の中心部分にダイアフラム12がリム14と一体に形
成されており、リム14は圧力トランスデユーサ10の
周縁を囲繞している。一つの端面16(第1図″c見て
上側の而は)ダイアフラム12の端面に形成された導波
路ルー118を含んでいる。入力導波路20も圧力]−
ランステ゛ユーリ10の端面1Gに形成されCおり、好
ましい実施例では、導波路ループ18に1ネルギ授受点
24 t−接りる接線又は弦とリム]4の周縁との交点
の一方22から他方25へ延び−Cいる。出ノJ導波路
も圧力トランスデ“j−リ10の端面16に形成されて
遺り、導波路ルーフ18に出力側の]−ネルギ授受点2
8で接η−る接線又は弦とリム14の周縁との交点の一
7″i27から他方330へ延びている。
本発明の先代圧力ヒンリは、スーパーラジj′ン1〜・
グイオート又はの準焦帯域分光分布の明るい)にdS;
のJζうな光源32を含んでおり、これは光■ネルギを
入力導波路20の端面22を通じて結合づるぺ< 11
[!冒されている。周波数検出器34も設けられrA3
す、端面30から出る光エネルギをモニタするべく配置
されている。後で・一層詳細に説明するJ:うに、周波
数検出器3/lは導波路ループ1B内で共振する光1ネ
ルギのスペクトル成分を分析する装置である。所望であ
れば、光源32a3よ、び周波数検出器34は遠隔位置
に配W、1され、光導波路(図示けず)によりH−ノ1
1〜ランスデニ1−リ10と接続され4qる。これは、
例えば高温又は腐蝕性流体に曝される苛酷な環境で圧力
変化を測定でる必要がある場合に特に望ましい。
グイオート又はの準焦帯域分光分布の明るい)にdS;
のJζうな光源32を含んでおり、これは光■ネルギを
入力導波路20の端面22を通じて結合づるぺ< 11
[!冒されている。周波数検出器34も設けられrA3
す、端面30から出る光エネルギをモニタするべく配置
されている。後で・一層詳細に説明するJ:うに、周波
数検出器3/lは導波路ループ1B内で共振する光1ネ
ルギのスペクトル成分を分析する装置である。所望であ
れば、光源32a3よ、び周波数検出器34は遠隔位置
に配W、1され、光導波路(図示けず)によりH−ノ1
1〜ランスデニ1−リ10と接続され4qる。これは、
例えば高温又は腐蝕性流体に曝される苛酷な環境で圧力
変化を測定でる必要がある場合に特に望ましい。
本発明による光式圧力[ンリの特に重曹な特徴は、圧力
変化が周波数検出器34により正61「にモニタされ得
るようにJ−Fカドランスミ’ 、:t−リ10かロー
力変化に応答づる仕方である。第2図を6参照Jると、
圧力ドランスi」−ザ10か断面図で示されている。ダ
イアフラム12の偏位(,1、図面をねかりヤ)づくり
るため、誇張しC図小されている。
変化が周波数検出器34により正61「にモニタされ得
るようにJ−Fカドランスミ’ 、:t−リ10かロー
力変化に応答づる仕方である。第2図を6参照Jると、
圧力ドランスi」−ザ10か断面図で示されている。ダ
イアフラム12の偏位(,1、図面をねかりヤ)づくり
るため、誇張しC図小されている。
圧力1〜ランスデコーサ10は、好J、シクけ、低損失
の先導波路の形成に適した光透過す21月利か1う形成
されている。好ましい実施例ぐは、リム1/lは、ダイ
アフラム12の周縁がぞのまわりで剛固に固定されるよ
うに、ダイアフラム12よりも遥かに厚い厚みを右する
。リム14およびタイアノラム12は別々の要素として
製作されてt)よいが、一体構造とづるほうが製作工程
が少なくてすむ。
の先導波路の形成に適した光透過す21月利か1う形成
されている。好ましい実施例ぐは、リム1/lは、ダイ
アフラム12の周縁がぞのまわりで剛固に固定されるよ
うに、ダイアフラム12よりも遥かに厚い厚みを右する
。リム14およびタイアノラム12は別々の要素として
製作されてt)よいが、一体構造とづるほうが製作工程
が少なくてすむ。
本発明の重曹な特徴は、当業者にJ:り叩解されるよう
に、導波路ルーフ18が光共振器として作用し、その光
共振器の共振周波数が汗カトランスデューリ10に作用
Jる圧力の関数どして変化することである。一層の理解
に資づるため、続けて第1図及び第2図を参照して、本
発明による先代EF、/J tンリの理論及び作動を説
111j’lる。導波路ループは例えばイオン注入法の
ような公知の方法ににり例えば低1r3人単−し−ド方
形導波路としで形成される。導波路ループ18内に生り
“る共振の各共振周波数は、導波路の長辺に対して垂直
及び平行に偏光される最低次導波路モードに相当り−る
2つの狭い間隔の周波数に分割される9、これらの周波
数の曲の離隔は応力誘起複屈折ににり圧力どノ(に変化
りる。当業者により理解されるように、」(振ループは
下式のように共振周波数を中心どして一連の通過帯域を
’#i iる光=1−ムフィルタと類似のしかたで作用
する。
に、導波路ルーフ18が光共振器として作用し、その光
共振器の共振周波数が汗カトランスデューリ10に作用
Jる圧力の関数どして変化することである。一層の理解
に資づるため、続けて第1図及び第2図を参照して、本
発明による先代EF、/J tンリの理論及び作動を説
111j’lる。導波路ループは例えばイオン注入法の
ような公知の方法ににり例えば低1r3人単−し−ド方
形導波路としで形成される。導波路ループ18内に生り
“る共振の各共振周波数は、導波路の長辺に対して垂直
及び平行に偏光される最低次導波路モードに相当り−る
2つの狭い間隔の周波数に分割される9、これらの周波
数の曲の離隔は応力誘起複屈折ににり圧力どノ(に変化
りる。当業者により理解されるように、」(振ループは
下式のように共振周波数を中心どして一連の通過帯域を
’#i iる光=1−ムフィルタと類似のしかたで作用
する。
fユ、ら ・ lc/(h□ 5丁・) N 二 [2
,、、、(1)ここで、n :垂直モートの位相1i1
jl 41i率n b ’水平モードの位相fnJ折牢
し:リングの周縁の良さ N:共振次数 ダイアフラム−1の対称4f均等分布のログ1がループ
に応力を生じ、それにより通過帯域を偏移さU−る。
,、、、(1)ここで、n :垂直モートの位相1i1
jl 41i率n b ’水平モードの位相fnJ折牢
し:リングの周縁の良さ N:共振次数 ダイアフラム−1の対称4f均等分布のログ1がループ
に応力を生じ、それにより通過帯域を偏移さU−る。
共振周波数 δf及びδfの変化は半径方向ひり′み殊
及び接線方向ひfみε。の双方により決定される。光路
長さの変化は一つにはリングの周縁の変化にJ、り生じ
、もう一つには応力誘起複層Jliににり生ずる。
及び接線方向ひfみε。の双方により決定される。光路
長さの変化は一つにはリングの周縁の変化にJ、り生じ
、もう一つには応力誘起複層Jliににり生ずる。
&−1−/f =−(ε十δn/y1)(2)氏 θ
負 &f /fユニー。+SO8/自)(3)し ここで 4=f きモ へ し n−リ 仁n へ b 屈折率の変化は下式により導波路ループの垂直光弾性定
数幅及び水平光弾+!1定数pゎに関係7j +j l
られCいる。
負 &f /fユニー。+SO8/自)(3)し ここで 4=f きモ へ し n−リ 仁n へ b 屈折率の変化は下式により導波路ループの垂直光弾性定
数幅及び水平光弾+!1定数pゎに関係7j +j l
られCいる。
Bnb/r1 =(−((ン2)−(Pbε−凡ε。)
(5)ill #l14N理論により示されるように
、ダイアフラム12内の表面ひずみは上式によりめられ
る。
(5)ill #l14N理論により示されるように
、ダイアフラム12内の表面ひずみは上式によりめられ
る。
ここで
1−ダイアフラム厚み
[= Aアング宇
シーポアソン比
導波路ループ内の溶融シリカに対づる光弾性定数はF記
の値である。
の値である。
Pb= ρ/]z
Pa−0,”J7
これらの値を用い、またひずみに対する式(6)及び(
7)を式(2)及び(3)に代入すると、各モードの周
波数偏移及びその結果どしての差周波数Δの111定1
ffjが得られる。
7)を式(2)及び(3)に代入すると、各モードの周
波数偏移及びその結果どしての差周波数Δの111定1
ffjが得られる。
ここで
正規化周波数偏移Δ/(fC)が(r/′a)の関数と
して第4図のグラフに示されている。導波路ルーフ18
の位置及び19み比(r、’a)は、差動(14波数偏
移Δが、適当なSN比を与えるのになお十分に大きいコ
ームフィルタのモード次数の間の自由スペクトル範囲Δ
[、の半分を越えないように、選定されなりればならな
い。例えば、−bしE二 lρ4X10 Ps+、′X
)−〇、ノアj α/モ −4であれば、 C二京6×10 P また 干−IC/L ヅ3メ1014Z(13)ζ・あれば、 △/4f −7,’1x10−3(&/ I cin>
(Y/Q’lCP/I p5i)〔1−3ffA)’]
(14) もしa =0.5cm1EIp = 100psiであ
れは゛、導波路ループ18をr /a <Q、 9に配
置することにJ、り必要条件1△IくΔ[/2が満足さ
れIUる。最大のSN比に対して1・/aは最大許容限
度の近くに設定されなければならない。a・= 1 、
/ 2cJ]r /a =0.85に対して、自由スペ
クトル範囲は8 、19 G1−1 z (あり、また
1 00 psi E(力に対する最大差動周波数偏移
は−3、0G H/(゛ある。
して第4図のグラフに示されている。導波路ルーフ18
の位置及び19み比(r、’a)は、差動(14波数偏
移Δが、適当なSN比を与えるのになお十分に大きいコ
ームフィルタのモード次数の間の自由スペクトル範囲Δ
[、の半分を越えないように、選定されなりればならな
い。例えば、−bしE二 lρ4X10 Ps+、′X
)−〇、ノアj α/モ −4であれば、 C二京6×10 P また 干−IC/L ヅ3メ1014Z(13)ζ・あれば、 △/4f −7,’1x10−3(&/ I cin>
(Y/Q’lCP/I p5i)〔1−3ffA)’]
(14) もしa =0.5cm1EIp = 100psiであ
れは゛、導波路ループ18をr /a <Q、 9に配
置することにJ、り必要条件1△IくΔ[/2が満足さ
れIUる。最大のSN比に対して1・/aは最大許容限
度の近くに設定されなければならない。a・= 1 、
/ 2cJ]r /a =0.85に対して、自由スペ
クトル範囲は8 、19 G1−1 z (あり、また
1 00 psi E(力に対する最大差動周波数偏移
は−3、0G H/(゛ある。
甲=−スペクトルの幅δf′は、
により定義される共振器の゛フィネス″により決定され
る。
る。
今1くを入力及び出力結合器のパワー結合効率、1を結
合損失、またνを導波路減衰(中位長さ当リゾジベル)
と覆ると、上記のフィネスはであり、また通過帯域の中
心に於()るピーク透過率は である。
合損失、またνを導波路減衰(中位長さ当リゾジベル)
と覆ると、上記のフィネスはであり、また通過帯域の中
心に於()るピーク透過率は である。
もしリング共振器18内の減衰がOlo 1 d B7
cm’cありまたパワー結合効率及び人力/出力結合損
失が1%であり、また’−0,4Hn、1<1%、し−
1%であれば、F−1361,’T’ = 0 、19
である1、これらのパラメータに対1する各通過帯域の
幅は約60MHzである。零圧力11.1のスペクトル
線の前幅は埋込まれた導波路の)1法及び開11数の関
数である。ぞれは少な、くとちスペクトル線幅よりも大
きいA−ダーの人ささにされtiFる72例えば、もし
開口数が0.1ぐあり、11導波路が2:1のアスパラ
[・レジAをイ48Jるならば、fニーfb=・500
M l−1zである。光源32及び周波数検出器34
は少なくとも最大1!IJ持されるスペクトル帯問離隔
、即ら零斤カ時の離隔と11力依存性偏移Δとの和、を
含むように十分に広セ1シ域rなければなlうイ1い。
cm’cありまたパワー結合効率及び人力/出力結合損
失が1%であり、また’−0,4Hn、1<1%、し−
1%であれば、F−1361,’T’ = 0 、19
である1、これらのパラメータに対1する各通過帯域の
幅は約60MHzである。零圧力11.1のスペクトル
線の前幅は埋込まれた導波路の)1法及び開11数の関
数である。ぞれは少な、くとちスペクトル線幅よりも大
きいA−ダーの人ささにされtiFる72例えば、もし
開口数が0.1ぐあり、11導波路が2:1のアスパラ
[・レジAをイ48Jるならば、fニーfb=・500
M l−1zである。光源32及び周波数検出器34
は少なくとも最大1!IJ持されるスペクトル帯問離隔
、即ら零斤カ時の離隔と11力依存性偏移Δとの和、を
含むように十分に広セ1シ域rなければなlうイ1い。
導波路ルー118は上記の共振スペクトル線を広帯域入
力から選択して、検出器34に与える。
力から選択して、検出器34に与える。
このようなスペクトル線の多くの対が非常に広帯域の源
から生じ得る。そして各列が実質的に、J−記の周波数
離隔を呈覆る。検出器34は、入射光のスペクトル線を
混合して、この離隔周波数を含む電気釣用ノノイ5;号
を生り”るフAトダイA−ド(8うつ(よい。所望であ
れば、電子式スペクトル線〜ルライ9−又は周波数81
35により関心のある帯域の外側の周波数成分を除去し
て、上記のように圧力に比例している離隔周波数を直接
に測定覆ることができる。
から生じ得る。そして各列が実質的に、J−記の周波数
離隔を呈覆る。検出器34は、入射光のスペクトル線を
混合して、この離隔周波数を含む電気釣用ノノイ5;号
を生り”るフAトダイA−ド(8うつ(よい。所望であ
れば、電子式スペクトル線〜ルライ9−又は周波数81
35により関心のある帯域の外側の周波数成分を除去し
て、上記のように圧力に比例している離隔周波数を直接
に測定覆ることができる。
木光明の特に重要な特徴は、圧力ドランスi′−、:1
−リ=10による圧ツノ測定が温度変化により実質的に
影響されないことである。熱膨張により導波路ループ1
8の周縁長さが変化するけれども、この変化は2つの偏
光に等しく作用するので、導波路ループ18内に生ずる
ハ振周波数はいりれも実質的に同一の大きさだ()偏移
さUられることGEL ’1!l!解されよう。このこ
とは、l動因波数f編移は温度の変化により彩管されず
に、印加圧ノJの変化に実質的に比例しでいる状態を保
つことを怠味Jる。11力トランスデューリ゛10の材
料のレンゲ串が温度の弱関数で′あることは知られ(い
るが、hカトランスデコーリ−10の作動温度範囲が不
合理に広くないかぎ′す、なJ3も受容可能な精度が保
たれ4r−)イ)、。
−リ=10による圧ツノ測定が温度変化により実質的に
影響されないことである。熱膨張により導波路ループ1
8の周縁長さが変化するけれども、この変化は2つの偏
光に等しく作用するので、導波路ループ18内に生ずる
ハ振周波数はいりれも実質的に同一の大きさだ()偏移
さUられることGEL ’1!l!解されよう。このこ
とは、l動因波数f編移は温度の変化により彩管されず
に、印加圧ノJの変化に実質的に比例しでいる状態を保
つことを怠味Jる。11力トランスデューリ゛10の材
料のレンゲ串が温度の弱関数で′あることは知られ(い
るが、hカトランスデコーリ−10の作動温度範囲が不
合理に広くないかぎ′す、なJ3も受容可能な精度が保
たれ4r−)イ)、。
本発明にJ、るタイアノラム12の製作のためには神々
の方法が知られている。l)’J FiC!のにうに、
基板はクイ酸す1〜リウムのよう<i低損失のケイ酸ア
ルカリガラスから形成され得る。リング共娠器18、入
力導波路2o及び出力導波路26はイA−ン交換法によ
り、交換窓を例外としくタイアノラム12の交換側のフ
ォトレジスト・マス1ングを用いで形成されうる。マス
ク材料は交挽円イΔンに対して不透過性でなG−Jれば
ならず、目交49! ?!1A度(J耐えな(〕ればな
らない。萌梨型なマスク材料はアルミニウム及びニッケ
ルを含んでいる。マスクされたダイアフラム12は所望
の陽イオンを含んでいる溶融電解質の中に浸漬されてい
る。イオン交換は、タイアノラムを含んでいる溶融電解
質の中に浸漬されている二つの′Lri極の間に適当な
電圧を印加することにより行なわれる。交換後にマスク
は酸の中にi7F解されl’4 Zy 。
の方法が知られている。l)’J FiC!のにうに、
基板はクイ酸す1〜リウムのよう<i低損失のケイ酸ア
ルカリガラスから形成され得る。リング共娠器18、入
力導波路2o及び出力導波路26はイA−ン交換法によ
り、交換窓を例外としくタイアノラム12の交換側のフ
ォトレジスト・マス1ングを用いで形成されうる。マス
ク材料は交挽円イΔンに対して不透過性でなG−Jれば
ならず、目交49! ?!1A度(J耐えな(〕ればな
らない。萌梨型なマスク材料はアルミニウム及びニッケ
ルを含んでいる。マスクされたダイアフラム12は所望
の陽イオンを含んでいる溶融電解質の中に浸漬されてい
る。イオン交換は、タイアノラムを含んでいる溶融電解
質の中に浸漬されている二つの′Lri極の間に適当な
電圧を印加することにより行なわれる。交換後にマスク
は酸の中にi7F解されl’4 Zy 。
本発明の先代圧力ヒンサを一つの好ましい実施例に“つ
いC図示し説明し−できたが、本発明の範囲内でその形
態及び細部に種々の変更が行なわれ得ることは実業&に
より1!I!解されよう11例えは、FF力1−ランス
ゲ1−リ−10の端面上の導波路ループ1Bはタイアノ
ラム12上に同心に配置されているものどじで一般的に
示された。実際、導波路ループ18は、共振周波数の測
定回1jヒな偏移を得るのに十分な応力誘起複屈折が生
ずるかきり、圧力トランスデコーりの端面−にの41意
の位貯に配置され噌!1よう。導波路ループの断面形状
は図示(第2図)され−(いるようにほぼ方形Cある必
要はなく、導波路内の光−[ネルギ窃各独S’/の偏光
に対して共振周波数の差が存在覆るかぎり、(f意の断
面形状であり得よう。導波路ループは、実際、偏光作用
のある九ファイバをダイアフラムの表面に接着りること
により形成され147 J:う。ざらに、入力及び出〕
j光エネルギは圧ノJトランスデJ−リ10の端面16
1の弦状の人力及び出力導波路20及び26を通じて導
波路ルー118と結合される必要はなく、導波路の頂に
密接配置されたブリスムのような他の手段を通じても導
波路ループ18と結合され得J:う。
いC図示し説明し−できたが、本発明の範囲内でその形
態及び細部に種々の変更が行なわれ得ることは実業&に
より1!I!解されよう11例えは、FF力1−ランス
ゲ1−リ−10の端面上の導波路ループ1Bはタイアノ
ラム12上に同心に配置されているものどじで一般的に
示された。実際、導波路ループ18は、共振周波数の測
定回1jヒな偏移を得るのに十分な応力誘起複屈折が生
ずるかきり、圧力トランスデコーりの端面−にの41意
の位貯に配置され噌!1よう。導波路ループの断面形状
は図示(第2図)され−(いるようにほぼ方形Cある必
要はなく、導波路内の光−[ネルギ窃各独S’/の偏光
に対して共振周波数の差が存在覆るかぎり、(f意の断
面形状であり得よう。導波路ループは、実際、偏光作用
のある九ファイバをダイアフラムの表面に接着りること
により形成され147 J:う。ざらに、入力及び出〕
j光エネルギは圧ノJトランスデJ−リ10の端面16
1の弦状の人力及び出力導波路20及び26を通じて導
波路ルー118と結合される必要はなく、導波路の頂に
密接配置されたブリスムのような他の手段を通じても導
波路ループ18と結合され得J:う。
第1図は本発明による光式圧力測定シスラムの基本的構
成要素を示づ拡大斜視図ぐあり、端面上に導波路ループ
、入力導波路及び出力導波路をイJりる圧力トランスデ
コーサが部分的に切欠かれて示されている。 第2図は第1図中の几力I〜ランスデコーりのみのr祈
面図であり、ダイアフラムはハー力作川下の偏位を誇張
して図示され−Cいる。 第3図は圧力トランスデユーりの端面十に配置された導
波路ループ内で共振づる光、■ネル:1゛のXO」周波
数偏移を承りグラフである。 第4図はj1現化された差動周波数偏移と1」力l〜ラ
ンスデコーリ−のタイアワラム上のを波路ループの半径
どの関係を示リグラフ(゛ある。 10・・・圧力1〜ランスデューリ−112・・・ダイ
アフラム、14・・・すl\、′16・・端面、18・
・・導波路ループ、20・・・人力導波路、24..2
8・・・エネルギ授受肖、2(う・・・出力導波路、3
32・・・光源、34・・・周波数検出器、35・・・
周波数h1 特ム′1出願人 二1ブイデッド・テクノ[1シース・
]−ボレイシ1ン
成要素を示づ拡大斜視図ぐあり、端面上に導波路ループ
、入力導波路及び出力導波路をイJりる圧力トランスデ
コーサが部分的に切欠かれて示されている。 第2図は第1図中の几力I〜ランスデコーりのみのr祈
面図であり、ダイアフラムはハー力作川下の偏位を誇張
して図示され−Cいる。 第3図は圧力トランスデユーりの端面十に配置された導
波路ループ内で共振づる光、■ネル:1゛のXO」周波
数偏移を承りグラフである。 第4図はj1現化された差動周波数偏移と1」力l〜ラ
ンスデコーリ−のタイアワラム上のを波路ループの半径
どの関係を示リグラフ(゛ある。 10・・・圧力1〜ランスデューリ−112・・・ダイ
アフラム、14・・・すl\、′16・・端面、18・
・・導波路ループ、20・・・人力導波路、24..2
8・・・エネルギ授受肖、2(う・・・出力導波路、3
32・・・光源、34・・・周波数検出器、35・・・
周波数h1 特ム′1出願人 二1ブイデッド・テクノ[1シース・
]−ボレイシ1ン
Claims (2)
- (1)圧ノコモニタに於て、 一つの表面に配置された導波路ループを有し圧力の作用
下に偏位して前記導波路ループ内に応力誘起複屈折を生
じさけるダイアノラムを含んでいる圧ノJ応答手段と、 光エネルギを前記導波路ループへ結合覆るため前記導波
路ループに隣接して配置されている先入ツノ手段と、 前記導波路ループから光エネルギの一部分を結合するた
め同じく前記導波路ループに隣接して配置され−Cいる
光出力手段とを含んでおり、それにより、前記ダイアフ
ラムに作用する圧力に比例する前記応力誘起複屈折の結
果として、前記導波路ループ内で共振する光エネルギの
スペクトル応答に差動周波数偏移が生ずる ことを特徴とする圧力モニタ。 - (2)温度補償された圧力測定システムに於て、一つの
表面に設置された導波路ループを有し表面に作用する圧
力に応答して前記導波路ループ内に応力誘起複屈折を生
じさせるダイアフラムを含んでいる圧力応答手段と、 光■ネルギを前記導波路ループへ結合するため前記導波
路ループに隣接して配置されている光源手段と 前記導波路ループから結合された光」−ネルギを受ける
べく配置されている周波数検出手段とを含んCおり、 それにより、前記ダイアフラムに作用する圧力に比例す
る前記応力誘起複屈折の結果として、前記導波路ループ
内で共振1−る光]−ネルギのスペクトル応答に差動周
波数偏移が生ずる ことを特徴とりる温麻補(ftされた圧力測定システム
。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/565,496 US4577100A (en) | 1983-12-27 | 1983-12-27 | Temperature compensated optical pressure sensor |
| US565496 | 1983-12-27 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60142226A true JPS60142226A (ja) | 1985-07-27 |
| JPH0319497B2 JPH0319497B2 (ja) | 1991-03-15 |
Family
ID=24258867
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59201404A Granted JPS60142226A (ja) | 1983-12-27 | 1984-09-26 | 圧力モニタ及び温度補償された圧力測定システム |
Country Status (17)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4577100A (ja) |
| JP (1) | JPS60142226A (ja) |
| KR (1) | KR930003546B1 (ja) |
| AU (1) | AU572189B2 (ja) |
| BE (1) | BE900681A (ja) |
| CA (1) | CA1220048A (ja) |
| CH (1) | CH667735A5 (ja) |
| DE (1) | DE3432989A1 (ja) |
| DK (1) | DK461784A (ja) |
| ES (1) | ES8605896A1 (ja) |
| FR (1) | FR2557293B1 (ja) |
| GB (1) | GB2147412B (ja) |
| IL (1) | IL72874A (ja) |
| IT (1) | IT1175757B (ja) |
| NL (1) | NL8402801A (ja) |
| SE (1) | SE451279B (ja) |
| ZA (1) | ZA846885B (ja) |
Families Citing this family (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4775214A (en) * | 1983-12-21 | 1988-10-04 | Rosemount Inc. | Wavelength coded resonant optical sensor |
| HU196259B (en) * | 1984-09-06 | 1988-10-28 | Almasine Barsi Erzsebet | Optoelktromechanical measuring transducer |
| GB8427744D0 (en) * | 1984-11-02 | 1996-11-13 | Plessey Co Plc | Improvements in or relating to hydrophones |
| US4782492A (en) * | 1986-05-05 | 1988-11-01 | Polaroid Corporation | Thermally controllable optical devices and system |
| US4733561A (en) * | 1986-07-21 | 1988-03-29 | The Foxboro Company | Self-oscillating, optical resonant sensor |
| US4725728A (en) * | 1986-08-13 | 1988-02-16 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Fiber optical time delay resonant oscillating strain gauge |
| US4770492A (en) * | 1986-10-28 | 1988-09-13 | Spectran Corporation | Pressure or strain sensitive optical fiber |
| US5020379A (en) * | 1986-10-30 | 1991-06-04 | The Babcock & Wilcox Company | Microbend fiber optic strain gauge |
| US4794800A (en) * | 1987-10-01 | 1989-01-03 | General Dynamics Corporation | Wire sensing and measurement apparatus |
| US4891511A (en) * | 1988-08-31 | 1990-01-02 | The Babcock & Wilcox Co. | Fiber optic microbend sensor with braided fibers |
| US4904863A (en) * | 1988-11-25 | 1990-02-27 | Loral Corporation | Polarimetric optical fiber pressure sensor |
| US4959539A (en) * | 1989-03-20 | 1990-09-25 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Flexural disk fiber optic hydrophone |
| US4988862A (en) * | 1989-09-27 | 1991-01-29 | Ford Motor Company | Optical occupant restraint activation sensor |
| US4996419A (en) * | 1989-12-26 | 1991-02-26 | United Technologies Corporation | Distributed multiplexed optical fiber Bragg grating sensor arrangeement |
| US5258614A (en) * | 1991-05-13 | 1993-11-02 | The Babcock & Wilcox Company | Optical fiber loop temperature sensor |
| US5196694A (en) * | 1991-05-13 | 1993-03-23 | The Babcock & Wilcox Company | Temperature compensated self-referenced fiber optic microbend pressure transducer |
| US5187983A (en) * | 1991-09-04 | 1993-02-23 | Universite Du Quebec A Hull | Fiber-optic strain gauge manometer |
| US5377285A (en) * | 1993-02-11 | 1994-12-27 | Honeywell Inc. | Technique for making ultrastable ring resonators and lasers |
| US5448586A (en) * | 1993-09-20 | 1995-09-05 | At&T Corp. | Pumping arrangements for arrays of planar optical devices |
| US5396805A (en) * | 1993-09-30 | 1995-03-14 | Halliburton Company | Force sensor and sensing method using crystal rods and light signals |
| US6016702A (en) * | 1997-09-08 | 2000-01-25 | Cidra Corporation | High sensitivity fiber optic pressure sensor for use in harsh environments |
| US6522797B1 (en) | 1998-09-01 | 2003-02-18 | Input/Output, Inc. | Seismic optical acoustic recursive sensor system |
| DE10024588A1 (de) * | 2000-05-19 | 2001-11-22 | Endress Hauser Gmbh Co | Vorrichtung zur Bestimmung bzw. zur Überwachung des Drucks oder Differenzdrucks zumindest eines Prozeßmediums |
| DE10114635A1 (de) * | 2001-03-23 | 2002-09-26 | Bernhard Trier | Drucksensor |
| GB2466929A (en) * | 2009-01-09 | 2010-07-14 | Smart Fibres Ltd | Pressure sensor device comprising flexible diaphragm with integral optical sensor |
| GB2558963A (en) * | 2017-01-18 | 2018-07-25 | Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd | Flexible membrane |
| KR102703791B1 (ko) | 2023-06-14 | 2024-09-06 | 주식회사 폴리웍스 | 압력센서와 온도센서가 결합된 필름형 복합센서 |
Citations (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63115214U (ja) * | 1987-01-21 | 1988-07-25 | ||
| JPH05160102A (ja) * | 1991-12-06 | 1993-06-25 | Fujitsu Ltd | スピンナ及びそれを用いた半導体装置の製造方法 |
| JPH07240360A (ja) * | 1994-03-01 | 1995-09-12 | Fujitsu Ltd | 薬液塗布装置 |
| JPH07263325A (ja) * | 1994-03-17 | 1995-10-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 吸引チャック式基板回転処理装置 |
| JPH08169971A (ja) * | 1994-12-19 | 1996-07-02 | Nitto Denko Corp | 吸着固定に用いる多孔質シートおよび該多孔質シートを用いる吸着固定方法 |
| JPH11111825A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-23 | Samsung Electron Co Ltd | 半導体装置製造設備のチャック組立体 |
| JPH11145263A (ja) * | 1997-11-07 | 1999-05-28 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
| JP2000254857A (ja) * | 1999-01-06 | 2000-09-19 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 平面加工装置及び平面加工方法 |
| JP2005125446A (ja) * | 2003-10-23 | 2005-05-19 | Taiheiyo Cement Corp | 真空吸着用治具 |
| JP2011216520A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板保持回転装置および基板処理装置 |
| JP2011222800A (ja) * | 2010-04-12 | 2011-11-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | 保持テーブル |
| JP2013098248A (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | Disco Abrasive Syst Ltd | 保持テーブル |
| JP2013232630A (ja) * | 2012-04-04 | 2013-11-14 | Tokyo Electron Ltd | 基板保持装置および基板保持方法 |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3517560A (en) * | 1965-03-23 | 1970-06-30 | North American Rockwell | Accelerometer |
| US3786681A (en) * | 1971-03-04 | 1974-01-22 | Sci Systems Inc | Electromagnetic wave modulation and measurement system and method |
| US3725809A (en) * | 1971-04-05 | 1973-04-03 | Bell Telephone Labor Inc | Dielectric ring lasers using waveguiding |
| US3949320A (en) * | 1974-11-29 | 1976-04-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Miniature crystalline laser |
| US4071753A (en) * | 1975-03-31 | 1978-01-31 | Gte Laboratories Incorporated | Transducer for converting acoustic energy directly into optical energy |
| US4295738A (en) * | 1979-08-30 | 1981-10-20 | United Technologies Corporation | Fiber optic strain sensor |
| DE3142164A1 (de) * | 1980-10-27 | 1982-06-16 | Rosemount Engineering Co. Ltd., Bognor Regis, Sussex | Vorrichtung zur messung von druckunterschieden |
| JPS5819528A (ja) * | 1981-07-28 | 1983-02-04 | Shimadzu Corp | 光圧力センサ |
| ATE38099T1 (de) * | 1981-12-16 | 1988-11-15 | Polaroid Corp | Optische hohlraumresonanzfilter. |
| US4466295A (en) * | 1982-09-20 | 1984-08-21 | Trw Inc. | Photoelastic sensing means |
| US4519252A (en) * | 1983-03-21 | 1985-05-28 | Sperry Corporation | Pressure and temperature compensated photoelastic hydrophone |
-
1983
- 1983-12-27 US US06/565,496 patent/US4577100A/en not_active Expired - Lifetime
-
1984
- 1984-07-19 CA CA000459286A patent/CA1220048A/en not_active Expired
- 1984-09-03 GB GB08422229A patent/GB2147412B/en not_active Expired
- 1984-09-03 ZA ZA846885A patent/ZA846885B/xx unknown
- 1984-09-05 IL IL72874A patent/IL72874A/xx unknown
- 1984-09-07 DE DE19843432989 patent/DE3432989A1/de active Granted
- 1984-09-13 NL NL8402801A patent/NL8402801A/nl not_active Application Discontinuation
- 1984-09-13 CH CH4370/84A patent/CH667735A5/de not_active IP Right Cessation
- 1984-09-13 AU AU33016/84A patent/AU572189B2/en not_active Ceased
- 1984-09-21 ES ES536113A patent/ES8605896A1/es not_active Expired
- 1984-09-26 JP JP59201404A patent/JPS60142226A/ja active Granted
- 1984-09-26 SE SE8404824A patent/SE451279B/sv not_active IP Right Cessation
- 1984-09-26 BE BE0/213724A patent/BE900681A/fr not_active IP Right Cessation
- 1984-09-27 DK DK461784A patent/DK461784A/da not_active Application Discontinuation
- 1984-09-28 KR KR1019840006024A patent/KR930003546B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 1984-09-28 IT IT22903/84A patent/IT1175757B/it active
- 1984-09-28 FR FR8414907A patent/FR2557293B1/fr not_active Expired
Patent Citations (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63115214U (ja) * | 1987-01-21 | 1988-07-25 | ||
| JPH05160102A (ja) * | 1991-12-06 | 1993-06-25 | Fujitsu Ltd | スピンナ及びそれを用いた半導体装置の製造方法 |
| JPH07240360A (ja) * | 1994-03-01 | 1995-09-12 | Fujitsu Ltd | 薬液塗布装置 |
| JPH07263325A (ja) * | 1994-03-17 | 1995-10-13 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 吸引チャック式基板回転処理装置 |
| JPH08169971A (ja) * | 1994-12-19 | 1996-07-02 | Nitto Denko Corp | 吸着固定に用いる多孔質シートおよび該多孔質シートを用いる吸着固定方法 |
| JPH11111825A (ja) * | 1997-09-30 | 1999-04-23 | Samsung Electron Co Ltd | 半導体装置製造設備のチャック組立体 |
| JPH11145263A (ja) * | 1997-11-07 | 1999-05-28 | Tokyo Electron Ltd | 処理装置 |
| JP2000254857A (ja) * | 1999-01-06 | 2000-09-19 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | 平面加工装置及び平面加工方法 |
| JP2005125446A (ja) * | 2003-10-23 | 2005-05-19 | Taiheiyo Cement Corp | 真空吸着用治具 |
| JP2011216520A (ja) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板保持回転装置および基板処理装置 |
| JP2011222800A (ja) * | 2010-04-12 | 2011-11-04 | Disco Abrasive Syst Ltd | 保持テーブル |
| JP2013098248A (ja) * | 2011-10-28 | 2013-05-20 | Disco Abrasive Syst Ltd | 保持テーブル |
| JP2013232630A (ja) * | 2012-04-04 | 2013-11-14 | Tokyo Electron Ltd | 基板保持装置および基板保持方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| ZA846885B (en) | 1985-04-24 |
| NL8402801A (nl) | 1985-07-16 |
| IL72874A0 (en) | 1984-12-31 |
| ES8605896A1 (es) | 1986-04-01 |
| ES536113A0 (es) | 1986-04-01 |
| CA1220048A (en) | 1987-04-07 |
| JPH0319497B2 (ja) | 1991-03-15 |
| DK461784A (da) | 1985-06-28 |
| GB2147412B (en) | 1987-06-03 |
| AU572189B2 (en) | 1988-05-05 |
| AU3301684A (en) | 1985-07-04 |
| SE8404824D0 (sv) | 1984-09-26 |
| SE8404824L (sv) | 1985-06-28 |
| IT1175757B (it) | 1987-07-15 |
| SE451279B (sv) | 1987-09-21 |
| DK461784D0 (da) | 1984-09-27 |
| US4577100A (en) | 1986-03-18 |
| IL72874A (en) | 1988-09-30 |
| FR2557293B1 (fr) | 1987-03-20 |
| FR2557293A1 (fr) | 1985-06-28 |
| KR930003546B1 (ko) | 1993-05-03 |
| DE3432989C2 (ja) | 1993-04-01 |
| BE900681A (fr) | 1985-01-16 |
| IT8422903A0 (it) | 1984-09-28 |
| GB8422229D0 (en) | 1984-10-10 |
| KR850005083A (ko) | 1985-08-21 |
| GB2147412A (en) | 1985-05-09 |
| CH667735A5 (de) | 1988-10-31 |
| DE3432989A1 (de) | 1985-07-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4577100A (en) | Temperature compensated optical pressure sensor | |
| US5319435A (en) | Method and apparatus for measuring the wavelength of spectrally narrow optical signals | |
| US4659923A (en) | Fiber optic interferometer transducer | |
| US6640647B1 (en) | System for structural strain sensing by optical fiber sensor | |
| CN110470240B (zh) | 一种光纤曲率测量传感器及其测量系统 | |
| CN103217124B (zh) | 一种基于马赫曾德干涉的光纤传感器 | |
| US20080212917A1 (en) | Fiber Optic Temperature and Pressure Sensor and System Incorporating Same | |
| CN102261967B (zh) | 基于同轴光纤的温度和应力双参量光纤传感器 | |
| CN112414581B (zh) | 一种基于多芯光纤的温度传感器 | |
| CN103852191B (zh) | 一种折射率不敏感的光纤温度传感器 | |
| CN103471701A (zh) | 一种光纤声波传感器及光纤声波探测方法 | |
| CN203908582U (zh) | S型锥内嵌式光纤布拉格光栅双参数传感器 | |
| CN106197492A (zh) | 基于光纤复合法珀腔结构的法珀腔长与折射率计算方法 | |
| CN113945542A (zh) | 一种光纤传感器、基于光纤传感器的检测装置及其应用 | |
| CN100582658C (zh) | 基于光纤激光器的弯曲半径测量仪 | |
| JP2004530899A (ja) | 対をなすブラッグ格子の使用に基づいた差分測定システム | |
| CN103364105B (zh) | 基于多模干涉的光纤折射率与温度传感器及其测量方法 | |
| CN209559364U (zh) | 一种温度、应变传感器 | |
| US11977254B2 (en) | Composed multicore optical fiber device | |
| CN106644158A (zh) | 一种介质柱型光子晶体波导与微腔耦合的温度传感器 | |
| CN105841839A (zh) | 一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量温度场的方法 | |
| CN116448007B (zh) | 一种传感探头、曲率传感器及曲率检测方法 | |
| CN105866711A (zh) | 一种利用光纤萨格纳克干涉仪测量磁场的方法 | |
| CN121577188B (zh) | 一种基于双fp并联结构的光纤温度传感器 | |
| CN111982346A (zh) | 一种高灵敏度的光纤温度传感器 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |