JPS60142276A - 半導体素子の測定装置 - Google Patents
半導体素子の測定装置Info
- Publication number
- JPS60142276A JPS60142276A JP24675483A JP24675483A JPS60142276A JP S60142276 A JPS60142276 A JP S60142276A JP 24675483 A JP24675483 A JP 24675483A JP 24675483 A JP24675483 A JP 24675483A JP S60142276 A JPS60142276 A JP S60142276A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- angle
- image sensor
- signal
- light intensity
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 6
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- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(発明の技術分野)
本発明は、半導体素子の動特性である遠視野像を一次元
イ2−ジセンサを用い効果的に測定する特性装置に関す
る、。
イ2−ジセンサを用い効果的に測定する特性装置に関す
る、。
(従来技術)
上記のような半導体レーザダイオードの遠視野像特性の
測定において、従来の測定方法は、回転機t’flt
K電動モータを使用し、回転角度の検出にボグンショt
メータを用い、レーザダイオードの光強度と、放射角度
を電気的アナログ量で出力し、レコーダに記録する方法
であった。そのため、レコーダの位檻合せの繁雑さ、レ
コーダの応答速度のおそさ、!動モーターホ動による機
械的的摩耗と、暗室での測定する作業による作業能率の
低下、回転部の摩耗による光軸の位置ズレ、おLびこの
光軸の位置ズレによる測定精度の低下という欠点があっ
た。
測定において、従来の測定方法は、回転機t’flt
K電動モータを使用し、回転角度の検出にボグンショt
メータを用い、レーザダイオードの光強度と、放射角度
を電気的アナログ量で出力し、レコーダに記録する方法
であった。そのため、レコーダの位檻合せの繁雑さ、レ
コーダの応答速度のおそさ、!動モーターホ動による機
械的的摩耗と、暗室での測定する作業による作業能率の
低下、回転部の摩耗による光軸の位置ズレ、おLびこの
光軸の位置ズレによる測定精度の低下という欠点があっ
た。
(発明の目的)
本発明の目的は、測定値の信頼性を落すことなく、作業
性が非常に良く、また暗室を使用せずに遠視野像を測定
することのできる測定装置を提供することにある。
性が非常に良く、また暗室を使用せずに遠視野像を測定
することのできる測定装置を提供することにある。
(発明の構成)
本発明によれは、レーザダイオード光軸カイトソケット
の付いた90°回転駆動部とその駆動装置、レーザダイ
オードを発振させるレーザバイアス電源、強いレーザ光
の減衰と測定室内照度の減−ジセンサを動作させるセン
サ駆動回路と一次元イメージセンサからの光強度および
角度に対するアナログ信号とタイミング信号とを補正す
る光強度/角度補正製(2)、および補正装置から出力
された両信号を直視する直視装置とを含む半導体素子の
測定装置を得る。
の付いた90°回転駆動部とその駆動装置、レーザダイ
オードを発振させるレーザバイアス電源、強いレーザ光
の減衰と測定室内照度の減−ジセンサを動作させるセン
サ駆動回路と一次元イメージセンサからの光強度および
角度に対するアナログ信号とタイミング信号とを補正す
る光強度/角度補正製(2)、および補正装置から出力
された両信号を直視する直視装置とを含む半導体素子の
測定装置を得る。
(発明の実施例)
つぎに、図面を診照して本発明をより詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。レ
ーザダイメート1を光軸ガイドソケット付きの90°回
転駆動部3に挿入固定し、レーザダイオード1が規定光
出力を出す動作抵流(直をレーザバイアス電源2に接続
して電流を印加する。
ーザダイメート1を光軸ガイドソケット付きの90°回
転駆動部3に挿入固定し、レーザダイオード1が規定光
出力を出す動作抵流(直をレーザバイアス電源2に接続
して電流を印加する。
レーザダイオード1の光出力は光フィルタ5で減衰され
る。ここで欧州した元フィルタ5は従来の暗室での測定
であったものが室内照度も十分減衰させることを兼ねそ
なえたものである。こゴtば、レーザダイオード1の1
光出力が大きいと同時に、−次元イメージセンサ6が高
感度であるためレーザダイオード1の光出力と室内照度
の両者を減衰させる必要があるからである。また、レー
ザダイオード1と一次元イメージセンサ6との光軸は±
数十マイクロメートル内におさ址るよう18 ha的嵩
高精度設計される。−次元イメージセンサ6で一直線状
に受けた光量は、センサ駆動回路7で光を電気信号に変
え増幅し、また角度に対するタイミング信号を発生させ
る。両者の信号を遠視野像波形図@9に合せるべく、ス
フ−リングを行なう。
る。ここで欧州した元フィルタ5は従来の暗室での測定
であったものが室内照度も十分減衰させることを兼ねそ
なえたものである。こゴtば、レーザダイオード1の1
光出力が大きいと同時に、−次元イメージセンサ6が高
感度であるためレーザダイオード1の光出力と室内照度
の両者を減衰させる必要があるからである。また、レー
ザダイオード1と一次元イメージセンサ6との光軸は±
数十マイクロメートル内におさ址るよう18 ha的嵩
高精度設計される。−次元イメージセンサ6で一直線状
に受けた光量は、センサ駆動回路7で光を電気信号に変
え増幅し、また角度に対するタイミング信号を発生させ
る。両者の信号を遠視野像波形図@9に合せるべく、ス
フ−リングを行なう。
光強度/角度補正装置It、通って、第2図に表示され
ているスケールリミット及び遠視野像が見視装置である
遠視野像直視装置9に表わされ、測定者の目視によシ判
定される。
ているスケールリミット及び遠視野像が見視装置である
遠視野像直視装置9に表わされ、測定者の目視によシ判
定される。
と(Dような本発明の半導体素子測定装置は、従来のも
のに比べて高精度で測定が出来、高い作業性が得れると
同時に、保守運用両面での経済的効果は大きい。
のに比べて高精度で測定が出来、高い作業性が得れると
同時に、保守運用両面での経済的効果は大きい。
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は、規
格線が記入されている直視装置で観測した遠視野像波形
図である。 1・・・・・・レーザダイオード% 2・・・・・・レ
ーザバイアス電源、3・・・・・・90’ 回転駆動部
、4・・印・9o。 回転駆動装置、5・・・・・・光学フィルタ、6・山・
・−次元イメージセンサ、7・・・・・・センサ駆動回
路、8・・・・・・光強度/角度補正装置、9・・・・
・・遠視野像直視装置。
格線が記入されている直視装置で観測した遠視野像波形
図である。 1・・・・・・レーザダイオード% 2・・・・・・レ
ーザバイアス電源、3・・・・・・90’ 回転駆動部
、4・・印・9o。 回転駆動装置、5・・・・・・光学フィルタ、6・山・
・−次元イメージセンサ、7・・・・・・センサ駆動回
路、8・・・・・・光強度/角度補正装置、9・・・・
・・遠視野像直視装置。
Claims (1)
- 半導体素子に規定条件の電流を供給し、該半導体素子の
光学的放射特性である遠視野像を測定する半導体素子の
測定装置に於いて、光軸ガイド治具の付いた回転駆動機
構部と、前記半導体素子を発振させるバイアス電源と、
強いレーザ光を減衰する光学フィルタと、放射状に発し
た光を検出するイメージセンサと、該イメージセンサの
駆動回路と、測定素子毎に自動的にスケール補正を行な
う光強度/角度補正装置と、該光強If/角度補正で補
正された光強度信号と角度信号の両信号を直視する直視
装置とを含むことを特徴とする半導体素子の特性測定装
置6゜
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24675483A JPS60142276A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 半導体素子の測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24675483A JPS60142276A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 半導体素子の測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60142276A true JPS60142276A (ja) | 1985-07-27 |
Family
ID=17153156
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24675483A Pending JPS60142276A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 半導体素子の測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60142276A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62209333A (ja) * | 1986-03-11 | 1987-09-14 | Sony Corp | 光半導体装置の光学特性測定方法とその装置 |
| JPS63167234A (ja) * | 1986-12-29 | 1988-07-11 | Tamura Seisakusho Co Ltd | 露光用光学系測定器 |
-
1983
- 1983-12-29 JP JP24675483A patent/JPS60142276A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62209333A (ja) * | 1986-03-11 | 1987-09-14 | Sony Corp | 光半導体装置の光学特性測定方法とその装置 |
| JPS63167234A (ja) * | 1986-12-29 | 1988-07-11 | Tamura Seisakusho Co Ltd | 露光用光学系測定器 |
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