JPS60142276A - 半導体素子の測定装置 - Google Patents

半導体素子の測定装置

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JPS60142276A
JPS60142276A JP24675483A JP24675483A JPS60142276A JP S60142276 A JPS60142276 A JP S60142276A JP 24675483 A JP24675483 A JP 24675483A JP 24675483 A JP24675483 A JP 24675483A JP S60142276 A JPS60142276 A JP S60142276A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
angle
image sensor
signal
light intensity
optical
Prior art date
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Pending
Application number
JP24675483A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Tada
俊夫 多田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
Priority to JP24675483A priority Critical patent/JPS60142276A/ja
Publication of JPS60142276A publication Critical patent/JPS60142276A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は、半導体素子の動特性である遠視野像を一次元
イ2−ジセンサを用い効果的に測定する特性装置に関す
る、。
(従来技術) 上記のような半導体レーザダイオードの遠視野像特性の
測定において、従来の測定方法は、回転機t’flt 
K電動モータを使用し、回転角度の検出にボグンショt
メータを用い、レーザダイオードの光強度と、放射角度
を電気的アナログ量で出力し、レコーダに記録する方法
であった。そのため、レコーダの位檻合せの繁雑さ、レ
コーダの応答速度のおそさ、!動モーターホ動による機
械的的摩耗と、暗室での測定する作業による作業能率の
低下、回転部の摩耗による光軸の位置ズレ、おLびこの
光軸の位置ズレによる測定精度の低下という欠点があっ
た。
(発明の目的) 本発明の目的は、測定値の信頼性を落すことなく、作業
性が非常に良く、また暗室を使用せずに遠視野像を測定
することのできる測定装置を提供することにある。
(発明の構成) 本発明によれは、レーザダイオード光軸カイトソケット
の付いた90°回転駆動部とその駆動装置、レーザダイ
オードを発振させるレーザバイアス電源、強いレーザ光
の減衰と測定室内照度の減−ジセンサを動作させるセン
サ駆動回路と一次元イメージセンサからの光強度および
角度に対するアナログ信号とタイミング信号とを補正す
る光強度/角度補正製(2)、および補正装置から出力
された両信号を直視する直視装置とを含む半導体素子の
測定装置を得る。
(発明の実施例) つぎに、図面を診照して本発明をより詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。レ
ーザダイメート1を光軸ガイドソケット付きの90°回
転駆動部3に挿入固定し、レーザダイオード1が規定光
出力を出す動作抵流(直をレーザバイアス電源2に接続
して電流を印加する。
レーザダイオード1の光出力は光フィルタ5で減衰され
る。ここで欧州した元フィルタ5は従来の暗室での測定
であったものが室内照度も十分減衰させることを兼ねそ
なえたものである。こゴtば、レーザダイオード1の1
光出力が大きいと同時に、−次元イメージセンサ6が高
感度であるためレーザダイオード1の光出力と室内照度
の両者を減衰させる必要があるからである。また、レー
ザダイオード1と一次元イメージセンサ6との光軸は±
数十マイクロメートル内におさ址るよう18 ha的嵩
高精度設計される。−次元イメージセンサ6で一直線状
に受けた光量は、センサ駆動回路7で光を電気信号に変
え増幅し、また角度に対するタイミング信号を発生させ
る。両者の信号を遠視野像波形図@9に合せるべく、ス
フ−リングを行なう。
光強度/角度補正装置It、通って、第2図に表示され
ているスケールリミット及び遠視野像が見視装置である
遠視野像直視装置9に表わされ、測定者の目視によシ判
定される。
と(Dような本発明の半導体素子測定装置は、従来のも
のに比べて高精度で測定が出来、高い作業性が得れると
同時に、保守運用両面での経済的効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は、規
格線が記入されている直視装置で観測した遠視野像波形
図である。 1・・・・・・レーザダイオード% 2・・・・・・レ
ーザバイアス電源、3・・・・・・90’ 回転駆動部
、4・・印・9o。 回転駆動装置、5・・・・・・光学フィルタ、6・山・
・−次元イメージセンサ、7・・・・・・センサ駆動回
路、8・・・・・・光強度/角度補正装置、9・・・・
・・遠視野像直視装置。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体素子に規定条件の電流を供給し、該半導体素子の
    光学的放射特性である遠視野像を測定する半導体素子の
    測定装置に於いて、光軸ガイド治具の付いた回転駆動機
    構部と、前記半導体素子を発振させるバイアス電源と、
    強いレーザ光を減衰する光学フィルタと、放射状に発し
    た光を検出するイメージセンサと、該イメージセンサの
    駆動回路と、測定素子毎に自動的にスケール補正を行な
    う光強度/角度補正装置と、該光強If/角度補正で補
    正された光強度信号と角度信号の両信号を直視する直視
    装置とを含むことを特徴とする半導体素子の特性測定装
    置6゜
JP24675483A 1983-12-29 1983-12-29 半導体素子の測定装置 Pending JPS60142276A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62209333A (ja) * 1986-03-11 1987-09-14 Sony Corp 光半導体装置の光学特性測定方法とその装置
JPS63167234A (ja) * 1986-12-29 1988-07-11 Tamura Seisakusho Co Ltd 露光用光学系測定器

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62209333A (ja) * 1986-03-11 1987-09-14 Sony Corp 光半導体装置の光学特性測定方法とその装置
JPS63167234A (ja) * 1986-12-29 1988-07-11 Tamura Seisakusho Co Ltd 露光用光学系測定器

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