JPS60143731A - 温度検知装置 - Google Patents
温度検知装置Info
- Publication number
- JPS60143731A JPS60143731A JP58251330A JP25133083A JPS60143731A JP S60143731 A JPS60143731 A JP S60143731A JP 58251330 A JP58251330 A JP 58251330A JP 25133083 A JP25133083 A JP 25133083A JP S60143731 A JPS60143731 A JP S60143731A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- thermistors
- thermistor
- data
- waveform
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
- G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
- G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
- G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、複数個のサーミスタを有する温度検知装置に
関するものである。
関するものである。
従来例の構成とその問題点
従来、複数個のサーミスタを有する温度検知装置におい
て、その温度検知方法は、第１図に示す抵抗値と抵抗Ｒ
Ａ−ＲＢ−により分圧された電圧ｖａあるいはｖｂと、
温度スキャン発生装置３より構成された階段波形との比
較により、サーミスタからの情報を、温度データとして
検知するものであるが、サーミスタを、複数個有する場
合には、それぞれのサーミスタに関して、温度データ信
号を形成するために抵抗ＲＡ−ＲＢが必要であり、比較
装置４もサーミスタの個数だけ必要であった。同様に、
これらセンサデータを解析し実質的な温度認識を行なう
解析装置もセンサーの個数だけ必要であった。
て、その温度検知方法は、第１図に示す抵抗値と抵抗Ｒ
Ａ−ＲＢ−により分圧された電圧ｖａあるいはｖｂと、
温度スキャン発生装置３より構成された階段波形との比
較により、サーミスタからの情報を、温度データとして
検知するものであるが、サーミスタを、複数個有する場
合には、それぞれのサーミスタに関して、温度データ信
号を形成するために抵抗ＲＡ−ＲＢが必要であり、比較
装置４もサーミスタの個数だけ必要であった。同様に、
これらセンサデータを解析し実質的な温度認識を行なう
解析装置もセンサーの個数だけ必要であった。
しだがってこのような方法では、部品数がセンサの数が
増えれば、その数だけ必要となる。また、回路７溝成は
、センサが同じであるならば、同一の回路がセンサーの
数だけ存在することになり、非常に無駄な回路構成であ
ることがよくわかる。また、同じ回路が複数個存在する
ということは、それぞれが持つ、誤差、ばらつきという
ものが、検知データに非常に大きな影響を与えることに
なり、信頼性の面からも間頚であＡへ 発明の目的 そこで本発明は、上記従来の問題点を解消し、一つの基
本回路構成だけにより、複数個の温度検知装置からのデ
ータを検知することにより、部品数の減少と、温度検知
の精度向上をはかることを目的とするものである。
増えれば、その数だけ必要となる。また、回路７溝成は
、センサが同じであるならば、同一の回路がセンサーの
数だけ存在することになり、非常に無駄な回路構成であ
ることがよくわかる。また、同じ回路が複数個存在する
ということは、それぞれが持つ、誤差、ばらつきという
ものが、検知データに非常に大きな影響を与えることに
なり、信頼性の面からも間頚であＡへ 発明の目的 そこで本発明は、上記従来の問題点を解消し、一つの基
本回路構成だけにより、複数個の温度検知装置からのデ
ータを検知することにより、部品数の減少と、温度検知
の精度向上をはかることを目的とするものである。
発明の構成
この目的を達成するだめに本発明は、複数個の感温抵抗
素子を有する温度検知装置において、これら複数個の感
温抵抗素子を実際的な温度判断を行なう、１組の温度ス
キャン発生装置、比較装置。
素子を有する温度検知装置において、これら複数個の感
温抵抗素子を実際的な温度判断を行なう、１組の温度ス
キャン発生装置、比較装置。
解析装置とに、時分割で選択、切換を行なわせる切換装
置を設けたものである。
置を設けたものである。
この構成により、一つの基本回路構成だけで、複数個の
感温抵抗素子からのデータを検知することが可能となり
、部品数の減少と、同じ回路での判断を行なえることに
より、温度検知の精度向上がはかれることになる。
感温抵抗素子からのデータを検知することが可能となり
、部品数の減少と、同じ回路での判断を行なえることに
より、温度検知の精度向上がはかれることになる。
実施例の説明
以下、本発明をその一実施例を示す添付図面を参考に説
明する。
明する。
第２図、第３図において、サーミスタの温度変化に対応
した抵抗値の増減により、基準電圧レベルの変化により
温度変化をとらえることが可能なサーミスタ装置は、抵
抗ＲＡ−ＲＢ及びサーミスターａ、１ｂ より構成され
ており、サーミスタの変−化に対応してＶ の電圧レベ
ルが変化することになる。またこの２つのサーミスタは
基本回路であるＲＡ−ＲＢを共用化しているため、時分
割な検知方法をとることになる、すなわち、切換装置に
より２つのサーミスタの一方しかつながないようにして
あり、この動作を第４図Ｒ１・Ｒ２のような信号を与え
ることにより、一定周期で繰り返している。またこの動
作タイミングは、温度スキャン波形の一周明と同期させ
てあり、ｖｐの温度データである電圧は、このタイミン
グにのって電圧波形を構成している。
した抵抗値の増減により、基準電圧レベルの変化により
温度変化をとらえることが可能なサーミスタ装置は、抵
抗ＲＡ−ＲＢ及びサーミスターａ、１ｂ より構成され
ており、サーミスタの変−化に対応してＶ の電圧レベ
ルが変化することになる。またこの２つのサーミスタは
基本回路であるＲＡ−ＲＢを共用化しているため、時分
割な検知方法をとることになる、すなわち、切換装置に
より２つのサーミスタの一方しかつながないようにして
あり、この動作を第４図Ｒ１・Ｒ２のような信号を与え
ることにより、一定周期で繰り返している。またこの動
作タイミングは、温度スキャン波形の一周明と同期させ
てあり、ｖｐの温度データである電圧は、このタイミン
グにのって電圧波形を構成している。
これを比較装置４のコンパレータの一方に入力する。ま
たもう一方には、温度スキャン発生装置より抵抗を介し
て、第４回置度スキャン波形の階段波形が入力される。
たもう一方には、温度スキャン発生装置より抵抗を介し
て、第４回置度スキャン波形の階段波形が入力される。
この階段レベルは、サーミスタよりの温度データに対応
しており、レベルの大・小により、コンパレータ４より
の出力波形のデータが異ってくる。第４図の１１ は、
コンノ（レータ４の出力波形であるが、サーミスタ１ａ
、１ｂのそれぞれのデータは、Ｔ領域の中のｔｌ及びｔ
２のＨｉ時間データとして変換されており、これら情報
を、解析装置に入力し、データを読み取るものである。
しており、レベルの大・小により、コンパレータ４より
の出力波形のデータが異ってくる。第４図の１１ は、
コンノ（レータ４の出力波形であるが、サーミスタ１ａ
、１ｂのそれぞれのデータは、Ｔ領域の中のｔｌ及びｔ
２のＨｉ時間データとして変換されており、これら情報
を、解析装置に入力し、データを読み取るものである。
この方法であれば、サーミスタの数が複数個ある場合で
も、基本的な温度検知のだめの回路構成は１つで済み、
同一の回路構成を、サーミスタの数だけ必要とした従来
例のように、各サーミスタに対応した入力ボート（解析
装置）も共用化でき、非常に合理的であり、部品数も少
なくて済み、コスト的にも安価になることがわかり、利
用価値は大なるものである。
も、基本的な温度検知のだめの回路構成は１つで済み、
同一の回路構成を、サーミスタの数だけ必要とした従来
例のように、各サーミスタに対応した入力ボート（解析
装置）も共用化でき、非常に合理的であり、部品数も少
なくて済み、コスト的にも安価になることがわかり、利
用価値は大なるものである。
発明の効果
上記実施例より明らかなように本発明は、複数ｔＦＩＡ
Ｉ７″１廿−タストを曲分制で遺釈、切換を行なう切換
装置を設けた温度検知装置において、温度検知を行なう
基本的な回路構成を、サーミスタの数に関係なく１つで
済ますことが可能となり、大幅な部品数の減少が出来る
他、温度検知を基本的な同一の回路構成で行なうため、
複数の回路構成がもつ相互間の誤差、ばらつきがなくな
り、より精度の高い検知が可能となり、利用価値は大な
るも図は同温度検出装置のタイミングチャートである。
Ｉ７″１廿−タストを曲分制で遺釈、切換を行なう切換
装置を設けた温度検知装置において、温度検知を行なう
基本的な回路構成を、サーミスタの数に関係なく１つで
済ますことが可能となり、大幅な部品数の減少が出来る
他、温度検知を基本的な同一の回路構成で行なうため、
複数の回路構成がもつ相互間の誤差、ばらつきがなくな
り、より精度の高い検知が可能となり、利用価値は大な
るも図は同温度検出装置のタイミングチャートである。
１ａ、１ｂ・・・・・・サーミスタ、２・・・・・・切
換装置、３・・・・・・温度スキャン発生装置、４・・
・・・・比較装置、５・・・・・解析装置。
換装置、３・・・・・・温度スキャン発生装置、４・・
・・・・比較装置、５・・・・・解析装置。
Claims (1)
- 複数個のサーミスタを有するセンサ装置とこれら複数個
のサーミスタを時分割で選択、切換を行なう切換装置と
、温度を電圧波形で構成した７階段波形を発生する温度
スキャン発生装置と、この階段波形とセンサ装置より電
圧変換された温度データとを比較する比較装置と、この
時分割された複数個のサーミスタの比較データより温度
を検知する解析装置とより構成した温度検知装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58251330A JPS60143731A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 温度検知装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58251330A JPS60143731A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 温度検知装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60143731A true JPS60143731A (ja) | 1985-07-30 |
Family
ID=17221208
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58251330A Pending JPS60143731A (ja) | 1983-12-29 | 1983-12-29 | 温度検知装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60143731A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61129541A (ja) * | 1984-11-28 | 1986-06-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 温度検出装置 |
| US9267848B2 (en) | 2014-01-02 | 2016-02-23 | King Abdullah International Medical Research Center | Thermometer using differential temperature measurements |
-
1983
- 1983-12-29 JP JP58251330A patent/JPS60143731A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61129541A (ja) * | 1984-11-28 | 1986-06-17 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 温度検出装置 |
| US9267848B2 (en) | 2014-01-02 | 2016-02-23 | King Abdullah International Medical Research Center | Thermometer using differential temperature measurements |
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