JPS60143798A - シンチレ−シヨン検出器 - Google Patents
シンチレ−シヨン検出器Info
- Publication number
- JPS60143798A JPS60143798A JP24904383A JP24904383A JPS60143798A JP S60143798 A JPS60143798 A JP S60143798A JP 24904383 A JP24904383 A JP 24904383A JP 24904383 A JP24904383 A JP 24904383A JP S60143798 A JPS60143798 A JP S60143798A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- detection systems
- light detection
- mask
- scintillator
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/2002—Optical details, e.g. reflecting or diffusing layers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/161—Applications in the field of nuclear medicine, e.g. in vivo counting
- G01T1/164—Scintigraphy
- G01T1/1641—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras
- G01T1/1644—Static instruments for imaging the distribution of radioactivity in one or two dimensions using one or several scintillating elements; Radio-isotope cameras using an array of optically separate scintillation elements permitting direct location of scintillations
-
- G—PHYSICS
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- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/20—Measuring radiation intensity with scintillation detectors
- G01T1/202—Measuring radiation intensity with scintillation detectors the detector being a crystal
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）産業上の利用分野
この発明は、ポジトロンＥＣＴ装置（エミッシ璽ンコン
ピュータ断層撮影装置）やシングルフォトンＥＣＴ装置
等に用いられるシンチレーション検出器に関する。
ピュータ断層撮影装置）やシングルフォトンＥＣＴ装置
等に用いられるシンチレーション検出器に関する。
（ロ）従来技術
従来のポジトロンＥＣＴ装置やシングルフォトンＥＣＴ
装置等では、第１図のような、１個のシンチレータ１に
１個の光電子増倍管（以下ＰＭＴと略す）１１を光学的
に結合して構成されたシンチレーション検出器を多数リ
ング型に配列するようにしているが、ＰＭＴＩＩを小さ
くするのにも限界があるため、検出器幅ｄをあまり小さ
くできず、そのため空間分解能に制約があった。
装置等では、第１図のような、１個のシンチレータ１に
１個の光電子増倍管（以下ＰＭＴと略す）１１を光学的
に結合して構成されたシンチレーション検出器を多数リ
ング型に配列するようにしているが、ＰＭＴＩＩを小さ
くするのにも限界があるため、検出器幅ｄをあまり小さ
くできず、そのため空間分解能に制約があった。
また、たとえ、小さなシンチレータと小さなＰＭＴとの
組合せにより検出器幅ｄを小さくすることができたとし
ても、これをリング型に並べるとＰＭＴの本数が多くな
ってしまい、装置全体としては製造コストがかさんでし
まうという欠点が生じる。
組合せにより検出器幅ｄを小さくすることができたとし
ても、これをリング型に並べるとＰＭＴの本数が多くな
ってしまい、装置全体としては製造コストがかさんでし
まうという欠点が生じる。
（ハ）目的
この発明は、検出器の幅を非常に小さくでき、検出器を
リング型に配列したＥＣＴ装置に適用するのに向き、し
かも低コストで製造できる、高空間分解能のシンチレー
ション検出器を提供することを目的とする。
リング型に配列したＥＣＴ装置に適用するのに向き、し
かも低コストで製造できる、高空間分解能のシンチレー
ション検出器を提供することを目的とする。
（二つ構成
この発明によるシンチレーション検出器では、互いに光
学的に分離されて１方向に配列された複数個のシンチレ
ータと、互いに独立した光検出系が１方向に配列されて
いるＰＭＴとを、双方の配列方向が略直角になるように
光学的に結合させるとともに、その結合面に所定規則の
マスクを設け、各光検出系から得られる出力を演算して
上記マスクの規則からどのシンチレータに発光が生じた
かを判別するようにしている。
学的に分離されて１方向に配列された複数個のシンチレ
ータと、互いに独立した光検出系が１方向に配列されて
いるＰＭＴとを、双方の配列方向が略直角になるように
光学的に結合させるとともに、その結合面に所定規則の
マスクを設け、各光検出系から得られる出力を演算して
上記マスクの規則からどのシンチレータに発光が生じた
かを判別するようにしている。
（ホ）実施例
第２図において、６個のシンチレータ１〜６が１列に並
べられている。シンチレータ１〜６の各々の表面はＰＭ
Ｔ１２との結合面以外は光反射材が塗布され、それらの
間で互いに光のクロストークがないようにされている。
べられている。シンチレータ１〜６の各々の表面はＰＭ
Ｔ１２との結合面以外は光反射材が塗布され、それらの
間で互いに光のクロストークがないようにされている。
図ではこのシンチレータ１〜６の下面側が放射線が入射
する入力面となっており、上面側の出力面にＰＭＴ１２
の入力面が光学的に結合されている。このＰＭＴ１２は
互いに独立の２つの光検出系Ａ、Ｂを有する２回路内蔵
型の角型のもので、光検出系Ａ、Ｂが１つの方向に配列
されている。そして、この第２図に示すように、シンチ
レータ１〜６の配列方向と、ＰＭＴ１２における光検出
系Ａ、Ｈの配列方向とは互いに略直角になっており、そ
の結合面には、第３図にも斜線で示すように、たとえば
アルミニウムを蒸着してなるマスク２０が予め定めた所
定の規則にしたがって設けられている。
する入力面となっており、上面側の出力面にＰＭＴ１２
の入力面が光学的に結合されている。このＰＭＴ１２は
互いに独立の２つの光検出系Ａ、Ｂを有する２回路内蔵
型の角型のもので、光検出系Ａ、Ｂが１つの方向に配列
されている。そして、この第２図に示すように、シンチ
レータ１〜６の配列方向と、ＰＭＴ１２における光検出
系Ａ、Ｈの配列方向とは互いに略直角になっており、そ
の結合面には、第３図にも斜線で示すように、たとえば
アルミニウムを蒸着してなるマスク２０が予め定めた所
定の規則にしたがって設けられている。
第３図のようなパターンのマスク２０の場合、シンチレ
ータｌに放射線が入射したときは、Ａ出力が生じ、Ｂ出
力は生じない。シンチレータ２に放射線が入射したとき
は、Ａ出力はシンチレータｌの場合よりも小さくなり、
Ｂ出力も小さいながら得られる。Ａ出力とＢ出力との比
はシンチレータ３．４．５に行く程小さくなり、シンチ
レータ６ではＢ出力のみが生じる。このＡ出力とＢ出力
との比を計測すれば、放射線の入射したシンチレータが
どれであるか判別できる。
ータｌに放射線が入射したときは、Ａ出力が生じ、Ｂ出
力は生じない。シンチレータ２に放射線が入射したとき
は、Ａ出力はシンチレータｌの場合よりも小さくなり、
Ｂ出力も小さいながら得られる。Ａ出力とＢ出力との比
はシンチレータ３．４．５に行く程小さくなり、シンチ
レータ６ではＢ出力のみが生じる。このＡ出力とＢ出力
との比を計測すれば、放射線の入射したシンチレータが
どれであるか判別できる。
そこで、第４図のような回路にＡ出力とＢ出力とを導く
。すなわち、この図で、Ａ出力とＢ出力は加算回路２１
と減算回路２２とにそれぞれ送られる。これらＡ、Ｂ出
力を加算した信号はエネルギに対応するので、加算回路
２１から得られる加算信号はエネルギ信号として使われ
る。また、減算回路２２から得られる信号はＡ、Ｂ出力
の差信号であるから、放射線入射したシンチレータの位
置を表わす信号ということになる。そしてこの減算回路
２２の出力を割算回路２３によりエネルギ信号で割算す
ることによって規格化し、どのシンチレータに放射線入
射があったかを示す位置信号を得る。ポジトロンＥＣＴ
装置の検出器として使用する場合は、加算信号からタイ
ミング発生回路２４によりタイミング信号を作るととも
に第５図のようにリング型に配列する。
。すなわち、この図で、Ａ出力とＢ出力は加算回路２１
と減算回路２２とにそれぞれ送られる。これらＡ、Ｂ出
力を加算した信号はエネルギに対応するので、加算回路
２１から得られる加算信号はエネルギ信号として使われ
る。また、減算回路２２から得られる信号はＡ、Ｂ出力
の差信号であるから、放射線入射したシンチレータの位
置を表わす信号ということになる。そしてこの減算回路
２２の出力を割算回路２３によりエネルギ信号で割算す
ることによって規格化し、どのシンチレータに放射線入
射があったかを示す位置信号を得る。ポジトロンＥＣＴ
装置の検出器として使用する場合は、加算信号からタイ
ミング発生回路２４によりタイミング信号を作るととも
に第５図のようにリング型に配列する。
なお、回路を筒素化する場合、第６図に示すように、規
格化のための割算回路を省略することもできる。この第
６図の回路では、位置信号は若干不正確になるが、回路
構成は簡単になる。
格化のための割算回路を省略することもできる。この第
６図の回路では、位置信号は若干不正確になるが、回路
構成は簡単になる。
また、上記は説明に都合のよい１つの実施例について述
べたものであり、実施例の構成に限定される趣旨でない
ことは勿論である。たとえば、ＰＭＴは２回路内蔵型の
ものに限らず、３回路以上の内蔵型でもよいし、１回路
のものを並べてもよく、角型でなくてもよい。また、シ
ンチレータの個数も６個に限らない。シンチレータとＰ
ＭＴとの結合面に設けられるマスクのパターンも上記実
施例に限られず、第７図Ａ、Ｈのようなパターンとする
こともできる。位置信号を得るための回路も上記の構成
に限らない。
べたものであり、実施例の構成に限定される趣旨でない
ことは勿論である。たとえば、ＰＭＴは２回路内蔵型の
ものに限らず、３回路以上の内蔵型でもよいし、１回路
のものを並べてもよく、角型でなくてもよい。また、シ
ンチレータの個数も６個に限らない。シンチレータとＰ
ＭＴとの結合面に設けられるマスクのパターンも上記実
施例に限られず、第７図Ａ、Ｈのようなパターンとする
こともできる。位置信号を得るための回路も上記の構成
に限らない。
（へ）効果
この発明；こよれば、複数個のシンチレータと、複数個
の光検出系を有するＰＭＴとを組合せるとともに光結合
面に所定のマスクを設け、光検出系の各出力よりシンチ
レーションを生じたシンチレータがどれであるかを判別
するようにしているので、個々のシンチレータの幅をＰ
ＭＴと関係なく狭くでき、空間分解能を高めることがで
きるとともに、ＰＭＴの個数も増大することがないので
製造コストを低下できる。
の光検出系を有するＰＭＴとを組合せるとともに光結合
面に所定のマスクを設け、光検出系の各出力よりシンチ
レーションを生じたシンチレータがどれであるかを判別
するようにしているので、個々のシンチレータの幅をＰ
ＭＴと関係なく狭くでき、空間分解能を高めることがで
きるとともに、ＰＭＴの個数も増大することがないので
製造コストを低下できる。
第１図は従来例の外観を示す斜視図、第２図はこの発明
の一実施例の外観を示す斜視図、第３図は同実施例のマ
スクのパターンを示す図、第４図は同実施例の回路のブ
ロック図、第５図は配列の１例を示す概略斜視図、第６
図は変形例の回路のブロック図、第７図Ａ、Ｂは変形例
にかかるマスクのパターンを示す図である。 １〜６・・・シンチレータ １１．１２・・・光電子増倍管 ２０・・・マスク ２１・・・加算回路２２・・・減算
回路 ２３・・・割算回路２４・・・タイミング発生回
路 特許出願人 株式会社島津製作所 箋２麿 箋：９０ 簿ｑ＠ 算５旧 箋θ國 葛７目
の一実施例の外観を示す斜視図、第３図は同実施例のマ
スクのパターンを示す図、第４図は同実施例の回路のブ
ロック図、第５図は配列の１例を示す概略斜視図、第６
図は変形例の回路のブロック図、第７図Ａ、Ｂは変形例
にかかるマスクのパターンを示す図である。 １〜６・・・シンチレータ １１．１２・・・光電子増倍管 ２０・・・マスク ２１・・・加算回路２２・・・減算
回路 ２３・・・割算回路２４・・・タイミング発生回
路 特許出願人 株式会社島津製作所 箋２麿 箋：９０ 簿ｑ＠ 算５旧 箋θ國 葛７目
Claims (1)
- （１）互いに光学的に分離されて１方向に配列された複
数個のシンチレータと、互いに独立した光検出系が１方
向に配列されている光電子増倍管とを、双方の配列方向
が略直角になるように光学的に結合させるとともに、そ
の結合面に所定規則のマスクを設け、各光検出系から得
られる出力を演算して上記マスクの規則からどのシンチ
レータに発光が生じたかを判別することを特徴とするシ
ンチレーション検出器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24904383A JPS60143798A (ja) | 1983-12-31 | 1983-12-31 | シンチレ−シヨン検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24904383A JPS60143798A (ja) | 1983-12-31 | 1983-12-31 | シンチレ−シヨン検出器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60143798A true JPS60143798A (ja) | 1985-07-30 |
| JPH0557551B2 JPH0557551B2 (ja) | 1993-08-24 |
Family
ID=17187154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24904383A Granted JPS60143798A (ja) | 1983-12-31 | 1983-12-31 | シンチレ−シヨン検出器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60143798A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009053104A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Natl Inst Of Radiological Sciences | 放射線位置検出器 |
-
1983
- 1983-12-31 JP JP24904383A patent/JPS60143798A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009053104A (ja) * | 2007-08-28 | 2009-03-12 | Natl Inst Of Radiological Sciences | 放射線位置検出器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0557551B2 (ja) | 1993-08-24 |
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