JPS60152937A - 磁粉探傷検査における欠陥抽出法 - Google Patents
磁粉探傷検査における欠陥抽出法Info
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- JPS60152937A JPS60152937A JP809184A JP809184A JPS60152937A JP S60152937 A JPS60152937 A JP S60152937A JP 809184 A JP809184 A JP 809184A JP 809184 A JP809184 A JP 809184A JP S60152937 A JPS60152937 A JP S60152937A
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 239000006249 magnetic particle Substances 0.000 title claims abstract description 20
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract 2
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 4
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 abstract description 4
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/83—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields
- G01N27/84—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws by investigating stray magnetic fields by applying magnetic powder or magnetic ink
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁粉探傷検査における欠陥抽出法に関する。
例えば第１図囚、（Ｂ）に示すように、磁粉探傷検査（
以下ＭＴ検査）における検査対象は、試験体１のような
溶接部２を有するものが主流となる。このような検査対
象では、溶接部２の境界に欠陥３が発生することが多い
。一般的に溶接部２の近傍はアンダーカット４、スパッ
タ５等が加工上桟ることが常であり、ＭＴ検査では欠陥
３とアンダーカット４、スパッタ５等との識別がなされ
る必要がある。
以下ＭＴ検査）における検査対象は、試験体１のような
溶接部２を有するものが主流となる。このような検査対
象では、溶接部２の境界に欠陥３が発生することが多い
。一般的に溶接部２の近傍はアンダーカット４、スパッ
タ５等が加工上桟ることが常であり、ＭＴ検査では欠陥
３とアンダーカット４、スパッタ５等との識別がなされ
る必要がある。
第２図に）、 （Ｂ）に示すように、ＭＴ検査の自動化
を図る要求から試験体１のＭＴ検査において第２図（ト
）に示す如く磁粉探傷器６による励磁と同時に磁粉散布
７を行い、エアーブロア８で不要磁粉除去を行ったのち
第２図（Ｂ）に示す如く残る、欠陥３の磁粉模様をＩＴ
Ｖカメラ９と照明１０によって観察し、自動識別の可能
性が検討されてきた。しかし、第３図に）、（Ｂ）に示
すように、試験体１におけるＩＴＶカメラ走査信号１１
．１２．１３の各部位ではそれぞれ１１′。
を図る要求から試験体１のＭＴ検査において第２図（ト
）に示す如く磁粉探傷器６による励磁と同時に磁粉散布
７を行い、エアーブロア８で不要磁粉除去を行ったのち
第２図（Ｂ）に示す如く残る、欠陥３の磁粉模様をＩＴ
Ｖカメラ９と照明１０によって観察し、自動識別の可能
性が検討されてきた。しかし、第３図に）、（Ｂ）に示
すように、試験体１におけるＩＴＶカメラ走査信号１１
．１２．１３の各部位ではそれぞれ１１′。
１２’、１３’め映像信号となυ、アンダーカット４、
スパッタ５等と混在した欠陥３の磁粉模様は識別困難で
あり自動判別化の見込みは極めて少ないとされてきた。
スパッタ５等と混在した欠陥３の磁粉模様は識別困難で
あり自動判別化の見込みは極めて少ないとされてきた。
本発明は上記の事情に鑑みて提案されたもので、その目
的とするところは、欠陥と有害な擬似欠陥とを識別する
ことができ、熱線検査員による肉眼目視検査の領域を低
減し目視検査の自動化を図シ得るＭＴ検査における欠陥
抽出法を提供するにある。
的とするところは、欠陥と有害な擬似欠陥とを識別する
ことができ、熱線検査員による肉眼目視検査の領域を低
減し目視検査の自動化を図シ得るＭＴ検査における欠陥
抽出法を提供するにある。
本発明によるＭＴ検査における欠陥抽出法は、ＩＴＶカ
メラと画像処理装置を用いて試験体の磁粉探傷検査前後
の画像の絶対値差分処理を行い、前記試験体の画像の変
化を検出して欠陥と有害擬似欠陥の磁粉模様を抽出する
ことを特徴とし、擬似欠陥であるアンダーカット、スパ
ッタ等は、有害な欠陥を内在しないかぎり励磁による磁
粉模様の発生がないが、欠陥及び有害な擬似欠陥は、励
磁に伴って磁粉が残留するため、欠陥部社明瞭に形状を
現わし、擬似欠陥部は、磁粉残留によって濃度変化が生
ずることを利用して目視検査の自動化を図り得るように
したものである。
メラと画像処理装置を用いて試験体の磁粉探傷検査前後
の画像の絶対値差分処理を行い、前記試験体の画像の変
化を検出して欠陥と有害擬似欠陥の磁粉模様を抽出する
ことを特徴とし、擬似欠陥であるアンダーカット、スパ
ッタ等は、有害な欠陥を内在しないかぎり励磁による磁
粉模様の発生がないが、欠陥及び有害な擬似欠陥は、励
磁に伴って磁粉が残留するため、欠陥部社明瞭に形状を
現わし、擬似欠陥部は、磁粉残留によって濃度変化が生
ずることを利用して目視検査の自動化を図り得るように
したものである。
本発明の一実施例を添付図面を参照して詳細に説明する
。
。
第４図囚、 （Ｂ） 、 （Ｃ） 、Φ）はそれぞれ本
発明方法の一実施例を説明するための図であり、第４図
（６）、０）はＭＴ検査前の各試験体、第４図（Ｑ、（
ロ）は各試験体のＭＴ検査結果をそれぞれ示す図、第５
図は本発明方法を実施するために用いられる装置の一実
施例を示す図である。
発明方法の一実施例を説明するための図であり、第４図
（６）、０）はＭＴ検査前の各試験体、第４図（Ｑ、（
ロ）は各試験体のＭＴ検査結果をそれぞれ示す図、第５
図は本発明方法を実施するために用いられる装置の一実
施例を示す図である。
第４図（４）、 （Ｂ） 、 （Ｃ） Ｉ （Ｄ）にお
いて、１４．１１はＭＴ検査前の試験体、１５．１８は
ＭＴ検査結果、１６は欠陥、１９は有害な擬似欠陥であ
る０ 第５図において、９はＩＴＶカメラ、２ｏは画像処理装
置、２１は制御信号、２２は画像メモリ、２３は演算器
、２４は欠陥信号である。
いて、１４．１１はＭＴ検査前の試験体、１５．１８は
ＭＴ検査結果、１６は欠陥、１９は有害な擬似欠陥であ
る０ 第５図において、９はＩＴＶカメラ、２ｏは画像処理装
置、２１は制御信号、２２は画像メモリ、２３は演算器
、２４は欠陥信号である。
上記本発明の一実施例の作用について説明する。
第４図（イ）、 （Ｂ） 、 （Ｃ） 、の）において
、１４．７７はＭＴ検査前の試験体であシ、試験体１４
は欠陥を有するものとし、試験体１７は有害な擬似欠陥
を有するものとする。これらのＭＴ検査結果をそれぞれ
ｉｓ、ｉｓとすれば、１５の場合には欠陥１６の磁粉模
様が明瞭に現われる。しかし、１８の場合には有害な擬
似欠陥１９例えばアンダーカット部には磁粉が残留する
ものの外観的変化は著しくはないように見える。しかし
ながらこの場合でも、磁粉がアンダーカットと色濃度の
違いを有することに着目すれば変化が認められる。従っ
て、ＩＡ−Ｃｌ＝Ｅ またはＩＢ−Ｄｌ＝Ｅ とすれば
Ｅで示す欠陥信号２４が得られる。これを実現するには
、第５図のようにＩＴＶカメラ９の出力信号を、画像処
理装置２０に入力することで可能となる。詳細には、Ｍ
Ｔ検査前後を制御信号２１によって制御し、ＭＴ検査的
の１４或は１１の試験体の画像を画像メそり２２に記録
し、これと次のＭＴ検査後の画像１５或は１８を演算器
２３で比較すれば欠陥信号２４が得られる。この第５図
に示す画像処理装置２０は各種の方式が考えられるが、
要はＭＴ検査前後の画像の絶対値差分処理が行える機能
があればよい。
、１４．７７はＭＴ検査前の試験体であシ、試験体１４
は欠陥を有するものとし、試験体１７は有害な擬似欠陥
を有するものとする。これらのＭＴ検査結果をそれぞれ
ｉｓ、ｉｓとすれば、１５の場合には欠陥１６の磁粉模
様が明瞭に現われる。しかし、１８の場合には有害な擬
似欠陥１９例えばアンダーカット部には磁粉が残留する
ものの外観的変化は著しくはないように見える。しかし
ながらこの場合でも、磁粉がアンダーカットと色濃度の
違いを有することに着目すれば変化が認められる。従っ
て、ＩＡ−Ｃｌ＝Ｅ またはＩＢ−Ｄｌ＝Ｅ とすれば
Ｅで示す欠陥信号２４が得られる。これを実現するには
、第５図のようにＩＴＶカメラ９の出力信号を、画像処
理装置２０に入力することで可能となる。詳細には、Ｍ
Ｔ検査前後を制御信号２１によって制御し、ＭＴ検査的
の１４或は１１の試験体の画像を画像メそり２２に記録
し、これと次のＭＴ検査後の画像１５或は１８を演算器
２３で比較すれば欠陥信号２４が得られる。この第５図
に示す画像処理装置２０は各種の方式が考えられるが、
要はＭＴ検査前後の画像の絶対値差分処理が行える機能
があればよい。
以上によシ本発明方法によれば以下の如き優れた効果が
奏せられるものである。
奏せられるものである。
（１）画像処理法の応用となる画像の絶対値差分法を用
いることによシＭＴ検査時の試験体の欠陥と有害な擬似
欠陥とを自動的に判別することが可能となる。
いることによシＭＴ検査時の試験体の欠陥と有害な擬似
欠陥とを自動的に判別することが可能となる。
（２）従来のＭＴ検査ラインに本発明方法を実施するた
めの機器即ち、ＩＴＶカメラと画像処理装置を導入する
ことで自動目視検査が可能となる。
めの機器即ち、ＩＴＶカメラと画像処理装置を導入する
ことで自動目視検査が可能となる。
第１図に）、＠、第２図（ト）、０）および第３図（Ｎ
。 （Ｂ）はそれぞれ従来例を説明するだめの図、第４図（
６）、 （Ｂ） 、 （Ｃ） 、υ）はそれぞれ本発明
方法の一実施例を説明するための図であり、第４図（５
）、＠はＭＴ検査前の各試験体、第４図（Ｃ’） 、
Ｏ））は各試験体のＭＴ検査結果をそれぞれ示す図、第
５図れ本発明方法を実施するために用いられる装置の一
実施例を示す図である。 ９・・・ＩＴＶカメラ、１４．１７・・・ＭＴ検査前の
試験体、１５．１８・・・ＭＴ検査結果、１６ｏ・欠陥
、１９・・・有害擬似欠陥、２０・・・画像処理装置、
２１・・・制御信号、２２・・・画像メモリ、２３・・
・演算器、２４・・・欠陥信号。
。 （Ｂ）はそれぞれ従来例を説明するだめの図、第４図（
６）、 （Ｂ） 、 （Ｃ） 、υ）はそれぞれ本発明
方法の一実施例を説明するための図であり、第４図（５
）、＠はＭＴ検査前の各試験体、第４図（Ｃ’） 、
Ｏ））は各試験体のＭＴ検査結果をそれぞれ示す図、第
５図れ本発明方法を実施するために用いられる装置の一
実施例を示す図である。 ９・・・ＩＴＶカメラ、１４．１７・・・ＭＴ検査前の
試験体、１５．１８・・・ＭＴ検査結果、１６ｏ・欠陥
、１９・・・有害擬似欠陥、２０・・・画像処理装置、
２１・・・制御信号、２２・・・画像メモリ、２３・・
・演算器、２４・・・欠陥信号。
Claims (1)
- ＩＴＶカヌッと画像処理装置を用いて試験体の磁粉゛探
傷検査前後の画像の絶対値差分処理を行い、前記試験体
の画像の変化を検出して欠陥と有害擬似欠陥の磁粉模様
を抽出することを特徴とする磁粉探傷検査における欠陥
抽出法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP809184A JPS60152937A (ja) | 1984-01-20 | 1984-01-20 | 磁粉探傷検査における欠陥抽出法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP809184A JPS60152937A (ja) | 1984-01-20 | 1984-01-20 | 磁粉探傷検査における欠陥抽出法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60152937A true JPS60152937A (ja) | 1985-08-12 |
Family
ID=11683649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP809184A Pending JPS60152937A (ja) | 1984-01-20 | 1984-01-20 | 磁粉探傷検査における欠陥抽出法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60152937A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002202290A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-07-19 | Daido Steel Co Ltd | 蛍光磁粉探傷方法および探傷装置 |
| JP2002310777A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-10-23 | Anritsu Corp | 重量選別装置 |
-
1984
- 1984-01-20 JP JP809184A patent/JPS60152937A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002202290A (ja) * | 2001-01-05 | 2002-07-19 | Daido Steel Co Ltd | 蛍光磁粉探傷方法および探傷装置 |
| JP2002310777A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-10-23 | Anritsu Corp | 重量選別装置 |
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