JPS62110148A - 磁粉探傷欠陥判別法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、金属材料の非破壊試験としての磁粉探傷試験
における欠陥自動判別方法に関する。

〔従来の技術〕

例えば溶接部欠陥等の磁粉探傷試験（以下ＭＴ試験とい
う）では、第３図に示すように、被検査体１の表面に磁
粉４を散布し、磁粉探傷器３で被検体を磁化した後エア
ブロ−装置１１で表面の磁粉を除去する。この時、被検
査体１に割れ、庇などの欠陥２があればその欠陥部に微
細な磁粉が残留し、欠陥の形状に一致した磁粉模様を呈
する。そして欠陥の有無の判別は、熟練検査員の直接目
視により判別していた。ところが、近年このような熟練
検査員による直接目視にかわってＭＴ試験の自動化に対
する要求から。

例えば第３図に示すように、照明器具５とＴＶカメラ６
を用いて欠陥を自動的に判別しようとする方法が試みら
れている。

〔発明が解決しようとする問題点〕

従来法の検出装置によれば、照明器具５とＴＶカメラ６
の設定角度は、それぞれθｌ−約８０°。

θ２−約９００が一般的である。螢光磁粉を使用する場
合には、このような配置でも欠陥磁、粉模様を検出する
ことができる。しかしながら、非螢光磁粉を使用する場
合には、磁粉の色とバックグラウンド（被検査体の素地
肌の色）とのコントラストの差が少ないために、またハ
レーションなどが著しいため、明度や色相の情報だけを
用いたのでは欠陥の磁粉模様を明瞭に検出することがで
きなかった。

また欠陥磁粉模様以外の余分な残留磁粉をエアプローに
より除去したとしても、なお点状に散在して残る残留磁
粉の指示が出現する。

従ってこのような方法においては、ＴＶ左カメラ捕えら
れたＴＶ画面には欠陥以外の映像信号が含まれているた
め、欠陥の判別が困難で。

自動化の見込みが極めて薄いものであった。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明は、上記事情に鑑み、非螢光磁粉を散布磁化しか
つエアプローを施した被検面に光を照射しＴＶ左カメラ
撮影して探傷試験を行なうにあたり、被検面に対する光
の照射角度及びＴ■カメラ角度を垂線に対し同じ側にお
いて夫々的１０°、　　５０°に設定してＴＶ撮影し、
上記撮影によって得られたビデオ信号を適切なしきい値
で２値化したのち画像化し、その画像中の直径１閣以下
のノイズを除去する画像処理を行なうことを特徴とする
磁粉探傷欠陥判別法を提供する。

〔作用〕

即ち１本発明は、光源の照射角度を約１０°。

ＴＶ左カメラ角度を約５０°と低角度照明法を適用する
ことにより、コントラストの改善された映像信号を得る
と共に２画像処理によシ点状に散在する疑似信号を除去
することにより、欠陥信号だけが残るようにし、これに
より欠陥の自動判別を行なうものである。

〔実施例〕

以下第１図ないし第２図を参照して本発明の詳細な説明
する。

第１図は本発明の方法による自動磁粉探傷ンステムの原
理図である。本発明方法は、磁粉４を散布して磁粉探傷
装置３で被検体を磁化し。

欠陥部の磁粉模様を残して散布した磁粉４の不要分をエ
アプロー装置１１で除去する。そして照明器具５及びＴ
Ｖカメラ６の設定角度を、垂線に対し同じ側においてそ
れぞれθｌ＝約１０°、θ２＝約５０°となるように設
定して、被検体１の表面を撮影する。

このような方法によれば、欠陥部以外の不要な磁粉が殆
ど付着していないことから、被検面での反射光は光源と
は反対方向に鏡面反射してしまい、ＴＶ左カメラ入らな
くなる。そのためバックグラウンドの輝度レベルを極め
て小さくすることができる。一方欠陥に付着した磁粉か
らは光が乱反射されるため、磁粉模様の輝度レベルは十
分大きい。その結果モニタＴＶ７の画面の磁粉模様のコ
ントラストは大巾に改善される。

また、コントラストの改善された磁粉模様のビデオ信号
はモニタＴｖ７と並行して２画像処理装置８に入力され
る。このビデオ信号にはエアプローを適用しても除去で
きない残留磁粉の信号が含まれているため、適切に設定
したビデオ信号レベルで２値化する。しかし２値化して
も、なおかつ微小な点状に散在するノイズが含まれたも
のとなる。通常ＭＴ試験で対象となる指示の大きさは、
１ｍｍ以上であるのに対し２点状に散在するノイズは、
約０．５　ｍｍより小さい。

従って点状に散在するノイズは、第２図（ｂ）に示すよ
うに、直径ＩＭの大きさのメツシュ１３を用いて、ノイ
ズ１４をふるい落すことにより同図（ａ）に示すように
、欠陥指示１２だけを抽出することができる。このよう
な小粒子ノイズの除去は。

ビデオ信号に画像処理を施すことで実現することが可能
である。従って画像処理装置８の出力は、欠陥のあった
位置を示すためのマーカ９や記録計１０に入力すること
によシ欠陥の自動判別が可能となる。

〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように２本発明によれば、ＭＴ
検査において、被検体の表面を低角度照明法によりＴＶ
カメラで撮影したビデオ信号を適切な値で２値化し、そ
の２値化画像にさらに直径１［ｎｍの大きさのメツシュ
を用いて、ノイズを除去するような画像処理を施こした
ので。

欠陥の自動判別が可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は２本発明方法の一実施例の説明図。 第２図は本発明方法に・おける画像処理の説明図。 第３図は従来法の説明図である。 ｌ・・・被検体、２・・・欠陥、３・・・磁粉探傷装置
。 ４・・・磁粉、５・・・照明器具、６・・・ＴＶカメラ
、７・・・モニタＴＶ、ｇ、・・・画像処理装置、９・
・・欠陥位置を示すマーカ、１０・・・記録計、１１・
・・エアブロ−装置、１２・・・欠陥信号、１３・・・
直径１ｍｍのメツシュ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 非螢光磁粉を散布磁化しかつエアブローを施した被検面
   に光を照射しＴＶカメラで撮影して探傷試験を行なうに
   あたり、被検面に対する光の照射角度及びＴＶカメラ角
   度を垂線に対し同じ側においてそれぞれ約１０°、５０
   °に設定してＴＶ撮影し、上記撮影によって得られたビ
   デオ信号を適切なしきい値で２値化したのち画像化し、
   その画像中の直径１ｍｍ以下のノイズを除去する画像処
   理を行なうことを特徴とする磁粉探傷欠陥判別法。