JPS60154143A - 光沢面物体の検査方法 - Google Patents
光沢面物体の検査方法Info
- Publication number
- JPS60154143A JPS60154143A JP995784A JP995784A JPS60154143A JP S60154143 A JPS60154143 A JP S60154143A JP 995784 A JP995784 A JP 995784A JP 995784 A JP995784 A JP 995784A JP S60154143 A JPS60154143 A JP S60154143A
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- JP
- Japan
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- area
- light
- inspection method
- solder
- irradiation
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N21/95684—Patterns showing highly reflecting parts, e.g. metallic elements
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、′はんだ“付部位等の光沢面を有する物体の
形状および表面状態が所定の状態でおるが否かを自動的
に検査する方法に関するものである。
形状および表面状態が所定の状態でおるが否かを自動的
に検査する方法に関するものである。
印刷基板等に対するはんだ付の良否を自動的に検査する
ため、従来は、′はんだ′付部位に対して一方向からの
み光線を照射し、テレビジョンカメラによシ対象部位を
撮像のうえ、これによって得られた映像信号を２値化し
、この２値化値号に基づいて１はんだ“付部位の形状お
よび表面状態を判断することが行なわれている。
ため、従来は、′はんだ′付部位に対して一方向からの
み光線を照射し、テレビジョンカメラによシ対象部位を
撮像のうえ、これによって得られた映像信号を２値化し
、この２値化値号に基づいて１はんだ“付部位の形状お
よび表面状態を判断することが行なわれている。
しかし、従来の手段では、′はんだ“付部位のみならず
１周辺の導体パターンおよびシルク印刷された記号等も
高反射率であり、これらと１はんだ′付部位との判別が
不可能となる一方、２値化信号を得るためのスレシホー
ルドレベルを高い値に設定すると、′はんだ′付部位の
高反射部のみが抽出され、′はんだ′付部位の形状判断
が不正確となる欠点を生じている。
１周辺の導体パターンおよびシルク印刷された記号等も
高反射率であり、これらと１はんだ′付部位との判別が
不可能となる一方、２値化信号を得るためのスレシホー
ルドレベルを高い値に設定すると、′はんだ′付部位の
高反射部のみが抽出され、′はんだ′付部位の形状判断
が不正確となる欠点を生じている。
また、スリット光またはスポット状ビーム光忙よる走査
照射を用い、対象物体の形状を３次元的に認識する手段
も開発されているが、この場合は、装置が大規模かつ高
価となる欠点を生ずる。
照射を用い、対象物体の形状を３次元的に認識する手段
も開発されているが、この場合は、装置が大規模かつ高
価となる欠点を生ずる。
本発明は、従来のかかる欠点を根本的に解決する目的を
有し、光沢面物体へ周囲から光線を照射して撮像を行な
い、これ釦よって得られた映像信号から、光沢面物体の
高反射成分のみを抽出し。
有し、光沢面物体へ周囲から光線を照射して撮像を行な
い、これ釦よって得られた映像信号から、光沢面物体の
高反射成分のみを抽出し。
抽出した信号に基づいて光沢面物体の面積をめ。
この面積とあらかじめ定めた面積とを比較し、これの結
果に応じて光沢面物体の形状および表面状態が所定の状
態か否かを判断するものとした極めて効果的な、光沢面
物体の検査方法を提供するものである。
果に応じて光沢面物体の形状および表面状態が所定の状
態か否かを判断するものとした極めて効果的な、光沢面
物体の検査方法を提供するものである。
し実施例〕
以下、実施例を示す図によって本発明の詳細な説明する
。
。
第１図は、光線の照射状況を示す図でｓｂ、導体からな
るランド１上に形成された１はんだ′付部位２に対し１
周囲の各方向斜上方から複数の光源３ａ〜３１＋によシ
同時に光線を照射しておシ、光源３ａ〜３ｂとして白熱
電球等の高輝度を有する点光源に近いものを用いれば、
１はんだ′付部位２の表面が光沢面となっているため、
光源３１〜３ｈと対応した高反射部が生じ、′はんだ“
付部位２を目視方向からテレビジョンカメラ等によシ撮
像し１％はんだ“付部位２の光源３ａ〜３ｈによる照射
に甚づく反射光中高反射成分のみを抽出するスレシホー
ルドレベルによル、撮像によって得られノヒ映像信号を
２値化すれば、不要な反射光成分が除去され、この信号
に応じて第２図に示す映像が得られる。
るランド１上に形成された１はんだ′付部位２に対し１
周囲の各方向斜上方から複数の光源３ａ〜３１＋によシ
同時に光線を照射しておシ、光源３ａ〜３ｂとして白熱
電球等の高輝度を有する点光源に近いものを用いれば、
１はんだ′付部位２の表面が光沢面となっているため、
光源３１〜３ｈと対応した高反射部が生じ、′はんだ“
付部位２を目視方向からテレビジョンカメラ等によシ撮
像し１％はんだ“付部位２の光源３ａ〜３ｈによる照射
に甚づく反射光中高反射成分のみを抽出するスレシホー
ルドレベルによル、撮像によって得られノヒ映像信号を
２値化すれば、不要な反射光成分が除去され、この信号
に応じて第２図に示す映像が得られる。
すなわち、光源３ａ〜３ｈと対応してこれらと同数の輝
点４ａ〜４ｈが高反射成分によシ得られ、各輝点４ａ〜
４ｈの合計面積Ｓは、′はんだ“付部位２の突出曲率を
含む形状および表面状態の平滑度に応じて定まシ、これ
らの標準状態にしたがって後述の基準面積８０がめられ
る。
点４ａ〜４ｈが高反射成分によシ得られ、各輝点４ａ〜
４ｈの合計面積Ｓは、′はんだ“付部位２の突出曲率を
含む形状および表面状態の平滑度に応じて定まシ、これ
らの標準状態にしたがって後述の基準面積８０がめられ
る。
第３図乃至第５図は、他の実施例を示す光線の照射およ
び撮像状況の図であシ、第３図においては、′はんだ′
付部位２の直上を回転中心とするアーム５によ多光源３
を吊下し、′はんだ′付部位２の周囲を回転させておυ
、光源３０回転と同期して目視方向から撮像を反復して
行ない、各撮像によって得た映像信号を前述と同様に処
理のうえ合成すれば、第２図の映像が得られる。
び撮像状況の図であシ、第３図においては、′はんだ′
付部位２の直上を回転中心とするアーム５によ多光源３
を吊下し、′はんだ′付部位２の周囲を回転させておυ
、光源３０回転と同期して目視方向から撮像を反復して
行ない、各撮像によって得た映像信号を前述と同様に処
理のうえ合成すれば、第２図の映像が得られる。
第４図は、印刷基板６上に散在する複数の１はんだ“付
部位２ａ〜２ｃ等を対象とする場合で、１、印刷基板６
の周囲上方から複数の光源３ａ〜３ｈによシ同時に光線
を照射するものとし、テレビジョンカメラを印刷基板６
と対向させたうえ、信号処理上撮像視野を限定し、′は
んだ“付部位２ａ〜２ｃ等の対象とするものに応じて移
動させ、または。
部位２ａ〜２ｃ等を対象とする場合で、１、印刷基板６
の周囲上方から複数の光源３ａ〜３ｈによシ同時に光線
を照射するものとし、テレビジョンカメラを印刷基板６
と対向させたうえ、信号処理上撮像視野を限定し、′は
んだ“付部位２ａ〜２ｃ等の対象とするものに応じて移
動させ、または。
テレビジョンカメラを固定し、信号処理上撮像視野を移
動させるものとしている。
動させるものとしている。
また、第５図においては、リング７およびアーム８によ
シ、光源３ａ〜３ｈおよびテレビジョンカメラ９を一体
化し、図上省略した支持機構によシ支持のうえ移動自在
とし、目的の対象部位へ全体を同時に移動させるものと
なっている。
シ、光源３ａ〜３ｈおよびテレビジョンカメラ９を一体
化し、図上省略した支持機構によシ支持のうえ移動自在
とし、目的の対象部位へ全体を同時に移動させるものと
なっている。
第６図は、電気的構成を示すブロック図であシ、基板６
０対象部位をテレビジョンカメラ９によシ撮像し、これ
によって得られた映像信号を２値化回路１１へ与え、こ
こにおいて、′はんだ′付部位２からの高反射成分のみ
を抽出するスレシホールドレベルにより２値化がなされ
、この２値化信号が信号処理部１２へ与えられる。
０対象部位をテレビジョンカメラ９によシ撮像し、これ
によって得られた映像信号を２値化回路１１へ与え、こ
こにおいて、′はんだ′付部位２からの高反射成分のみ
を抽出するスレシホールドレベルにより２値化がなされ
、この２値化信号が信号処理部１２へ与えられる。
信号処理部１２は、プロセッサおよび各種のメモリ等に
よりｅ成され、メモリ中のプログラムをプロセッサが実
行し、信号処理動作を行なっておシ、′はんだ′付部位
２の形状および表面状態を判断し、これの結果に応じて
ブラウン管表示装置１３を制御のうえ、ｌ’−０ＫＪま
たは「ＮＧ Ｊ等の文字表示を行なうものとなっている
。
よりｅ成され、メモリ中のプログラムをプロセッサが実
行し、信号処理動作を行なっておシ、′はんだ′付部位
２の形状および表面状態を判断し、これの結果に応じて
ブラウン管表示装置１３を制御のうえ、ｌ’−０ＫＪま
たは「ＮＧ Ｊ等の文字表示を行なうものとなっている
。
第７図は、プロセッサによる信号処理動作のフローチャ
ートであシ、２値化回路１１からの″′２値化信号をメ
モリへ格納＃１０１を行なってから。
ートであシ、２値化回路１１からの″′２値化信号をメ
モリへ格納＃１０１を行なってから。
１光源数Ｎ、と輝点数Ｎ、との比較＃１０２を行ない、
これの結果が１ＮＩ″：：Ｎｔ’？ ’ １０３のＹＥ
Ｓであれば、１輝点の合計面積Ｓを演算“１０４を行な
ったうえ、″Ｓと基準面積Ｓｏとを比較′１０５を行な
い、これの結果がはソ一致し’ｓ＝ｓ。？“のＹＥＳと
なれば、良好と判断し、ブラウン管表示装置１３によシ
、’ＯＫ表示１１０７を行なう。
これの結果が１ＮＩ″：：Ｎｔ’？ ’ １０３のＹＥ
Ｓであれば、１輝点の合計面積Ｓを演算“１０４を行な
ったうえ、″Ｓと基準面積Ｓｏとを比較′１０５を行な
い、これの結果がはソ一致し’ｓ＝ｓ。？“のＹＥＳと
なれば、良好と判断し、ブラウン管表示装置１３によシ
、’ＯＫ表示１１０７を行なう。
以上に対し、ステップ１０３または１０６がＮＯであれ
ば、不良と判断し、ブラウン管表示装置１３によシゝＮ
Ｇ表示１１０８を行なう。
ば、不良と判断し、ブラウン管表示装置１３によシゝＮ
Ｇ表示１１０８を行なう。
たソし、光源３の照射方向は１条件に応じて位置数およ
び照射角度を定めればよく、テレビジョンカメラ９を用
いるほか、他の撮像装置を用いても同様でｌ）、表示を
表示灯または音響等によシ行なうことも任意であると共
に、′はんだ′付部位２のみならず、光沢面を有する各
種の物体を対象とすることができる。
び照射角度を定めればよく、テレビジョンカメラ９を用
いるほか、他の撮像装置を用いても同様でｌ）、表示を
表示灯または音響等によシ行なうことも任意であると共
に、′はんだ′付部位２のみならず、光沢面を有する各
種の物体を対象とすることができる。
また、第７図においては、ステップ１０２ 、１０３と
１０４〜１０６とを入替えてもよく、場合によっては、
ステップ１０２，１０３を省略しても同等の結果が得ら
れる等、本発明は種々の変形力上自在である。
１０４〜１０６とを入替えてもよく、場合によっては、
ステップ１０２，１０３を省略しても同等の結果が得ら
れる等、本発明は種々の変形力上自在である。
以上の説明によシ明らかなとおシ１本発明によれば、対
象とする光沢面物体以外からの反射光による影響が排除
されると共に、基準面積との比較によシ、対象とする光
沢面物体の形状および表面状態が正確に判断され、各種
光沢面物体の自動検査上、顕著な効果が得られる。
象とする光沢面物体以外からの反射光による影響が排除
されると共に、基準面積との比較によシ、対象とする光
沢面物体の形状および表面状態が正確に判断され、各種
光沢面物体の自動検査上、顕著な効果が得られる。
図は本発明の実施例を示し、第１図は光線の照射状況を
示す図、第２図は２値化信−号によって得られる映像を
示す図、第３図乃至第５図は他の実施例を示す光線の照
射状況および撮像状況の図。 第６図は電気的構成を示すブロック図、第７図は信号処
理動作のフローチャートである。 ２．２ａ〜２Ｃ・・・−はんだ“付部位（光沢面物体）
、３ 、３ｍ−０−３ｈ・・・・光源、 ９・・・・・
テレビジョンカメラ、１１・・・・２値化回路。 １２・・・・信号処理部。 特許出願人 日 立電子株式会社 代 理 人 山 川 政 樹（ｔｌか２名）ル １： 第１図 第４図 第６図
示す図、第２図は２値化信−号によって得られる映像を
示す図、第３図乃至第５図は他の実施例を示す光線の照
射状況および撮像状況の図。 第６図は電気的構成を示すブロック図、第７図は信号処
理動作のフローチャートである。 ２．２ａ〜２Ｃ・・・−はんだ“付部位（光沢面物体）
、３ 、３ｍ−０−３ｈ・・・・光源、 ９・・・・・
テレビジョンカメラ、１１・・・・２値化回路。 １２・・・・信号処理部。 特許出願人 日 立電子株式会社 代 理 人 山 川 政 樹（ｔｌか２名）ル １： 第１図 第４図 第６図
Claims (1)
- 光沢面物体へ周囲から光線を照射して前記物体を撮像し
、該撮像によって得られた映像信号から前記物体の前記
照射による反射光の高反射成分を抽出し、該抽出によっ
て得られた信号に基づき前記物体の面積をめたうえあら
かじめ定めた基準面積と比較し、該比較結果のはｙ−散
によシ前記物体の形状および表面状態が良好であること
を判断することを特徴とした光沢面物体の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP995784A JPS60154143A (ja) | 1984-01-25 | 1984-01-25 | 光沢面物体の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP995784A JPS60154143A (ja) | 1984-01-25 | 1984-01-25 | 光沢面物体の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60154143A true JPS60154143A (ja) | 1985-08-13 |
Family
ID=11734423
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP995784A Pending JPS60154143A (ja) | 1984-01-25 | 1984-01-25 | 光沢面物体の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60154143A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4854757A (en) * | 1986-10-13 | 1989-08-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Automatic sheet feeder movable between active and inactive positions |
| US6608921B1 (en) | 1998-08-21 | 2003-08-19 | Nec Electronics Corporation | Inspection of solder bump lighted with rays of light intersecting at predetermined angle |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5048856A (ja) * | 1973-09-01 | 1975-05-01 | ||
| JPS5892903A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-02 | Hitachi Ltd | 立体形状検出方法および同装置 |
| JPS58115314A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-09 | Matsushita Electric Works Ltd | 平坦度測定装置 |
| JPS58127337A (ja) * | 1982-01-25 | 1983-07-29 | Hitachi Ltd | 接合部の検査方法および装置 |
-
1984
- 1984-01-25 JP JP995784A patent/JPS60154143A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5048856A (ja) * | 1973-09-01 | 1975-05-01 | ||
| JPS5892903A (ja) * | 1981-11-30 | 1983-06-02 | Hitachi Ltd | 立体形状検出方法および同装置 |
| JPS58115314A (ja) * | 1981-12-28 | 1983-07-09 | Matsushita Electric Works Ltd | 平坦度測定装置 |
| JPS58127337A (ja) * | 1982-01-25 | 1983-07-29 | Hitachi Ltd | 接合部の検査方法および装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4854757A (en) * | 1986-10-13 | 1989-08-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Automatic sheet feeder movable between active and inactive positions |
| US6608921B1 (en) | 1998-08-21 | 2003-08-19 | Nec Electronics Corporation | Inspection of solder bump lighted with rays of light intersecting at predetermined angle |
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