JPS60168043A - Fet型センサ - Google Patents
Fet型センサInfo
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- JPS60168043A JPS60168043A JP59023598A JP2359884A JPS60168043A JP S60168043 A JPS60168043 A JP S60168043A JP 59023598 A JP59023598 A JP 59023598A JP 2359884 A JP2359884 A JP 2359884A JP S60168043 A JPS60168043 A JP S60168043A
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N27/26—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating electrochemical variables; by using electrolysis or electrophoresis
- G01N27/403—Cells and electrode assemblies
- G01N27/414—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS
- G01N27/4141—Ion-sensitive or chemical field-effect transistors, i.e. ISFETS or CHEMFETS specially adapted for gases
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Fluid Adsorption Or Reactions (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
本発明は、MOS型或はMIS型等の電界効果トランジ
ヌター(以下単にFETと略ス)の/7’−1・絶縁膜
上に外的安置によって電気的特性の変化する感応体を形
成し、該感応体で外的要因の変化をFETのゲート作用
変化として把えるいわゆるFET5センサに関するもの
である。
ヌター(以下単にFETと略ス)の/7’−1・絶縁膜
上に外的安置によって電気的特性の変化する感応体を形
成し、該感応体で外的要因の変化をFETのゲート作用
変化として把えるいわゆるFET5センサに関するもの
である。
〈発明の背景〉
検出しようとする物理量との化学的或は物理的相互作用
によって静電容量や電気伝導度或は静電電位寺の°11
i、気的変化を生ずる感応体とF E T素子とを組み
合せて、検出しようとする物理量をFET素子のゲート
作用変化として把えるいわゆるFET型センサは、FE
T素子の有する高い入力インピーダンスとその増幅作用
を巧みに利用することにより高出力でかつ小形のセンサ
となるものであり、実用上好ましいセンサである。特に
、FET素子のゲート部の上に感応体を形成した構造か
らなるFET型センサは、素子寸法も小さく設定するこ
とができかつ同一基板上に極めて多くの素子を形成する
ことが可能であるため、犬用上も、コスト面でも好まし
い形態である。しかしこの場合通常の単体FET素子の
場合以上にFET素子の動作安定性ひいてはF E T
型センサとしての出力の安定性や特性の再現性の確保に
留意する必要がある。即ち、目的とするセンサの種類に
よって、感応体の材料は勿論作製方法も大きく異なるた
めに、通常の単体F E T素子の形体とは追った配慮
が必要であシ、FET素子の動作特性も感応体材料及び
その作製方法によって大幅に変化する。特に、感応体材
料によっては、多量の不純物やイオン含有していること
あるいはFET素子上KPi応体を形成する工程におい
て感応体とゲート絶縁膜等の界面に不純物やイオンを混
入する可能性が通常の単体FET素子を形成する場合に
比べて(hイめで高いことなどが原因となって、FET
素子の動作特性更にはFET型センサの出力特性が不安
定となり易い。更に、ガスセンサや湿度センサ等のいわ
ゆる雰囲気センサをFET型センサとして構成する場合
には、外界囲気に直接センサ素子がさらされることから
、外界囲気からの不純物の混入や拡散によっても、FE
T特性の変動や劣化を招く。このように感応体材料中の
不純物やイオン或は作製工程中もしくは使用中に混入す
る不純物やイオンがFET素子の動作特性やセンサ出力
に与える影響を抑制し、長期間安定した出力特性を呈す
るFET型センサとすることは、ガスセンサ、湿度セン
サ、イオンセンサ、バイオセンサまたは赤外線センサ等
々の各種センサのFET化における共通課題である。特
に、FET型のガスセンサ、湿度センサ、イオンセンサ
及びバイオセンサにおいでは、感応体との直接的な相互
作用が必要であるためパンケージ等によってセンサ素子
を覆うことができないだけに、上記問題の解決は極めて
重゛次である。上記問題の解決策の1つとしてイオンや
水分の拡散係数の小さい鼠化シリコン膜をゲート絶縁膜
として使用したりFET素子表面を窒化シリコン膜で被
覆する等の素子構造が開発されているが、長期間の安定
性の点で問題があり、必ずしも充分ではない。
によって静電容量や電気伝導度或は静電電位寺の°11
i、気的変化を生ずる感応体とF E T素子とを組み
合せて、検出しようとする物理量をFET素子のゲート
作用変化として把えるいわゆるFET型センサは、FE
T素子の有する高い入力インピーダンスとその増幅作用
を巧みに利用することにより高出力でかつ小形のセンサ
となるものであり、実用上好ましいセンサである。特に
、FET素子のゲート部の上に感応体を形成した構造か
らなるFET型センサは、素子寸法も小さく設定するこ
とができかつ同一基板上に極めて多くの素子を形成する
ことが可能であるため、犬用上も、コスト面でも好まし
い形態である。しかしこの場合通常の単体FET素子の
場合以上にFET素子の動作安定性ひいてはF E T
型センサとしての出力の安定性や特性の再現性の確保に
留意する必要がある。即ち、目的とするセンサの種類に
よって、感応体の材料は勿論作製方法も大きく異なるた
めに、通常の単体F E T素子の形体とは追った配慮
が必要であシ、FET素子の動作特性も感応体材料及び
その作製方法によって大幅に変化する。特に、感応体材
料によっては、多量の不純物やイオン含有していること
あるいはFET素子上KPi応体を形成する工程におい
て感応体とゲート絶縁膜等の界面に不純物やイオンを混
入する可能性が通常の単体FET素子を形成する場合に
比べて(hイめで高いことなどが原因となって、FET
素子の動作特性更にはFET型センサの出力特性が不安
定となり易い。更に、ガスセンサや湿度センサ等のいわ
ゆる雰囲気センサをFET型センサとして構成する場合
には、外界囲気に直接センサ素子がさらされることから
、外界囲気からの不純物の混入や拡散によっても、FE
T特性の変動や劣化を招く。このように感応体材料中の
不純物やイオン或は作製工程中もしくは使用中に混入す
る不純物やイオンがFET素子の動作特性やセンサ出力
に与える影響を抑制し、長期間安定した出力特性を呈す
るFET型センサとすることは、ガスセンサ、湿度セン
サ、イオンセンサ、バイオセンサまたは赤外線センサ等
々の各種センサのFET化における共通課題である。特
に、FET型のガスセンサ、湿度センサ、イオンセンサ
及びバイオセンサにおいでは、感応体との直接的な相互
作用が必要であるためパンケージ等によってセンサ素子
を覆うことができないだけに、上記問題の解決は極めて
重゛次である。上記問題の解決策の1つとしてイオンや
水分の拡散係数の小さい鼠化シリコン膜をゲート絶縁膜
として使用したりFET素子表面を窒化シリコン膜で被
覆する等の素子構造が開発されているが、長期間の安定
性の点で問題があり、必ずしも充分ではない。
〈発明の目的〉
本発明は、以上のような背景に基づいてなされたもので
あり、感応体や感応体とFET素子との界面に含有され
る不純物やイオンあるいは使用中に素子外部から混入す
る不純物やイオンがFET素子の動作や出力に与える影
豐を抑制し、長期間安定した出力特性が得られるFET
型センサを提供することを目的とするものである。
あり、感応体や感応体とFET素子との界面に含有され
る不純物やイオンあるいは使用中に素子外部から混入す
る不純物やイオンがFET素子の動作や出力に与える影
豐を抑制し、長期間安定した出力特性が得られるFET
型センサを提供することを目的とするものである。
〈実施例〉
第1図は本発明の1実施例を示すFET型湿度センサの
構造断面図である。第2図は同センザの動作原理を説明
するための等価回路図である。
構造断面図である。第2図は同センザの動作原理を説明
するための等価回路図である。
本実施例におけるFET素子は、MOS型のnチャンネ
zlz F E Tで、p型のシリコン基板1表面付近
に燐を拡散することによってn型のソース2とドレイン
3を並設して形成している。シリコン基板1上にはソー
ス2及びドレイン3でスルホールを有する二酸化シリコ
ン膜5が被覆されている。
zlz F E Tで、p型のシリコン基板1表面付近
に燐を拡散することによってn型のソース2とドレイン
3を並設して形成している。シリコン基板1上にはソー
ス2及びドレイン3でスルホールを有する二酸化シリコ
ン膜5が被覆されている。
ゲート絶縁11ラキは、ソース2とドレイン3を結ぶシ
リコン基板1」二に堆積された二酸化シリコン膜(51
02)5と窒化シリコン膜(SiaN4)7との2重積
層膜からなシ、窒化シリコン膜7は更にソース2及びド
レイン3に片端が接触してシリコン基板1及び二酸化シ
リコン膜5上に堆積されたt[tk用導体膜6の上面を
も被覆し、FET素子の保護膜としての機能も兼ねてい
る。ゲート絶縁膜5.7上には感湿体9と透湿性のゲー
ト電極膜1゜が積層されるか、ここで感湿体9と屋化シ
リコン膜7との界面には導電性膜から成るブロッキング
膜8を挿入した構造となっている。ブロッキング膜8は
感湿体9に対して後述するドリフト解除用の電圧を印加
する補助ITJMとなるものである。本実施例に於いて
は感湿体9を熱焼成によって結晶化したポリビニルアル
コ−/l/膜又はアセチノにセルロース膜で形成したが
有機若しくは無機の固体電解質膜まだは酸化アルミニウ
ム等の金属酸化膜をJ#」いてもよい。また透湿性ゲー
ト電極膜1oとしては厚さ約100λの金蒸着膜を、ま
たブロッキング膜8としては厚さ約2.oooAの金又
はアルミニウム蒸着膜を用いた。但し、これらの素子構
成材料は必ずしも上述のものに限定されるものではなく
、その他の適当な材料に代替することは当然に可能であ
る。また感湿体9以外にも感ガス体、感イオン体、その
他化学物質や熱・光等に感応するものを使用できFET
素子はMO8型以外のMIs型等を使用することもでき
る。
リコン基板1」二に堆積された二酸化シリコン膜(51
02)5と窒化シリコン膜(SiaN4)7との2重積
層膜からなシ、窒化シリコン膜7は更にソース2及びド
レイン3に片端が接触してシリコン基板1及び二酸化シ
リコン膜5上に堆積されたt[tk用導体膜6の上面を
も被覆し、FET素子の保護膜としての機能も兼ねてい
る。ゲート絶縁膜5.7上には感湿体9と透湿性のゲー
ト電極膜1゜が積層されるか、ここで感湿体9と屋化シ
リコン膜7との界面には導電性膜から成るブロッキング
膜8を挿入した構造となっている。ブロッキング膜8は
感湿体9に対して後述するドリフト解除用の電圧を印加
する補助ITJMとなるものである。本実施例に於いて
は感湿体9を熱焼成によって結晶化したポリビニルアル
コ−/l/膜又はアセチノにセルロース膜で形成したが
有機若しくは無機の固体電解質膜まだは酸化アルミニウ
ム等の金属酸化膜をJ#」いてもよい。また透湿性ゲー
ト電極膜1oとしては厚さ約100λの金蒸着膜を、ま
たブロッキング膜8としては厚さ約2.oooAの金又
はアルミニウム蒸着膜を用いた。但し、これらの素子構
成材料は必ずしも上述のものに限定されるものではなく
、その他の適当な材料に代替することは当然に可能であ
る。また感湿体9以外にも感ガス体、感イオン体、その
他化学物質や熱・光等に感応するものを使用できFET
素子はMO8型以外のMIs型等を使用することもでき
る。
次に第2図の等価回路図に従って上記構成を有するFE
T型湿度センサの動作原理と特徴を説明する。等価回路
図に於いて、容量Cs及びCiは夫4第1図に於ける感
湿体9と2層ゲート絶縁膜5.7の静電容量を示す。又
、RLはドレイン電極6と直列に結合したロード抵抗を
示し、RBはブロッキング膜8と直列に結合した抵抗を
示す。
T型湿度センサの動作原理と特徴を説明する。等価回路
図に於いて、容量Cs及びCiは夫4第1図に於ける感
湿体9と2層ゲート絶縁膜5.7の静電容量を示す。又
、RLはドレイン電極6と直列に結合したロード抵抗を
示し、RBはブロッキング膜8と直列に結合した抵抗を
示す。
まず、FET型湿度センサの基本動作に関する説明を容
易にするために、ブロッキング膜8が無く感湿体9が直
接ゲート絶縁膜5,7に接して形成されている場合、即
ち等価回路図に於いて抵抗体RBがない場合について述
べる。
易にするために、ブロッキング膜8が無く感湿体9が直
接ゲート絶縁膜5,7に接して形成されている場合、即
ち等価回路図に於いて抵抗体RBがない場合について述
べる。
透湿性のゲート′IE極膜10に印加する電圧をVAと
し、FET素子の閾値電圧をvthとすると、ドレイン
電流IDは次式によって与えられる。
し、FET素子の閾値電圧をvthとすると、ドレイン
電流IDは次式によって与えられる。
但し、(1)式に於いてμmはキャリア移動度、L及び
Wは夫々FETのチャンネル長及びチャンネル幅を示す
。また、Cはゲート絶縁膜の静電容量Ciと感湿体9の
静電容量Csを直列結合した場合の静電容量であり、 と書き表わされる。従って、感湿体9の静電容量Csが
外界囲気中の湿度に応じて変化することによって、■い
一定の条件下で、ドレイン電流ID変化として湿度を検
知することができる。
Wは夫々FETのチャンネル長及びチャンネル幅を示す
。また、Cはゲート絶縁膜の静電容量Ciと感湿体9の
静電容量Csを直列結合した場合の静電容量であり、 と書き表わされる。従って、感湿体9の静電容量Csが
外界囲気中の湿度に応じて変化することによって、■い
一定の条件下で、ドレイン電流ID変化として湿度を検
知することができる。
以上がFET型湿度センサの基本的な動作原理である。
しかしながら、上述の動作に於いては当然のことながら
感湿体90両面に直流的な電位差が存在するために、特
に感湿体9中になんらかの不純物イオンが存在している
場合には、電界によってこれら不純物イオンの移動、再
配列並びに局在化が生じる。その結果、FET素子のチ
ャンネル部に素子特性面で顕著な影響を与え、閾値電圧
Vt11の変動を引き起し、FET素子の動作特性ひい
ては湿度センサとしての出力信号の経時変化(ドリフト
)の大きな原因となる。感湿体9と透湿性ゲート′市極
膜10との界面及びゲート絶縁膜5.7との界面に不純
物イオンが存在する場合に於いても同様な現象が生じる
。しかも、先に述べた様に、外界囲気からの不純物イオ
ンの混入も避けることが困難であり、従って上記問題を
解決することはF E T型温度センサに於いては極め
て重要な課題である。
感湿体90両面に直流的な電位差が存在するために、特
に感湿体9中になんらかの不純物イオンが存在している
場合には、電界によってこれら不純物イオンの移動、再
配列並びに局在化が生じる。その結果、FET素子のチ
ャンネル部に素子特性面で顕著な影響を与え、閾値電圧
Vt11の変動を引き起し、FET素子の動作特性ひい
ては湿度センサとしての出力信号の経時変化(ドリフト
)の大きな原因となる。感湿体9と透湿性ゲート′市極
膜10との界面及びゲート絶縁膜5.7との界面に不純
物イオンが存在する場合に於いても同様な現象が生じる
。しかも、先に述べた様に、外界囲気からの不純物イオ
ンの混入も避けることが困難であり、従って上記問題を
解決することはF E T型温度センサに於いては極め
て重要な課題である。
上述した問題を基本的に解決し、長期間安定したFET
型湿度センサを得るために、本実施例のFET型湿度セ
ンサの構造的な特徴は第1図に示した様に、感湿体9と
ゲート絶縁膜5,7との間に導電性ブロッキング膜8を
介設したことにある。
型湿度センサを得るために、本実施例のFET型湿度セ
ンサの構造的な特徴は第1図に示した様に、感湿体9と
ゲート絶縁膜5,7との間に導電性ブロッキング膜8を
介設したことにある。
そして第2図の等価回路図に示すようにブロッキング膜
8と感湿体9の表面に被7i’7した透湿性ゲート電極
膜10とを抵抗RBを介して結合し、印加電圧VAを直
流電圧VA(DC)とこれに重畳する周波数fの交流電
圧VA(AC)とすることによって、FET素子の駆動
を行なう。直流の印加電圧VA(t)C)がゲート絶縁
膜の耐圧より充分小さく、ゲート絶縁膜によるリーク電
流かない場合には、フロンキング膜8にかかる実効的な
ゲートtに、圧■Gの直流成分VG(DC)はVA(D
C)と等しくなって感湿体9の両面に直流的な電位差は
生じない。
8と感湿体9の表面に被7i’7した透湿性ゲート電極
膜10とを抵抗RBを介して結合し、印加電圧VAを直
流電圧VA(DC)とこれに重畳する周波数fの交流電
圧VA(AC)とすることによって、FET素子の駆動
を行なう。直流の印加電圧VA(t)C)がゲート絶縁
膜の耐圧より充分小さく、ゲート絶縁膜によるリーク電
流かない場合には、フロンキング膜8にかかる実効的な
ゲートtに、圧■Gの直流成分VG(DC)はVA(D
C)と等しくなって感湿体9の両面に直流的な電位差は
生じない。
このために先に述べた不純物イオンの移動、再配列、局
在化等の現象は抑止され更にフロンキング膜8の存在に
よってこれら不純物イオンのゲート絶縁膜中への拡散が
阻止される。しかしこの場合、常にVG(DC)はvA
(DC)に等しいため、VA(DC)のみによっては湿
度センサとして動作しないことは勿論である。直流印加
電圧VA(DC)は、F E T素子のI D−VG特
性において最適バイアス電圧を与える機能を果す。湿度
センサとして、駆動するため即ち感湿体の静電界[iC
sの湿度による変化を検知するためには交流の印加電圧
VA(AC)を必要とする。
在化等の現象は抑止され更にフロンキング膜8の存在に
よってこれら不純物イオンのゲート絶縁膜中への拡散が
阻止される。しかしこの場合、常にVG(DC)はvA
(DC)に等しいため、VA(DC)のみによっては湿
度センサとして動作しないことは勿論である。直流印加
電圧VA(DC)は、F E T素子のI D−VG特
性において最適バイアス電圧を与える機能を果す。湿度
センサとして、駆動するため即ち感湿体の静電界[iC
sの湿度による変化を検知するためには交流の印加電圧
VA(AC)を必要とする。
周波数fにおける感湿体のインピーダンス;(27If
Cs) ’に比べて充分大きな抵抗値を有する抵抗RB
をブロッキング膜8と透湿性ゲート電極膜10との間に
結合した場合には、RBは無視することができ、VGの
交流成分VG(AC)は次式によって与えられる。
Cs) ’に比べて充分大きな抵抗値を有する抵抗RB
をブロッキング膜8と透湿性ゲート電極膜10との間に
結合した場合には、RBは無視することができ、VGの
交流成分VG(AC)は次式によって与えられる。
即ち、一定の振幅をもったVA(AC)の印加条件下に
於いて、VG(AC)は、感湿体の静電界量Csの値に
よって変化するため、湿度センサとしての出力信号をド
レイン電流IDの交流振幅として取り出すことができる
。
於いて、VG(AC)は、感湿体の静電界量Csの値に
よって変化するため、湿度センサとしての出力信号をド
レイン電流IDの交流振幅として取り出すことができる
。
第3図に上記実施例のFET型湿度センサの出力対相対
湿度特性を示す。尚、第3図は感湿体9として熱焼成し
たアセチルセルロース膜を用い、固定抵抗RB及びRL
を夫々IOMΩ、IKΩとし、VA(DC)=5V、V
A(AC)=100mVrms(10KHz )で駆動
した時の室温での出力対相対湿度特性の実測例である。
湿度特性を示す。尚、第3図は感湿体9として熱焼成し
たアセチルセルロース膜を用い、固定抵抗RB及びRL
を夫々IOMΩ、IKΩとし、VA(DC)=5V、V
A(AC)=100mVrms(10KHz )で駆動
した時の室温での出力対相対湿度特性の実測例である。
次に、本実施例になるF E T型湿度センサの出力安
定性を示す実験例として室内放置した素子の放置時間と
相対湿度60%におけるセンサ出力との関係を実測し第
4図に示す。尚、第4図には比較のためにブロッキング
膜8を用いた場合(A)とブロッキング膜8を用いずに
感湿体(アセチルセルロース膜)9を直接ゲート絶縁膜
7の上に形成した場合(B)の夫々について放置時間対
出力の関係を示した。イ旧−画素子の駆動条件及び測定
条件は同一とし、夫々のセンサ出力は、初期値を規準と
した。第4図に見られる如く、ブロッキング膜8の効果
は極めて大きく、センサ出力は長期間安定に保たれるこ
とが実証された。又FET素子の特性、例えばドレイン
電流(ID)対ドレイン電圧(VD5)特性やドレイン
電流(ID)対ゲート電圧(VG)特性についても、経
時変化がなく特性の再現性も極めて優れていることが確
認された。一方、ブロッキング膜8を用いない場合、即
ち第4図の(B)の場合にはF’ET素子のID vo
s特性及びID−■G特性共に大きな経時変化を生じ、
特性の再現性も極めて悪いものであった。しかも、v6
の0N−OFF或はVGの極性をいったん逆に印加する
などの操作を行うことによってもF ETのID VD
S特性或はID−V6特性は、初期特性と大幅に異なる
現象が観測されることから、感湿体中或は感湿体とゲー
ト絶縁膜界面に存在律る不純物イオンの電界による移動
や再分布(再配列)の効果がF E T素子の特性に顕
著な影響を与えているものと解釈される。
定性を示す実験例として室内放置した素子の放置時間と
相対湿度60%におけるセンサ出力との関係を実測し第
4図に示す。尚、第4図には比較のためにブロッキング
膜8を用いた場合(A)とブロッキング膜8を用いずに
感湿体(アセチルセルロース膜)9を直接ゲート絶縁膜
7の上に形成した場合(B)の夫々について放置時間対
出力の関係を示した。イ旧−画素子の駆動条件及び測定
条件は同一とし、夫々のセンサ出力は、初期値を規準と
した。第4図に見られる如く、ブロッキング膜8の効果
は極めて大きく、センサ出力は長期間安定に保たれるこ
とが実証された。又FET素子の特性、例えばドレイン
電流(ID)対ドレイン電圧(VD5)特性やドレイン
電流(ID)対ゲート電圧(VG)特性についても、経
時変化がなく特性の再現性も極めて優れていることが確
認された。一方、ブロッキング膜8を用いない場合、即
ち第4図の(B)の場合にはF’ET素子のID vo
s特性及びID−■G特性共に大きな経時変化を生じ、
特性の再現性も極めて悪いものであった。しかも、v6
の0N−OFF或はVGの極性をいったん逆に印加する
などの操作を行うことによってもF ETのID VD
S特性或はID−V6特性は、初期特性と大幅に異なる
現象が観測されることから、感湿体中或は感湿体とゲー
ト絶縁膜界面に存在律る不純物イオンの電界による移動
や再分布(再配列)の効果がF E T素子の特性に顕
著な影響を与えているものと解釈される。
〈発明の効果〉
以上実施例にて詳説した々11<、本発明は感応体中或
は感応体とFET素子との界面に存在する不純物やイオ
ン及び使用中に外界囲気から混入する不純物やイオンが
FET素子並びにFET型センサとしての出力特性に与
える影響を顕著に抑制する効果を有するため、湿度検知
の場合のみならずガスやイオンの検知更には有機物検知
を対象とするバイオセンサ々どの各種のFET型センサ
の動作特性及び出力特性の長期安定性並びに特性再現性
に多大な効果音もたらすものである。
は感応体とFET素子との界面に存在する不純物やイオ
ン及び使用中に外界囲気から混入する不純物やイオンが
FET素子並びにFET型センサとしての出力特性に与
える影響を顕著に抑制する効果を有するため、湿度検知
の場合のみならずガスやイオンの検知更には有機物検知
を対象とするバイオセンサ々どの各種のFET型センサ
の動作特性及び出力特性の長期安定性並びに特性再現性
に多大な効果音もたらすものである。
第1図及び第2図は夫々本発明の実施例を示すF E
T型jli!度センサの構造W[面図と等価回路図であ
る。 第3図は第1図に示す湿度センサの出力対相対湿度特性
図、第4図は出力の経時変化を示す特性図である。図中
の曲線Aは第1図のFET型湿度センサについての実測
値を示し、曲線Bは比較のために、ブロッキング膜を用
いない場合のFET型湿度センサの実測値を示す。 ■ ・シ) コアTrF板2−・・ソース 3・・・ド
レイン 5・・・二酸化シリコン膜 7・・・窒化シリ
コン膜 8・・・プロンキング膜 9・・・感湿体 1
0・・・ゲート電極膜 代理人 弁理士 福 士 愛 彦(他2名)b W;1図 0 20 40 60 80 100 a苅簸 (%RH)
T型jli!度センサの構造W[面図と等価回路図であ
る。 第3図は第1図に示す湿度センサの出力対相対湿度特性
図、第4図は出力の経時変化を示す特性図である。図中
の曲線Aは第1図のFET型湿度センサについての実測
値を示し、曲線Bは比較のために、ブロッキング膜を用
いない場合のFET型湿度センサの実測値を示す。 ■ ・シ) コアTrF板2−・・ソース 3・・・ド
レイン 5・・・二酸化シリコン膜 7・・・窒化シリ
コン膜 8・・・プロンキング膜 9・・・感湿体 1
0・・・ゲート電極膜 代理人 弁理士 福 士 愛 彦(他2名)b W;1図 0 20 40 60 80 100 a苅簸 (%RH)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 被検知体との物理的或は化学的相互作用によって電
気的変化を生ずる感応体と、電界効果型素子と、を−外
的に結合させてなる電界効果型センサにおいて、前記感
応体のドリフト解除用電圧を印加する補助電極を前記感
応体にイ」役したことを特徴とする電界効果型センサ。 2、補助電極を電界効果型素子のゲート絶縁膜と感応体
の界面に介設し、感応体の他方の面にゲート電極を配設
した特許請求の範囲第1項記載の電界効果型センサ。 3 水蒸気或は水分の吸脱着によって静電容量または電
気伝導度が変化する感湿体を感応体とした特許請求の範
囲第1項又は第2項記載の電界効果型センサ。 4、 感湿体としてセルロース系膜、ビニル系(換。 有機もしくは無機の固体電解質膜または釡属酸化膜を用
いた特許請求の範囲第3項記載の電界効果型センサ。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59023598A JPS60168043A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | Fet型センサ |
| US06/697,640 US4698657A (en) | 1984-02-10 | 1985-02-04 | FET type sensor and a method for driving the same |
| GB08503061A GB2156150B (en) | 1984-02-10 | 1985-02-07 | Fet with an auxiliary electrode at a sensitive layer |
| DE19853504401 DE3504401A1 (de) | 1984-02-10 | 1985-02-08 | Feldeffekttransistortyp-sensor und verfahren zu dessen betrieb |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59023598A JPS60168043A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | Fet型センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60168043A true JPS60168043A (ja) | 1985-08-31 |
| JPH0415902B2 JPH0415902B2 (ja) | 1992-03-19 |
Family
ID=12115033
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59023598A Granted JPS60168043A (ja) | 1984-02-10 | 1984-02-10 | Fet型センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60168043A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007533988A (ja) * | 2004-04-22 | 2007-11-22 | マイクロナス ゲーエムベーハー | Tft型ガスセンサーにおけるガスの測定方法及び/又は横感度を低減させる方法 |
| JP2013525808A (ja) * | 2010-05-06 | 2013-06-20 | ソウル・ナショナル・ユニバーシティ・アール・アンド・ディ・ファウンデイション | 容量素子センサー及びその製造方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54141699A (en) * | 1978-04-26 | 1979-11-05 | Olympus Optical Co Ltd | Chemically responding element |
-
1984
- 1984-02-10 JP JP59023598A patent/JPS60168043A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54141699A (en) * | 1978-04-26 | 1979-11-05 | Olympus Optical Co Ltd | Chemically responding element |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007533988A (ja) * | 2004-04-22 | 2007-11-22 | マイクロナス ゲーエムベーハー | Tft型ガスセンサーにおけるガスの測定方法及び/又は横感度を低減させる方法 |
| JP2013525808A (ja) * | 2010-05-06 | 2013-06-20 | ソウル・ナショナル・ユニバーシティ・アール・アンド・ディ・ファウンデイション | 容量素子センサー及びその製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0415902B2 (ja) | 1992-03-19 |
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