JPS60181718A - 同期走査顕微鏡 - Google Patents

同期走査顕微鏡

Info

Publication number
JPS60181718A
JPS60181718A JP3707384A JP3707384A JPS60181718A JP S60181718 A JPS60181718 A JP S60181718A JP 3707384 A JP3707384 A JP 3707384A JP 3707384 A JP3707384 A JP 3707384A JP S60181718 A JPS60181718 A JP S60181718A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
deflector
image
optical system
scanning microscope
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3707384A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH045363B2 (ja
Inventor
Teruo Hiruma
輝夫 晝馬
Isuke Hirano
平野 伊助
Tatsuro Hayashi
達郎 林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP3707384A priority Critical patent/JPS60181718A/ja
Publication of JPS60181718A publication Critical patent/JPS60181718A/ja
Publication of JPH045363B2 publication Critical patent/JPH045363B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、試料を照明用微小スポットで走査し、拡大し
、前記走査に同期して撮像する同期走査顕微鏡に関する
(従来技術) 観察対象をスポット照明をする装置として、第1図に示
すような装置が知られている。
試料24が載置されている透明なステージ23ば走査機
構28により移動可能に設けられている。
試料24はレーザ光源から、反射鏡21、コンデンサレ
ンズ22を介して(ハ給されるスポット光により照射さ
れており、前記透明なステージ23の移動により照明の
ための走査がなされている。試料24の上側にはスポッ
トセンサ25が配置されている。
スポットセンサ25は、照明された点(スポット)から
の光を検出するセンサで光電子増倍管で構成されている
スポットセンサ25の出力は、前記透明なステージ23
の移動と関連する走査が行われているテレビジョンモニ
タ26により再生される。
ステージの移動が高速(例えば20〜30全スキャン/
秒程度)なら、モニタはフリッカを感じないが、遅いと
きはフレームメモリによるスキャン・コンバータが必要
となる。
制御回路27は前記透明ステージ23の走査機構28お
よびテレビジョンモニタに同期信号を供給している。
前記装置は、ta械的な走査をするので、走査速度に限
界があり、変化の速度が大きい試料の観察には不適当で
ある。
また第2図に示すように照明点Aで生じた散乱光(Bの
領域の光)がスポットセンサ25の受光面25aに入射
するため全体に「カブリ」を生じる可能性があり、分解
能を損なう虞があった。
レーザ光源による試料を走査する他の装置として、ポリ
ゴンミラ、ガルバノ方式のものが知られているが、動作
が機械的であるため、やはり走査速度に限界があり、機
構も複雑である。
(発明の目的) 本発明の目的は高速スポット光走査照明が可能でかつ高
い分解能で拡大できる同期走査顕微鏡を提供することに
ある。
(構成の説明) 前記目的を達成するために本発明による同期走査顕微鏡
は、試料を微小スポットで2次元走査する照明走査機構
と、前記試料を拡大する拡大光学系と、前記拡大光学系
で拡大された像の前記照明走査点に対応する部分を撮像
する撮像装置から構成されている。
(実施例の説明) 以下図面等を参照して本発明による装置をさらに詳しく
説明する。
第3図は本発明による同期走査顕微鏡の実施例を示すブ
ロック図である。
第5図は試料面近傍の1光学系を略図示した斜視図であ
る。
レーザ発振器1からのレーザ光ビームは偏向器2に入射
させられる。
偏向器2は、O−E、0−Aの電気光学結晶からなり、
各結晶には駆動電源8から駆動電圧が接続されている。
電気光学結晶内には、前記駆動電圧により電界が印加さ
れ、電界によって変化させられる屈折率の変化により入
射ビームを偏向する。これにより偏向器2に入射させら
れた前記レーザ1からのビームはXY直交2方向成分に
偏向される。
偏向されたビームはFθレンズ3に入りプレパラート4
上(試料面)にスポットをつくる。
Fθレンズとば、球面結像の非線形性を平面結像とする
レンズである。
すなわちFθレンズは第4図に示すように、ある時刻t
における結像位置をY (t)その時刻むにおける入射
位置θ(1)としたとき以下の関係を成立させることが
できるレンズである。
Y (t)=F・θ<1> ただし、FはFθレンズの焦点距離である。
プレパラート4面上の試料を走査するスボ・2トの像は
顕微鏡5により拡大されイメージディセクタ6により撮
像される。
イメージディセクタ6は第6図に示す撮像装置で、光電
面61.光電子像集束器62.光電子流偏向器63.ア
パーチャ64.2次電子増倍器65゜陽極6Gから形成
されている。
光電面より放出された光電子像は、アパーチャ基板上に
築束結像され、アパーチャ64を透過した電子のみが′
ン次電子増倍器65により増倍され、陽極66から取り
出される。
高倍率の電子増倍が可能であるから低照度の撮像が可能
であり、171000程度のダイナミックにンジを確保
できる。
このイメージディセクタの走査は、偏向器2の偏向走査
に同期させられている。
イメージディセクタ6は任意の走査域を設定できるから
、この信号はカメラコントロール7から同期信号発生器
10ヘフイードバソクし、同期信号発生器10により偏
向器2の走査域を変更することができる。
イメージディセクタ6の出力は、テレビジョンモータ1
1により拡大され、観察される。
イメージディセクタ6の受光面走査域を10mm口とし
た場合、顕微鏡5の対物レンズの拡大率20倍、イメー
ジディセクタ6の撮像レンズの3.3倍を用いると検出
器入力面での倍率は100倍となり、実視野は0.1m
m口となる。
したがって、ビーム偏向された照明スボソi〜サイズを
試料面で1μmに絞れば、100X100のマトリック
スを形成できる。
(変形例) 以上詳しく説明した実施例につき本発明の範囲内で種々
の変形を施すことができる。
前述した実施例では、偏向器として電気光学結晶を利用
した例を示したが、音響光学結晶も同様にイ扁向器に利
用できる。
音響光学結晶は結晶に音響波による格子状屈折率分布を
作り、その格子でおきるブラッグ回折を利用して入射光
を偏向させるものである。
(効果の説明) 本発明による同期走査顕微鏡は、試料を微小スポットで
2次元走査する照明走査機構と、前記試料を拡大する拡
大光学系と、前記拡大光学系で拡大された像の前記照明
走査点に対応する部分を撮像する撮像装置から構成され
ているので、散乱光による影響を除去して高い分解f1
ヒの拡大像を得ることができる。
照明走査機構を電気光学結晶または音響光学結晶を用い
て実現することにより、高速度の走査が可能になる。
これにより経時的変化の大きい試料の観察が可能になる
。また照射スポットによる損傷され易い試料の損傷の程
接を軽減させて観察することができる。
撮像装置としてイメージディセクタを使用することによ
り観察像のダイナミックレンジを拡大することができる
励起光源として単色ビームを発生するレーザ発振器を使
用するので、バンクグラウンドの除去も容易となる。
本発明による同期走査顕微鏡ば、高速度で残光を少なく
することができ、微小部分の複屈折率分布測定や螢光燐
光発生の分布の観測等従来の装置で不可能であっノこ観
察を可能にするものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はすでに提案されている微小部分の拡大観測装置
を示す略図である。 第2図は前記装置の問題点を説明するための光路図であ
る。 第3図は本発明による同期走査顕微鏡の実施例を示すブ
ロック図である。 第4図ばFθレンズの原理を説明するための光路図であ
る。 第5図は、本発明による同期走査顕微鏡の光学系を説明
的に示した斜視図である。 第6図はイメージディセクタの構成を示す略図である。 ■・・・レーザ発振器 2・・・偏向器 3・・・Fθレンズ 4・・・プレパラート 5・・・顕微鏡 6・・・イメージディセクタ 7・・・イメージディセクタカメラ制御回路8・・・偏
向器駆動電源 9・・・イメージディセクタ駆動電源 10・・・同期信号発生器 11・・・テレビジョンモータ 特許出願人 浜松ホトニクス株式会社 代理人 弁理士 井 ノ ロ 壽 第1図 どU 才2図 ハ b 才3図 3′4図

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)試料を微小スポットで2次元走査する照明走査機
    構と、前記試料を拡大する拡大光学系と、前記拡大光学
    系で拡大された像の前記照明走査点に対応する部分を撮
    像する撮像装置から構成した同期走査顕微鏡。
  2. (2)前記照明走査機構は、レーザ光源と、前記レーザ
    光源からの光ビームを偏向する偏向器と、前記偏向器に
    より偏向された光ビームを試料に導く光学系から構成し
    た特許請求の範囲第1項記載の同期走査顕微鏡。
  3. (3)前記偏向器は電気光学結晶または音響光学結晶で
    ある特許請求の範囲第2項記載の同期走査顕微鏡。
  4. (4)前記偏向器により偏向された光ビームを試料に導
    く光学系は角度・位置変換光学系である特許請求の範囲
    第2項記載の同期走査顕微鏡。
  5. (5)前記角度・位置変換光学系はFθレンズである特
    許請求の範囲第4項記載の同期走査顕1飲鏡。
  6. (6)前記拡大光学系は顕微鏡の対物光学系である特許
    請求の範囲第1項記載の同期走査顕微鏡。
  7. (7)撮像装置はイメージディセクタである特許請求の
    範囲第1項記載の同期走査顕微鏡。
JP3707384A 1984-02-28 1984-02-28 同期走査顕微鏡 Granted JPS60181718A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3707384A JPS60181718A (ja) 1984-02-28 1984-02-28 同期走査顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3707384A JPS60181718A (ja) 1984-02-28 1984-02-28 同期走査顕微鏡

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS60181718A true JPS60181718A (ja) 1985-09-17
JPH045363B2 JPH045363B2 (ja) 1992-01-31

Family

ID=12487372

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3707384A Granted JPS60181718A (ja) 1984-02-28 1984-02-28 同期走査顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60181718A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0477710A (ja) * 1990-07-20 1992-03-11 Hamamatsu Photonics Kk 同期走査顕微鏡
JPH0477709A (ja) * 1990-07-20 1992-03-11 Hamamatsu Photonics Kk 同期走査顕微鏡
JP2008158326A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Olympus Corp レーザ走査型顕微鏡
JP2008158325A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Olympus Corp レーザ顕微鏡とその制御方法
JP2008197178A (ja) * 2007-02-08 2008-08-28 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡
JP2008203301A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡
JP2016202613A (ja) * 2015-04-23 2016-12-08 国立大学法人埼玉大学 生体装着型小型顕微鏡および内視鏡

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0477710A (ja) * 1990-07-20 1992-03-11 Hamamatsu Photonics Kk 同期走査顕微鏡
JPH0477709A (ja) * 1990-07-20 1992-03-11 Hamamatsu Photonics Kk 同期走査顕微鏡
JP2008158326A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Olympus Corp レーザ走査型顕微鏡
JP2008158325A (ja) * 2006-12-25 2008-07-10 Olympus Corp レーザ顕微鏡とその制御方法
US7969653B2 (en) * 2006-12-25 2011-06-28 Olympus Corporation Laser microscope and control method for the same
JP2008197178A (ja) * 2007-02-08 2008-08-28 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡
JP2008203301A (ja) * 2007-02-16 2008-09-04 Olympus Corp レーザー走査型顕微鏡
JP2016202613A (ja) * 2015-04-23 2016-12-08 国立大学法人埼玉大学 生体装着型小型顕微鏡および内視鏡

Also Published As

Publication number Publication date
JPH045363B2 (ja) 1992-01-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4734578A (en) Two-dimensional scanning photo-electric microscope
EP0284136B1 (en) Confocal laser scanning microscope
EP0176358B1 (en) Image pick-up apparatus
JP3343276B2 (ja) レーザー走査型光学顕微鏡
US4827125A (en) Confocal scanning laser microscope having no moving parts
Xiao et al. A real-time confocal scanning optical microscope
US6614031B2 (en) Method for examining a specimen, and confocal scanning microscope
US4963724A (en) Apparatus for producing an optical image contrast
US6248995B1 (en) Confocal microscopic equipment
US4920386A (en) High spatial and time resolution measuring apparatus
JP2006504140A (ja) ランダムアクセス高速度共焦点顕微鏡
JP2524574B2 (ja) 走査型光学顕微鏡
JPH045363B2 (ja)
JP4274592B2 (ja) 画像処理装置
JPH0713707B2 (ja) 走査型光学顕微鏡
Wilke Laser scanning in microscopy
JPH09133869A (ja) 共焦点走査型光学顕微鏡
US3624400A (en) Apparatus for the production of high-resolution visible images of objects illuminated by or emitting infrared radiation
JPH05288992A (ja) 透過型顕微鏡
Horikawa et al. Laser scanning microscope: differential phase images
US6545789B1 (en) Device to improve Z-axis resolution in confocal microscopy
JP3331175B2 (ja) 顕微鏡観察装置
JPH09297269A (ja) 走査型画像入力装置及び走査型プローブ顕微鏡
CN113484322A (zh) 可实时反馈轴向光阱位置的光镊超分辨成像方法和系统
US6078046A (en) Apparatus for measuring electron beam intensity and electron microscope comprising the same

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees