JPS60190847A - 熱処理剤の冷却性能評価方法および評価装置 - Google Patents
熱処理剤の冷却性能評価方法および評価装置Info
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- JPS60190847A JPS60190847A JP4737484A JP4737484A JPS60190847A JP S60190847 A JPS60190847 A JP S60190847A JP 4737484 A JP4737484 A JP 4737484A JP 4737484 A JP4737484 A JP 4737484A JP S60190847 A JPS60190847 A JP S60190847A
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- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［技術分野］
本発明は、焼入油等の熱処理剤の冷却性能評価方法およ
び評価装置に関する。
び評価装置に関する。
［背Ｊ′：（技術］
現在、焼入油等の熱処理剤の冷却性能試験は、ＪＩＳに
のっとり試片として銀杯を用い、その銀杯を熱処理剤中
に投入したときの温度降下を時間の関数としてめ、その
時間と温度との関係によって得られる冷却曲線に基づき
熱処理剤の冷却性能を評価しているが、次のような問題
がある。
のっとり試片として銀杯を用い、その銀杯を熱処理剤中
に投入したときの温度降下を時間の関数としてめ、その
時間と温度との関係によって得られる冷却曲線に基づき
熱処理剤の冷却性能を評価しているが、次のような問題
がある。
■銀杯の表面温度を測定している銀−アルメル熱電対は
温度−出力関係に直線性がないので、温Ｊ隻Ｌ１盛か等
間隔な冷却曲線が得られず、得られた曲線を書換えなけ
れば９１通の温度［Ｉ盛のデータが得られない。
温度−出力関係に直線性がないので、温Ｊ隻Ｌ１盛か等
間隔な冷却曲線が得られず、得られた曲線を書換えなけ
れば９１通の温度［Ｉ盛のデータが得られない。
（Φ銀杯自体のバラツキが大きいためＪＩＳでも７１１
１１定ｆｆｌ＜ 差’Ｉ） ｒＭ’ 容箱ＩＪ’］ カ
広ｔ キ（Ｊ Ｉ Ｓ Ｋ ２２４２の５．２．４（３
）および５．２．６（２））、Ａ１す定′ｆＩ料間の冷
却性能の差が評価し難くなってきており、銀杯のバラツ
キを補止する必要がある。
１１定ｆｆｌ＜ 差’Ｉ） ｒＭ’ 容箱ＩＪ’］ カ
広ｔ キ（Ｊ Ｉ Ｓ Ｋ ２２４２の５．２．４（３
）および５．２．６（２））、Ａ１す定′ｆＩ料間の冷
却性能の差が評価し難くなってきており、銀杯のバラツ
キを補止する必要がある。
■銀杯の冷力」は速く、一般のペンレコータでは追随で
きず、そのため高速記録計を使用しなくてはならなくな
っている。ところが、一般に、光学式記録計は記録紙の
保存性がなく、再度手書きで記録を書いているのが実状
である。
きず、そのため高速記録計を使用しなくてはならなくな
っている。ところが、一般に、光学式記録計は記録紙の
保存性がなく、再度手書きで記録を書いているのが実状
である。
（り最近、熱処理剤のより詳細な管理のため冷却曲線と
同時に冷却速度曲線の測定が必要とされてきているが、
現状の方法では測定できない。
同時に冷却速度曲線の測定が必要とされてきているが、
現状の方法では測定できない。
Ｕ発すノの１ｊ的コ
ここにおいて、本発明の目的は、上述した問題点を解決
し、かつ取扱性の向上を図った熱処理剤の冷却性能評価
方法および評価装置を提供することにある。
し、かつ取扱性の向上を図った熱処理剤の冷却性能評価
方法および評価装置を提供することにある。
［づｔさ櫂）の構ｌ−６１
そのため、本発明の評価方法は、熱処理剤中に所定温度
に加熱されて投入された試片の温度を熱電対の起電力ど
して検出する検出二「：程と、この検出工程によって検
出された起電力を試片の温度との関係で直線化する直線
化工程と、この直線化工程で直線化された起電力データ
を記憶する記憶工程と、この記憶工程によって記憶され
た起電力データに基づき熱処理剤の冷却曲線および冷却
速度曲線の少なくとも一方を図化する図化工程と、を含
むことを特徴としている。
に加熱されて投入された試片の温度を熱電対の起電力ど
して検出する検出二「：程と、この検出工程によって検
出された起電力を試片の温度との関係で直線化する直線
化工程と、この直線化工程で直線化された起電力データ
を記憶する記憶工程と、この記憶工程によって記憶され
た起電力データに基づき熱処理剤の冷却曲線および冷却
速度曲線の少なくとも一方を図化する図化工程と、を含
むことを特徴としている。
また、本発明の評価装置は、熱処理剤中に所定温度に加
熱されて投入された試片の温度を起電力として検出する
熱電対と、この熱電対によって検出された起電力に基づ
き熱処理剤の冷却曲線および冷却速度曲線の少なくとも
一方をめるデータ処理製置市と、このデータ処理装置に
よってめられた冷却曲線および冷却速度曲線の少なくと
も一方を記録する記録計とからなり、前記デ〜り処理装
置は、前記熱電対によって検出された起電力を試片の温
度との関係で直線化する機能と、温度との関係で直線化
された起電力データを記憶する機能ど、記憶された起電
力データを前記記録計へ出力する機能とを含む、構成を
特徴としている。
熱されて投入された試片の温度を起電力として検出する
熱電対と、この熱電対によって検出された起電力に基づ
き熱処理剤の冷却曲線および冷却速度曲線の少なくとも
一方をめるデータ処理製置市と、このデータ処理装置に
よってめられた冷却曲線および冷却速度曲線の少なくと
も一方を記録する記録計とからなり、前記デ〜り処理装
置は、前記熱電対によって検出された起電力を試片の温
度との関係で直線化する機能と、温度との関係で直線化
された起電力データを記憶する機能ど、記憶された起電
力データを前記記録計へ出力する機能とを含む、構成を
特徴としている。
［実施例の説明］
第１図は本実施例の冷却性能評価装置の全体のシステム
を示している。同システムは、焼入油等の熱処理剤ｌを
収納した処理槽２と、この処理槽２の−１一方に肩降自
在に設けられかつ表面温度を検出する熱電対３を有する
試片としての銀棒４と、この銀棒４を測定開始前に所定
温度に加熱するだめの加熱用電気炉５と、この加熱用電
気炉５を介して１１」記録体４を加熱し、熱電対３から
の出力が所定値つまり銀棒４の表面温度が所定温度に達
した際、銀棒４を処理槽２の熱処理剤１中へ投入した後
、熱電対３からの出力を順次取込み、それを所定処理し
て冷却曲線データおよび冷却速度曲線データをめるデー
タ処理装置６と、このデータ処理装置６でめられた冷却
曲線データを図化する記録計としてのＸ−Ｙレコータ７
と、前記データ処理装置６６でめられた冷却速度曲線デ
ータを図化する記録計としてのＸ−Ｙレコーダ８とから
構成されている。
を示している。同システムは、焼入油等の熱処理剤ｌを
収納した処理槽２と、この処理槽２の−１一方に肩降自
在に設けられかつ表面温度を検出する熱電対３を有する
試片としての銀棒４と、この銀棒４を測定開始前に所定
温度に加熱するだめの加熱用電気炉５と、この加熱用電
気炉５を介して１１」記録体４を加熱し、熱電対３から
の出力が所定値つまり銀棒４の表面温度が所定温度に達
した際、銀棒４を処理槽２の熱処理剤１中へ投入した後
、熱電対３からの出力を順次取込み、それを所定処理し
て冷却曲線データおよび冷却速度曲線データをめるデー
タ処理装置６と、このデータ処理装置６でめられた冷却
曲線データを図化する記録計としてのＸ−Ｙレコータ７
と、前記データ処理装置６６でめられた冷却速度曲線デ
ータを図化する記録計としてのＸ−Ｙレコーダ８とから
構成されている。
１１１■記銀杯４は、第２図に示す如く、前記処理槽２
の上方に昇降自在に設けられた支持棒ｊ１に螺合され、
かつ中央に前記熱電対３を収納する収納穴１２を備えて
いる。また、ｎ：ｊ温熱電対３は、アルメル線１３と、
このアルメル線１３に前記銀棒４を揄して接する銀製パ
イプ１４とから構成されている。前記アルメル線１３は
、前記銀製バイブ１４内を通って挿通され、かつ先端が
前記銀棒４の収納穴１２の内周面と接する球状に成形さ
れている。また、前記銀製パイプ１４は、前記銀棒４の
収納穴１２に螺合され、かつ耐熱絶縁体１５を介して前
記アルメル線１３に対して絶縁されている。
の上方に昇降自在に設けられた支持棒ｊ１に螺合され、
かつ中央に前記熱電対３を収納する収納穴１２を備えて
いる。また、ｎ：ｊ温熱電対３は、アルメル線１３と、
このアルメル線１３に前記銀棒４を揄して接する銀製パ
イプ１４とから構成されている。前記アルメル線１３は
、前記銀製バイブ１４内を通って挿通され、かつ先端が
前記銀棒４の収納穴１２の内周面と接する球状に成形さ
れている。また、前記銀製パイプ１４は、前記銀棒４の
収納穴１２に螺合され、かつ耐熱絶縁体１５を介して前
記アルメル線１３に対して絶縁されている。
一方、前記データ処理装置６は、第３図に示す如く、Ｉ
ｊう記熱電対３からの出力が増幅器２１によって増幅さ
れた後、Ａ／Ｄ変換器２２へ与えられるようになってい
る。Ａ／Ｄ変換器２２には。
ｊう記熱電対３からの出力が増幅器２１によって増幅さ
れた後、Ａ／Ｄ変換器２２へ与えられるようになってい
る。Ａ／Ｄ変換器２２には。
前記熱電対３からの出力のほかに、室温補正回路２３か
らの出力が与えられるようになっている。
らの出力が与えられるようになっている。
室温補正回路２３は、室温を測定し、その室温を１）１
」記熱電対３の出力に換算し、前記増幅器２１ど同しヘ
ルまで増幅する。室温補止回路２３の出力と前記熱電対
３の出力とは、前記Ａ／Ｄ変換器２２によってデジタル
値に変換された後、ＣＰＵからなる演算制御回路２４へ
与えられている。
」記熱電対３の出力に換算し、前記増幅器２１ど同しヘ
ルまで増幅する。室温補止回路２３の出力と前記熱電対
３の出力とは、前記Ａ／Ｄ変換器２２によってデジタル
値に変換された後、ＣＰＵからなる演算制御回路２４へ
与えられている。
前記演算制御回路２４には、前記Ａ／Ｄ変換器２２のデ
ータを演算制御回路２４へ取込むだめのサンプリングパ
ルスを所定ＩＩ”、ｉ １ｉｔｌ ４ｉ３：に出力する
サン−ｆ ＩＪ ７ クタイマ２５Ａ、各種操作指令お
よび補正係数等を入力するだめの操作盤２６、Ａ／Ｄ変
換器２２から取込まれたデータが所定処理されて順次記
憶されるメモリ２７、このメモリ２７に記憶されたデー
タをアナログ量に変換して前記Ｘ−Ｙレコータ７，８へ
出力するためのＤ／Ａ変換器２８ 、２９８よぴメモリ
２７に記憶されたデータを前記Ｄ／Ａ変換器２８．２９
へ出力する出力タイミングを決定する出力タイマ２５Ｂ
がそれぞれ接続されている。前記サンプリングタイマ２
５Ａは、前記操作盤２６から補正係数が演算制御回路２
４へ入力されると、演算制御回路２４によって設定され
たサンプリング周期毎にサンプリングパルスを前記Ａ／
ＤＩ換器２２へ与える。これにより、サンプリングパル
スが与えられる毎に、Ａ／Ｄ変換器２２のデータが演算
制御回路２４へ取込まれるようになっている。
ータを演算制御回路２４へ取込むだめのサンプリングパ
ルスを所定ＩＩ”、ｉ １ｉｔｌ ４ｉ３：に出力する
サン−ｆ ＩＪ ７ クタイマ２５Ａ、各種操作指令お
よび補正係数等を入力するだめの操作盤２６、Ａ／Ｄ変
換器２２から取込まれたデータが所定処理されて順次記
憶されるメモリ２７、このメモリ２７に記憶されたデー
タをアナログ量に変換して前記Ｘ−Ｙレコータ７，８へ
出力するためのＤ／Ａ変換器２８ 、２９８よぴメモリ
２７に記憶されたデータを前記Ｄ／Ａ変換器２８．２９
へ出力する出力タイミングを決定する出力タイマ２５Ｂ
がそれぞれ接続されている。前記サンプリングタイマ２
５Ａは、前記操作盤２６から補正係数が演算制御回路２
４へ入力されると、演算制御回路２４によって設定され
たサンプリング周期毎にサンプリングパルスを前記Ａ／
ＤＩ換器２２へ与える。これにより、サンプリングパル
スが与えられる毎に、Ａ／Ｄ変換器２２のデータが演算
制御回路２４へ取込まれるようになっている。
また、Ｍｊ記操作盤２６には、電源スィッチ３１、スタ
ート釦３２、冷却曲線出力釦３３、冷却速度曲線出力釦
３４、クリア釦３５、補ｊＥ係数を入力するだめのデジ
タルスイッチ３６、前記熱電対３によってＡＩＩ！定さ
れた３Ｉシ杯４の温度を表示する温度データ表示器３７
、加熱表示ランプ３８および準備完了ランプ３９かそれ
ぞれ設けられている。また、前記演算制御回路２４は、
前記操作盤２６の電源スィッチ３１、スタート釦３２．
冷却曲線出力夕１３３、冷却速度曲線出力釦３４および
クリア釦３５が操作された際、第４図、第５図、第６図
、第７図、第８図に示すフローチャー１・に従ってそれ
ぞれ処理を行うようになっている。
ート釦３２、冷却曲線出力釦３３、冷却速度曲線出力釦
３４、クリア釦３５、補ｊＥ係数を入力するだめのデジ
タルスイッチ３６、前記熱電対３によってＡＩＩ！定さ
れた３Ｉシ杯４の温度を表示する温度データ表示器３７
、加熱表示ランプ３８および準備完了ランプ３９かそれ
ぞれ設けられている。また、前記演算制御回路２４は、
前記操作盤２６の電源スィッチ３１、スタート釦３２．
冷却曲線出力夕１３３、冷却速度曲線出力釦３４および
クリア釦３５が操作された際、第４図、第５図、第６図
、第７図、第８図に示すフローチャー１・に従ってそれ
ぞれ処理を行うようになっている。
次に、本実施例の作用を説明する。本装置の取扱におい
ては、補正係数の測定と、熱処理剤ｌのん却曲線および
冷却速度曲線の測定との２段階に分けることができる。
ては、補正係数の測定と、熱処理剤ｌのん却曲線および
冷却速度曲線の測定との２段階に分けることができる。
まず、補正係数の測定にあたっては、始めに操作盤２６
の電源スィッチ３１をオンすると、演算制御回路２４に
おいて第４図に示す処理が行われる。即ち、加熱用電気
炉５が加熱された後、Ａ／Ｄ変換器２２を介して与えら
れる熱電対３の出力および室温補正回路２３の出力が所
定処理され前記操作盤２６の温度データ表示器３７に表
示された後、その表示温度が８１０℃に達したか否かが
判断される。
の電源スィッチ３１をオンすると、演算制御回路２４に
おいて第４図に示す処理が行われる。即ち、加熱用電気
炉５が加熱された後、Ａ／Ｄ変換器２２を介して与えら
れる熱電対３の出力および室温補正回路２３の出力が所
定処理され前記操作盤２６の温度データ表示器３７に表
示された後、その表示温度が８１０℃に達したか否かが
判断される。
ここで、その表示温度が８１０°Ｃに達すると、加熱表
示ランプ３８が点灯され、続いてメモリ２７の内容がク
リアーされた後、前記加熱表示ランプ３８が点灯してか
ら３分後に準備完了ランプ３９が点灯される。準備完了
ランプ３９の点灯は、銀棒４の内部まで８１０°Ｃにな
っていることを意味している。この間、処理槽２に収納
した標準油（フタル酸ジオクチル（ＤＯＰ））を８０
’Ｃに加熱しておく。
示ランプ３８が点灯され、続いてメモリ２７の内容がク
リアーされた後、前記加熱表示ランプ３８が点灯してか
ら３分後に準備完了ランプ３９が点灯される。準備完了
ランプ３９の点灯は、銀棒４の内部まで８１０°Ｃにな
っていることを意味している。この間、処理槽２に収納
した標準油（フタル酸ジオクチル（ＤＯＰ））を８０
’Ｃに加熱しておく。
次に、デジタルスイッチ３６の値を１．００に設定した
後、スタート釦３２を押すと、第５図に示すフローチャ
ートに従って、まず準備完了ランプ３９が点灯されてい
るか否かか判断される。このとき、準備完了ランプ３９
が点灯していない場合には、エラーとして処理される。
後、スタート釦３２を押すと、第５図に示すフローチャ
ートに従って、まず準備完了ランプ３９が点灯されてい
るか否かか判断される。このとき、準備完了ランプ３９
が点灯していない場合には、エラーとして処理される。
一方、準備完了ランプ３９が点灯している場合には、支
持棒ｌｌか下降され銀棒４が処理槽２の標準池内へ投入
された後、Ａ／Ｄ変換器２２を介して取込まれる熱電対
３の出力つまり銀棒４の温度が８００°Ｃに達したか否
かが判断される。
持棒ｌｌか下降され銀棒４が処理槽２の標準池内へ投入
された後、Ａ／Ｄ変換器２２を介して取込まれる熱電対
３の出力つまり銀棒４の温度が８００°Ｃに達したか否
かが判断される。
ここで、銀棒４の温度が８００ ”Ｃに達すると、熱電
対３からの出力がサンプリングタイマ２５Ａで設定され
たサンプリングパルス間隔毎に演算制御回路２４内へ取
込まれ、その演算制御回路２４内において熱電対３の出
力か銀棒４の温度との関係において直線化され（温度と
の関係において一次比例するように補正され）た後、メ
モリ２７内に順次記憶される。このようにして、熱電対
３からの出力が＋＋ａ次メ子メモリ２フ内憶されていく
過程において、熱電対３の出力つまり銀棒４の温度が４
００℃に達すると銀棒４の温度が８００°Ｃから４００
°Ｃまで冷却されるまでの時間Ｔがめられた後、その時
間Ｔから補正係数が計算される。
対３からの出力がサンプリングタイマ２５Ａで設定され
たサンプリングパルス間隔毎に演算制御回路２４内へ取
込まれ、その演算制御回路２４内において熱電対３の出
力か銀棒４の温度との関係において直線化され（温度と
の関係において一次比例するように補正され）た後、メ
モリ２７内に順次記憶される。このようにして、熱電対
３からの出力が＋＋ａ次メ子メモリ２フ内憶されていく
過程において、熱電対３の出力つまり銀棒４の温度が４
００℃に達すると銀棒４の温度が８００°Ｃから４００
°Ｃまで冷却されるまでの時間Ｔがめられた後、その時
間Ｔから補正係数が計算される。
補正係数は、
補正係数−４，５秒／Ｔ
の計算式によりめられた後、操作盤２６の温度データ表
示器３７に表示される。これにより、オペレータは、温
度データ表示器３７に表示されている補正係数をみて、
それをデジタルスイッチ３６に設定する。デジタルスイ
ッチ３６で補正係数が設定されると、演算制御回路２４
において、デジタルスイッチ３６により設定された補正
係数に基づき、サンプリングタイ２２５Ａから出力され
るサンプリングパルスの間隔と出力タイミングとの比が
自動的に設定される。 以上の操作により補正係数を決
定することができる。なお、補正係数の設定範囲は１．
９９〜０．００であるが、測定された秒数が４．２〜４
．８秒の間に入っていないとき（補正係数が１．０７〜
０．９３の間に入らないとき）は銀棒４か不良と考えら
れるので、交換が必要である。また、この操作はｌＪｉ
棒４を取換えたときは必ず実行しなくてはならない。
示器３７に表示される。これにより、オペレータは、温
度データ表示器３７に表示されている補正係数をみて、
それをデジタルスイッチ３６に設定する。デジタルスイ
ッチ３６で補正係数が設定されると、演算制御回路２４
において、デジタルスイッチ３６により設定された補正
係数に基づき、サンプリングタイ２２５Ａから出力され
るサンプリングパルスの間隔と出力タイミングとの比が
自動的に設定される。 以上の操作により補正係数を決
定することができる。なお、補正係数の設定範囲は１．
９９〜０．００であるが、測定された秒数が４．２〜４
．８秒の間に入っていないとき（補正係数が１．０７〜
０．９３の間に入らないとき）は銀棒４か不良と考えら
れるので、交換が必要である。また、この操作はｌＪｉ
棒４を取換えたときは必ず実行しなくてはならない。
銀棒４を取換えないときは、Ｉｔｌ！Ｉ定に先立って最
初に行うのがよいが、精度を重んじるときは測定の度に
行うべきである。
初に行うのがよいが、精度を重んじるときは測定の度に
行うべきである。
次に、熱処理剤ｌの冷却曲線および冷却速度曲線の測定
に当っては、処理槽２内に評価対象となる熱処理剤１を
収納した後、スタート釦３２を押すと、前述した処理と
同様にしてメモリ２７内に熱電対３の出力つまり銀棒４
の温度データが順次記憶される。測定完了後に、冷却曲
線出力釦３３を押すと、第６図に示すフローチャートに
従って、メモリ２７内のデータがＤ／Ａ変換器２８゜２
９を介してアナログ信号に変換された後Ｘ−Ｙレコータ
７に与えられる。これにより、Ｘ、−Ｙレコーダ７上に
冷却曲線が描かれる。このとき、サンプリング周期と出
力タイミングとの比が補正係数により変更されているの
で、銀棒４によるバラツキを？ｌｔ 、ＩＪＥすること
ができる。なお、ここではＸ−Ｙレコーダ７のＹ軸状に
温度データが、Ｘ軸状に時間データがそれぞれ記録され
る。
に当っては、処理槽２内に評価対象となる熱処理剤１を
収納した後、スタート釦３２を押すと、前述した処理と
同様にしてメモリ２７内に熱電対３の出力つまり銀棒４
の温度データが順次記憶される。測定完了後に、冷却曲
線出力釦３３を押すと、第６図に示すフローチャートに
従って、メモリ２７内のデータがＤ／Ａ変換器２８゜２
９を介してアナログ信号に変換された後Ｘ−Ｙレコータ
７に与えられる。これにより、Ｘ、−Ｙレコーダ７上に
冷却曲線が描かれる。このとき、サンプリング周期と出
力タイミングとの比が補正係数により変更されているの
で、銀棒４によるバラツキを？ｌｔ 、ＩＪＥすること
ができる。なお、ここではＸ−Ｙレコーダ７のＹ軸状に
温度データが、Ｘ軸状に時間データがそれぞれ記録され
る。
冷却曲線の記録が終了した後、冷却速度曲線出力釦３４
を押すと、第７ ｌｆｆ１に示すフローチャートに従っ
て、メモリ２７に記録されたデータが微分され、更にＤ
／Ａ変換器２９を介してアナログ信号に変換された後、
Ｘ−Ｙレコーダ８に出力される。これにより、Ｘ−Ｙレ
コーダ８上に冷却速度曲線が記録される。
を押すと、第７ ｌｆｆ１に示すフローチャートに従っ
て、メモリ２７に記録されたデータが微分され、更にＤ
／Ａ変換器２９を介してアナログ信号に変換された後、
Ｘ−Ｙレコーダ８に出力される。これにより、Ｘ−Ｙレ
コーダ８上に冷却速度曲線が記録される。
以］−の操作により、冷却曲線および冷却速度曲線の測
定を行うことができるが、次の測定を行うときはまずク
リア釦３５を押す。すると、第８図に示すフローチャー
トに従ってメモリ２７の内容がクリアーされる。この後
、スタート釦３２を再度押せば、次の測定を繰返えし行
うことができる。なお、クリア釦３５を押さず、また、
スタート釦３２を押していなければメモリ２７内に記憶
されているデータはそのままであるので何度でも測定し
た熱処理剤１の冷却曲線および冷却速度曲線を任意に出
力させることができる。
定を行うことができるが、次の測定を行うときはまずク
リア釦３５を押す。すると、第８図に示すフローチャー
トに従ってメモリ２７の内容がクリアーされる。この後
、スタート釦３２を再度押せば、次の測定を繰返えし行
うことができる。なお、クリア釦３５を押さず、また、
スタート釦３２を押していなければメモリ２７内に記憶
されているデータはそのままであるので何度でも測定し
た熱処理剤１の冷却曲線および冷却速度曲線を任意に出
力させることができる。
従って、本実施例によれば、Ａ／Ｄ変換器２２を介して
取込まれる熱電対３の出力を、演算制御回路２４におい
て銀杯４の温度との関係で直線化、つまり銀杯４の温度
との関係で一次的比例関係に補正するようにし７たので
、その補正したデータを直４妥ｉり出すことができる。
取込まれる熱電対３の出力を、演算制御回路２４におい
て銀杯４の温度との関係で直線化、つまり銀杯４の温度
との関係で一次的比例関係に補正するようにし７たので
、その補正したデータを直４妥ｉり出すことができる。
このことは、熱’ｉ［ｊ対３が銀−アルメル線からなる
場合であっても、従来のようにＪｌｌ定したデータを再
度書直す必要がなく、迅速かつ容易に冷却曲線の測定を
行うことかできる。
場合であっても、従来のようにＪｌｌ定したデータを再
度書直す必要がなく、迅速かつ容易に冷却曲線の測定を
行うことかできる。
また、標準油を用いて銀杯４の補正係数を測定し、この
補正係数に基づいてＡ１１足データの入力サンプリング
周期を変更するようにしたので、銀杯４の性能のばらつ
きを容易に補圧することができる。従って、銀杯４イσ
のバラツキを補正できるので、測定精度を向」ニさせる
ことができる。
補正係数に基づいてＡ１１足データの入力サンプリング
周期を変更するようにしたので、銀杯４の性能のばらつ
きを容易に補圧することができる。従って、銀杯４イσ
のバラツキを補正できるので、測定精度を向」ニさせる
ことができる。
また、メモリ２７内に記憶されたデータを微分シタ後、
Ｄ／Ａ変換器２９を介してＸ−Ｙレコーダ８へ出力する
ようにしたので、熱処理剤ｌの冷１４Ｊ速度曲線を容易
に測定することができるやまた、１１１１定したデータ
を一旦メモリ２７内に記憶するようにしたので、一般の
ペンレコータ等に記録させることができる。
Ｄ／Ａ変換器２９を介してＸ−Ｙレコーダ８へ出力する
ようにしたので、熱処理剤ｌの冷１４Ｊ速度曲線を容易
に測定することができるやまた、１１１１定したデータ
を一旦メモリ２７内に記憶するようにしたので、一般の
ペンレコータ等に記録させることができる。
このほか、室温補正回路２３を設け、この室温補正回路
２３によって出力を補正を行うようにしたので、熱ｉｕ
対に零接点を設ける必要がない。
２３によって出力を補正を行うようにしたので、熱ｉｕ
対に零接点を設ける必要がない。
なお、実施にあったで、データ処理装置６は、−１−記
実施例で述べた構成のほか、例えば第９図のように構成
してもよい。このものは、熱電対３の出力を銀杯４の温
度との関係で直線化するためのアナログリニアライザ４
１と、このアナログリニアライザ４１の出力をデジタル
信号に変換するＡ／Ｄ変換器４２と、このＡ／Ｄ変換器
４２の出力を記憶するメモリ４３と、このメモリ４３に
記憶されたデータをアナログ・信号に変換して前記Ｘ−
Ｙ ｌ／コーダ７へ出力するＤ／Ａ変換器４４と、この
Ｄ／Ａ変換器４４の出力を微分して前記Ｘ−Ｙレコーダ
８へ出力する微分回路４５と、補正係数を設定する補正
係数設定器４６と、この補正係数設定器４６に設定され
た補止係数に基づきＡ／Ｄ変換器４２からメモリ４３内
へ取込まれるデータのザンブリング周期を決定するサン
プリング回路４７と、前記補１に係数設定器４６により
設定されだ補止係数に基づきＴ）１」記メモリ４３から
Ｄ／Ａ変換器４４へ出力されるデータのザンプリング周
期を決定するためのサンプリング回路４８とから構成さ
れている。ここにおいて、補正係数設定器４６とサンプ
リング回路４７．４８とにより補正回路５０が構成され
ている。
実施例で述べた構成のほか、例えば第９図のように構成
してもよい。このものは、熱電対３の出力を銀杯４の温
度との関係で直線化するためのアナログリニアライザ４
１と、このアナログリニアライザ４１の出力をデジタル
信号に変換するＡ／Ｄ変換器４２と、このＡ／Ｄ変換器
４２の出力を記憶するメモリ４３と、このメモリ４３に
記憶されたデータをアナログ・信号に変換して前記Ｘ−
Ｙ ｌ／コーダ７へ出力するＤ／Ａ変換器４４と、この
Ｄ／Ａ変換器４４の出力を微分して前記Ｘ−Ｙレコーダ
８へ出力する微分回路４５と、補正係数を設定する補正
係数設定器４６と、この補正係数設定器４６に設定され
た補止係数に基づきＡ／Ｄ変換器４２からメモリ４３内
へ取込まれるデータのザンブリング周期を決定するサン
プリング回路４７と、前記補１に係数設定器４６により
設定されだ補止係数に基づきＴ）１」記メモリ４３から
Ｄ／Ａ変換器４４へ出力されるデータのザンプリング周
期を決定するためのサンプリング回路４８とから構成さ
れている。ここにおいて、補正係数設定器４６とサンプ
リング回路４７．４８とにより補正回路５０が構成され
ている。
また、第１０図に示す如く、第９ｉＡにおけるアサログ
リニアライザ４１を省略し、それに代ってＡ、 ／ Ｄ
変換器４２の後段にデジタルリニアライザ４９を挿入し
ても同様な効果を奏することができる。
リニアライザ４１を省略し、それに代ってＡ、 ／ Ｄ
変換器４２の後段にデジタルリニアライザ４９を挿入し
ても同様な効果を奏することができる。
また、補正係数に基づいてデータの入力サンプリング周
期を変更する代りに、データの出力タイミングを変更す
るようにしても同様な効果が得られる。更に、Ｄ／Ａ変
換器を省いて、Ｘ−Ｙレコーダの代りにプロッタを使用
してもよい。
期を変更する代りに、データの出力タイミングを変更す
るようにしても同様な効果が得られる。更に、Ｄ／Ａ変
換器を省いて、Ｘ−Ｙレコーダの代りにプロッタを使用
してもよい。
また、データ処理装置内に記憶回路を含まずに記憶機能
をもったレコーダを利用することも可能である。
をもったレコーダを利用することも可能である。
［）ｉ、明の効果］
以−■二の通り、本発明によれば、冷却曲線の書直しが
必要なく、かつ銀杯の性能のバラツキを補正できる上、
冷却速度曲線をも測定できる熱処理剤の冷却性能評価方
法および評価装置を提供することができる。
必要なく、かつ銀杯の性能のバラツキを補正できる上、
冷却速度曲線をも測定できる熱処理剤の冷却性能評価方
法および評価装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第１１Ｚは本発明の一実施例を示す全体の説明図、第２
図は銀杯４と熱電対との関係を示す部分断面図、第３図
はデータ処理装置を示すブロフク図、第４ ＩＮ−第８
図はそれぞれフローチャー１・、第９図および第１０図
はデータ処理装置の変形例を示すブロック図である。 １・・・熱処理剤、３・・・熱電対、４・・・試片とし
ての銀杯、６・・・データ処理装置、７，８・・・記録
ｔｌとしてのＸ−Ｙレコーダ、２４・・・演算制御回路
、２５・・・サンプリングタイマ、２６・・・操作盤、
２７・・・メモリ、３６・・・デジタルスイッチ、４１
・・・アナログリニアライザ、４２・・・Ａ／Ｄ変換器
、４３・・・メモリ、４４・・・Ｄ／Ａ変換器、４５・
・・微分回路、４６・・・補正係数設定器、４７．４８
・・・サンプリング回路、４９・・・デジタルリニアラ
イザ、５０・・・補正回路。 代理人 弁理士 木下 実正（ほか１名）第１図 第２図 第６図 第８図 第７図
図は銀杯４と熱電対との関係を示す部分断面図、第３図
はデータ処理装置を示すブロフク図、第４ ＩＮ−第８
図はそれぞれフローチャー１・、第９図および第１０図
はデータ処理装置の変形例を示すブロック図である。 １・・・熱処理剤、３・・・熱電対、４・・・試片とし
ての銀杯、６・・・データ処理装置、７，８・・・記録
ｔｌとしてのＸ−Ｙレコーダ、２４・・・演算制御回路
、２５・・・サンプリングタイマ、２６・・・操作盤、
２７・・・メモリ、３６・・・デジタルスイッチ、４１
・・・アナログリニアライザ、４２・・・Ａ／Ｄ変換器
、４３・・・メモリ、４４・・・Ｄ／Ａ変換器、４５・
・・微分回路、４６・・・補正係数設定器、４７．４８
・・・サンプリング回路、４９・・・デジタルリニアラ
イザ、５０・・・補正回路。 代理人 弁理士 木下 実正（ほか１名）第１図 第２図 第６図 第８図 第７図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）熱処理剤中に所定温度に加熱されて投入された試
片の温度を熱電対の起電力として検出する検出二り程と
、 この検出工程によって検出された起電力を試片の温度と
の関係で直線化する直線化工程と、この直線化工程で直
線化された起電力データを記憶する記憶工程と、 この記憶工程によって記憶された起電力データに基づき
熱処理剤の冷却曲線および冷却速度曲線の少なくとも一
方を図化する図化工程と、を含むことを特徴とする熱処
理剤の冷却性能評価方法。 （２、特許請求の範囲第１項において、前記直線化工程
におけるサンプリング周期または記憶工程におけるサン
プリング周期と前記図化工程における出力タイミングと
の比を、試片に応じて決定される補正係数により変化さ
せることを特徴とする熱処理剤の冷却性能評価方法。 （３）熱処理剤中に所定温度に加熱されて投入された試
片の温度を起電力として検出する熱電対と、 この熱電対によって検出された起電力に基づき熱処理剤
の冷却曲線および冷却速度曲線の少なくとも一方をめる
データ処理装置と、 このデータ処理装置によってめられた冷却曲線および冷
却速度曲線の少なくとも一方を記録する記録計とからな
り、 前記データ処理装置は、前記熱電対によって検出された
起電力を試片の温度との関係で直線化する機能と、温度
との関係で直線化された起電力データを記憶する機能と
、記憶された起電力データを前記記録計へ出力する機能
とを含む、ことを特徴とする熱処理剤の冷却性能評価装
置。 （４）特許請求の範囲第３項において、前記データ処理
装置は、前記熱電対によって検出された起電力を試片の
温度との関係で直線化する機能と、温度との関係で直線
化された起電力データを記憶する機能と、記憶された起
電力デ〜りを前記記録ａｊへ出力する機能と、前記起電
力の直線化処理におけるサンプリング周期または前記記
憶処理におけるサンプリング周期と前記出力処理におけ
る出力タイミングとの比を変化させる機能とを含む、こ
とを特徴とする熱処理剤の冷却性能評価装置。 （５）特許請求の範囲第３勇または第４項において、Ｉ
ｊＯ記データ処ＪＩＰ装置は、マイクロプロセッサによ
り構成されていることを特徴とする熱処理剤の冷却性能
評イ１ｌｆｉ装置。 （６）特許請求の範囲第４項において、前記データ処理
装置は、ｌｊｂ記熱電熱電対電力を試片の温度との関係
で直線化するアナログリこアライブと、このアナログリ
ニアライザによって直線化された起電力データをデジタ
ル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器で
デジタル信号に変換された起電力データを記憶するメモ
リと、このメモリに肥土〇されたデータをアナログ信号
に変換して前記記録計へ出力するＤ／Ａ変換器と、この
Ｄ／Ａ変換器の出力を微分して前記記録言４へ出力する
微分回路と、予め設定された補正係数に基づき前記Ａ／
Ｄ変換器からメモリへ取込まれるデータのサンプリング
周期と前記メモリからＤ／Ａ変換器へ出力される出力タ
イミングとの比を変化させる補正回路とから構成されて
いことを特徴とする熱処理剤の冷却性能評価装置。 （７）特許請求の範囲第４項において、前記データ処理
装置は、前記熱電対の起電力をデジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器と、このＡ／Ｄ変換器でデジタル信号に変
換された起電力データを試片との関係で直線化するデジ
タルリニアライザと、このデジタルリニアライザによっ
て直線化された起電力データを記憶するメモリと、この
メモリに記憶されたデータをアナログ信号に変換して前
記記録計へ出力するＤ／Ａ変換器と、このＤ／Ａ変換器
の出力を微分して前記記録計へ出力する微分回路と、予
め設定された補正係数に基づき前記Ａ／Ｄ変換器からメ
モリへ取込まれるデータのサンプリング周期と前記メモ
リからＤ／Ａ変換器へ出力される出力タイミングとの比
を変化させる補正回路とから構成されていことを特徴と
する熱処理剤の冷却性能評価装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59047374A JPH0648251B2 (ja) | 1984-03-12 | 1984-03-12 | 熱処理剤の冷却性能評価方法および評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59047374A JPH0648251B2 (ja) | 1984-03-12 | 1984-03-12 | 熱処理剤の冷却性能評価方法および評価装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60190847A true JPS60190847A (ja) | 1985-09-28 |
| JPH0648251B2 JPH0648251B2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=12773322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59047374A Expired - Lifetime JPH0648251B2 (ja) | 1984-03-12 | 1984-03-12 | 熱処理剤の冷却性能評価方法および評価装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0648251B2 (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01198422A (ja) * | 1988-02-02 | 1989-08-10 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 金属材料の熱処理条件決定方法 |
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| US5918473A (en) * | 1997-05-09 | 1999-07-06 | Alcan International Limited | Method and apparatus for measuring quenchant properties of coolants |
| WO2006100965A1 (ja) * | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | 金属の表面温度測定装置 |
| KR100683587B1 (ko) | 2003-10-14 | 2007-02-15 | 한국철도기술연구원 | 추진제어인버터의 냉각 유니트 성능 시험장치 및 그 방법 |
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| CN110836828A (zh) * | 2019-11-22 | 2020-02-25 | 武汉大学 | 测定厚壁p91钢管正火过程心部冷却速度的方法 |
| CN112147183A (zh) * | 2020-10-16 | 2020-12-29 | 一汽解放汽车有限公司 | 一种测试发动机冷却液的冷却性能的系统及试验方法 |
| CN119269570A (zh) * | 2024-10-16 | 2025-01-07 | 莱斯汀(山东)润滑科技有限公司 | 冷轧润滑剂冷却性能检测方法及系统 |
Citations (2)
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-
1984
- 1984-03-12 JP JP59047374A patent/JPH0648251B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
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| JP2006266751A (ja) * | 2005-03-22 | 2006-10-05 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 金属の表面温度測定装置 |
| WO2006100965A1 (ja) * | 2005-03-22 | 2006-09-28 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | 金属の表面温度測定装置 |
| US7841766B2 (en) | 2005-03-22 | 2010-11-30 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Metal surface temperature measuring instrument |
| JP2010168640A (ja) * | 2009-01-26 | 2010-08-05 | Neturen Co Ltd | 冷却液管理装置及び方法並びに測温素子 |
| CN104990954A (zh) * | 2015-07-23 | 2015-10-21 | 中国石油大学(华东) | 一种液体比热容实验测量系统 |
| CN104990954B (zh) * | 2015-07-23 | 2019-06-21 | 中国石油大学(华东) | 一种液体比热容实验测量系统 |
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| CN119269570A (zh) * | 2024-10-16 | 2025-01-07 | 莱斯汀(山东)润滑科技有限公司 | 冷轧润滑剂冷却性能检测方法及系统 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0648251B2 (ja) | 1994-06-22 |
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