JPS6019465B2 - 回路特性直視方式 - Google Patents
回路特性直視方式Info
- Publication number
- JPS6019465B2 JPS6019465B2 JP6508978A JP6508978A JPS6019465B2 JP S6019465 B2 JPS6019465 B2 JP S6019465B2 JP 6508978 A JP6508978 A JP 6508978A JP 6508978 A JP6508978 A JP 6508978A JP S6019465 B2 JPS6019465 B2 JP S6019465B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit
- sweep
- address
- memory
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は回路の周波数応答特性を陰極線管（以下ＣＲＴ
）上に掃引表示する直視方式に関し、特に任意の特性点
を選択表示可能な回路特性直視方式に係る。
）上に掃引表示する直視方式に関し、特に任意の特性点
を選択表示可能な回路特性直視方式に係る。
回路の周波数応答特性等をＣＲＴ上に掃引表示する直視
方式は、回路の特性測定や調整試験に広く用いられてい
る。
方式は、回路の特性測定や調整試験に広く用いられてい
る。
本発明はかかる直視方式において任意特性点を選択表示
し、調整試験の能率向上を行うことを目的とするもので
ある。
し、調整試験の能率向上を行うことを目的とするもので
ある。
以下に、線形回路（たとえば縄波器）の伝送量の周波数
特性の測定を例として、本発明の詳細な説明を行うかが
、本発明の説明に先だち、第１図により従来例の説明を
行う。
特性の測定を例として、本発明の詳細な説明を行うかが
、本発明の説明に先だち、第１図により従来例の説明を
行う。
従来の直視方式は第１図に示すように、掃引発振器２の
出力周波数を鋸歯状波発生器１により繰り返えし掃引し
、これを被測定回路に印加し、そ′の出力信号を増幅検
波し、ＣＲＴ５の垂直偏向入力として印加するものであ
る。
出力周波数を鋸歯状波発生器１により繰り返えし掃引し
、これを被測定回路に印加し、そ′の出力信号を増幅検
波し、ＣＲＴ５の垂直偏向入力として印加するものであ
る。
同時にＣＲＴの水平偏向入力として鋸歯状波を印加し、
増幅検波回路４を介してＣＲＴに被測定回路３の周波数
特性を表示する。
増幅検波回路４を介してＣＲＴに被測定回路３の周波数
特性を表示する。
ここで、掃引表示を停止し、ある特定の周波数の特性の
みを連続して観測する必要を生ずることがある。この場
合将来は鋸歯状波の掃引を停止し、測定者が可変抵抗器
等により、掃引発振器の制御入力電圧を変化させ希望周
波数点の特性を観測していた。このような特定の測定点
での停止の要求は、測定値の読み取りや、回路の応答が
低速であるような被測定回路において、特定周波数に着
目し特性の調整を行う場合に生ずる。一般にこの特定周
波数点は複数個であり、大量生産品の調整試験を行うの
に、上述の方法により測定者がいちいち周波数調整を行
うのは非常に煩雑である。本発明はこの煩雑さを解消し
、測定の能率向上を実現するためになされたものであり
、その構成は被測定回路の周波数応答特性を陰極線管表
示する回路特性直視方式において、予め定めた複数個の
測定点を記憶する記億回路と、該測定点を選択するため
のスイッチ回路を有し、該スイッチ回路の選択により縞
引表示中の任意の時間に掃引を停止し、任意の特性点を
選択表示することを特徴とする。ここで、第２図に直視
方式のＣＲＴ表示の一例を示す。
みを連続して観測する必要を生ずることがある。この場
合将来は鋸歯状波の掃引を停止し、測定者が可変抵抗器
等により、掃引発振器の制御入力電圧を変化させ希望周
波数点の特性を観測していた。このような特定の測定点
での停止の要求は、測定値の読み取りや、回路の応答が
低速であるような被測定回路において、特定周波数に着
目し特性の調整を行う場合に生ずる。一般にこの特定周
波数点は複数個であり、大量生産品の調整試験を行うの
に、上述の方法により測定者がいちいち周波数調整を行
うのは非常に煩雑である。本発明はこの煩雑さを解消し
、測定の能率向上を実現するためになされたものであり
、その構成は被測定回路の周波数応答特性を陰極線管表
示する回路特性直視方式において、予め定めた複数個の
測定点を記憶する記億回路と、該測定点を選択するため
のスイッチ回路を有し、該スイッチ回路の選択により縞
引表示中の任意の時間に掃引を停止し、任意の特性点を
選択表示することを特徴とする。ここで、第２図に直視
方式のＣＲＴ表示の一例を示す。
図中カーブａ，ｃは被測定回路の特性規格の上限値と下
限値を示すものであり、これはＣＲＴ面に書き込むか、
あるいは他の電子的方法等により発生される。カーブｃ
は被測定回路の特性（ここでは伝送量の周波数特性）を
示す。ここで第２図中のＡ〜Ｅ点のいずれかで掃引を停
止したい場合Ａ〜Ｅ点の周波数相当の電圧を後に述べる
第３図の電圧設定回路７に設定しておくことにより、容
易かつ敏速に測定者はＡ〜Ｅの任意点での測定が行える
。ごて、本発明の−実施例を第３図に示す。
限値を示すものであり、これはＣＲＴ面に書き込むか、
あるいは他の電子的方法等により発生される。カーブｃ
は被測定回路の特性（ここでは伝送量の周波数特性）を
示す。ここで第２図中のＡ〜Ｅ点のいずれかで掃引を停
止したい場合Ａ〜Ｅ点の周波数相当の電圧を後に述べる
第３図の電圧設定回路７に設定しておくことにより、容
易かつ敏速に測定者はＡ〜Ｅの任意点での測定が行える
。ごて、本発明の−実施例を第３図に示す。
本実施例においては、第１図図示の従来例に対し、電圧
設定回路７、スイッチ回路８を付加した構成であり、鋸
歯状波発生器６、掃引発振器９、被測定回路１０、増幅
検波回路１１、ＣＲＴ１２は第１図の構成と同一である
。本実施例においてはスイッチ回路８の切替えにより電
圧設定回路７のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ又はＥの端子を選択し（
これは第２図のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ又はＥ点に対応）、通常
の掃引と予め設定した複数点での停止との選択を可能に
したものである。
設定回路７、スイッチ回路８を付加した構成であり、鋸
歯状波発生器６、掃引発振器９、被測定回路１０、増幅
検波回路１１、ＣＲＴ１２は第１図の構成と同一である
。本実施例においてはスイッチ回路８の切替えにより電
圧設定回路７のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ又はＥの端子を選択し（
これは第２図のＡ，Ｂ，Ｃ，Ｄ又はＥ点に対応）、通常
の掃引と予め設定した複数点での停止との選択を可能に
したものである。
以上の説明では停止すべき測定点の設定をアナログ量で
行う場合を例とした。これはディジタル量であっても良
い。ディジタル量の場合の実施例を第４図に示す。第４
図では掃引発振器としてシンセサィザ−１９を用い、こ
の制御はリードオンリメモリ（ＲＯＭ）１７に書き込ま
れた情報をバッファレジスタ１８を経由してシンセサイ
ザー１９に入力することにより行われる。
行う場合を例とした。これはディジタル量であっても良
い。ディジタル量の場合の実施例を第４図に示す。第４
図では掃引発振器としてシンセサィザ−１９を用い、こ
の制御はリードオンリメモリ（ＲＯＭ）１７に書き込ま
れた情報をバッファレジスタ１８を経由してシンセサイ
ザー１９に入力することにより行われる。
ＲＯＭ１７の制御はアド３レスカウンタ１６の内容によ
りＲＯＭ１７のアドレスを順次指定することにより行わ
れる。制御回路１４はスイッチ２６がＡ側かＭ側かによ
りアドレスカウンタを順次カウントアップ（またはカウ
ントダウン）するか、それとも予めＲＯＭアドレス設定
回路１３に設定されたアドレスデータをアドレスカウン
タ１６に設定するかの制御を行う。スイッチ１５は停止
点の選択を行うものである。同様に制御回路１４の出力
を分岐してバッファレジスタ２０、デジタルーァナログ
変換器２１を経由してＣＲＴ２４に水平同期信号を入力
する。被測定回路２２、増幅検波回路２３はそれぞれ第
１図の被測定回路、増幅検波回路に対応する。本発明に
よる掃引の一時停止を行った場合、第５図に示すように
選択された周波数相当の特性値が点として表示される。
この点は調整等により被測定回路の特性値の変動があれ
ばそれに追従して上下に動く。またカーブｄ，ｅは第２
図同様特性規格の上下限値を示すものであるが、これは
本発明に直接関連せずなくても良いし、また掃引導止中
は測定値同様点々として表示されることもあり得る。以
上述べたように本発明は直視装置において、予め定めた
複数点での停止を可能とすることにより、直視装置の有
用性の向上を可能とするものである。
りＲＯＭ１７のアドレスを順次指定することにより行わ
れる。制御回路１４はスイッチ２６がＡ側かＭ側かによ
りアドレスカウンタを順次カウントアップ（またはカウ
ントダウン）するか、それとも予めＲＯＭアドレス設定
回路１３に設定されたアドレスデータをアドレスカウン
タ１６に設定するかの制御を行う。スイッチ１５は停止
点の選択を行うものである。同様に制御回路１４の出力
を分岐してバッファレジスタ２０、デジタルーァナログ
変換器２１を経由してＣＲＴ２４に水平同期信号を入力
する。被測定回路２２、増幅検波回路２３はそれぞれ第
１図の被測定回路、増幅検波回路に対応する。本発明に
よる掃引の一時停止を行った場合、第５図に示すように
選択された周波数相当の特性値が点として表示される。
この点は調整等により被測定回路の特性値の変動があれ
ばそれに追従して上下に動く。またカーブｄ，ｅは第２
図同様特性規格の上下限値を示すものであるが、これは
本発明に直接関連せずなくても良いし、また掃引導止中
は測定値同様点々として表示されることもあり得る。以
上述べたように本発明は直視装置において、予め定めた
複数点での停止を可能とすることにより、直視装置の有
用性の向上を可能とするものである。
特に同一仕様の製品を大量に調整試験する分野において
その効果が顕著なものである。なお以上の説明では、線
形回路の周波数特性を例としたが、他の各種測定値の直
視（たとえば、スベクトラム分析）においても適用可能
であり、その工業時価値は大である。
その効果が顕著なものである。なお以上の説明では、線
形回路の周波数特性を例としたが、他の各種測定値の直
視（たとえば、スベクトラム分析）においても適用可能
であり、その工業時価値は大である。
第１図は従来の直視方式の一例を示したブロック図、第
２図は直視方式の陰極線管表示内容の−例、第３図は本
発明による直視方式の一例を示したブロック図、第４図
は本発明による直視方式の別の一例を示したブロック図
、第５図は本発明による直視方式のＣＲＴ表示内容の一
例である。 第３図において６は鏡歯状波発生器、７は電圧設定回路
、８はスイッチ回路、９は掃引発振器、１０は被測定回
路、１１は増幅検波回路、１２はＣＲＴである。冬’幻 多Ｚ陣 多３軒 好４９ 斧Ｊ函
２図は直視方式の陰極線管表示内容の−例、第３図は本
発明による直視方式の一例を示したブロック図、第４図
は本発明による直視方式の別の一例を示したブロック図
、第５図は本発明による直視方式のＣＲＴ表示内容の一
例である。 第３図において６は鏡歯状波発生器、７は電圧設定回路
、８はスイッチ回路、９は掃引発振器、１０は被測定回
路、１１は増幅検波回路、１２はＣＲＴである。冬’幻 多Ｚ陣 多３軒 好４９ 斧Ｊ函
Claims (1)
- １ 掃引発振器出力を被測定回路に入力し、その出力を
陰極線管表示し、更に掃引発振器の掃引を停止すること
により、任意の周波数特性を表示する様にした回路特性
直視方式において、 発振周波数を指定する情報を記憶
したメモリと、該メモリのアドレスを順次出力するアド
レスカウンタと、該メモリの特定のアドレスを出力する
アドレス設定回路と制御回路とシンセサイザを設け、該
制御回路により該アドレスカウンタ又はアドレス設定回
路の出力を該メモリに入力して、情報を読み出し、該シ
ンセサイザに入力することにより、被測定回路の掃引特
性又は任意の周波数特性の表示を行なわせる様にしたこ
とを特徴とする回路特性直視方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6508978A JPS6019465B2 (ja) | 1978-05-31 | 1978-05-31 | 回路特性直視方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6508978A JPS6019465B2 (ja) | 1978-05-31 | 1978-05-31 | 回路特性直視方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54156682A JPS54156682A (en) | 1979-12-10 |
| JPS6019465B2 true JPS6019465B2 (ja) | 1985-05-16 |
Family
ID=13276849
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6508978A Expired JPS6019465B2 (ja) | 1978-05-31 | 1978-05-31 | 回路特性直視方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6019465B2 (ja) |
-
1978
- 1978-05-31 JP JP6508978A patent/JPS6019465B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54156682A (en) | 1979-12-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4130796A (en) | Calibrating and measuring circuit for a capacitive probe-type instrument | |
| US4801873A (en) | Waveform measuring apparatus with marker zone displaying function | |
| US3504532A (en) | Nondestructive testing system | |
| US4099240A (en) | Method and apparatus for programmable and remote numeric control and calibration of electronic instrumentation | |
| US4541059A (en) | Stress distribution measuring instrument | |
| JP2533813B2 (ja) | スペクトラム・アナライザ | |
| JPS5922183B2 (ja) | チエンソウインガタオシロスコ−プ | |
| JPS6019465B2 (ja) | 回路特性直視方式 | |
| US3449671A (en) | Oscillographic apparatus for measuring the magnitude and duration of input waveforms | |
| JPH0367179A (ja) | 波形デジタイザ装置の校正方法 | |
| US2731583A (en) | Electric signal measuring apparatus with dynamic null balance | |
| JP2528730Y2 (ja) | Ｌｃｒメータ | |
| JP3407667B2 (ja) | データ表示方法及びこれを用いた測定器 | |
| US4198598A (en) | Swept frequency circuit for precision gain or loss measurements | |
| US4312015A (en) | Automatic MRT system | |
| JPS5828543B2 (ja) | オシロスコ−プ掃引回路 | |
| JPS6378447A (ja) | 電子ビ−ム装置 | |
| JPH0712852A (ja) | 波形生成機能付き波形測定装置 | |
| JPH0434418Y2 (ja) | ||
| SU945920A1 (ru) | Устройство дл измерени параметров электронно-лучевых трубок | |
| JP3153664B2 (ja) | 広帯域伝送路の信号レベル測定装置 | |
| JPH0442776B2 (ja) | ||
| SU1118921A1 (ru) | Осциллографический измеритель амплитудных параметров электрических сигналов | |
| JPS6378446A (ja) | 電子ビ−ム装置 | |
| Scott | Fundamental Components of the" PACE" Analog Computer |