JPS6019620A - 複数種類の直径の半導体ウエハ用搬送装置 - Google Patents

複数種類の直径の半導体ウエハ用搬送装置

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Publication number
JPS6019620A
JPS6019620A JP58124074A JP12407483A JPS6019620A JP S6019620 A JPS6019620 A JP S6019620A JP 58124074 A JP58124074 A JP 58124074A JP 12407483 A JP12407483 A JP 12407483A JP S6019620 A JPS6019620 A JP S6019620A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
diameters
wafers
guide
diameter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP58124074A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryutaro Umeno
梅野 龍太郎
Koichi Takachi
高地 光一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi High-Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Priority to JP58124074A priority Critical patent/JPS6019620A/ja
Publication of JPS6019620A publication Critical patent/JPS6019620A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
    • H10P72/33—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations into and out of processing chamber
    • H10P72/3302—Mechanical parts of transfer devices
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10P—GENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P72/00—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof
    • H10P72/30—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations
    • H10P72/34—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading
    • H10P72/3411—Handling or holding of wafers, substrates or devices during manufacture or treatment thereof for conveying, e.g. between different workstations the wafers being stored in a carrier, involving loading and unloading involving loading and unloading of wafers

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、複数種類たとえば4 inと5 jnの2種
類の直径の半導体ウェハに対して、その種類さえ指定す
れば、それ以上、いちいち人手を煩わさずに、搬送およ
び搬送途中の所定個所で特定の処理を行うのに必要な半
導体ウェハの直径変更に対応する操作を自動的に行える
ようにした複数種類の直径の半導体ウェハ用搬送装置に
関する。
〔発明の背景〕
従来の半導体搬送装置では、搬送すべきウェハの直径を
変更する場合には、例えば、ローダ、アンローダで使用
するウェハ用カートリッジ等の収容ピンチの変更に対応
したり、搬送途中の所定個所で行う特定処理のための位
置決めに用いる治具などの部品を、予めウェハ直径の寸
法別に製作しておいて、搬送すべきウェハ直径の変更を
行う都度、いちいち多大の工数をかけて、人手によって
交換、調整をしなければならないという問題が在った。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、搬送すべき半導体ウェハ直径の変更に
際し、上記の如き多大な工数を必要とせず、単にウェハ
直径を指定するだけで、それ以外は予め定めである操作
手順に従って自動的に対応出来るようにした、複数種類
の直径の半導体ウェハ用搬送装置を提供することにある
。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するために本発明においては、ウェハを
搬送装置に載せ、若しくは下ろす個所、又は、ウェハを
位置決めして処理を行う個所に、搬送すべきウェハの直
径の大きさにより搭載または保持する位置に高さの差を
設けて複数種類の直径のウェハに対応するようにした治
具と、これらの治具のウェハの直径の大きさによる前記
高さの差に対応して治具を夫々特定の寸法値ずつ上昇ま
たは下降させて、ウェハと治具または搬送部材を所望の
適切な関係位置に配置する機構とを設け、搬送装置全系
統の各個所に設けた前記機構の上昇または下降値を、搬
送すべきウェハの直径の種類を指定するだけで、いちい
ち人手に依存することなく、予め定めた所定の手順に従
い、即ちマイクロコンピュータ制御などによって、自動
的に切り換えられるようにした。
〔発明の実施例〕
第1図は本発明実施例におけるローダ、アンローダ部を
示し、1はウェハ運搬用カートリッジを上下させるエレ
ベータ、2はエレベータの駆動モータ、3.4は夫々直
径の異なる半導体ウェハの運搬用カートリッジ内の(ウ
ェハ間上下の)異なるピッチに対応するピッチセンサ用
遮光板、5.6は夫々直径の異なるウェハに対応するピ
ッチセンサ、7は下限センサ、8は上限センサ、9は半
導体ウェハ、10はウェハ運搬用カートリッジ(ローダ
、アンローダ用治具)、11は!船道ヘルドである。ウ
ェハ運搬用カートリッジ10 (これは異なる直径のウ
ェハに対しては、それぞれ別に作られており、上下方向
の収納溝のピンチが違えである)をエレベータ1の所定
の位置に置いて、ピッチセンサと遮光板とによって定ま
るウェハ9の直径に適応したピンチずつエレベータ1を
上昇または下降させて、例えばカートリッジ内の上の方
から、又は下の方から順次ウェハ9のロード又はアンロ
ードを行う。ピッチセンサは電気的に動作するから、予
め、ウェハ直径の種類、即ち、それに対応するカートリ
ッジ内上下方向収納溝ピッチに対応する複数種類のピッ
チセンサを設けておけば、マイクロコンピュータ制御に
より夫々のウェハ直径に適したピッチセンサを選択して
動作させることは極めて容易である。
第2図は、本発明実施例における搬送途中で特定の処理
を行うワークステーション部を示し、7は下限センサ、
9はウェハ、11は搬送ベルト、11aは幅(間隔)の
広い搬送ベルト、12.12”、12”は2種類の寸法
のウェハに共用のガイド兼ブツシャ、13はスライドプ
レート、14は上下可能なフレーム、15は上下レバー
、16は遮光板、17は第1上限センサ、18は第2上
限センサ、19は上下駆動モータである。ガイド兼ブツ
シャ12.12°、12″が、大径たとえば5inのウ
ェハに対しては上の段で、小径たとえば4inのウェハ
に対しては下の段で対応保持するようになっていること
は自明であろう。搬送ベル)IIに載って搬送されて来
たウェハ9 (いま5 in径とする)は、図の左端近
くに示された現在位置から搬送ベルト11と同じ速度で
右方に進む幅の広い搬送ベルl−11a上に乗り移って
、図示の状態でガイド兼ブツシャ12の右側の部材の位
置に停止しているガイド兼ブツシャ12゛ に当たって
止まる。次に搬送ベルト11aが停止し、ガイド兼ブツ
シャ12”、12.12’が下限センサ7に下降を止め
られるまで下降して止まり、ガイド兼ブツシャは下降し
た状態のまま左方に進行して図示位置に戻る。次いでガ
イド兼ブツシャ12.12゛、12”は第1上限センサ
17に上昇を止められるまで上昇してガイド兼ブツシャ
12が5inilに適応する上の段で、停止中の搬送ベ
ル)11aに支持されていたウェハ9を保持する。更に
、ガイド兼ブツシャ12は、(12’ 、12”と共に
)図の右方に進み、その左側の部材が、図の右端近くに
示す12”の位置まで進んだ所で停止する。
ここでガイド兼ブツシャは下降して、下降した状態のま
ま左方に進行して元の位置に復帰すると上昇して図示の
状態に戻る。この間、搬送ベルトは11、lla共に停
止しているが、ウェハは搬送ベル)I la上に支持さ
れており、図示のガイド兼ブツシャ12の右側にある処
理位置(ワークステーション)で図示してない別の保持
具に保持されて処理を受ける。この場合も、5 in径
に対応して第1上限センサを働かせるか、4in径に対
応して第2上限センサを働かせるかを選択することは、
マイクロコンピュータ等で制御すれば極めて容易である
。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、搬送または搬送途
中で処理すべき半導体ウェハの直径の種類を変更する際
に、単にその直径の指定換えをするだけで、それ以外、
治具や部品の交換などに何等人手を煩わさずに自動的に
対応することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例におけるローダ、アンローダ部を
示す図、第2図は本発明実施例におけるワークステーシ
ョン部を示す図である。 1−エレベータ、2−駆動モータ、3.4−夫々異なる
ピンチに対応するピッチセンサ用遮光板、 5.6−夫
々直径の異なるウェハに対応するピッチセンサ、 7−
下限センサ、 8−上限センサ、 9−半導体ウェハ、
 10−ウェハ運搬用カートリッジ、11−搬送ベルト
、 11a −幅の広い搬送ベルト、12.12’ 、
12″−ガイド兼ブツシャ、13−スライドプレート、
14・−・上下可能なフレーム、15−1 下レバー、
 16・−遮光板、 17・−第1上限センサ、 I8
−第2上限センサ、 19−駆動モータ代理人 弁理士
 縣 武雄

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 複数種類の直径の半導体ウェハ用搬送装置において、ウ
    ェハを搬送装置に載せ、若しくは下ろす個所、又は、ウ
    ェハを位置決めして処理を行う個所に、搬送すべきウェ
    ハの直径の大きさにより搭載または保持する位置に高さ
    の差を設けて複数種類の直径のウェハに対応するように
    した治具と、これらの治具のウェハの直径の大きさによ
    る前記高さの差に対応して治具を夫々特定の寸法値ずつ
    上昇または下降させて、ウェハと治具または搬送部材を
    所望の相対位置に配置する機構とを設け、搬送装置全系
    統の各個所に設けた前記機構の上昇または下降値を、搬
    送すべきウェハの直径の種類を指定するだけで、いちい
    ち人手に依存することなく、予め定めである操作手順に
    従い、自動的に切り換えるようにしたことを特徴とする
    複数種類の直径の半導体ウェハ用搬送装置。
JP58124074A 1983-07-09 1983-07-09 複数種類の直径の半導体ウエハ用搬送装置 Pending JPS6019620A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58124074A JPS6019620A (ja) 1983-07-09 1983-07-09 複数種類の直径の半導体ウエハ用搬送装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58124074A JPS6019620A (ja) 1983-07-09 1983-07-09 複数種類の直径の半導体ウエハ用搬送装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6019620A true JPS6019620A (ja) 1985-01-31

Family

ID=14876288

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58124074A Pending JPS6019620A (ja) 1983-07-09 1983-07-09 複数種類の直径の半導体ウエハ用搬送装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6019620A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4984954A (en) * 1988-04-25 1991-01-15 Warenback Douglas H Spatula for wafer transport
CN105621074A (zh) * 2016-03-14 2016-06-01 深圳市劲拓自动化设备股份有限公司 芯片加工设备及其进出料装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4984954A (en) * 1988-04-25 1991-01-15 Warenback Douglas H Spatula for wafer transport
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