JPS60200117A - レ−ザ−測量機械 - Google Patents
レ−ザ−測量機械Info
- Publication number
- JPS60200117A JPS60200117A JP5528884A JP5528884A JPS60200117A JP S60200117 A JPS60200117 A JP S60200117A JP 5528884 A JP5528884 A JP 5528884A JP 5528884 A JP5528884 A JP 5528884A JP S60200117 A JPS60200117 A JP S60200117A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- suspended
- light
- prism
- surveying machine
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/002—Active optical surveying means
- G01C15/004—Reference lines, planes or sectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本件発明は、測量対象に向けて出射されるレーザー光を
水平面内で走査させながら測量を行なうレーザー測量機
械の改良に関するものである。
水平面内で走査させながら測量を行なうレーザー測量機
械の改良に関するものである。
従来より、水平面内で走査されるレーザー光を測量対象
に向けて出射し、その測量対象上におけるレーザー光の
到達位置の高さを測量者の肉眼であるいは光電的に検出
して水準測置を行なうように構成されたレーザー測量機
械が知られている。
に向けて出射し、その測量対象上におけるレーザー光の
到達位置の高さを測量者の肉眼であるいは光電的に検出
して水準測置を行なうように構成されたレーザー測量機
械が知られている。
この場合、レーザー光は常に真の水平面内で走査される
必要があるから機械本体の設置をするときは特に恋人す
な調整を行なう必要がある。
必要があるから機械本体の設置をするときは特に恋人す
な調整を行なう必要がある。
このため、機械本体が傾斜したような場合でもレーザー
光の出射方向を一定方向に指向させるようにする調整装
置を組込んだレーザー測量機械が提案された。
光の出射方向を一定方向に指向させるようにする調整装
置を組込んだレーザー測量機械が提案された。
この種のレーザー測量機械の一つとしてレーザー光の出
射面を下端にしたレーザー発光管を機械本体に懸吊する
ことにより、レーザー光の出射方向を鉛直方向に指向さ
せ下方に設けた回転反射部材で水平面を走査し得るよう
に構成したものが知られている。
射面を下端にしたレーザー発光管を機械本体に懸吊する
ことにより、レーザー光の出射方向を鉛直方向に指向さ
せ下方に設けた回転反射部材で水平面を走査し得るよう
に構成したものが知られている。
しかしながら、このような構成によるとレーザー発光管
を作動させるための電源供給用電線がレーザー発光管の
効果的懸吊に支障を与えることとなりしかも高精度の調
整が期待できなかった。
を作動させるための電源供給用電線がレーザー発光管の
効果的懸吊に支障を与えることとなりしかも高精度の調
整が期待できなかった。
また、他の従来例としてはレーザー光を半導体レーザー
から出射させこの半導体レーザーの下方に出射されたレ
ーザー光を平行光束にするための投影レンズを懸吊し、
この投影レンズからのレーザー光を回転ペンタプリズム
により水平面内で走査し得るように構成したものが知ら
れている。
から出射させこの半導体レーザーの下方に出射されたレ
ーザー光を平行光束にするための投影レンズを懸吊し、
この投影レンズからのレーザー光を回転ペンタプリズム
により水平面内で走査し得るように構成したものが知ら
れている。
しかしながら、このような構成によるとレーザー光の／
Ｂ射力方向下方であるから回転ペンタプリズムにより走
査した場合水平に指向されるレーザー光が機械本体の枠
体に遮ぎられてしまうため、特定方向の８１！Ｉ量精度
の低下あるいはＢＩＩＪ景不能となる恐れがあった。
Ｂ射力方向下方であるから回転ペンタプリズムにより走
査した場合水平に指向されるレーザー光が機械本体の枠
体に遮ぎられてしまうため、特定方向の８１！Ｉ量精度
の低下あるいはＢＩＩＪ景不能となる恐れがあった。
本件発明は、このような従来の問題点を解消するために
なされたものであり、機械本体の状態如何に拘らず測量
対象に向けて出射されるレーザー光を常時真の水平面内
で走査し得るように調整可能としたレーザー測ｆｆｉ機
械を提供することを目的とする。
なされたものであり、機械本体の状態如何に拘らず測量
対象に向けて出射されるレーザー光を常時真の水平面内
で走査し得るように調整可能としたレーザー測ｆｆｉ機
械を提供することを目的とする。
以下、この発明を図面に基づいて説明する。
第１図および第２図はこの発明の詳細な説明するもので
あり、機械本体１に４本のリボン２で懸吊された取付台
３にポロプリズム４を固定し、このポロプリズム４の下
方に光源５を配置する一方、ポロプリズム４の上方に焦
点距離がｆ、、であって光源５からの光を平行光束にす
るための投影レンズ６を配置するようにしている。ここ
で、リボン２の長さＱは焦点距離ｆ。の２分の１に設定
しであるものとする。
あり、機械本体１に４本のリボン２で懸吊された取付台
３にポロプリズム４を固定し、このポロプリズム４の下
方に光源５を配置する一方、ポロプリズム４の上方に焦
点距離がｆ、、であって光源５からの光を平行光束にす
るための投影レンズ６を配置するようにしている。ここ
で、リボン２の長さＱは焦点距離ｆ。の２分の１に設定
しであるものとする。
こうすると１機械本体１が鉛直軸Ｅに対して角度θ０だ
け傾斜した場合ポロプリズム４は投影レンズ６の光軸り
から距離Ｈｚ、すなわち Ｑθ０＝４８ｏ／２だけ移動する。なお、Ｏｏは微小角
であって、［１ｏ−Ｌａｎｅ。が成立するものとする。
け傾斜した場合ポロプリズム４は投影レンズ６の光軸り
から距離Ｈｚ、すなわち Ｑθ０＝４８ｏ／２だけ移動する。なお、Ｏｏは微小角
であって、［１ｏ−Ｌａｎｅ。が成立するものとする。
一方、光源５は投影レンズ６の光軸Ｌ１−にあるためポ
ロプリズム４に入射した光束は内部で４回反射をした後
光軸Ｉ−から距離１１２、すなわち２ Ｑ ８ｏ ＝ム
８゜だけ離れた方向に指向する。したがって、投影レン
ズ６に入射する光束は機械本体１が傾斜する前に比べて
ｆ。００だけ平行移動することとなる。このため、対物
レンズ６を通過した光束Ｐは光軸りと平行な軸線Ｌ′に
対して角度θ１をなす方向に指向し。
ロプリズム４に入射した光束は内部で４回反射をした後
光軸Ｉ−から距離１１２、すなわち２ Ｑ ８ｏ ＝ム
８゜だけ離れた方向に指向する。したがって、投影レン
ズ６に入射する光束は機械本体１が傾斜する前に比べて
ｆ。００だけ平行移動することとなる。このため、対物
レンズ６を通過した光束Ｐは光軸りと平行な軸線Ｌ′に
対して角度θ１をなす方向に指向し。
この指向方向は対物レンズ６の焦点位置Ｆ上にある。つ
まり、Ｌ Ｆ３Ｉ＝ ｆ＝ Ｑｏの関係が邦時成立し機
械本体１が９゜たけ傾斜した場合でも対物レンズ６を通
過する光束は鉛直軸Ｅと常に平行になる。このような現
象は機械本体１が紙面に垂直な方向に傾斜した場合でも
同様に成立するものである。
まり、Ｌ Ｆ３Ｉ＝ ｆ＝ Ｑｏの関係が邦時成立し機
械本体１が９゜たけ傾斜した場合でも対物レンズ６を通
過する光束は鉛直軸Ｅと常に平行になる。このような現
象は機械本体１が紙面に垂直な方向に傾斜した場合でも
同様に成立するものである。
なお、ポロプリス１％ ４の具体例は１５３図に示すと
おりであり、第１の光源５′から発した光は集光レンズ
７により上部方向に指向され第１ないし第４の反射面Ｒ
ユｒｎ ２ ＩＩＩ ：！ 、Ｒａ にて反射さ１１、
上方へ出射するようになっている。この出射方向Ｓは第
４の反射面Ｒ４の下方に設けられた第２の光源５パから
の光（集光レンズ７′により」二部方向へ指向される）
の光軸方向と一致する。つまり、同一の出射方向Ｓに二
つの異なる光束が重畳し得るようになる。第１の光源５
′を赤外光を出射する半導体レーザーとし、第２の光源
５″を可視光光源とすると、反射面Ｒ−＋を赤外反射可
視光透過の波長選択特性をもつ反射面に形成すれば光量
損失を生ぜずに赤外光と可視光の２つの光束を投影する
ことができる。
おりであり、第１の光源５′から発した光は集光レンズ
７により上部方向に指向され第１ないし第４の反射面Ｒ
ユｒｎ ２ ＩＩＩ ：！ 、Ｒａ にて反射さ１１、
上方へ出射するようになっている。この出射方向Ｓは第
４の反射面Ｒ４の下方に設けられた第２の光源５パから
の光（集光レンズ７′により」二部方向へ指向される）
の光軸方向と一致する。つまり、同一の出射方向Ｓに二
つの異なる光束が重畳し得るようになる。第１の光源５
′を赤外光を出射する半導体レーザーとし、第２の光源
５″を可視光光源とすると、反射面Ｒ−＋を赤外反射可
視光透過の波長選択特性をもつ反射面に形成すれば光量
損失を生ぜずに赤外光と可視光の２つの光束を投影する
ことができる。
第４図は他の正立正像用ポロプリズム４′の例を示した
ものであり、光源５＾からの光束は第１ないし第４の反
射面ｒ１ 、ｒ２ 、ｒａ 、ｒ４ にてそれぞれ反射
さＪしるようになっており、入射光軸と出射光軸が一致
するように構成されている。
ものであり、光源５＾からの光束は第１ないし第４の反
射面ｒ１ 、ｒ２ 、ｒａ 、ｒ４ にてそれぞれ反射
さＪしるようになっており、入射光軸と出射光軸が一致
するように構成されている。
第５図は上述の原理に基づいて構Ｊ戊されたレーザー測
Ｆｉ機械を示すものである。機械本体１１は調整可能な
基台１２に据えイ」けられており、この機械本体１１の
底部略中夫にはホルダー１３が固定さａｔていてこのボ
ルダ−１３のｆ部にはレーザー光発光部としての半導体
レーザー１４が配置されていると共にそのＪ一方には投
影レンズ１５が配置されている。
Ｆｉ機械を示すものである。機械本体１１は調整可能な
基台１２に据えイ」けられており、この機械本体１１の
底部略中夫にはホルダー１３が固定さａｔていてこのボ
ルダ−１３のｆ部にはレーザー光発光部としての半導体
レーザー１４が配置されていると共にそのＪ一方には投
影レンズ１５が配置されている。
なお、第３図において説明した可視光光源については図
面」二省略する。また、投影レンズ１５の上方には懸吊
反射部材を構成する正立正像のポロプリズム１６が懸吊
台１７に固定されており、この懸吊台１７は機械本体１
１を構成する保持フレーム１８の天板に対称位置に配置
された４本のプラスデック紐から成るリボン１９で懸吊
されている。さらに、保持フレーム１８の天板の下方に
はもう一つの保持フレーム２０が取り伺けられており、
この保持フレーム２０には調整用平行平面カラス２１が
取り伺けられている。
面」二省略する。また、投影レンズ１５の上方には懸吊
反射部材を構成する正立正像のポロプリズム１６が懸吊
台１７に固定されており、この懸吊台１７は機械本体１
１を構成する保持フレーム１８の天板に対称位置に配置
された４本のプラスデック紐から成るリボン１９で懸吊
されている。さらに、保持フレーム１８の天板の下方に
はもう一つの保持フレーム２０が取り伺けられており、
この保持フレーム２０には調整用平行平面カラス２１が
取り伺けられている。
保持フレーム１８の天板にはレンズボルダ−２２が取す
イ」けられており、このレンズホルダー２２には２群の
レンズ２３１ 、２３２ からなる投影レンズ２３が固
定されている。この２群のレンズ２：ｈ 、２３＋、！
は１体で移動調整でき、がっレンズ２３１．２３２の
レンズ間隔を可変調整でき得るように構成されている。
イ」けられており、このレンズホルダー２２には２群の
レンズ２３１ 、２３２ からなる投影レンズ２３が固
定されている。この２群のレンズ２：ｈ 、２３＋、！
は１体で移動調整でき、がっレンズ２３１．２３２の
レンズ間隔を可変調整でき得るように構成されている。
こうして、半導体レーザー１４を出射したレーザー光は
集光レンズ１５、ポロプリズム１６．平行平面ガラス２
１および投影レンズ２３を通過して上方へ出射するよう
になっている。
集光レンズ１５、ポロプリズム１６．平行平面ガラス２
１および投影レンズ２３を通過して上方へ出射するよう
になっている。
一方、機械本体１の上部には軸受２４が設けられており
、この軸受２４にはプーリ２５を取すイ１けた回転軸２
６か装着されるようになっている。そして、プーリ２５
にはモータ２８に軸着されたプーリ２９に巻回されるベ
ルト３０が巻回されるようになっており、これにより回
転軸２６が回転Ｖ動さオしることどなる。
、この軸受２４にはプーリ２５を取すイ１けた回転軸２
６か装着されるようになっている。そして、プーリ２５
にはモータ２８に軸着されたプーリ２９に巻回されるベ
ルト３０が巻回されるようになっており、これにより回
転軸２６が回転Ｖ動さオしることどなる。
また、回転軸２６の上端部には回転反射部材を構成する
ペンタプリズム３１を取すイ１けたプリズムハウス３２
が設けられており、ベンタブ、リスム３Ｉの入射光側に
は入射窓３２Ａが配設されていると共に出射光側には調
整用プリズム３３が配設されている。なお、プリズムハ
ウス３２は簡単な取（Ｊ手段例えば締結ビスなどにより
機械本体１に容易に着脱可能となっている。すなわち、
プリズムハウス３２を取り外した時には鉛直」三方にレ
ーザー光を投影する装置として機能する。ベンタブリス
１１３１により反射された出射光は測Ｍ苅象である測量
地点に同番づて出射されるようになっており、回転軸２
６の回転により測量対象」二を走査することとなる。
ペンタプリズム３１を取すイ１けたプリズムハウス３２
が設けられており、ベンタブ、リスム３Ｉの入射光側に
は入射窓３２Ａが配設されていると共に出射光側には調
整用プリズム３３が配設されている。なお、プリズムハ
ウス３２は簡単な取（Ｊ手段例えば締結ビスなどにより
機械本体１に容易に着脱可能となっている。すなわち、
プリズムハウス３２を取り外した時には鉛直」三方にレ
ーザー光を投影する装置として機能する。ベンタブリス
１１３１により反射された出射光は測Ｍ苅象である測量
地点に同番づて出射されるようになっており、回転軸２
６の回転により測量対象」二を走査することとなる。
機械本体１の側部には電源としての電池３４を収納する
電池ボックス３５が設けられており、スイッチ３６の投
入により電気系統が作動するようになっている。
電池ボックス３５が設けられており、スイッチ３６の投
入により電気系統が作動するようになっている。
前述したように、第５図に示すレーザーｉｎｇｉ 機械
は第１図および第２図に示す原理に基づいて構成されて
いるので、機械本体１が傾斜して半導体レーザー１／ｌ
からのレーザー光の出射方向にずれが生したとしてもリ
ボン１９の長さが投影レンズ２３の焦点距離の２分の１
の長さに設定されているからポロプリズム１６から出射
されるレーザー光の光軸は鉛直方向に指向される。した
がって、ペンタプリズム３１から測量対象に向けて出射
される光束は常に水平面内で走査される。
は第１図および第２図に示す原理に基づいて構成されて
いるので、機械本体１が傾斜して半導体レーザー１／ｌ
からのレーザー光の出射方向にずれが生したとしてもリ
ボン１９の長さが投影レンズ２３の焦点距離の２分の１
の長さに設定されているからポロプリズム１６から出射
されるレーザー光の光軸は鉛直方向に指向される。した
がって、ペンタプリズム３１から測量対象に向けて出射
される光束は常に水平面内で走査される。
なお、半導体レーザー１４から出射されるレーザー光は
不可視光である赤外光を用いるのが一般的であり、ｉｌ
ｌ’ｌ景地点に立地点れるスタッフには、赤外レーザー
光を光電的に検出する検出器を」、下動ｉｉＪ能に取り
付けることにより水平測量を行なうようにしている。こ
のため、検出器に入射するレーザー光の位置は２１′１
ｌｌＩＩｋ前の段階では容易に判断し難い場合が多いこ
とから、その概略位置を検知し易くするための可視光源
を用いている。つまり、第３図に示す第１の光源５′を
半導体レーザーとし第２の光源５゛′を可視光出射用ラ
ンプとして用いれば良い。
不可視光である赤外光を用いるのが一般的であり、ｉｌ
ｌ’ｌ景地点に立地点れるスタッフには、赤外レーザー
光を光電的に検出する検出器を」、下動ｉｉＪ能に取り
付けることにより水平測量を行なうようにしている。こ
のため、検出器に入射するレーザー光の位置は２１′１
ｌｌＩＩｋ前の段階では容易に判断し難い場合が多いこ
とから、その概略位置を検知し易くするための可視光源
を用いている。つまり、第３図に示す第１の光源５′を
半導体レーザーとし第２の光源５゛′を可視光出射用ラ
ンプとして用いれば良い。
また、−２群のレンズで構成されている投影レンズ２３
は、入射レーザー光を平行光束にするため２群一体で移
動することも可能であると）（に、両レンズ群の間隔を
変えることにより焦点距離を調整することも可能である
。さらに、平行平面カラス２１は傾き自在となっており
、入射するレーザー光の出射方向の調整を行ない得るよ
うになっている。
は、入射レーザー光を平行光束にするため２群一体で移
動することも可能であると）（に、両レンズ群の間隔を
変えることにより焦点距離を調整することも可能である
。さらに、平行平面カラス２１は傾き自在となっており
、入射するレーザー光の出射方向の調整を行ない得るよ
うになっている。
懸吊反射部材であるポロプリズム１６は正立正像ブリス
ムであれば良（、第３図に示すような複数の直角プリズ
ムを組合わせたものあるいは第４図に示すようなダハプ
リズムと台形プリスムとを組合わせたものでも良い。
ムであれば良（、第３図に示すような複数の直角プリズ
ムを組合わせたものあるいは第４図に示すようなダハプ
リズムと台形プリスムとを組合わせたものでも良い。
以上説明したように、この発明によればレーザー光発光
部からのレーザー光を懸吊反射部材の下方から入射させ
ると）（にこの懸吊反射部材からの出射光を常に鉛直方
向に指向させ得るようにし、懸吊反射部材を通過した光
束を回転反射部材により水平方向に光路変換して走査し
得るようにしたので２機械本体の傾斜如何に拘らず常時
水平面内での走査が行なえ、しかも機械本体の枠体など
に遮きられることなくいずれの方向においても岸時一定
の光が得られるので８１１Ｉ量精度も一定かつ高度に保
ち得るようになる。
部からのレーザー光を懸吊反射部材の下方から入射させ
ると）（にこの懸吊反射部材からの出射光を常に鉛直方
向に指向させ得るようにし、懸吊反射部材を通過した光
束を回転反射部材により水平方向に光路変換して走査し
得るようにしたので２機械本体の傾斜如何に拘らず常時
水平面内での走査が行なえ、しかも機械本体の枠体など
に遮きられることなくいずれの方向においても岸時一定
の光が得られるので８１１Ｉ量精度も一定かつ高度に保
ち得るようになる。
第１図および第２図はこの発明の詳細な説明する光学系
の概略構成図であって第１図は機械本体が傾斜していな
い場合、第２図は機械本体が傾斜した場合をそれぞれ示
し、第３図はボロプリズ１１を説明する斜視図、第４図
は他のポロプリズ１１を説明する斜視図、第５図はこの
発明に係るレーザー謂量機械の一実施例を説明する縦断
面図である。 １１・・・機械本体、 １４・・・半導体レーザー（レーザー光発光部）、２３
・・・投影レンズ、 ３１・・・ペンタプリズム（回転反射部材）。 第１図 第２図 第３図 」
の概略構成図であって第１図は機械本体が傾斜していな
い場合、第２図は機械本体が傾斜した場合をそれぞれ示
し、第３図はボロプリズ１１を説明する斜視図、第４図
は他のポロプリズ１１を説明する斜視図、第５図はこの
発明に係るレーザー謂量機械の一実施例を説明する縦断
面図である。 １１・・・機械本体、 １４・・・半導体レーザー（レーザー光発光部）、２３
・・・投影レンズ、 ３１・・・ペンタプリズム（回転反射部材）。 第１図 第２図 第３図 」
Claims (6)
- （１）レーザー光発光部と、このレーザー光発光部から
出射したレーザー光を上方へ反射させると共にこの反射
光の光軸を常時鉛直方向に指向させるように懸吊された
懸吊反射部材と、そのレーザー光を略平行光束にして投
影するための投影レンズ系と、この投影レンズ系から得
られる平行光束を略９０゛′光路変換して水平面内にて
その平行光束を測量対象に対して走査するため回転可能
に配設された回転反射部材とを有することを特徴とする
レーザー測量機械。 - （２）レーザー光発光部は、半導体レーザーである特許
請求の範囲第１項記載のレーザー測量機械。 - （３）懸吊反射部材は、正立正像プリズムである特許請
求の範囲第１項記載のレーザー測量機械。 - （４）正立正像プリズムは、ポロプリズムである特許請
求の範囲第３項記載のレーザー測量機械。 - （５）懸吊反射部材は、投影レンズ系の魚点距離の略２
分の１の長さに形成された吊線により懸吊される特許請
求の範囲第１項記載のレーザー測量機械。 - （６） ’ｉｔ！吊反射部材は、４本の吊線により懸吊
されている特許請求の範囲第１項記載のレーザー測量機
械。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5528884A JPS60200117A (ja) | 1984-03-24 | 1984-03-24 | レ−ザ−測量機械 |
| DE198585400559T DE162734T1 (de) | 1984-03-24 | 1985-03-22 | Geodaetisches instrument mit laser. |
| DE8585400559T DE3584470D1 (de) | 1984-03-24 | 1985-03-22 | Geodaetisches instrument mit laser. |
| EP85400559A EP0162734B1 (en) | 1984-03-24 | 1985-03-22 | Laser surveying equipment |
| US06/715,571 US4781457A (en) | 1984-03-24 | 1985-03-25 | Laser surveying equipment |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5528884A JPS60200117A (ja) | 1984-03-24 | 1984-03-24 | レ−ザ−測量機械 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60200117A true JPS60200117A (ja) | 1985-10-09 |
| JPH047165B2 JPH047165B2 (ja) | 1992-02-10 |
Family
ID=12994393
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5528884A Granted JPS60200117A (ja) | 1984-03-24 | 1984-03-24 | レ−ザ−測量機械 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60200117A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5032014A (en) * | 1988-10-27 | 1991-07-16 | Asahi Seimitu Kabushiki Kaisha | Datum beam projecting apparatus for use with surveying equipment |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5181152A (ja) * | 1975-01-14 | 1976-07-15 | Sokkisha | Rezaakojidosuichokuoyobisuiheisenkaiki |
| JPS5582011A (en) * | 1978-11-20 | 1980-06-20 | Spectra Physics | Level measuring method and apparatus with laser beam |
-
1984
- 1984-03-24 JP JP5528884A patent/JPS60200117A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5181152A (ja) * | 1975-01-14 | 1976-07-15 | Sokkisha | Rezaakojidosuichokuoyobisuiheisenkaiki |
| JPS5582011A (en) * | 1978-11-20 | 1980-06-20 | Spectra Physics | Level measuring method and apparatus with laser beam |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5032014A (en) * | 1988-10-27 | 1991-07-16 | Asahi Seimitu Kabushiki Kaisha | Datum beam projecting apparatus for use with surveying equipment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH047165B2 (ja) | 1992-02-10 |
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