JPS60200146A - エアロゾルの平均粒子寸法の測定方法および装置 - Google Patents
エアロゾルの平均粒子寸法の測定方法および装置Info
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- JPS60200146A JPS60200146A JP59259022A JP25902284A JPS60200146A JP S60200146 A JPS60200146 A JP S60200146A JP 59259022 A JP59259022 A JP 59259022A JP 25902284 A JP25902284 A JP 25902284A JP S60200146 A JPS60200146 A JP S60200146A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/02—Investigating particle size or size distribution
- G01N15/0205—Investigating particle size or size distribution by optical means
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/06—Investigating concentration of particle suspensions
- G01N15/0606—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support
- G01N15/0618—Investigating concentration of particle suspensions by collecting particles on a support of the filter type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/534—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke by measuring transmission alone, i.e. determining opacity
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、送光器と受光器との間に位置するエアロゾル
の散乱および吸収により惹起される光減衰の−り定によ
シエアロゾル粒子の平均寸法を直接測定するための方法
および装置に関する。
の散乱および吸収により惹起される光減衰の−り定によ
シエアロゾル粒子の平均寸法を直接測定するための方法
および装置に関する。
〔従来技術］
汚染監視における。さらに最近ではプロセス技術および
医学におけるエアロゾルの質量濃度測定の問題はこれま
で条件付きでしか解決享れていないとみなされ得る。そ
のために法令制定者は排出ガスに関する規程において、
測定技術的に現在ルーチン作業で可能な方法、従ってま
た拘束力のある規程として有意義な汚染制御のために実
行され得る方法を標準としている。これまでは特に、送
光器と受光器との間に位置する粒子の散乱および吸収に
より惹起される光減衰の測定に基〈測定方法が定着して
いる。この原理で作動する装置は較正を必要とする。多
ぐの場合、光減衰と質量濃度との間に解くことができる
数学的関係が存在しない。エアロゾルの光学的定数また
はその典型的分布形態が変化すると直ちに、新たな較Ｉ
Ｆが必要になり、それには爽験費用を必要とする。この
ｓｌｌ定原理では１粒子寸法の分布（＝２パラメータ：
平均値、標準偏差）、粒子材料の密度および質量濃度に
関係する４パラメータ系が光減衰の測定に帰着している
。エアロゾル・パラメータは任意には変化しない。それ
らは経験により制限され得る。
医学におけるエアロゾルの質量濃度測定の問題はこれま
で条件付きでしか解決享れていないとみなされ得る。そ
のために法令制定者は排出ガスに関する規程において、
測定技術的に現在ルーチン作業で可能な方法、従ってま
た拘束力のある規程として有意義な汚染制御のために実
行され得る方法を標準としている。これまでは特に、送
光器と受光器との間に位置する粒子の散乱および吸収に
より惹起される光減衰の測定に基〈測定方法が定着して
いる。この原理で作動する装置は較正を必要とする。多
ぐの場合、光減衰と質量濃度との間に解くことができる
数学的関係が存在しない。エアロゾルの光学的定数また
はその典型的分布形態が変化すると直ちに、新たな較Ｉ
Ｆが必要になり、それには爽験費用を必要とする。この
ｓｌｌ定原理では１粒子寸法の分布（＝２パラメータ：
平均値、標準偏差）、粒子材料の密度および質量濃度に
関係する４パラメータ系が光減衰の測定に帰着している
。エアロゾル・パラメータは任意には変化しない。それ
らは経験により制限され得る。
それによってのみこの方法がそもそも応用可能である。
しかしながら、ただ１つの量の測定による４パラメータ
系のメリ゛ホにはあいまいさが残る。
系のメリ゛ホにはあいまいさが残る。
他方において、別の方法、すなわちたとえば秤量器（手
動操作）による質量測定または間接的（たとえば光散乱
による）または直接的（たとえば顕微鏡による）粒子寸
法測定により同様の国別測定が行なわれたが、これらは
時間および人手のかかる方法である。水晶−マイクロ秤
量器−カスケードーインパクタは確かに質量濃度および
寸法分布を１つの装置内で与えるが、インバクンヨン原
理のすべての欠点を有し、質量測定に関して間接的方法
（質量ローディングによる撮動水晶の周波数変化の測定
）のみによっており、絶対質量ローディングに関して非
常に制限されておシ（約１０ｍｇから臨界的）、また取
扱いに時間がかかる〔発明が解決しようとする問題点〕 本発明の目的は、上記（１）方法および装置を、２つの
無関係な量、すなわち同一のエアロゾルの光減衰および
質量濃度が同時に測定され、また１つの粒子直径の測定
に利用され得るように構成することである。
動操作）による質量測定または間接的（たとえば光散乱
による）または直接的（たとえば顕微鏡による）粒子寸
法測定により同様の国別測定が行なわれたが、これらは
時間および人手のかかる方法である。水晶−マイクロ秤
量器−カスケードーインパクタは確かに質量濃度および
寸法分布を１つの装置内で与えるが、インバクンヨン原
理のすべての欠点を有し、質量測定に関して間接的方法
（質量ローディングによる撮動水晶の周波数変化の測定
）のみによっており、絶対質量ローディングに関して非
常に制限されておシ（約１０ｍｇから臨界的）、また取
扱いに時間がかかる〔発明が解決しようとする問題点〕 本発明の目的は、上記（１）方法および装置を、２つの
無関係な量、すなわち同一のエアロゾルの光減衰および
質量濃度が同時に測定され、また１つの粒子直径の測定
に利用され得るように構成することである。
この目的は、本発明によれば、特許請求の範囲第１項に
記載の方法により達成される。
記載の方法により達成される。
特許請求の範囲第２頂板丁には、本発明により提案され
る装置およびその有利な実施帳様があげられている。
る装置およびその有利な実施帳様があげられている。
エアロゾル特性量の連続測定のだめの新しい方法の：開
発にあたっての基本アイデアは１つの装置内での光減衰
および質量濃度測定の、田合わせである。これらの測定
針により、既知の粒子密度ρおよび光源−受光器間光路
長１において、平均粒子直径ｄ＝６． （１，Ｏｍ、ρ
、Ｋ）がＥ・ρ として測定され得る。ｄはＣｍおよびＥＣｍｆ′ｉ質計
により、 ｅＸは光減衰による〕に灼する式および から、簡牟化前提条件 ａｍ＝ ａ８ｘＬ４） のもとにめられる。この前提条件は１光減衰が質量濃度
の関数であるだけでなく粒子寸法分布および密度のよう
なすべての曲のエアロゾル・パラメータにも関係するの
で、ありきたりではない。
発にあたっての基本アイデアは１つの装置内での光減衰
および質量濃度測定の、田合わせである。これらの測定
針により、既知の粒子密度ρおよび光源−受光器間光路
長１において、平均粒子直径ｄ＝６． （１，Ｏｍ、ρ
、Ｋ）がＥ・ρ として測定され得る。ｄはＣｍおよびＥＣｍｆ′ｉ質計
により、 ｅＸは光減衰による〕に灼する式および から、簡牟化前提条件 ａｍ＝ ａ８ｘＬ４） のもとにめられる。この前提条件は１光減衰が質量濃度
の関数であるだけでなく粒子寸法分布および密度のよう
なすべての曲のエアロゾル・パラメータにも関係するの
で、ありきたりではない。
条件＋４１ＦＪ訓算により調べられた。
本発明の好ましい応用分野は汚染監視であり、またプロ
セス技術での応用もふ、えてきている。これらの分野の
、？Ｉ用番にとって、本発明による装置が連続測定に使
用ｃｉＪ能であシ、また選択的に設置用としても携帯用
としても利用５Ｔ能であることは決定的に有意義である
。測定計器は自動的に作動すべきである。すなわち、測
定歌（質！ １４％度、平均直径、光減衰、数機度）は
直接に装置において読取シ可能まだは適轟な出力端を介
して呼出し可能でなければならない。光学的構成要素は
白色光源、ＬＥＤ、さらにはレーザー光源であってよい
。
セス技術での応用もふ、えてきている。これらの分野の
、？Ｉ用番にとって、本発明による装置が連続測定に使
用ｃｉＪ能であシ、また選択的に設置用としても携帯用
としても利用５Ｔ能であることは決定的に有意義である
。測定計器は自動的に作動すべきである。すなわち、測
定歌（質！ １４％度、平均直径、光減衰、数機度）は
直接に装置において読取シ可能まだは適轟な出力端を介
して呼出し可能でなければならない。光学的構成要素は
白色光源、ＬＥＤ、さらにはレーザー光源であってよい
。
安定性に関する特定の仕様を満足するとともに、基本的
、を問題は存在しない。
、を問題は存在しない。
以下、第１図ないし第５図を参照して、］つの実施例に
より本発明を一層詳細に説明する。
より本発明を一層詳細に説明する。
第１図には、本発明による方法を実施するだめの装置が
解図的（（示されている。光減衰の測定は測定セル２１
（第２図参照）内で、詳細には、光源９、レンズ１０お
よびホトダイオード］Ｊを有する光度計が取付けられて
いるその上側部分内で行なわれる。光度計の光軸２２は
エアロゾルの流れ１３の層流方向と直交している。ノズ
ルｊ４は測定セル２１を通る体積流量を一定に保つ。こ
のノズルは測定セル２１の下側部分７の排出・導管２３
のなかに組込まれている。画部分７：１５−よび８の間
にフィルタ２４が挿入されている。
解図的（（示されている。光減衰の測定は測定セル２１
（第２図参照）内で、詳細には、光源９、レンズ１０お
よびホトダイオード］Ｊを有する光度計が取付けられて
いるその上側部分内で行なわれる。光度計の光軸２２は
エアロゾルの流れ１３の層流方向と直交している。ノズ
ルｊ４は測定セル２１を通る体積流量を一定に保つ。こ
のノズルは測定セル２１の下側部分７の排出・導管２３
のなかに組込まれている。画部分７：１５−よび８の間
にフィルタ２４が挿入されている。
電源装置５が、エアロゾルの流れ１３を生じさせるため
のポンプ］５と、光源９と、ホトダイオード１１に対す
る増幅器１２と、秤量器１６と、電磁石１８によりフィ
ルタ交換腕として構成されているグリッパ装置２に対す
るステップモータ２０とに給電している。
のポンプ］５と、光源９と、ホトダイオード１１に対す
る増幅器１２と、秤量器１６と、電磁石１８によりフィ
ルタ交換腕として構成されているグリッパ装置２に対す
るステップモータ２０とに給電している。
ステップモータ２０はフィルタ交換腕２を、フィルタ２
４を有する測定セル２１におけるフィルタ取出しまだは
挿入位置から、フード１７の下側に配置されておシフィ
ルタ２４にロードされたエアロゾルの質量を測定する秤
量器１６へ移動させる。そこからフィルタ交換腕２は、
使用済みフィルタ２４を収容する廃棄容器４を経て移動
する。
４を有する測定セル２１におけるフィルタ取出しまだは
挿入位置から、フード１７の下側に配置されておシフィ
ルタ２４にロードされたエアロゾルの質量を測定する秤
量器１６へ移動させる。そこからフィルタ交換腕２は、
使用済みフィルタ２４を収容する廃棄容器４を経て移動
する。
続いて貯蔵容器３からの新しいフィルタの受入れが行な
われる（フィルタ交換腕２の１固々の近接位置、はレー
ル１に沿って矢印により示されている）。
われる（フィルタ交換腕２の１固々の近接位置、はレー
ル１に沿って矢印により示されている）。
電源装置５、増幅器１２および秤量器１６からの個々の
測定針は計算機６へ与えられる。
測定針は計算機６へ与えられる。
ステップモータ２０およびフィルタ交換腕ＩＵ１］御部
とならんで、組色まれでいる計算機６は測定技術的な機
能を受持つ。インタフェースを介して秤量器出力端は計
算機６と接続されている。同様のことが、ホトダイオー
ド１１の増幅された出力信号に対してもあてはまる。可
変の設定可能な時間にわたり、この出力店号の平均■が
形成され、従秤量器１６が与える情報（質量）と、時間
と、吸出しの際に制限ノズル１４により一定に保たれる
体積流量とからシステムは質量濃度Ｃｍを刷算し、従っ
てまた所与の密度ρおよび光度計９〜１１の光路長１（
測定セル２１の直径）において式（１）によるｄを計算
する。
とならんで、組色まれでいる計算機６は測定技術的な機
能を受持つ。インタフェースを介して秤量器出力端は計
算機６と接続されている。同様のことが、ホトダイオー
ド１１の増幅された出力信号に対してもあてはまる。可
変の設定可能な時間にわたり、この出力店号の平均■が
形成され、従秤量器１６が与える情報（質量）と、時間
と、吸出しの際に制限ノズル１４により一定に保たれる
体積流量とからシステムは質量濃度Ｃｍを刷算し、従っ
てまた所与の密度ρおよび光度計９〜１１の光路長１（
測定セル２１の直径）において式（１）によるｄを計算
する。
測定セル２１は第２図に示されている。この測定セルは
エアロゾルの流れ１３に対する入口１つを有し、またこ
の人口１９の後ぞ少なくとも光軸２２の範囲内で）直径
ｌを有する上側円筒部分８として広がっている。下側部
分７内では内匝が再び漏斗状に出口２５Ｕ）断面積まで
先細りになっている。画部分７，８はフィルタ２４の交
換の目的で〃いに分離され得る。フィルタ２４自体ｉｄ
ふるい２６の上に載っており、測定セル２１の全断面情
を阻＋ｈする。フィルタは光減衰の測定後に流れ］３か
らエアロゾルを受入れる役割をする。
エアロゾルの流れ１３に対する入口１つを有し、またこ
の人口１９の後ぞ少なくとも光軸２２の範囲内で）直径
ｌを有する上側円筒部分８として広がっている。下側部
分７内では内匝が再び漏斗状に出口２５Ｕ）断面積まで
先細りになっている。画部分７，８はフィルタ２４の交
換の目的で〃いに分離され得る。フィルタ２４自体ｉｄ
ふるい２６の上に載っており、測定セル２１の全断面情
を阻＋ｈする。フィルタは光減衰の測定後に流れ］３か
らエアロゾルを受入れる役割をする。
光減衰測定の光学部分９〜１ ］、 （第１図参照）を
保持するため、両側に光軸２２と整合して管２７および
２８が設けられておシ、これらの管はセル壁内■頁通ま
たは出射開口２９および３０に密に接する位置まで延び
ている。開口２９．３０まだは管２７．２８はガラス板
３１によりエアロゾルの流れ」３に利して閉じられてい
る。
保持するため、両側に光軸２２と整合して管２７および
２８が設けられておシ、これらの管はセル壁内■頁通ま
たは出射開口２９および３０に密に接する位置まで延び
ている。開口２９．３０まだは管２７．２８はガラス板
３１によりエアロゾルの流れ」３に利して閉じられてい
る。
フィルタ２４の取出しまたは挿入のためには両セル部分
７および８が臣いに分離される。そのためには下側部分
７が機械的に下方へ動かされるＣとが好ましく、この運
動は出口２５のまわシに配置されているばね３２の力に
抗して行なわれる。
７および８が臣いに分離される。そのためには下側部分
７が機械的に下方へ動かされるＣとが好ましく、この運
動は出口２５のまわシに配置されているばね３２の力に
抗して行なわれる。
ばね３２は部分７の下面にも、固定されておりスリーブ
３４を有する保持板３３の上にも載っている。出口２５
はスリーブ３４を貫通しており、部分７の行程運動の際
にスリーブ３４を案内する。
３４を有する保持板３３の上にも載っている。出口２５
はスリーブ３４を貫通しており、部分７の行程運動の際
にスリーブ３４を案内する。
画部分７および８は、測定セル２１が閉じられた状態で
Ｑ ＩＪング３５により封じられている。
Ｑ ＩＪング３５により封じられている。
セル２１の内側にはエアロゾル入口１９から光度計９の
測定空間を経てフィルタ２４上の粒子の付着愕〆至るま
で湾曲は存在しないので、壁付着による損失は無視し得
るほどわずかである。吸出し速度は、エアロゾルの流れ
が常に小さいレイノルズ数の範囲内にあり、従ってまた
層流として流−れるように選定される。
測定空間を経てフィルタ２４上の粒子の付着愕〆至るま
で湾曲は存在しないので、壁付着による損失は無視し得
るほどわずかである。吸出し速度は、エアロゾルの流れ
が常に小さいレイノルズ数の範囲内にあり、従ってまた
層流として流−れるように選定される。
フィルタ２４は２つのフレキ／ガラス環３６（第３図参
照）の間に締付けて保持され得る１１両環３６はねじ３
７によりｉ合わされる。これらのねじは同時にフィルタ
交換腕２の磁石１８の係合点としての役割をする。
照）の間に締付けて保持され得る１１両環３６はねじ３
７によりｉ合わされる。これらのねじは同時にフィルタ
交換腕２の磁石１８の係合点としての役割をする。
新しいフィルタ２４の挿入または測定後のフィルタ２４
０我外しの目的でのセル２１（７，８）の引離しはカム
機構を介してフィルタ交換腕２により行なわれる。
０我外しの目的でのセル２１（７，８）の引離しはカム
機構を介してフィルタ交換腕２により行なわれる。
フィルタ交換腕２に対するトランスファテーブル１が第
４図または第５図１（示されている。フィルタ交換腕２
ｉｌ−１：２つの平行に延びているスライダ案内３８に
沿いスライダ３９を介して、ステップモータ２０（第１
図参照）にょシ駆動されている球回転スピンドル４０に
より所望の位置へ勤がされる。ステップモータは計′ｌ
１機によ’）ｔＢＩＪ御される。
４図または第５図１（示されている。フィルタ交換腕２
ｉｌ−１：２つの平行に延びているスライダ案内３８に
沿いスライダ３９を介して、ステップモータ２０（第１
図参照）にょシ駆動されている球回転スピンドル４０に
より所望の位置へ勤がされる。ステップモータは計′ｌ
１機によ’）ｔＢＩＪ御される。
適当な形状のカム（図示せず）がセル２１または秤量器
１６のＩｆＪ１］１１１］■際に、セル２１の開閉また
は秤量器皿上のフード１７の昇降の役割をする。
１６のＩｆＪ１］１１１］■際に、セル２１の開閉また
は秤量器皿上のフード１７の昇降の役割をする。
７−ド１７は秤量中に対流回ｍ＜ハーフマイクロ秤量器
の精度上必要とされるンのため閉じられた秤量空間を形
成するために必要である。フィルタ貯蔵容器３は送り判
御を受け、それによって１つのフィルタの取出し後にそ
のすぐＦのフィルタ２４が最も上側に送られる。
の精度上必要とされるンのため閉じられた秤量空間を形
成するために必要である。フィルタ貯蔵容器３は送り判
御を受け、それによって１つのフィルタの取出し後にそ
のすぐＦのフィルタ２４が最も上側に送られる。
第１図は測定装置の概要図、第２図（ｄ測定セルの断面
図、第３図は捕集器の保持構造を示す分解斜視図、第４
図はグリッパに対するスライダ案内構造を示す図、第５
図は第４図のスライダ案内構造の一部分を示す図である
。 １・・・レール、２・・・フィルタ交換腕、３・・廃棄
容器、４・・貯蔵容器、５・・・電源装置、６・・・計
Ｗ、機。 ７・・・下側部分、８・・上側部分、９・・光源、１ｏ
・・レンズ、１１ ・・ホトダイオード、１２・・・増
幅器、工３・・・エアロゾルの流れ、１４・・・ノズル
、１５・・・ポンプ、１６・・・秤量器、１７・・・フ
ード、１８・・電磁石、２０・・・ステップモータ、２
１・・測定セル、２２・・・光軸、２４・・・フィルタ
、２５・・・出口、２７゜２８・・・管、２９．３０・
・開口、３１・・・ガラス板、３２・・・ばね、３３・
・・保持板、３４・・・スリーブ、３５・・・０リング
、３６・・・プレキシガラス板、３７・・・ねじ、３８
・・・スライダ案内、３９・・・スライダ、４０・・・
球回転スピンドル。 第１頁の続き ＠発明 者 ゲルハルト、ポース ド ト イツ連邦共和国カールスルーエ ４１、エスリンガーシ
ュラーセ ５５ 手続補正書（放） 昭和６０年４月２２日 特許庁長官殿 測定方法および装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 ドイツ連邦共和国カールスルーエ（番地なし）名
称 ケルンフオルシュングスツエントルム、カールスル
ーエ、ゲゼルシャフト、ミツト、ヘシュレンクテル、ハ
フラング ４、代理人 住 所 〒１１２東京都文京区大塚４−１６−１２７、
補正の内容 別紙の通り
図、第３図は捕集器の保持構造を示す分解斜視図、第４
図はグリッパに対するスライダ案内構造を示す図、第５
図は第４図のスライダ案内構造の一部分を示す図である
。 １・・・レール、２・・・フィルタ交換腕、３・・廃棄
容器、４・・貯蔵容器、５・・・電源装置、６・・・計
Ｗ、機。 ７・・・下側部分、８・・上側部分、９・・光源、１ｏ
・・レンズ、１１ ・・ホトダイオード、１２・・・増
幅器、工３・・・エアロゾルの流れ、１４・・・ノズル
、１５・・・ポンプ、１６・・・秤量器、１７・・・フ
ード、１８・・電磁石、２０・・・ステップモータ、２
１・・測定セル、２２・・・光軸、２４・・・フィルタ
、２５・・・出口、２７゜２８・・・管、２９．３０・
・開口、３１・・・ガラス板、３２・・・ばね、３３・
・・保持板、３４・・・スリーブ、３５・・・０リング
、３６・・・プレキシガラス板、３７・・・ねじ、３８
・・・スライダ案内、３９・・・スライダ、４０・・・
球回転スピンドル。 第１頁の続き ＠発明 者 ゲルハルト、ポース ド ト イツ連邦共和国カールスルーエ ４１、エスリンガーシ
ュラーセ ５５ 手続補正書（放） 昭和６０年４月２２日 特許庁長官殿 測定方法および装置 ３、補正をする者 事件との関係 特許出願人 住所 ドイツ連邦共和国カールスルーエ（番地なし）名
称 ケルンフオルシュングスツエントルム、カールスル
ーエ、ゲゼルシャフト、ミツト、ヘシュレンクテル、ハ
フラング ４、代理人 住 所 〒１１２東京都文京区大塚４−１６−１２７、
補正の内容 別紙の通り
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ■）送光器と受光器との間に位置するエアロゾル粒子の
散乱および吸収により惹起される光減衰の測定によシエ
アロゾルの平均粒子寸法を測定するための方法において
、光減衰の測定の基礎とされたすべての粒子の質量の追
加的、ｊｔｌｌ定か行なわれることを特徴とするエアロ
ゾルの平均粒子寸法の測定方法。 ２）送光器と受光器との間に位置するエアロゾル粒子の
散乱および吸収によシ惹起される光減衰を１つの測定区
間で測定することによりエアロゾルの平均粒子寸法を測
定するだめの装＋ｔｆあって、光減衰の測定の基礎とさ
れたすべての粒子の質量の追加的測定が行なわれる装置
に２いて、測定区間（１）がエアロゾルに対する通流管
（７，８；２１）内に位置しておシ、また測定区間（１
）に接続してエアロゾルに対する通流管（７，８；２１
）の断面を阻止する捕集器（２４）が配置されているこ
とを特徴とするエアロゾルの平均粒子寸法の測定装置。 ３）通流管（７，８；２１）内に層流が存在しておシ、
流れ軸線（１３）Ｋ対して送光器（９）と受光器（１１
）との間の軸線（２２）が直光しており、また通流管（
７，８；２１）から取外し可能なフィルタ（２４）が捕
集器の役割をしていることを特徴とする特許請求の範囲
第２項記載の装置。 ４）グリッパ装置ｔ（２，１８）がロード済みのフィル
タ（２４）を通流管（７，８；２１）から取出して、秤
量器（１６）および廃棄容器（４）へ導き、また新しい
フィルタ（２４）を貯蔵容器（３）から通流管（７，８
；２１）内にもたらすことを特徴とする特許請求の範囲
第２項または第３項記載の装置。 ５ン 通流管（２１）が２つの部分（７，８）から成っ
ており、それらのうち少なくとも一方（７）はばね（３
２）の力に抗してフィルタ（２４〕の取出しまたは挿入
の目的で他方（８）から分離可能であることを特徴とす
る特許請求の範囲第２項ないし第４項のいずれかに記載
の装置。 ６）グリッパ装置（２，１８）が個々の位置への近接の
ために移動円Ｒｅに構成されていることを特徴とする特
許請求の範囲第２項ないし第５項のいずれかに記載の装
置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19833344122 DE3344122A1 (de) | 1983-12-07 | 1983-12-07 | Verfahren und einrichtung zur bestimmung der mittleren partikelgroesse von aerosolen |
| DE3344122.7 | 1983-12-07 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60200146A true JPS60200146A (ja) | 1985-10-09 |
Family
ID=6216205
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59259022A Pending JPS60200146A (ja) | 1983-12-07 | 1984-12-07 | エアロゾルの平均粒子寸法の測定方法および装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60200146A (ja) |
| DE (1) | DE3344122A1 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2668602B1 (fr) * | 1990-10-31 | 1994-02-18 | Dragon Babbitless Sa | Procede et dispositif pour determiner la composition granulometrique d'un produit en vrac. |
| ATE139131T1 (de) * | 1991-10-19 | 1996-06-15 | Solvay Deutschland | System zur erzeugung von aerosol |
| DE19711494C1 (de) | 1997-03-19 | 1998-10-15 | Ulrich Prof Dr Ing Riebel | Verfahren zur Partikelgrößenmessung |
| RU2205381C1 (ru) * | 2002-01-03 | 2003-05-27 | Томский политехнический университет | Способ определения концентрации металлосодержащих аэрозолей в воздушной атмосфере |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5018080A (ja) * | 1973-06-18 | 1975-02-26 | ||
| JPS5658636A (en) * | 1979-10-19 | 1981-05-21 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring method for diameter of particle |
| JPS5658637A (en) * | 1979-10-19 | 1981-05-21 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring method for diameter of particle |
| JPS5676032A (en) * | 1979-11-26 | 1981-06-23 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring system for particle diameter |
-
1983
- 1983-12-07 DE DE19833344122 patent/DE3344122A1/de not_active Withdrawn
-
1984
- 1984-12-07 JP JP59259022A patent/JPS60200146A/ja active Pending
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5018080A (ja) * | 1973-06-18 | 1975-02-26 | ||
| JPS5658636A (en) * | 1979-10-19 | 1981-05-21 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring method for diameter of particle |
| JPS5658637A (en) * | 1979-10-19 | 1981-05-21 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring method for diameter of particle |
| JPS5676032A (en) * | 1979-11-26 | 1981-06-23 | Matsushita Electric Works Ltd | Measuring system for particle diameter |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3344122A1 (de) | 1985-06-20 |
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