JPS60200533A - Annealing method and equipment therefor - Google Patents

Annealing method and equipment therefor

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Publication number
JPS60200533A
JPS60200533A JP59057109A JP5710984A JPS60200533A JP S60200533 A JPS60200533 A JP S60200533A JP 59057109 A JP59057109 A JP 59057109A JP 5710984 A JP5710984 A JP 5710984A JP S60200533 A JPS60200533 A JP S60200533A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
annealing method
vacuum chamber
annealing
annealed
Prior art date
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Pending
Application number
JP59057109A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tadashi Serikawa
正 芹川
Akio Okamoto
章雄 岡本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NTT Inc
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPS60200533A publication Critical patent/JPS60200533A/en
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10PGENERIC PROCESSES OR APPARATUS FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10P95/00Generic processes or apparatus for manufacture or treatments not covered by the other groups of this subclass
    • H10P95/90Thermal treatments, e.g. annealing or sintering

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Recrystallisation Techniques (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 丸l豆立立1 本発明は、半導体基板や、半導体薄膜を形成している基
板などにアニールを施ずアニーリング法、及びそれに用
いる装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a method of annealing a semiconductor substrate or a substrate on which a semiconductor thin film is formed without annealing, and an apparatus used therefor.

翌1豆豊1月 半導体基板や、半導体薄膜を形成している基板などに、
半導体基板や、半導体薄膜を構成している半導体を結晶
化させたり、半導体基板や、半導体薄膜を構成している
半導体結晶の粒径を大にしたりするために、アニールを
施ずアニーリング法として、従来、基板をヒータによっ
て加熱1°ることによってアニールを施ず、という熱ア
ニーリング法が提案されている。
The following year, Mameho January, semiconductor substrates and substrates forming semiconductor thin films, etc.
In order to crystallize the semiconductor that makes up the semiconductor substrate or the semiconductor thin film, or to increase the grain size of the semiconductor crystal that makes up the semiconductor substrate or the semiconductor thin film, it is an annealing method that does not require annealing. Conventionally, a thermal annealing method has been proposed in which the substrate is heated by a heater for 1° without annealing.

しかしながら、この熱アニーリング法の場合、熱慣性の
ために、基板にアニールを施″LJ一時間を短くするこ
とができないことから、基板にアニールを短い時間だけ
IMす”必要がある場合、それを満足させることができ
ない、という欠点を有していた。
However, in the case of this thermal annealing method, it is not possible to shorten the LJ time for annealing the substrate due to thermal inertia. It had the disadvantage that it could not be satisfied.

また、基板全体が加熱されるため、基板の表面側のみに
、局部的に、アニールを施す必要がある場合も、それを
満足させることができない、という欠点を有していた。
Furthermore, since the entire substrate is heated, even if it is necessary to perform local annealing only on the front side of the substrate, there is a drawback in that it is not possible to satisfy the need for local annealing.

また、半導体基板や、半導体i[を形成している基板な
どにアニールを施ず他のアニーリング法として、従来、
レーザ光ビームを用いて基板を走査することによってア
ニールを施す、というレーザアニーリング法、及び電子
線ビームを用いて、同様に、基板を走査することによっ
てアニールを施す、という電子線アニーリング法も提案
されている。
In addition, as another annealing method without annealing the semiconductor substrate or the substrate forming the semiconductor i[,
A laser annealing method in which the substrate is annealed by scanning the substrate using a laser beam, and an electron beam annealing method in which the substrate is annealed by scanning the substrate using an electron beam have also been proposed. ing.

このようなレーザアニーリング法及び電子線アニーリン
グ法の場合、基板にアニーリングを施す時間を熱アニー
リング法に比し短くすることができ、また、基板の表面
側のみに、局部的に、アニーリングを施すことができる
ので、上述した熱アニーリング法の欠点を有しない、と
いう特徴を有する。
In the case of such laser annealing method and electron beam annealing method, the time for annealing the substrate can be shorter than that of thermal annealing method, and it is also possible to perform annealing locally only on the surface side of the substrate. This method is characterized in that it does not have the drawbacks of the thermal annealing method described above.

しかしながら、レーザアニーリング法及び電子線アニー
リング法の場合、基板をビームによっ゛C走査すること
によってアニールが施されるので、大きな面積を有する
基板に対するアニーリングに時間がかかるとともに、基
板上に、ビームによって重複走査される領域が生じたり
、アニーリングされない領域が生じたりし、基板に、各
部均一にアニーリングを施すことができない、という欠
点を有していた。
However, in the case of the laser annealing method and the electron beam annealing method, annealing is performed by scanning the substrate with a beam, so it takes time to anneal a substrate with a large area, and This method has disadvantages in that it is not possible to uniformly anneal all parts of the substrate because some areas are scanned repeatedly and some areas are not annealed.

また、半導体基板や、半導体薄膜を形成している基板な
どにアニールを施す他のアニーリング法として、従来、
基板に赤外線ランプからの赤外線を照射させることによ
ってアニールを施1ランプアニーリング法も提案されて
いる。
In addition, as other annealing methods for annealing semiconductor substrates and substrates on which semiconductor thin films are formed, conventionally,
A one-lamp annealing method has also been proposed in which the substrate is annealed by irradiating it with infrared rays from an infrared lamp.

このランプアニーリング法の場合、レーザアニーリング
法及び電子線アニーリング法の場合と同様に、基板にア
ニーリングを短い時間施すことができ、また、基板の表
面側のみに、局部的に、アニーリングを施すことができ
るので、上述した熱アニーリング法の欠点を有しないと
ともに、基板の全面に対し、−挙に、アニーリングを施
すことができるので、上述したレーザアニーリング法及
び電子線アニーリング法の欠点を有しない、という特徴
を有する。
In the case of this lamp annealing method, like the laser annealing method and the electron beam annealing method, the substrate can be annealed for a short time, and it can also be annealed locally only on the surface side of the substrate. Therefore, it does not have the drawbacks of the thermal annealing method described above, and it also does not have the drawbacks of the laser annealing method and the electron beam annealing method, since the entire surface of the substrate can be annealed at once. Has characteristics.

しかしながら、ランプアニーリング法の場合、基板上で
の赤外線の照度強度の分布に、不均一性を有するため、
基板の全面に、各部均一に、アニーリングを施すことが
できない、という欠占を右l、でいたー 木刀」し欠吐仰 よって、本発明は、上述した従来のアニーリング法の欠
点のない、新規なアニーリング法を提案せんとするもの
である。
However, in the case of the lamp annealing method, there is non-uniformity in the distribution of the infrared irradiance intensity on the substrate.
In view of the drawback that it is not possible to uniformly anneal all parts of the entire surface of the substrate, the present invention provides a novel method that does not have the drawbacks of the conventional annealing method described above. This paper aims to propose a new annealing method.

また、本発明は、上述したアニーリング法の欠点を伴う
ことなしに基板にアニーリングを施すことができる、新
規な装置を提案せんとするものである。
The present invention also seeks to propose a new device that allows substrates to be annealed without the disadvantages of the annealing methods mentioned above.

水i+とl丞 本願第1番目の発明によるアニーリング法によれば、真
空槽内にアニールされるべき基板を配し、そして、真空
槽内の基板上の領域において、基板の板面に沿う方向の
成分を有する磁界を与えた状態で、ガスのグロー放電を
生ぜしめ、そのグロー放電により生成されている高エネ
ルギを有するイオンを基板に衝突させることによって、
基板にアニールを施す。
According to the annealing method according to the first invention of the present application, a substrate to be annealed is placed in a vacuum chamber, and a region on the substrate in the vacuum chamber is heated in a direction along the plate surface of the substrate. By applying a magnetic field with a component of
Anneal the substrate.

このような本願第1番目の発明によるアニーリング法に
よれば、上述した従来の熱アニーリング法の場合に比し
、基板に対づるアニールを施す時間を短くすることがで
き、また、レーザアニーリング法及び電子線アニーリン
グ法の場合に比し、基板上に、広い領域に亘り、しかも
その領域でランプアニーリング法の場合のように各部均
一になることなしに、アニールをyMtことができるな
どの理由で、上述した従来の熱アニルリング法、レーザ
アニーリング法、電子線アニーリング法及びランプアニ
ーリング法の欠点を有しない、という特徴を有する。
According to the annealing method according to the first invention of the present application, the time for annealing the substrate can be shortened compared to the conventional thermal annealing method described above, and the laser annealing method and Compared to the case of electron beam annealing, it is possible to perform annealing over a wide area on the substrate without making the area uniform in each part as in the case of lamp annealing. It is characterized in that it does not have the drawbacks of the conventional thermal annealing method, laser annealing method, electron beam annealing method, and lamp annealing method described above.

また、本願第2番目の発明によるアニーリング法に用い
る装置によれば、アニールされる基板が配され、且つグ
ロー放電されるガスが導入される真空槽と、その真空槽
内の基板上の領域に、基板の板面に沿う成分を有する磁
界を与える手段と、真空槽内の基板上の領域に、ガスの
グロー放電を生成させる手段とを有している。
Further, according to the apparatus used for the annealing method according to the second invention of the present application, there is provided a vacuum chamber in which a substrate to be annealed is arranged and a gas to be glow discharged is introduced, and a region on the substrate in the vacuum chamber. , means for applying a magnetic field having a component along the surface of the substrate, and means for generating a gas glow discharge in a region on the substrate within the vacuum chamber.

このような本願第2番目の発明によるアニーリング法に
用いる装置によれば、それを用いて、基板に、上述した
従来の熱アニーリング法、レーザアニーリング法、電子
線アニーリング法及びランプアニーリング法の欠点を伴
うことなしに、アニールを施ずことができるとともに、
構造が簡単である、という特徴を有する。
According to the apparatus used for the annealing method according to the second invention of the present application, it can be used to eliminate the drawbacks of the conventional thermal annealing method, laser annealing method, electron beam annealing method, and lamp annealing method described above. Annealing can be performed without any
It is characterized by a simple structure.

さらに、本願第3番目の発明によるアニーリング法によ
用いる装置によれば、アニールされる基板が配され、且
つグロー放電されるガスが導入される真空槽と、その真
空槽内の上記基板上の領域に、基板の板面に沿う成分を
有する磁界を与える手段と、真空槽内の基板上の領域に
、ガスのグロー放電を生成させる手段と、基板と磁界を
与える手段とを、基板の板面に沿う方向に相対的に移動
させる手段とを有する。
Furthermore, according to the apparatus used in the annealing method according to the third invention of the present application, there is provided a vacuum chamber in which a substrate to be annealed is arranged and a gas to be glow discharged is introduced, and a a means for applying a magnetic field having a component along the plate surface of the substrate to a region, a means for generating a gas glow discharge in a region on the substrate in a vacuum chamber, and a means for applying a magnetic field to the substrate. and means for relatively moving in a direction along the surface.

このような本願第3番目の発明によるアニーリング法に
用いる装置によれば、それを用いて、本願第2番目の発
明によるアニーリング法に用いる装置の場合に比しざら
に効果的に、基板に7ニールを施すことができる、とい
う特徴を有する。
According to the apparatus used for the annealing method according to the third invention of the present application, it is possible to apply 70% to the substrate more effectively than the apparatus used for the annealing method according to the second invention of the present application. It has the characteristic of being able to be subjected to anneal.

のf゛な−j 第1図は、本発明によるアニーリング法の実施例及びそ
れに用いる本発明による装置の実施例を示す。
FIG. 1 shows an embodiment of the annealing method according to the invention and an embodiment of the apparatus according to the invention used therein.

まず、本発明によるアニーリング法に用いる装置の実施
例を述べるに、それは、次に述べる構成を右する。
First, an embodiment of the apparatus used in the annealing method according to the present invention will be described, which has the following configuration.

す゛なわち、カス導入口2とガス排出口3とを有する真
空槽1を有する。この真空槽1は、導電性材で製造され
ている。
That is, it has a vacuum chamber 1 having a waste inlet 2 and a gas outlet 3. This vacuum chamber 1 is manufactured from a conductive material.

しかして、この真空槽1内に、例えば直方形の室4を形
成している電極5が配されている。
In this vacuum chamber 1, an electrode 5 forming, for example, a rectangular chamber 4 is arranged.

この場合、電極5は、真空槽1の底壁1bを貴通し、そ
の底壁1bに気密に保持されている導電性支社6の遊端
に取イ」りられている。
In this case, the electrode 5 passes through the bottom wall 1b of the vacuum chamber 1 and is taken at the free end of a conductive branch 6 which is held hermetically on the bottom wall 1b.

また、電極5によって形成されている室4内に、長方形
を有し且つ相対向する端面側をそれぞれN極及びS極と
している板状の永久磁石6が、そのS極側の端面を電極
5の上壁5aの内面に固着した状態で配され、相対向す
る端面側をそれぞれN極及びS極としている四角筒状永
久磁石7が、永久磁石6を取囲むように、且つN極側の
端面を電極5の上壁5aの内面に固着した状態で配され
ている。この場合、永久磁石6及び7が、その電極5の
上壁5a側とは反対側において、磁極板8によって連結
されている。
Further, in the chamber 4 formed by the electrode 5, a plate-shaped permanent magnet 6 having a rectangular shape and having opposite end surfaces as N and S poles, respectively, is placed in the chamber 4 with its S pole side end surface connected to the electrode 5. A rectangular cylindrical permanent magnet 7, which is fixedly arranged on the inner surface of the upper wall 5a and whose opposing end faces are N and S poles, surrounds the permanent magnet 6, and has an N pole on the N pole side. The electrode 5 is arranged with its end surface fixed to the inner surface of the upper wall 5a. In this case, the permanent magnets 6 and 7 are connected by a magnetic pole plate 8 on the side opposite to the upper wall 5a side of the electrode 5.

また、真空槽1内に、アニールされるべき基板15を載
置する基板載置板10を、電極5の上壁5aの上面が形
成している基板載置板案内面9上において、連結機構1
2を介して、永久磁石6の板面と直交する方向に往復移
動させる基板載置板駆動装置11が配されている。
In addition, the substrate mounting plate 10 on which the substrate 15 to be annealed is placed is placed in the vacuum chamber 1 on the substrate mounting plate guide surface 9 formed by the upper surface of the upper wall 5a of the electrode 5, and the connection mechanism 1
2, a substrate mounting plate driving device 11 is disposed for reciprocating the permanent magnet 6 in a direction perpendicular to the plate surface thereof.

以上が、本発明によるアニーリング法に用いる装置の一
例構成である。
The above is an exemplary configuration of an apparatus used for the annealing method according to the present invention.

次に、このような構成を有する本発明によるアニーリン
グ法に用いる装置を用いた本発明によるアニーリング法
の一例を述べよう。
Next, an example of the annealing method according to the present invention using the apparatus used for the annealing method according to the present invention having such a configuration will be described.

まず、真空槽1に基板載置板10を用いてアニールされ
るべき基板15を、電極5上に配置する。また、基板載
置板10を連結機構12を介して基板載置板駆動装置1
1に連結しておく。
First, the substrate 15 to be annealed is placed on the electrode 5 in the vacuum chamber 1 using the substrate mounting plate 10 . Further, the substrate mounting plate 10 is connected to the substrate mounting plate driving device 1 via the coupling mechanism 12.
Connect it to 1.

次に、真空槽1内をそのガス排気口3を介して排気して
後、真空槽1内に、ヘリウム、ネオン、アルゴン、クリ
プトン、キセノンなどの不活性ガスや、水素、酸素、窒
素、弗素、塩素などの活性ガスや、それら不活性ガス及
び活性ガスの混合ガスなどを、真空槽1内が例えば01
pa〜1000aの圧力になるように導入する。
Next, after evacuating the inside of the vacuum chamber 1 through the gas exhaust port 3, an inert gas such as helium, neon, argon, krypton, or xenon, hydrogen, oxygen, nitrogen, or fluorine is added to the vacuum chamber 1. , an active gas such as chlorine, a mixed gas of these inert gases and active gases, etc., in the vacuum chamber 1.
It is introduced to a pressure of pa to 1000 a.

このような状態で、真空槽1と電極5との間に、導電性
支柱6を介して、数百V乃至数KVの高周波電圧、また
は電極5側を負とする数白V乃至数KVの直流電圧を印
加さ「る。
In such a state, a high frequency voltage of several hundred volts to several kilovolts is applied between the vacuum chamber 1 and the electrode 5 via the conductive column 6, or a high frequency voltage of several hundred volts to several kilovolts with the electrode 5 side being negative. DC voltage is applied.

しかるときは、真空槽1の基板15上の領域に、ガスの
グロー放電20が生ずる。
In this case, a gas glow discharge 20 occurs in the area above the substrate 15 of the vacuum chamber 1 .

そして、この場合、真空槽1内のグロー放電20が生じ
ている領域中、真空槽1内の基板15上の領域に、永久
磁石6及び7間に延長している磁界が生じているが、そ
の磁界は、基板15の板面に沿う成分19を有する。こ
のため、グロー放電20により生成されるプラズマの密
度が、上述した磁界の基板15の板面に沿う成分19が
得られている領域21において、他の領域よりも高い。
In this case, a magnetic field extending between the permanent magnets 6 and 7 is generated in the area on the substrate 15 in the vacuum chamber 1 in the area where the glow discharge 20 is occurring in the vacuum chamber 1. The magnetic field has a component 19 along the surface of the substrate 15. Therefore, the density of the plasma generated by the glow discharge 20 is higher in the region 21 where the above-described component 19 of the magnetic field along the plate surface of the substrate 15 is obtained than in other regions.

このため、グロー放電20により生成された数百eV乃
至数KeVという高エネル1!を有するイオンが、基板
15に衝突する。
For this reason, the high energy 1! of several hundred eV to several KeV generated by the glow discharge 20! ions collide with the substrate 15.

この結果、高エネルギを有するイオンのエネルギによっ
て、基板15に、その表面からアニールが施される。
As a result, the substrate 15 is annealed from its surface by the energy of the high-energy ions.

この場合、基板載置板駆動装ff11を駆動させること
によって、高エネルギを右するエネルギによる基板15
に対するアニールを、各部均一に施すことができる。
In this case, by driving the substrate mounting plate driving device ff11, the substrate 15 is driven by high energy.
Annealing can be applied uniformly to each part.

以上が、本発明を用いた本発明によるアニーリング法の
一例である。
The above is an example of an annealing method according to the present invention using the present invention.

このような本発明によるアニーリング法によれば、グロ
ー放電により生成されている高エネルギを有するイオン
を、基板15に衝突さゼることによって、基板15にア
ニールを施しているので、従来の熱アニルリング法の欠
点を伴うことがない、という特徴を有する。
According to such an annealing method according to the present invention, the substrate 15 is annealed by colliding high-energy ions generated by glow discharge with the substrate 15, so that the conventional thermal annealing method is not necessary. It has the characteristic that it does not involve the drawbacks of the law.

また、グロー放電によって生成するプラズマの密度の高
い領域21を、レーザ光ビームや電子線ビームに比し広
くすることができるので、従来のレーザアニーリング法
や電子線アニーリング法の場合の欠点を有効に回避する
ことができる。
In addition, since the region 21 with high plasma density generated by glow discharge can be made wider than in laser beams or electron beams, the drawbacks of conventional laser annealing methods and electron beam annealing methods can be effectively overcome. can be avoided.

なお、上述においては、本発明によるアニーリング法及
び本発明によるアニーリング法に用いる装置のそれぞれ
について一例を述べたに留まり、例えば、装置に基板1
5を加熱するヒータなどの加熱手段、または基板を冷却
さUる冷却手段を設け、基板15をその加熱手段または
冷IJj手段によって加熱または冷却しながら、本発明
によって、基板に、アニーリングを施すようにすること
もできる。また、永久磁石6及び7を電磁石に代えるこ
ともできる その他、本発明の精神を脱することなしに、種々の変型
、変更をなし得るであろう。
In addition, in the above description, only examples of the annealing method according to the present invention and the apparatus used for the annealing method according to the present invention have been described.
According to the present invention, a heating means such as a heater for heating the substrate 15 or a cooling means for cooling the substrate is provided, and while the substrate 15 is being heated or cooled by the heating means or the cold IJj means, the substrate is annealed. It can also be done. In addition, the permanent magnets 6 and 7 may be replaced with electromagnets, and various other modifications and changes may be made without departing from the spirit of the invention.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、本発明によるアニーリング法の一例及び本発
明によるアニーリング法に用いる装置の一例を示J゛路
線的断面図である。 第2図は、第1図に示す本発明によるアニーリング法に
用いる装置の一部平面図である。 1・・・・・・・・・・・・・・・真空槽5・・・・・
・・・・・・・・・・電極6.7・・・・・・・・・永
久磁石 10・・・・・・・・・・・・基板載置板11・・・・
・・・・・・・・基板載置板駆動装置15・・・・・・
・・・・・・基板 20・・・・・・・・・・・・グロー放電21・・・・
・・・・・・・・領域 出願人 日本電信電話公社
FIG. 1 is a cross-sectional view along the J-line showing an example of the annealing method according to the present invention and an example of the apparatus used in the annealing method according to the present invention. FIG. 2 is a partial plan view of the apparatus shown in FIG. 1 used in the annealing method according to the present invention. 1・・・・・・・・・・・・・・・Vacuum chamber 5・・・・・・
...... Electrode 6.7... Permanent magnet 10 ...... Substrate mounting plate 11 ...
......Substrate mounting plate driving device 15...
......Substrate 20...Glow discharge 21...
・・・・・・・・・Area applicant Nippon Telegraph and Telephone Public Corporation

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、真空槽内にアニールされるべき基板を配し、上記真
空槽内の基板上の領域において、上記基板の板面に沿う
方向の成分を有する磁界を与えた状態で、ガスのグロー
放電を生ぜしめ、そのグロー放電により得られている高
エネルギを有するイオンを上記基板に衝突させることに
よって、上記基板にアニールを施ずことを特徴とするア
ニーリング法。 2、アニールされる基板が配され、且つグロー放電され
るガスが導入される真空槽と、上記真空槽内の上記基板
上の領域に、上記基板の板面に沿う成分を有する磁界を
与える手段と、 上記真空槽内の上記基板上の領域に、上記ガスのグロー
放電を生成させる手段とを有することを特徴とするアニ
ーリング法に用いる装置。 3.7ニールされる基板が配され、且つグロー放電され
るガスが導入される真空槽と、上記真空槽内の上記基板
上の領域に、上記基板の板面に沿う成分を有づる磁界を
与える手段と、 上記真空槽内の上記基板上の領域に、上記ガスのグロー
放電を生成させる手段と、上記基板と上記磁界を与える
手段どを、上記基板の板面に沿う方向に相対的に移動さ
せる手段とを有することを特徴とするアニーリング法に
用いる装置。
[Claims] 1. A substrate to be annealed is placed in a vacuum chamber, and a magnetic field having a component in a direction along the plate surface of the substrate is applied to a region on the substrate in the vacuum chamber. . An annealing method characterized in that the substrate is annealed by generating a gas glow discharge and causing ions having high energy obtained by the glow discharge to collide with the substrate. 2. A vacuum chamber in which a substrate to be annealed is disposed and gas to be glow discharged is introduced, and means for applying a magnetic field having a component along the plate surface of the substrate to a region above the substrate in the vacuum chamber. An apparatus for use in an annealing method, comprising: a means for generating a glow discharge of the gas in a region on the substrate in the vacuum chamber. 3.7 A vacuum chamber in which a substrate to be annealed is placed and a gas to be glow discharged is introduced, and a magnetic field having a component along the surface of the substrate is applied to a region above the substrate in the vacuum chamber. a means for generating a glow discharge of the gas in a region on the substrate in the vacuum chamber; and a means for applying the magnetic field to the substrate relative to each other in a direction along the plate surface of the substrate. An apparatus used for an annealing method, characterized in that it has a means for moving.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5885538A (en) * 1981-11-18 1983-05-21 Hitachi Ltd Manufacture of semiconductor device
JPS5887272A (en) * 1981-11-20 1983-05-25 Hitachi Ltd Planar magnetron sputtering device

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