JPS6020140B2 - グラインダ加工中の加工物の回転を検査する方法および装置 - Google Patents
グラインダ加工中の加工物の回転を検査する方法および装置Info
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- JPS6020140B2 JPS6020140B2 JP5923674A JP5923674A JPS6020140B2 JP S6020140 B2 JPS6020140 B2 JP S6020140B2 JP 5923674 A JP5923674 A JP 5923674A JP 5923674 A JP5923674 A JP 5923674A JP S6020140 B2 JPS6020140 B2 JP S6020140B2
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B49/00—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation
- B24B49/02—Measuring or gauging equipment for controlling the feed movement of the grinding tool or work; Arrangements of indicating or measuring equipment, e.g. for indicating the start of the grinding operation according to the instantaneous size and required size of the workpiece acted upon, the measuring or gauging being continuous or intermittent
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23Q—DETAILS, COMPONENTS, OR ACCESSORIES FOR MACHINE TOOLS, e.g. ARRANGEMENTS FOR COPYING OR CONTROLLING; MACHINE TOOLS IN GENERAL CHARACTERISED BY THE CONSTRUCTION OF PARTICULAR DETAILS OR COMPONENTS; COMBINATIONS OR ASSOCIATIONS OF METAL-WORKING MACHINES, NOT DIRECTED TO A PARTICULAR RESULT
- B23Q15/00—Automatic control or regulation of feed movement, cutting velocity or position of tool or work
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
- Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、グラィンダ加工されつつある機械的加工物の
回転を検査する方法および装置に係り、特に加工物がシ
ュウ上に載せられて、電磁クランプ装置を有するスピン
ドルによって回転するようにしたグラインダに関する。
回転を検査する方法および装置に係り、特に加工物がシ
ュウ上に載せられて、電磁クランプ装置を有するスピン
ドルによって回転するようにしたグラインダに関する。
この形式のグラィンダの不具合の一つは、加工されつつ
ある加工物が正規に回転しないことがあることである。
それは、いくつかの原因によるものである。すなわち、
スピンドルを回転する動力が低すぎること、加工物に加
わるスピンドルの磁気引力が欠除または不足しているこ
と、加工物に加わる砥石車の押圧力が大きすぎること「
加工物の予備加工が不十分であること、および摺動シュ
ゥの配置が不正または不良になることなどである。不良
または不規則な回転は、不良加工品の生産と、機械の生
産性低下とを招来する。
ある加工物が正規に回転しないことがあることである。
それは、いくつかの原因によるものである。すなわち、
スピンドルを回転する動力が低すぎること、加工物に加
わるスピンドルの磁気引力が欠除または不足しているこ
と、加工物に加わる砥石車の押圧力が大きすぎること「
加工物の予備加工が不十分であること、および摺動シュ
ゥの配置が不正または不良になることなどである。不良
または不規則な回転は、不良加工品の生産と、機械の生
産性低下とを招来する。
従来においては、この回転は機械を操作する人がその加
工品を視覚的に点検することによって検査されている。
工品を視覚的に点検することによって検査されている。
他方において、また加工サイクル時間が短かいためにも
、この方法は、多数の機械をただ一人の操作員に検査さ
せるようにグラィンダを完全自動化しようとする現今の
傾向に合致しない。特に、この傾向は、加工中に加工物
の寸法、適時に寸法の変化、すなわち除去率、および加
工物形状の誤差を測定し、かつそれに従って研削サイク
ルの種々の段階を操作するようにしたゲージの製造が促
がした。
、この方法は、多数の機械をただ一人の操作員に検査さ
せるようにグラィンダを完全自動化しようとする現今の
傾向に合致しない。特に、この傾向は、加工中に加工物
の寸法、適時に寸法の変化、すなわち除去率、および加
工物形状の誤差を測定し、かつそれに従って研削サイク
ルの種々の段階を操作するようにしたゲージの製造が促
がした。
このようなゲージは、いくつかの形式があり、特に電子
式および空気式ゲージが知られている。
式および空気式ゲージが知られている。
しかしながら、すでに述べたように今日までのどの装置
でも加工物の真の回転を検査することはできなかった。
本発明の目的は、グラィンダ加工中の加工物の不足回転
または不正回転を自動的に検査する方法を提供すること
である。
でも加工物の真の回転を検査することはできなかった。
本発明の目的は、グラィンダ加工中の加工物の不足回転
または不正回転を自動的に検査する方法を提供すること
である。
本発明の他の目的は、グラィンダ上の加工物の不足また
は不良回転の結果として或る信号を供給して自動的に良
好な操作を実行し、従って不良加工物の生産と、機械の
低下生産性とを回避することができる装置を提供するこ
とである。これらの目的およびその他の目的および利点
は、下記の方法によって達成される。
は不良回転の結果として或る信号を供給して自動的に良
好な操作を実行し、従って不良加工物の生産と、機械の
低下生産性とを回避することができる装置を提供するこ
とである。これらの目的およびその他の目的および利点
は、下記の方法によって達成される。
すなわち、、機械に対して固定された方向による加工物
寸法に応じて測定値を発生することによって加工物寸法
が測定されるように、グラィンダ上の機械的加工物の回
転を検査する方法であって、前記方法は本発明によって
、前記固定方向について加工物の表面の相対的移動によ
って変化する少なくも一つの変化物を検出するように前
記測定信号を処理することを予見し、前記変化物は加工
物の回転の均一度に応答する了承信号を発生するに使用
される。前記方法を実施する装置は、加工物の幾何学的
特徴およびそれらの変動についての情報をあたえるよう
に前記加工物寸法に応答する信号を提供するようにした
測定装置および後続時間に検知された測定信号を処理す
るようにした処理装置とを含み、前記実施装置は、本発
明によって更に、前記処理装置をトリガする遅延装置と
、前記処理装置の出力信号を予め設定された基準信号と
比較する比較装置と、加工物の不規則回転の結果として
前記比較装置によって動作される同意装置とを含んでい
る。
寸法に応じて測定値を発生することによって加工物寸法
が測定されるように、グラィンダ上の機械的加工物の回
転を検査する方法であって、前記方法は本発明によって
、前記固定方向について加工物の表面の相対的移動によ
って変化する少なくも一つの変化物を検出するように前
記測定信号を処理することを予見し、前記変化物は加工
物の回転の均一度に応答する了承信号を発生するに使用
される。前記方法を実施する装置は、加工物の幾何学的
特徴およびそれらの変動についての情報をあたえるよう
に前記加工物寸法に応答する信号を提供するようにした
測定装置および後続時間に検知された測定信号を処理す
るようにした処理装置とを含み、前記実施装置は、本発
明によって更に、前記処理装置をトリガする遅延装置と
、前記処理装置の出力信号を予め設定された基準信号と
比較する比較装置と、加工物の不規則回転の結果として
前記比較装置によって動作される同意装置とを含んでい
る。
この装置の特殊な特徴によれば、前記処理装置は、加工
物の形状誤差を測定するそれ自身は周知の回路を含み、
前記回路の出力は、前記比較装置の入力と接続されて、
加工物自体から材料除去が開始する前に加工物の回転を
検査する。
物の形状誤差を測定するそれ自身は周知の回路を含み、
前記回路の出力は、前記比較装置の入力と接続されて、
加工物自体から材料除去が開始する前に加工物の回転を
検査する。
本発明の前記装置の他の特徴によれば、前記処理装置は
加工中の加工物から材料除去の割合を計測する周知回路
を含み、前記回路の出力は材料除去時に加工物の回転を
検査するために前記比較装置の入力に接続される。
加工中の加工物から材料除去の割合を計測する周知回路
を含み、前記回路の出力は材料除去時に加工物の回転を
検査するために前記比較装置の入力に接続される。
本発明は、好ましい非制限的の実施例を示す添付図面を
参照して更に詳細に説明する。
参照して更に詳細に説明する。
第1図を参照すると、被加工物は、環11の形態をして
おり、その外側円筒表面は、砥石車12によって研削さ
れる。
おり、その外側円筒表面は、砥石車12によって研削さ
れる。
この被加工物は、通常には機械の上に取付けられ、また
自動的に図示しない機械腕によって取外される。環11
は、シュー13,14の上に置かれて、点線で示したス
ピンドル15によって回転させられる。このスピンドル
は、電磁作用によって環を固持している。環11の寸法
、更に正確にいえば公称寸法に対する偏差は、固定基準
フィーラ19に対して動くことのできるフィーラ18を
持った測定頭部17を有する電子式ゲージによって検知
される。
自動的に図示しない機械腕によって取外される。環11
は、シュー13,14の上に置かれて、点線で示したス
ピンドル15によって回転させられる。このスピンドル
は、電磁作用によって環を固持している。環11の寸法
、更に正確にいえば公称寸法に対する偏差は、固定基準
フィーラ19に対して動くことのできるフィーラ18を
持った測定頭部17を有する電子式ゲージによって検知
される。
頭部17は、揺動支持体21によって機械上に装架され
、この支持体は頭部が環11の直径の変動に精密に従動
できるように移動されることを可能とする。砥石車12
はスライド23によって支持され、急速接近運動と、加
工中の工具送りと、工具の戻しとは、このスラィド‘こ
よって行なわれる。
、この支持体は頭部が環11の直径の変動に精密に従動
できるように移動されることを可能とする。砥石車12
はスライド23によって支持され、急速接近運動と、加
工中の工具送りと、工具の戻しとは、このスラィド‘こ
よって行なわれる。
この形式の研削機械は、非常に高い時間的出力と非常に
良好な加工品質を許容する。しかし、すでに述べたよう
に、加工物が均一に回転しないことがある。
良好な加工品質を許容する。しかし、すでに述べたよう
に、加工物が均一に回転しないことがある。
このような場合には、もし機械操作者が直ちに介入しな
ければ、加工物は焼付および傷溝を生じてそれをスクラ
ップにする。従って、加工物の損失だけでなく、機械は
スクラップ物を生産するために動いていることになるの
で、機械の生産性を低下する。
ければ、加工物は焼付および傷溝を生じてそれをスクラ
ップにする。従って、加工物の損失だけでなく、機械は
スクラップ物を生産するために動いていることになるの
で、機械の生産性を低下する。
第2図を参照すると、加工作業の検査は、環11の形状
の不規則性すなわち楕円性を検出する第1の電気ユニッ
ト25と、処理回路27と材料除去率を計測するように
したタイミング回路28からなる第2電気ユニット26
とによって実行される。
の不規則性すなわち楕円性を検出する第1の電気ユニッ
ト25と、処理回路27と材料除去率を計測するように
したタイミング回路28からなる第2電気ユニット26
とによって実行される。
これらの2個の電気ユニット25,26は、それぞれ特
許第1097906号明細書および特許第104483
6号明細書に記載された公知のものと同様である。
許第1097906号明細書および特許第104483
6号明細書に記載された公知のものと同様である。
第3図は、これら2個の電気ユニット25および26を
図示したものであり第1の電気ユニット25は、被加工
物の最大径の情報を記憶する第1記憶装置80と被加工
物の最小経の情報を記憶する第2記憶装置81とを有し
、これらの記憶装置80,81には電気装置29からの
信号が入力される。また、最大径と最小径との差は比較
回路82で算出され、その結果は第3記憶装置83で記
憶される。また、第1、第2および第3記・ 億装置の
それぞれの最新のデー外ま更新回路84に供給されるよ
うになっている。一方、第2の電気ユニット26はある
時間における被加工物の直径を表わす値を検出して記憶
する第4記憶装置85と所定時間経過後の被加工物の直
径を検出して記憶する第5記憶装置86とを有している
。これらの記憶装置85,86の出力差は比較回路87
で比較され、その差は第6記憶装置88で記憶される。
さらにまた、第4、第5および第6記憶装層における最
新のデータはタイミング回路28に供給されるようにな
っている。このようにして、それ自身周知の電気装置2
9からの信号、すなわちフィーラ18,19によって検
出された寸法に応答する信号をユニット25,26が受
ける。第2図の装置は、ユニット25,26の出力信号
を使用して、研削の開始前とその研削中との両方のとき
に環11が均一に回転しているかどうかを検査する。ユ
ニット25の入力側に配置した回路は、このユニットを
トリガさせる回路であって、抵抗31を含み、その一端
部はプラス電源に接続され、他方の端部はコンデンサ3
2と、休止中は閉じているスイッチ33とに接統されて
いる。
図示したものであり第1の電気ユニット25は、被加工
物の最大径の情報を記憶する第1記憶装置80と被加工
物の最小経の情報を記憶する第2記憶装置81とを有し
、これらの記憶装置80,81には電気装置29からの
信号が入力される。また、最大径と最小径との差は比較
回路82で算出され、その結果は第3記憶装置83で記
憶される。また、第1、第2および第3記・ 億装置の
それぞれの最新のデー外ま更新回路84に供給されるよ
うになっている。一方、第2の電気ユニット26はある
時間における被加工物の直径を表わす値を検出して記憶
する第4記憶装置85と所定時間経過後の被加工物の直
径を検出して記憶する第5記憶装置86とを有している
。これらの記憶装置85,86の出力差は比較回路87
で比較され、その差は第6記憶装置88で記憶される。
さらにまた、第4、第5および第6記憶装層における最
新のデータはタイミング回路28に供給されるようにな
っている。このようにして、それ自身周知の電気装置2
9からの信号、すなわちフィーラ18,19によって検
出された寸法に応答する信号をユニット25,26が受
ける。第2図の装置は、ユニット25,26の出力信号
を使用して、研削の開始前とその研削中との両方のとき
に環11が均一に回転しているかどうかを検査する。ユ
ニット25の入力側に配置した回路は、このユニットを
トリガさせる回路であって、抵抗31を含み、その一端
部はプラス電源に接続され、他方の端部はコンデンサ3
2と、休止中は閉じているスイッチ33とに接統されて
いる。
コンデンサ32は、ナンド34の入力に並列接続され、
このナンドの出力は他のナンド35を経てユニット25
を制御する。
このナンドの出力は他のナンド35を経てユニット25
を制御する。
ユニット25の出力は、抵抗36を経て演算増幅器37
の正入力に後続される。
の正入力に後続される。
演算増幅器37の負入力には、適当な電圧源により供給
されたポテンショメータ38により、抵抗39を経て、
供給される可調整基準電圧を受ける。増幅器37は、抵
抗40によって正入力へフィード・バック接続される。
されたポテンショメータ38により、抵抗39を経て、
供給される可調整基準電圧を受ける。増幅器37は、抵
抗40によって正入力へフィード・バック接続される。
増幅器37の出力は、ナンド41の入力に接続され、そ
の出力は2個のナンド42,43によって形成された二
安定回路44のセット入力に接続される。二安定回路4
4は、その出力をNPNトランジスタ45のベースと接
続される。二安定回路44の他の入力(リセット)は、
抵抗31、コンデンサ32およびスイッチ33の共通点
と接続される。
の出力は2個のナンド42,43によって形成された二
安定回路44のセット入力に接続される。二安定回路4
4は、その出力をNPNトランジスタ45のベースと接
続される。二安定回路44の他の入力(リセット)は、
抵抗31、コンデンサ32およびスイッチ33の共通点
と接続される。
トランジスタ45のコレクタと直列接続に抑制ダイオー
ド47およびリレー巻線48が並列に接続されて挿入さ
れる。49は研削盤の制御回路中に組込まれたりレー接
点であって被加工物の回転が停止していたり、回転が不
規則のときに回路を開いて加工サイクルを中断する。
ド47およびリレー巻線48が並列に接続されて挿入さ
れる。49は研削盤の制御回路中に組込まれたりレー接
点であって被加工物の回転が停止していたり、回転が不
規則のときに回路を開いて加工サイクルを中断する。
トランジスタ45のベースは、滅結合ダイオード51を
経て抵抗52およびコンデンサ53の共通点に接続され
る。
経て抵抗52およびコンデンサ53の共通点に接続され
る。
抵抗52は正電源に接続される。コンデンサ53は、ナ
ンド55の入力と並列にあり、このナンド55の出力は
他のナンド56を経てタイミング回路28を制御する。
更に、コンデソサ53は、2個のナソド58,59によ
って形成された二安定回路57の入力(リセット)と接
続される。二安定回路57の他の入力(セット)は、タ
イミング回路に接続される。二安定回路57の出力は、
NPNトランジスタ61のベースに接続される。トラン
ジスタ61のコレクタは、ダイオード62を経てリレー
63の巻線に接続され、このリレーの接点64は研削盤
の制御回路中に組込まれたりし−接点であって「被加工
物の回転が停止していたり「回転が不規則のときに回路
を開いて加工サイクルを中断する。
ンド55の入力と並列にあり、このナンド55の出力は
他のナンド56を経てタイミング回路28を制御する。
更に、コンデソサ53は、2個のナソド58,59によ
って形成された二安定回路57の入力(リセット)と接
続される。二安定回路57の他の入力(セット)は、タ
イミング回路に接続される。二安定回路57の出力は、
NPNトランジスタ61のベースに接続される。トラン
ジスタ61のコレクタは、ダイオード62を経てリレー
63の巻線に接続され、このリレーの接点64は研削盤
の制御回路中に組込まれたりし−接点であって「被加工
物の回転が停止していたり「回転が不規則のときに回路
を開いて加工サイクルを中断する。
巻線63に並列に、抑制ダイオード65がある。
リレーの付勢、従って接点64の閉鎖は、トランジスタ
6川こよって制御されるとともに、更に他のNPNトラ
ンジスタ67によって制御される。NPNトランジスタ
67のコレクタにはダイオード68が直列接続されてい
る。トランジスタ67の状態は、ベースにおける電圧レ
ベルに依っている。
6川こよって制御されるとともに、更に他のNPNトラ
ンジスタ67によって制御される。NPNトランジスタ
67のコレクタにはダイオード68が直列接続されてい
る。トランジスタ67の状態は、ベースにおける電圧レ
ベルに依っている。
このベースはt演算増幅器?Qの出力に接続され、この
演算増幅器はへ抵抗71を経てユニット26の出力信号
を正入力に受ける。増幅器70‘まその正入力において
抵抗72によりフィード・バックに接続され「負入力に
おいて適当な電圧源により供給されるポテンショメータ
了4により抵抗7蚤を経て供給された可調整基準電圧を
受ける。第2図のナンドの或るものは互いに接続された
2入力を持つこと「(それらのナンド‘ま実質的にィン
バータとして作用すること)に注意してt本装置の動作
を以下説明する。
演算増幅器はへ抵抗71を経てユニット26の出力信号
を正入力に受ける。増幅器70‘まその正入力において
抵抗72によりフィード・バックに接続され「負入力に
おいて適当な電圧源により供給されるポテンショメータ
了4により抵抗7蚤を経て供給された可調整基準電圧を
受ける。第2図のナンドの或るものは互いに接続された
2入力を持つこと「(それらのナンド‘ま実質的にィン
バータとして作用すること)に注意してt本装置の動作
を以下説明する。
環11は、摺動シュウ量3,亀4の上に装置され「スピ
ンドル15を動作して環自体を吸着し、それを回転させ
る。
ンドル15を動作して環自体を吸着し、それを回転させ
る。
フィーラ18,19は、環11の外面に接触する。接点
33は、機械サイクルに動作する図示しない適当な自動
動作によって開く。従って、いままで短絡されていたコ
ンデンサ32は抵抗31を経て充電される。コンデンサ
32の電圧が、ナンド34の限界値を超えると、ナンド
の出力に低レベル信号(信号0)を生じる。ナンド35
の出力は、レベル1になるので「ユニット26はトリガ
される。コンデンサ32の装荷時間による遅延は、環自
体にフィーラ亀8,亀9が最初に衝接した結果として起
る過渡現象の後にフィーラが環に確実に接触したときに
ユニット25が作動するように予め設定される。
33は、機械サイクルに動作する図示しない適当な自動
動作によって開く。従って、いままで短絡されていたコ
ンデンサ32は抵抗31を経て充電される。コンデンサ
32の電圧が、ナンド34の限界値を超えると、ナンド
の出力に低レベル信号(信号0)を生じる。ナンド35
の出力は、レベル1になるので「ユニット26はトリガ
される。コンデンサ32の装荷時間による遅延は、環自
体にフィーラ亀8,亀9が最初に衝接した結果として起
る過渡現象の後にフィーラが環に確実に接触したときに
ユニット25が作動するように予め設定される。
研削動作の前の加工動作は、加工物に若干の楕円性をあ
たえることが多い。従って、環が回転すれば、この楕円
性はユニット25によって検出される。もしこれに反し
て、加工物が所要の回転をしないときには、ユニット2
6は楕円性は見掛け上存在しないことを検知する。
たえることが多い。従って、環が回転すれば、この楕円
性はユニット25によって検出される。もしこれに反し
て、加工物が所要の回転をしないときには、ユニット2
6は楕円性は見掛け上存在しないことを検知する。
フィーラ18,190は、そのとき機械に対して実質的
に固定した方向について作用し、常に同一直径を計測す
るからである。楕円性の存在または非存在は、加工物が
真に回転しているかどうかを検査する判定基準とされる
。
に固定した方向について作用し、常に同一直径を計測す
るからである。楕円性の存在または非存在は、加工物が
真に回転しているかどうかを検査する判定基準とされる
。
もし加工物が均等に回転しているならば、ユニット25
は〜楕円性(すなわち、加工物の最大および最小直径の
差)を検出して、増幅器37の正入力における電圧が負
入力における電圧よりも高くなるように十分に高い出力
信号を供孫台する。
は〜楕円性(すなわち、加工物の最大および最小直径の
差)を検出して、増幅器37の正入力における電圧が負
入力における電圧よりも高くなるように十分に高い出力
信号を供孫台する。
従って、増幅器37‘まナンド49の入力における信号
1の供給を転換する。そして、ナンド41の出力および
ナンド42の入力(二安定マルチパイプレータ44のセ
ット端子)は、レベル0に達する。それと反対にト二安
定回路44のリセット入力は「 コンデンサ32が充電
されるとしベル1に達する。トランジスタ卒5のベース
に接触された二安定の出力は、レベル1になり、トラン
ジスタ45は導通を開始する。巻線48は付勢され、接
点49を閉じて研削車12の送りに対する同意信号を供
給する。もし、これと反対に、ユニット25が何も楕円
性を検知しないならば「(ポテンショメータ38によっ
て供給される基準電圧を適当に調整することによってそ
の影響を避けられる妨害は別として)二安定回路44の
セット入力はしベル1のま)である。
1の供給を転換する。そして、ナンド41の出力および
ナンド42の入力(二安定マルチパイプレータ44のセ
ット端子)は、レベル0に達する。それと反対にト二安
定回路44のリセット入力は「 コンデンサ32が充電
されるとしベル1に達する。トランジスタ卒5のベース
に接触された二安定の出力は、レベル1になり、トラン
ジスタ45は導通を開始する。巻線48は付勢され、接
点49を閉じて研削車12の送りに対する同意信号を供
給する。もし、これと反対に、ユニット25が何も楕円
性を検知しないならば「(ポテンショメータ38によっ
て供給される基準電圧を適当に調整することによってそ
の影響を避けられる妨害は別として)二安定回路44の
セット入力はしベル1のま)である。
二安定の出力は、レベル0にとどまり、トランジスタ4
5はカット・オフされ、接点49は開かれている。ユニ
ット25の動作は、楕円性が或る時間(恐らく材料除去
の第1段階を含む)に測定されるようにプログラムされ
ている。
5はカット・オフされ、接点49は開かれている。ユニ
ット25の動作は、楕円性が或る時間(恐らく材料除去
の第1段階を含む)に測定されるようにプログラムされ
ている。
二安定回路44の出力における表示は、それぞれの環1
1の加工が終了するまで蓄積される。
1の加工が終了するまで蓄積される。
加工の終了時に、スイッチ33が閉じ、二安定回路44
のリセット端子は0に達し、セット端子は1に達する。
二安定回路の出力は、0に達し、接点49は再び開く。
従って、材料除去(および恐らく第1の材料除去段階に
対し)の前の環11の回転は楕円性計測に基いて制御さ
れる。もし、この回路が研磨車送りに対する了承をあた
えたならば、回転は材料除去率の測定に基いて制御され
る。
のリセット端子は0に達し、セット端子は1に達する。
二安定回路の出力は、0に達し、接点49は再び開く。
従って、材料除去(および恐らく第1の材料除去段階に
対し)の前の環11の回転は楕円性計測に基いて制御さ
れる。もし、この回路が研磨車送りに対する了承をあた
えたならば、回転は材料除去率の測定に基いて制御され
る。
実際において、前記同意の後には、タイオード51のカ
ソードは電圧レベル1に達し、コンデンサ53は充電す
る。
ソードは電圧レベル1に達し、コンデンサ53は充電す
る。
コンデンサ53の電圧が、ナンド55の限界値を超える
と、ナンド55の出力はしベル0に達する。ナンド56
の出力はしベル1になる。コンデンサ53による遅延は
、研磨車12が環11に接触するところまで動くために
必要な時間を考慮に入れて予め設定される。
と、ナンド55の出力はしベル0に達する。ナンド56
の出力はしベル1になる。コンデンサ53による遅延は
、研磨車12が環11に接触するところまで動くために
必要な時間を考慮に入れて予め設定される。
ナンド56に出力における信号1は、材料除去率を計算
するユニット26のタイミング回路28をトリガする。
するユニット26のタイミング回路28をトリガする。
もし、環11が均等に回転するならば、ゼロでない材料
除去率が検知され、演算増幅器70の正入力における電
圧は負入力における電圧を超えるので増幅器70はスイ
ッチを切換えてトランジスタ67のベースに信号1をあ
たえる。トランジスタ67は、導通を開始し、そのェミ
ッ夕電流は巻線63を付勢して接点を閉じた状態に保持
する。
除去率が検知され、演算増幅器70の正入力における電
圧は負入力における電圧を超えるので増幅器70はスイ
ッチを切換えてトランジスタ67のベースに信号1をあ
たえる。トランジスタ67は、導通を開始し、そのェミ
ッ夕電流は巻線63を付勢して接点を閉じた状態に保持
する。
この同意によって加工サイクルが続けられる。もし、そ
の反対に、環11が回転しないならば、ユニット26は
ゼロに等しい材料除去率を検出する。
の反対に、環11が回転しないならば、ユニット26は
ゼロに等しい材料除去率を検出する。
(ポテンショメータ74によって供給される基準電圧を
適当に調整することによってその影響を避けることがで
きる妨害は別とする。)トランジスタ67はスイッチ・
オフとなる。ユニット26は材料除去率の計測を終る以
前の経過時間中に、(これは短かいけれども、ユニット
26がトリガされた後にときに生じる)、接点64はト
ランジスタ61のコレクタ電流によって閉じられ、接点
49がその同意をあたえる限り、砥石車を前進させるよ
うにする。
適当に調整することによってその影響を避けることがで
きる妨害は別とする。)トランジスタ67はスイッチ・
オフとなる。ユニット26は材料除去率の計測を終る以
前の経過時間中に、(これは短かいけれども、ユニット
26がトリガされた後にときに生じる)、接点64はト
ランジスタ61のコレクタ電流によって閉じられ、接点
49がその同意をあたえる限り、砥石車を前進させるよ
うにする。
トランジスタ61の状態は、二安定回路57によって制
御される。開始時において、コンデンサ53の電圧はし
ベル・ゼロにあり、ユニット26はまだ材料除去率を計
算するためにトリガされていないで、二安定のセットは
タイミング回路28から信号1を受ける。従って、二安
定回路57の出力はしベル1であって、トランジスタ6
1は導通し、接点64は閉じる。
御される。開始時において、コンデンサ53の電圧はし
ベル・ゼロにあり、ユニット26はまだ材料除去率を計
算するためにトリガされていないで、二安定のセットは
タイミング回路28から信号1を受ける。従って、二安
定回路57の出力はしベル1であって、トランジスタ6
1は導通し、接点64は閉じる。
コンデンサ53の電圧がレベル1に達すると、二安定の
セット、リセットおよび出力はすべてレベル1となる。
セット、リセットおよび出力はすべてレベル1となる。
ユニット26が材料除去率の値を計算するために必要と
する時間が経過した後に、タイミング回路28は二安定
回路57のセットをレベル0とする。そして、二安定回
路57の出力がレベル0に達し、トランジスタ61は導
通をやめ、接点64の位置はトランジスタ67のベース
における信号に依存する。前に述べたように、加工物の
回転の検査は材料除去段階において楕円性を計算するた
めの唯一の回路によって実施される。
する時間が経過した後に、タイミング回路28は二安定
回路57のセットをレベル0とする。そして、二安定回
路57の出力がレベル0に達し、トランジスタ61は導
通をやめ、接点64の位置はトランジスタ67のベース
における信号に依存する。前に述べたように、加工物の
回転の検査は材料除去段階において楕円性を計算するた
めの唯一の回路によって実施される。
但し、最終の段階(仕上げおよび無火花段階)を除く。
何となればこれらの段階では楕円性はなくなるからであ
る。或る場合にはユニット26に関連する回路によって
材料除去段階だけの回転を検査することが望ましいこと
もある。本発明の他の変形によれば、ユニット25は帯
城フィルタ回路によって置きかえることができる。
何となればこれらの段階では楕円性はなくなるからであ
る。或る場合にはユニット26に関連する回路によって
材料除去段階だけの回転を検査することが望ましいこと
もある。本発明の他の変形によれば、ユニット25は帯
城フィルタ回路によって置きかえることができる。
ユニット25に関連した第2図の装置のその他の部品は
、実質的に変更はない。このように変形された装置の動
作は、下記の考察に基いている。環11がフィーラ18
,19に接触して回転しているときには、加工サイクル
の開始時および加工サイクル中の両方において、加工物
の粗雑なまたは加工された表面に対するこれらのフィー
ラの摩擦によって高い振動数の機械的振動を生じる。
、実質的に変更はない。このように変形された装置の動
作は、下記の考察に基いている。環11がフィーラ18
,19に接触して回転しているときには、加工サイクル
の開始時および加工サイクル中の両方において、加工物
の粗雑なまたは加工された表面に対するこれらのフィー
ラの摩擦によって高い振動数の機械的振動を生じる。
これらのフィーラ18,19は機械的振動は、装置29
により電気的振動として検出される。環11の直径測定
に関して、前記の振動は、その測定値を示す信号の周波
数に比較して高い周波数を持っていて、或る妨害を代表
し、これは低域フィル外こよって除去される。本発明に
よれば、これらの高周波数の振動の存在または非存在は
、環11が回転しているか否かを評定する判断基準とさ
れる。
により電気的振動として検出される。環11の直径測定
に関して、前記の振動は、その測定値を示す信号の周波
数に比較して高い周波数を持っていて、或る妨害を代表
し、これは低域フィル外こよって除去される。本発明に
よれば、これらの高周波数の振動の存在または非存在は
、環11が回転しているか否かを評定する判断基準とさ
れる。
この目的のために、装置29によって検出された電気的
信号は、装置25を置きかえた帯域フィルタ回路に直接
送給されて、前記高周波振動を電子的に検出してそれら
の振幅に比例する信号を出力にあたえるようにする。
信号は、装置25を置きかえた帯域フィルタ回路に直接
送給されて、前記高周波振動を電子的に検出してそれら
の振幅に比例する信号を出力にあたえるようにする。
かような振動の周波数は加工物の回転速度によっている
ので、フィル夕のカット・オフ周波数を適当に調整する
ことによって、加工物が希望値から非常に異なった速度
で回転しているときにおいても停止信号または警報信号
を生ずることが可能である。
ので、フィル夕のカット・オフ周波数を適当に調整する
ことによって、加工物が希望値から非常に異なった速度
で回転しているときにおいても停止信号または警報信号
を生ずることが可能である。
加工物の楕円性および、または材料除去によって装置2
9の出力信号内の生ずる振動の周波数を検知する周波数
計によってユニット25,26を置きかえ、またはそれ
らに関連せしめ、かつ停止または警報回路を制御するこ
とによって前記と同様の結果を達成することができる。
すでに述べたもの以外にその他多くの変形および変化は
、本発明の要旨を離脱することなく、上記方法および装
置に対して実施することができることは明白である。
9の出力信号内の生ずる振動の周波数を検知する周波数
計によってユニット25,26を置きかえ、またはそれ
らに関連せしめ、かつ停止または警報回路を制御するこ
とによって前記と同様の結果を達成することができる。
すでに述べたもの以外にその他多くの変形および変化は
、本発明の要旨を離脱することなく、上記方法および装
置に対して実施することができることは明白である。
本発明は、次のような態様で実施することができる。
1 寸法変動の測定値に応答する前記信号は、或る時間
において、前記測定信号から検出されることのできる前
記加工物の最大寸法と最小寸法との差であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項による方法。
において、前記測定信号から検出されることのできる前
記加工物の最大寸法と最小寸法との差であることを特徴
とする特許請求の範囲第1項による方法。
2 寸法変動の測定値に応答する前記信号は、前記測定
信号から計算された材料除去率の示度で3あることを特
徴とする特許請求の範囲第1項による方法。
信号から計算された材料除去率の示度で3あることを特
徴とする特許請求の範囲第1項による方法。
3 前記変動値は、加工物の回転によって生ずる機械的
振動による前記測定信号の変化に依存する大きさである
ことを特徴とする特許請求の範3囲第1項による方法。
振動による前記測定信号の変化に依存する大きさである
ことを特徴とする特許請求の範3囲第1項による方法。
4 前記処理装置は、加工物の回転運動の結果としてそ
の表面に沿って検出された測定信号を処理することによ
って前記加工物の形状誤差を検査するための自身周知の
ユニットを含み、前記4遅延およびタイミング装置は前
記加工物上の測定位置に向って測定装置が移動するにと
もなう可能な過度現象の終了を確認するに十分の遅延を
もって前記ユニットをトリガさせ、前記比較装置は前記
ユニットの出力信号のレベルの結果としてオン・オフ形
式の信号を前記同意装置にあたえるようにしたことを特
徴とする特許請求の範囲第2項による装置。5 前記処
理装置は加工されつつある加工物からの材料除去率を計
算するための自身周知のユニットを含み、前記遅延およ
びタィミン装置は研磨車が加工物に実際に接触した後に
前記ユニットをトリガするようにされ、前記比較装置は
オン・オフ出力を持つ形式であることを特徴とする特許
請求の範囲第2項による装置。
の表面に沿って検出された測定信号を処理することによ
って前記加工物の形状誤差を検査するための自身周知の
ユニットを含み、前記4遅延およびタイミング装置は前
記加工物上の測定位置に向って測定装置が移動するにと
もなう可能な過度現象の終了を確認するに十分の遅延を
もって前記ユニットをトリガさせ、前記比較装置は前記
ユニットの出力信号のレベルの結果としてオン・オフ形
式の信号を前記同意装置にあたえるようにしたことを特
徴とする特許請求の範囲第2項による装置。5 前記処
理装置は加工されつつある加工物からの材料除去率を計
算するための自身周知のユニットを含み、前記遅延およ
びタィミン装置は研磨車が加工物に実際に接触した後に
前記ユニットをトリガするようにされ、前記比較装置は
オン・オフ出力を持つ形式であることを特徴とする特許
請求の範囲第2項による装置。
6 前記処理装置は、前記測定信号をフィターして、加
工物回転により加工物と測定装置との間に相対運動が存
在することに困る振動を検出するようにした帯城フィル
タ回路を含むことを特徴とする特許請求の範囲第2項に
よる装置。
工物回転により加工物と測定装置との間に相対運動が存
在することに困る振動を検出するようにした帯城フィル
タ回路を含むことを特徴とする特許請求の範囲第2項に
よる装置。
7 材料除去率を計算するように前記ユニットをトリガ
するようにした前記遅延およびタイミング装置の入力は
、形状誤差を計算するための前記ユニットの出力信号の
結果として加工サイクルを続行させるようにした或る同
意素子に関連した回路に接続されることを特徴とする特
許請求の範囲第2項または前掲第4項または第5項によ
る装置。
するようにした前記遅延およびタイミング装置の入力は
、形状誤差を計算するための前記ユニットの出力信号の
結果として加工サイクルを続行させるようにした或る同
意素子に関連した回路に接続されることを特徴とする特
許請求の範囲第2項または前掲第4項または第5項によ
る装置。
第1図、本発明の装置ではないが、摺動シュウの上に戦
っている加工物が電子ゲージによって測定されるように
した外側グラィンダを部分的に示す図、第2図は、本発
明により構成され、第1図に示す形式のグラィンダに適
用するために特に適する装置の配線図、第3図は第1お
よび第2の電気ユニットの回路の詳細を示したブロック
図である。 11……環(加工物)、12・・・…研磨車、13,1
4……シユウ、15……スピンドル、17..….電子
ゲージ測定頭部、18,19・・・・・・フィーラ、2
1…・・・揺動支持体、23・・・・・・スライド、2
5,26……電気ユニット、27・・・…処理回路、2
8・・・・・・タイミング回路、29・・・・・・電気
装置、31・・・・・・抵抗、32・・・・・・コンデ
ンサ、33・・…・スイッチ、34,35・・・・・・
ナンド(NAND)、36...・・・抵抗、37・・
・・・・演算増幅器、38・・・・・・ポテンショメー
タ、39,40・・・・・・抵抗、41,42,43…
…ナンド、44……二安定回路、45……NPNトラン
ジスタ、47・・・・・・抑制ダイオード、48・・・
・・・リレー巻線、49・・・・・・リレー接点、51
・・・・・・減結合ダイオード、52・・・・・・抵抗
、53・・・・・・コンデンサ、55,56,58,5
9……ナンド、57・・・・・・二安定回路、61・・
・・・・NPNトランジスタ、62…・・・ダイオード
、63・・・・・・リレー巻線、64・・・・・・リレ
ー接点、65・…・・抑制ダイオード、67・・・・・
・NPNトランジスタ、68・・…・ダイオード、70
・・・・・・演算増幅器、71,72,75・・・・・
・抵抗、74・・・・・・ポテンショメー夕。 riG.2「16.3 riG.l
っている加工物が電子ゲージによって測定されるように
した外側グラィンダを部分的に示す図、第2図は、本発
明により構成され、第1図に示す形式のグラィンダに適
用するために特に適する装置の配線図、第3図は第1お
よび第2の電気ユニットの回路の詳細を示したブロック
図である。 11……環(加工物)、12・・・…研磨車、13,1
4……シユウ、15……スピンドル、17..….電子
ゲージ測定頭部、18,19・・・・・・フィーラ、2
1…・・・揺動支持体、23・・・・・・スライド、2
5,26……電気ユニット、27・・・…処理回路、2
8・・・・・・タイミング回路、29・・・・・・電気
装置、31・・・・・・抵抗、32・・・・・・コンデ
ンサ、33・・…・スイッチ、34,35・・・・・・
ナンド(NAND)、36...・・・抵抗、37・・
・・・・演算増幅器、38・・・・・・ポテンショメー
タ、39,40・・・・・・抵抗、41,42,43…
…ナンド、44……二安定回路、45……NPNトラン
ジスタ、47・・・・・・抑制ダイオード、48・・・
・・・リレー巻線、49・・・・・・リレー接点、51
・・・・・・減結合ダイオード、52・・・・・・抵抗
、53・・・・・・コンデンサ、55,56,58,5
9……ナンド、57・・・・・・二安定回路、61・・
・・・・NPNトランジスタ、62…・・・ダイオード
、63・・・・・・リレー巻線、64・・・・・・リレ
ー接点、65・…・・抑制ダイオード、67・・・・・
・NPNトランジスタ、68・・…・ダイオード、70
・・・・・・演算増幅器、71,72,75・・・・・
・抵抗、74・・・・・・ポテンショメー夕。 riG.2「16.3 riG.l
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 シユー13,14によつて支えられた被加工物11
をスピンドル15で回転駆動し、被加工物の削り代を砥
石車12で研削加工し、加工中の被加工物の直径を計測
して直径に対応する第1の信号を出力し、この第1の信
号の最大値と最小値との差から被加工物の真円度に対応
した第2の信号を出力し、さらに加工中の被加工物の一
定時間経過後における直径の減少量から被加工物の材料
除去率に対応した第3の信号を出力し、前記第2の信号
と基準信号とを比較して得られた出力信号を第4の信号
としてとり出す一方、前記第3の信号と基準信号とを比
較して得られた出力信号を第5の信号として別個にとり
出し、この第4および第5の信号から被加工物が均一に
回転しているかどうかを判別するようにしたことを特徴
とする円筒研削盤における被加工物の回転を検査する方
法。 2 被加工物11を研削する砥石車12と、上記被加工
物11を回転可能に支承するシユー13,14と、上記
被加工物11を回転するスピンドル15と、サイクル制
御手段と、被加工物を計測するために回転中に計測位置
におかれ被加工物の直径に対応した第1の信号を発生さ
せる測定装置17,29と、この第1の信号の最大値と
最小値とを検出し、被加工物の真円度に対応する第2の
信号を発生させるように前記信号を処理する第1の電気
ユニツト25と、被加工物の加工中、一定時間経過後に
おける直径の減少量に対応する信号を検出し、被加工物
の材料除去率を示した第3の信号を出力する第2の電気
ユニツト26と、前記第1および第2の電気ユニツトに
接続され、前記第2の信号と第3の信号のそれぞれを基
準信号と比較する比較装置37,70と、前記第1およ
び第2の電気ユニツトに接続され、加工中の所定の段階
で前記第1おぐび第2の電気ユニツトをトリガーし、回
転の均一度を検出する遅延およびタイミング装置31,
32,33と、前記比較装置37,70に接続され、被
加工物の規則的な回転の有無を示した信号によつて接点
を開閉するリレー接点49,64とを備えたことを特徴
とする、グラインダ加工中の被加工物の回転を検査する
装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| IT341273A IT985052B (it) | 1973-05-25 | 1973-05-25 | Metodo e relativa apparecchiatura per il controllo della rotazione di pezzi meccanici in lavorazione su rettificatrici |
| IT3412A/73 | 1973-05-25 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5069693A JPS5069693A (ja) | 1975-06-10 |
| JPS6020140B2 true JPS6020140B2 (ja) | 1985-05-20 |
Family
ID=11106741
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5923674A Expired JPS6020140B2 (ja) | 1973-05-25 | 1974-05-25 | グラインダ加工中の加工物の回転を検査する方法および装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6020140B2 (ja) |
| DE (1) | DE2425209C2 (ja) |
| IT (1) | IT985052B (ja) |
| SE (1) | SE406725B (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS51140293A (en) * | 1975-05-29 | 1976-12-03 | Koyo Seiko Co Ltd | Apparatus for detecting rotation and stoppage of work piece |
| FR2460040A1 (fr) * | 1979-06-22 | 1981-01-16 | Thomson Csf | Procede pour realiser une diode schottky a tenue en tension amelioree |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1383242A (en) * | 1971-01-20 | 1975-02-05 | Possati M Apperecci Elettronic | Apparatus for measuring the speed of removal of swarf in a grinding machine |
-
1973
- 1973-05-25 IT IT341273A patent/IT985052B/it active
-
1974
- 1974-05-17 SE SE7406606A patent/SE406725B/xx not_active IP Right Cessation
- 1974-05-24 DE DE19742425209 patent/DE2425209C2/de not_active Expired
- 1974-05-25 JP JP5923674A patent/JPS6020140B2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE2425209A1 (de) | 1974-12-12 |
| DE2425209C2 (de) | 1986-01-16 |
| SE406725B (sv) | 1979-02-26 |
| JPS5069693A (ja) | 1975-06-10 |
| IT985052B (it) | 1974-11-30 |
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