JPS60202414A - カメラの焦点検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は電荷蓄積型（積分型）ホトセンサアレイを用い
たカメラの焦点検出装置に関する。

従来技術 撮影レンズによって形成ざれる被写界の像を映像信号に
変換し、この映像信号を解析して焦点検出を行う方法が
ある。第１図はそのような方法の一つを示す。Ｌｎは撮
影レンズ、Ｆはフイルム等Ｒｅ 価面、，シ七はコンデンサレンズでｚ，ｚ’は結像レＲ
ｅ ンズであって、コンデンサレンズを士と結像レンズ１．
１’によってフイルム等価面Ｆの像をイメージセンサＩ
，Ｉ’上に形成する。結像レンズｌ，ｌ’は撮影レンズ
Ｌｎの光軸と直交する線上に光軸に関して対称的に配置
されており、フイルム等価面上のＡ，Ｂの範囲をイメー
ジセンサＩ，Ｉ’上に夫々Ａ′『及びＡ′ＩＢ！Ｉとし
て結像する。そこで、被写体の像がフイルム等価面Ｆ上
に形成されている、即ち合焦時にはイメージセンサＩ，
Ｉ’におけるＡ′Ｂ′とＮ′Ｖの各範囲には被写体の同
じ像が形成されている。そこでイメージセンサＬ１！ｌ
こよって得られる映像信号の対応点をずらせながら、両
信号の相互相関をめると、合焦時ＣこはＮ点とκ点Ｂ／
点とＢ点とが対応する関係で相互相関をとった場合に相
関が最大値を示す。逆に云えば、イメージセンサＩ，Ｉ
’によって得られる二つの映像信号をずらせながら相互
相関を調べて、ＮとＮ′が対応する関係での相関が最犬
になれば合焦と判定できる。

コノ方法は既に公知であるから、こ＼ではこの方法につ
いてのより詳細な説明は省き、この方法を用いた従来の
焦点検出装置の問題点を説明する。

この問題はイメージセンサＩ，Ｉ’として前述した積分
型のホトセンサアレイ（．ＣＣＤ素子等）を用いる場合
の暗電流（以下暗出力と云う）に起因している。この暗
出力の値はホトセンサアレイの各受光素子毎に異ってお
り、各素子の光電出力はこの暗出力に入射光の強さに応
じた電流値を上乗せしたものであるから、暗出力はホト
センサアレイによって得られる映像信号内で雑音を形成
している。被写体が或る程度以上明るいときは暗出力に
よる雑音は相対的に小さく無視できるが、被写体が暗く
なってホトセンサアレイの出力中の映像信号成分と暗出
力成分とが同程度Ｉこなって来ると、二つの映像信号の
相関をめるとき、相関が得られず焦点検出ができなかっ
たり、誤った相関が得られて焦点の誤検出がなされるよ
うになる。

上述したようなホトセンサアレイの暗出力問題の対策と
しては、特開昭５７−１６１７１３号に記載ざれた提案
がある。この提案はホ１・センサアレイの各受光素子の
暗出力の値を予め測定して記憶しておき、補正演算を行
うもので、暗出力の値を測定する方法として、第１図に
示すような構成で、イメージセンサの前方に遮光板を挿
入して暗出力を測定する方法、積分型のホトセンサアレ
イで積分開始の略瞬間の出力を測定する方法の二つを提
案しており、また装置組立の際一度だけ暗出力のデータ
を採取しておいて不揮発性メモリに格納しておき、以後
実際の撮影時にはそのデータを用いると云う提案を行っ
ている。上記公開公報における提案は上記３点に要約さ
れるが、まず装置組立の際一度だけ暗出力のデータを採
取して、以後そのデータを用いて補正すると云う方法は
撮影の際一々遮光板を操作する必要がないと云う利点は
あっても、暗出力特性は温度によってもまた経時的にも
変動するので、正しい補正が行われない。

また積分開始時の出力を暗出力のデータとして用いるの
は、暗出力のばらつきの原因がホトセンサアレイの各受
光素子毎の出力回路の特性のばらつきにあるとの前提に
立ったもので、受光素子そのものの暗時特性のばらつき
を考慮していない。特に土記提案はホトセンサアレイの
積分時間を被写体の明るさに関せず一定に採るものとし
て装置を構成しているが、実際には焦点検出はホトセン
サアレイ上での平均的な照度が常に一定であるとして行
うのが望ましいから、ホトセンサアレイの積分時間は被
写体の明るさに応じて変えている。従って撮影毎に暗出
力のデータを採取する場合、被写体が暗いと暗出力のデ
ータ採取のための積分時間も焦点検出時の積分時間と同
じたけ採らねばならないから、焦点検出の動作が全体と
して大へん長くなり、撮影動作上不都合となる。上記提
案はこの点についての配慮を欠いている。

目的 本発明はホトセンサアレイの暗出力データ採取時の積分
時間を一定にして、被写体が暗いときの暗出力データの
採取に時間がか＼り過ぎないよう１こすることを目的と
している。

構成 本発明は、カメラの露光動作中は焦点検出動作を行わな
いこと及び露光動作には一眼レフレツクスミラーの上昇
等の機構部分の動作に要する時間が含まれ、露光時間の
長短に係りなく、少くとも機構部分の動作に要する時間
は確保できることに着眼して、この露光動作中に一定時
間を設定してホトセンサアレイの暗出力の積分を行って
、得られた暗出力のデータをメモリし、次回の撮影にそ
のデータを用いて補正演算を行うようにすると共に、補
正演算に当っては、焦点検出動作時のホトセンサアレイ
の積分時間に応じて記憶された暗出力テータに係数を掛
けて用いるようにした点に特徴を有する。

実施例 第２図は本発明の一実施例のカメラである。Ｌｎは撮影
レンズ、Ｍは一眼レフレツ〃スミラー、ｍは同ミラーの
背面に取付けられたサブミラーであり、撮影レンズの光
軸を下方へ折曲して、撮影レンズ透過光の一部をイメー
ジセンサＩ，Ｉ’へ導’？−ｅ いている。６吃はコンデンサレンズ、ｌ，ｌ’は結像レ
ンズで、これらはイメージセンサＩ，Ｉ’と共に第１図
に示した焦点検出装置の光学系を構成している。結像レ
ンズｅ，ｅ’及びイメージセンサ■，■′は図の紙面に
直角の方向に並んでいる。Ｓはシャッターで、カメラ暗
箱の下底面の窓Ｗを開閉して、イメージセンサＩ，Ｉ’
への撮影レンズ透過光の入射遮断を行う。このシャッタ
ーは一眼レフレツクスミラーＭと機構的に連動させてあ
って、一眼レフレツクスミラーＭが上るのと連動して窓
Ｗを閉じるようになっており、一眼レフレツクスミラー
が上っている間、イメージセンサー，Ｉ’への光の入射
を遮断し、この間に前述した暗電流のデータを採取する
。ミラーＭとシャッターＳとの連ｌｌ 動機構は第今図に示され、説明は後述する。

第３図Ａは上述のイメージセンサーＩ，Ｉ’を含む九電
変換部１０を示したもので、フォトダイオード列Ｐ１，
Ｐ２，Ｐ３・・・・Ｐｎ−２，Ｐｎ−１，Ｐｎから成る
ホトセンサーアレイＰＡ，積分クリアゲー｝Ｇｌ，シフ
トゲートＧ２，ＣＣＤシフトレジスタＳＲ等により構成
されている。ここで、転送部であるＣＣＤシフトレジス
タＳＲのセル数は光電流積分（電荷蓄積）部であるホト
センサーアレイＰＡのフオトダイオード数（画素数）よ
りも３個多く、セルＲｌ，Ｒ２，Ｒ３は後述の空送り用
であり、ホトセンサーアレイＰＡの各フオトダイオード
ＰＬ，Ｐ２，Ｐ３，・Ｐ（ｎ−２ＬＰ（ｎ−４），Ｐｎ
の蓄積電荷はセ７１／Ｒ４，Ｒ５，Ｒ６・・・・Ｒ（ｎ
＋１），ＲＣｎ＋２），Ｒｃｎ＋３に転送される。各フ
ォトダイオードは、第３図Ｂに示したように、電源＋Ｖ
に対して積分クリアゲートＧｌに相当するスイッチＳを
介して互に並列接続された一対のダイオードＤＩ，Ｄ２
とＦＥＴＱＩＯから収り、一万のダイオードＤｉが光を
受けるように設置されている。ＦＥＴＱＩＯはダイオー
ドＤｌの両端の電圧を略一定に保チ、タイオードＤＩの
容量分を無視できように設けたもので、そのゲートは接
地されている。今、スイッチＳが閉じるとダイオードＤ
２のアノード、カソード間に電荷が蓄積され、そのアノ
ード電圧は電源電圧に等しくなる。そして、次にスイッ
チＳが開かれると、ダイオードＤ２はダイオードＤＩの
光電流によってＦＥＴＱＩＯを介して放電し、そのアノ
ード電圧は時間の経過と共に降下する。すなわち、光電
流積分が行われるが、これはダイオードＤ１に入射する
光の強度に応じた速度でダイオードＤ２のカソードに負
の電荷が蓄積されると考えてよ＜、シたがって、各フォ
トダイオードは入射光強度に応じた速度で、電荷の蓄積
を行うものとして説明する。

上記スイッチＳ／は実際には積分クリアゲートＧ１に入
力される積分クリア信号ＩＣＧによって導通し、そのパ
ルスが消滅すると不導通となる半導体アナログスイッチ
で構成される。シフトゲー｝ＳＧはフォトダイオードＰ
Ｌ，Ｐ２，Ｐ３・・・・Ｐ（ｎ−２），Ｐ（ｎ−１），
Ｐｎの蓄積電荷を後述のシフトパルスを受けてＣＣＤシ
フトレジスタＳＲのセルＲ４，Ｒ５，Ｒ６，−・ＲＣｎ
＋ＩＬＲＣｎ−２），ＲＣｎ＋３）に並列的に転送する
。

フオトダイオードＰＬ，Ｐ２，−Ｐ３−Ｐ（ｎ−２）ｐ
（ｎ−１），Ｐｎの光電流積分つまり電荷蓄積はシフト
パルス５Ｈのシフトゲー｝Ｇ２への入力によって終了す
る。又、ＣＣＤシフトレジスタＳＲは後述のセンサー駆
動パルス（転送パルス）φｌ，φ２が入力される毎に、
転送クロツクパルスφｌの立下りで１セル分の蓄積電荷
を順次後述の映像信号出力回路へ出力する。なお、ホト
センサーアレイＰＡの一端から教えて所定個１０個のフ
ォトダイオードＰ１＋Ｐ２ｌ・・・ＰＬＯはアルミニウ
ム膜で覆われており、後述のように暗出力補正用として
用いられる。第３図のＴ８，Ｔ９は上述のホトセンサー
アレイＰＡ，回路ＭＣ，ＲＳ，ＶＳに電源＋Ｖを供給す
るための電源端子である。

次に、ＭＰは輝度モニター用の受光素子であるフォトダ
イオード、ＭＣは輝度モニター回路、ＲＳは基準信号発
生回路、ＶＳは映像信号出力回路でこれらも光電変換部
１０を構成している。輝度モニター回路ＭＣはＦＥＴＱ
ｌｊＱｚ，Ｑ．３とコンデンサー０１から成る。ＦＥＴ
ＱＩはそのゲートが上記ホトセンサーの積分クリアゲー
トＧｌｌこ接続されており、その積分クリアゲー｝Ｇｌ
を通過した積分クリアパルスＩＣＧによって導通し、こ
れによりコンデンサーＣ１が電源電圧＋Ｖのレベルまで
充電される。ＦＥＴＱ１とコンデンサＣ１の接続点Ｊ１
はＥＦＴＱ１２を介してフオトダイオードＭＰのアノー
ドに接続される一万、ＦＥＴＱ２のゲートに接続されて
いる。ＦＥＴＱ１２はゲートが接地されており、フォト
ダイオードＭＰの両端の電圧を略一定に保ち、その容量
分の影響を無視することができるように設けられている
。

ＦＥＴＱ２１Ｑ３は電源に対して互に直列接続され、出
力インピーダンスが低《、入力インピーダンスの高いバ
ツファを構成しており、ＦＥＴＱ３はソースフオロアー
で用いられているため、ＦＥＴＱ２，Ｑ３の接続点から
引出された出力端子Ｔ１からは、接続点Ｊ１の電位に対
応した電圧ＡＧＣＯＳが出力される。上記積分クリアパ
ルスＩＣＧが消滅するとＦＥＴＱＩは不導通となり、コ
ンデンサＣＩはフォトダイオードＭＰの光電流によって
放電され、それに応じて端子Ｔ１の出力電圧が降下する
。第３図Ｃはこの端子Ｔ１の出力電圧の時間的変化を示
したものであり、（ｆｌ）（ｊ’ｚ）Ｃｌ３）（１４）
ＣＩ！５）は輝度によって電圧降下の速度が変化するこ
とを示している。ＲＮで示す立上りは、積分クリアパル
スＩＣＧによる誘導ノイズを表わす。

基準電圧発生回路ＲＳは、ＦＥＴＱ４，Ｑ５１Ｑ６及び
コンデンサＣ２とから成るが、これらは上述のＦＥＴＱ
ｉ，Ｑ２，Ｑ３及びコンデンサＣ１と夫々同じ特性を備
えており、その回路接続も輝度モニター回路ＭＣにおけ
るＦＥＴＱｉ，Ｑｚ，Ｑ３及びコンデンサＣＩの回路接
続と同じである。

但し、ＦＥＴＱ４とコンデンサＣ２の接続点Ｊ２にはＦ
ＥＴＱ５のゲートが接続されているだけであり、したが
って、ＦＥＴＱ２，Ｑ３と同様に出力インピーダンスが
低《、入力インピーダンスが高いバツファを構成してい
るＦＥＴＱ５，Ｑ６の接続点から引出した出力端子Ｔ２
から出力される電圧信号は積分クリアパルスＩＣＧの消
滅後も一定に保たれる。すなわち、積分クリアパルスの
消滅直後ＴＯにおける接続点Ｊｌ，Ｊ２の電位は上述の
ようにＦＥＴＱＩ，Ｑ２，Ｑ３及びコンデンサＣＩとＦ
ＥＴＱ４，Ｑ５，Ｑ６及びコンデンサＣ２の特性が夫々
同じであることから互に等しいので、端子Ｔ２から出力
される電圧信号は端子Ｔ１から出力される電圧信号の降
下量をめるための基準電圧（ＤＯＳ）として用いること
ができる。

映像信号出力回路ｖＳは、ＦＥＴＱ７，Ｑ８，Ｑ９及び
コンデンサＣ３から成り、好ましくは、これらにもＦＥ
ＴＱＩ，Ｑ２，Ｑ３及びコンデンｆｃｌと夫々同じ特性
のものを用いる。但し、回路接続においては、ＦＥＴＱ
７のゲートにはセンサー駆動パルスφ１が印加されるよ
うになっており、又、ＦＥＴＱ７とコンデンサＣ３の接
続点Ｊ３はＦＥＴＱ８のゲート及びホトセンサーのＣＣ
ＤシフトレジスタＳＲの転送端子に接続されている。こ
のため、１個のセンサー駆動パルスφｌが入力される毎
にＦＥＴＱ７が導通してコンデンサＣ３は電源電圧＋Ｖ
のレベルまで充電され、映像信号出力回路ｖＳがリセッ
トされるが、その各センサー駆動パルスφ１により転送
されるＣＣＤシフトレジスタＳＲの蓄積電荷に応じて繰
返して放電し、結局、低出力インピーダンス高入力イン
ピーダンスのバツファを構成しているＦＥＴＱ８とＱ９
の接続点から引出された出力端子Ｔ３からは、ホトセン
サーアレイＰＡの画素である各フォトダイオードの蓄積
電荷に対応した出力が順次電圧信号ＯＳとして出力され
、それらが全体で映像信号を形成するっ なお、上述の回路ＭＣ，ＲＳ，ＶＳにおけるＣＩ，Ｃ２
，Ｃ３は説明の便宜上コンデンサであるとして説明した
が、ダイオードのＰＮ接合に置換えることができ、これ
らの回路を集積化する場合には、夫々ダイオードとして
製作する。又、モニター用受光素子であるフォトダイオ
ードＭＰはイメージセンサーアレイＰＡの近傍に撮影レ
ンズを通過した光の一部を受光するように配置される。

本実施例ではユニット数（画素数）１２８個のホトセン
サアレイＰＡを用い、このユニット配列をｉｎ中テ分け
て、前半を第１図のイメージセンサ■とし、後半をイメ
ージセンサ■′として用いている。

映像信号を解析して焦点検出を行うためには、まず映像
信号をメモリに格納する必要がある。被写体の輝度は対
象物によりまた場合によって大幅に変化するが、メモリ
に格納するためには、映像信号の各画素のデータＣホト
センサアレイの一ユニットの出力）が一定バイト数の範
囲内に収まる必要があり、従って測光系の感度を被写体
の平均輝度に応じて変化きる。測光系の感度は積分型ホ
トセンサアレイの場合、積分時間を変えることで変化さ
せることができる。しかし積分時間が余り長くなると手
ぶれの影響でカメラがねらう被写体が一定せず焦点検出
ができなくなるので、この実施例では積分時間の長い方
の限度を１００ｍＳとした。そして被写体が暗くて１０
０ｍＳ以上の積分時間を必要とする場合には１００ｍＳ
の積分時間でめた映像信号に倍率を掛けて、所要の積分
時間を採って測光したのと等価な映像信号を得るように
している。こ＼で倍率を掛けるのに、この実施例ではホ
トセンサアレイとＡ／Ｄ変換器との間に可変利得アンプ
を挿入し、その利得を積分所用時間が１００ｍＳ以上２
００ｍＳまでは１倍、２００〜４００ｍＳでは２倍と云
うように切換え、８倍まで切換え可能とし、積分所要時
間が８００ｍＳ以上となるような暗い被写体に対しては
８倍になる。

他方暗出力測定の場合の積分時間は、本発明では暗出力
測定を一眼レフレックスミラーが上っている間に行うの
で、機構部の動作所要時間から規制され、５０ｍＳに採
っている。暗出力補正のためには、暗出力測定時の積分
時間を焦点検出時の積分時間と一致させる必要がある。

そこで、この暗出力測定データに焦点検出時の積分所要
時間に相当する倍率を掛けて補正演算を行う。例えば焦
点検出時の積分所要時間が２００、〜４００ｍＳの場合
、焦点検出時には１００ｍＳの積分時間で可変利得アン
プの利得を２倍としているから、等価積分時間は２００
ｍＳである。他万こ＼に述べる実施例の場合、暗出力測
定時、ホトセンサアレイは遮光されているので、制御回
路は被写体が暗いと判断して可変利得アンプの利得を自
動的に最大の８倍に設定されるので、暗出力の測定は５
０ｍＳｘ８−４００ｍｓの積分時間を掛けたのと等価に
なっている。従って焦点検出時の積分所要時間が２００
〜４００ｍＳの場合、暗出力測定データは１／２を掛算
して補正演算に用いるようになっている。

第４図はこの実施例におけるホトセンサアレイノ各ユニ
ットの機能分担を示すマップである。ユニットは１番か
ら１２８番まであり、３１番目がら５７番目までの２７
ユニットが第１図のイメージセンサ■に相当し、８０番
目から１１４番目までの３５ユニットがＩ′に相当して
いる。Ｉ′相当部分の方がユニット数が多いのは、二つ
の映像信号を一画素分ずつずらせて相関をめるので、ま
ずＩ′の８０〜１０６番目の各ユニットと各ユニットと
を対比し、次にＩ′の８１〜１０７番目のユニットにつ
いて同じことを行う、と云うようにして最後にＩ物８７
〜１１４番目とＩの各ユニットとを対比すると云う操作
を行うからである。各ユニット中１〜３番目は空送りユ
ニットであり、４番から１５番目の半分まではアルミ蒸
着によって遮光マスクがしてあり光は完全蟇こ入射せず
、アルミ蒸着によって電気的特性も若干変化している。

第５図は横軸のスケールを第４図の横方向の長さと対応
させて、ホトセンサアレイの各ユニットの出力を一定の
基準電圧から差引いた減算一マキ易池カを示したもので
、ホトセンサアレイから続出した信号の形を表わしてい
る。第５図アは暗出力測定時の減算回路４の出カで空送
り部は出カｏ１アルミ蒸着を施した部分は低い一定値を
示し、残りの部分は各ユニットの暗出力特性の差異によ
って出力が上下している。第５図イはアのデータからア
ルミ蒸着部の出力をベースラインとして引算し、更にＩ
，Ｉ’に相当する部分だけを抽出したものである。第５
図ウはイのデータの平均値をめ、イのデータからこの平
均値を引算したものを示す。

メモリには暗出力測定データとして、上記ウに示された
データの絶対値を４ビットのデータとし、正負の符号を
１ビットのデータとて、全体で各ユニットの出力を５ビ
ットデータとして格納する。

このようにすることによって、第５図アのデータを直接
メモリに格納するのに比し、各ユニット毎に必要とされ
るビット数を低減することができる。

エ 第５図ｊは白地に黒のスリットがある被写体の場合の映
像信号で、■，■′相当部分から第５図イのデータを引
算することで、暗電流のばらつきによる雑音を除去した
映像信号を第５図オに示す。このオのデータによって１
部とＩ′部との相関をめるのである。

第６図はこの実施例の回路構成を示し、第７図はその動
作のタイムチャートである。第７図を参照しながら第６
図の回路の構成及び動作を説明する。第７図で力はレリ
ーズボタンの押込みを示し、一段押しの段階でＡＦスイ
ッチ（自動焦点調節装置の起動スイッチ）ＡＦがＯＮさ
れ（第７図キ）、一段押しの段階で焦点調節が行われる
。第７図（１′）に示すように光電変換部１０のホトセ
ンサーアレイＰＡで光電流積分が行われ、次いでデータ
処理が行われる（第７図ケ）。データ処理の内容は始め
に述べたＩ，Ｉ’により得られる二つの映像信号の相互
相関の検出で、その結果から、今現在のピント状態即ち
前ピンか後ピンか合焦か、前ピン，後ピンの場合の撮影
レンズ駆動量が判明する。そこで撮影レンズを所定量駆
動（第７図コＡＦ制陣）し、サに示すように撮影距離表
示（ＡＦ表示）を第６図の表示回路１５１こよって一定
時間行う。レリーズボタンが押込みの二段階目に達する
と、カメラのｇ光制陣系の起動スイッチ（レリーズスイ
ッチ）がＯＮ（第７図シ）シ、露光動作がスタートする
。即ちまず一眼レフレツクスミラ一〇第２図Ｍ）が上昇
（第７図セ）シ、シャッターの第１幕保持マグネツ｝Ｉ
Ｍｇ及び第２幕保持マグネッ｝２Ｍｇが励磁され（ン，
タ）、ミラーＭの上昇完了によってｌＭｇの励磁が解除
（ン）されてシャッターの第１幕が走行し、所定時間後
２Ｍｇの励磁が解除されて第２幕が走行し（力、ＴＩの
時点で露光が完了する。その後一眼レフレツクスミラー
Ｍは下降し始めＴ２時点でミラーＭはもとの位置に復帰
（→し、例えば、露光完了後に駆動されるモータによっ
て、Ｔ３の時点でシャッターのチャージが終る（力。一
方レリーズボタンが二段押しに達すルト、ＣＣＤの暗出
力の測定動作が行われる。即ち一眼レフレックスミラー
Ｍの上昇と連動して第２図のシャッターＳが閉じ（第７
図ト）、この閉じの終了時点ｔから一定の遅延時間Δを
とって５０ｍＳの間再びＣＣＤの積分が行われる（第７
図ク）。こ（Ｄ５０ｍＳの時間は第７図のタイムチャー
トから明かなように、一眼レフレツクスミラーＭの上下
動作の所要時間内に納まるように選定されたものである
。

第６図に戻って、以上要約した動作をより詳しく説明す
る。レリーズボタンの一段押しでＡＦスイッチのＯＮが
制御回路ｌ１によって検知されると、制御回路１１は上
述した焦点調節の動作を開始する。

まず制御回路１１から光電変換部１０にパルス状の積分
クリア信号ＩＣＧが出力され、これにより光電変換部１
０の各ホトセンサーが初期状態にリセットされると共に
、輝度モニター回路ＭＣの出力ＡＧＣＯＳが電源電圧ベ
ルまで回復する。又制１１Ｉ１］回路１１はこれと同時
にＨレベルのシフトパルス発生許可信号ＳＨＥＮを出力
する。そして、積分クリア信号ＩＣＧが消えると同時に
、光電変換部１０内の各ホトセンサーでは光電流の積分
が開始され、同時に輝度モニター回路ＭＣの出力ＡＧＣ
ＯＳが被写体輝度に応じた速度で低下し始めるが、基準
信号発生回路ＲＳから基準信号出力ＤＯＳは一定の基準
レベルに保たれる。ＡＧＣコントローラ５はＡＧＣＯＳ
をＤＯＳと比較し、所定時間（焦点検出時には１００ｍ
ｓｅ．暗出力データ測定時には５０ｍｓｅｃ．）内にＡ
ＧＣＯＳがＤＯＳに対してどの程度低下するかによって
、利得可変アンプ２の利得を制御する。又、八〇〇コン
トローラ５は積分クリア信号ＩＣＧの消滅後所定時間内
にＡＧＣＯＳがＤＯＳに対して所定レベル以上低下した
ことを検出すると、その時Ｈレベルの信号ＴＩＮＴを出
力する。この信号ＴＩＮＴはアンド回路ＡＮオア回路Ｏ
Ｒｋ通ってシフトパルス信号出力回路６１こ入力され、
これに応答しこの回路６からシフトパルスＳＨが出力さ
れる。

このシフトパルスが光電変換部１０に入力されると、各
ホトセンサーによる光電流積分が終わり、その積分値に
応じた電荷がＣＣＤシフトレジスタＳＲの対応するセル
に並列的に転送される。一方、制ｆｌ回Ｍｔｔからのワ
ロツクパルスＣＬ＋ｃもとづいて、センサー駆動パルス
発生回路７からは位相がｔ８ｏＲずれた２つのセンサー
駆動パルスφ１，φ２が出力され、光電変換部１０に入
力されている。九電変換部１０はこれらのセンサー駆動
パルスのうち、φ１の立下りと同期してＣＣＤシフトレ
ジスターの各セルの電荷を１つずつ端から直列的１こ排
出し、映像信号を形成する電圧ＯＳが順次出力される。

この電圧ＯＳは対応するホトセンサーへの入射光強度が
低い程高い電圧となっており、減算回路４がこれを上述
の基準信号ＤＯＳから差し引いて、ＣＤＯＳ−ＯＳ）を
画素信号として出力する。尚、積分フリア信号ＩＣＧの
消滅後ＴＩＮＴが出力されずに所定時間が経過すると、
制御回路１１はＨレベルのシフトパルス発生指令信号Ｓ
ＨＭを出力する。したがって、積分クリア信号ＩＣＧの
消滅後所定時間経過してもＡＧＣコントローラ５からＨ
レベルのＴＩＮＴ信号が出力されない場合は、このシフ
トパルス発生指令信号ＳＨＭに応答して、シフトパルス
発生回路６がシフトパルスＳＨを発生する。

一万、上述の動作において、制御回路１１は第７番目か
ら第１０番目までのホトセンサーに対応する画素信号が
出力されるときに、サンプルホールド信号Ｓ／Ｈを出力
する。これによって、ピークホールド回路１はホトセン
サーアレイのアルミマスク部に対応する出力ＯＳとＤＯ
Ｓとの差を保持し、以降この差出力と画素信号とが可変
利得アンプ２に入力される。そして、可変利得アンプ２
は画素信号とその差出力の差をＡＧＣコントローラ５に
より制御された利得でもって増幅し、その増幅出力がＡ
／Ｄ変換器３によってＡ／Ｄ変換された後、暗出力測定
データ又は画素信号データとして制御回路１１に取込ま
れる。

１２はホトセンサーアレイのシャツタが閉じている間に
測定された暗出力測定データにもとづいて得られる補正
用暗出力データを保存する暗出力データメモリー、１３
は焦点検出動作時に制御回路１１を通じて供給される画
素信号データからメモリー１２の補正用暗出力データを
差引く暗出力補正回路、１４は焦点検出演算回路である
０又、ＳＷは後述のように一眼レフレツクスカメラのミ
ラー駆動と連動して開閉スイッチであり、これの開閉に
応じて制御回路１１の動作態様が変化する。

今、レリーズ釦が上述のように一段押しされたときには
、ミラーは下降位置にあって、スイッチＳＷは開かれて
おり、すでに暗出力データメモリー１２には、曲回の撮
影時に得られた補正用暗出力テータが保存されている。

レリーズ釦の一段押しによって上述の積分クリア信号が
発生し、これが消滅すると同時に光電変換部１０の各ホ
トセンサーでの光電流積分が開始されるが、スイッチＳ
Ｗが開かれているために制ｌＩ！ｌＩ＠路１１が上記所
定時間ヲＬＯＯ−ｔｎｓｅｃとするため、その積分時間
は最大１００ｍｓｅｃである。すなわち、被写体が一定
レベル以上明るければ、ＩＣＧが消滅した後ＡＧＣＯＳ
は１００ｍｓｅｃ経過前にＤＯＳに対して所定レベル１
２．８ｖ低下し〔第３図（Ｑのｌ５の場合）、ＡＧＣコ
ントローラ５からＴＩＮＴ信号と可変利得アンプ２の利
得を１倍に設定する利得制却信号が出力される。

これに対し、被写体が上記の一定レベルよりも暗ければ
、ＩＣＧの消滅後ｔｏｏｍｓｅｃの間にＡＧＣＯＳはＤ
ＯＳに対して所定レベル２．８ｖ低下せず、制却回路１
１から１００ｍｓｅｃ経過時点でＳＨＭ信号が発生し、
このＳＨＭ信号に応答してシフトパルスＳＨが発生する
と共に、ＡＧＣコントローラから利得制皿信号が出力さ
れる。すなわち、この場合ＡＧＣコントローラ５は、そ
の所定時間１００ｍｓｅＣ内１こおけるＡＧＣＯＳの低
下度合に応じて１００〜２００ｍｓｅｃ，２００〜４０
０ｍｓｅｃ，４０ｆ）〜８００ｍｓｅｃ，８００ｍｓｅ
ｃ以上の積分時間が必要な場合（第３図（ｃ）の１！４
，ｌ！３，Ｉ！２，ｌｌ）のいずれであるかを判定し、
アンプ２の利得を夫々１倍，２倍，４倍，８倍のいずれ
かに設定する利得制御信号を発生するが、一方ＴＩＮＴ
信号は出力しない。

このようにして、最大１００ｍｓｅｃの光電流積分が終
わると、制御回路１１は、第９図のフローチャートに示
した如く、ＡＧＣコントローフ５から入力される利得制
御信号の示す利得制陣データが８倍か、４倍か、２倍か
を順次判定し、８倍であれば暗出力データメモリー１２
に保存されている補正用暗出力データを２倍する信号を
出して、２倍の補正用暗出力データを補正データとして
暗出力補正回路１３に入力させる。又、４倍であれば、
メモリーｌ２の補正用暗出力データをそのまま補正回路
１３に補正データとして入力させ（暗出力測定データを
１倍する）、２倍であればメモ！Ｊ−１２の補正用暗出
力データを１７ｚ倍する信号を出して、１／２倍の補正
用暗出力データを補正データとして補正回路１３１こ入
力させる。利得制御データが８倍、４倍、２倍のいずれ
でもな《１倍である場合、制陣回路１１は同様にメモＩ
Ｊ−１２の補正用暗出力データを１／４倍する信号を出
して、１／４倍の補正用暗出力データを補正回路ｌ３に
入力させる〇 一万、シフトパルスＳＨの発生によって九電変換部１０
のイメージセンサーＩ，Ｉ’を構成する各ホトセンサー
での光電流積分が終了し、Ａ／Ｄ変換器３からの画素信
号データが制御回路１１に入力される。制却回路１ｌは
この画素信号データを順次補正回路ｌ３に出力するが、
このときＴＩＮＴ信号の入力の有無に応じて、積分時間
が１００ｍｓｅｃ以下かどうかを判定し（１００ｍｓｅ
ｃ以下であればＴＩＮＴ信号が出力される）、１００ｍ
ｓｅｃ以上であれば補正回路ｌ３に各画素信号データか
ら上述の補正データを減算さてその差データを出力させ
る一万、１００ｍｓｅｃ以下であれば、補正回路ｌ３に
この減算を行わせることなく、画素信号データをそのま
ま出力させる。この後焦点検出演算回路１４は、この差
データ又は画素信号データを内部のメモリーに順次保存
するが、イメージセンサーＩ，Ｉ’の全画素に対応する
データの保存が完了すると、それを用いて所定のプログ
ラムに従って焦点ズレ量及びその方向を算出し、表示回
路１５にそれらを表示させると共に、一方ではレンズ駆
動装置８を焦点ズレ量及びその方向に応じて駆動し、撮
影レンズ９の自動焦点調節を行う。

以上のようにして焦点調節が行われ、レリーズボタンが
第２段階まで押入まれると、第７図のタイムチャートに
おいて、トで示すようにシャッターＳ（第２図）が閉じ
、このシャッターと機構的１１′ に連動したスイッチＳＷＣ第ｔ図に示す）が閉じられる
（第７図テ）。ＩＩＪｌｌＩ１１回路ｌ１はこのスイツ
（タ） チＳＷのＯＮを検知すると、第７図ｔにΔで示す遅延時
の後、再び積分クリア信号ＩＣＧを発生してＣＣＤＩＯ
で光電流積分を開始させる。積分開始から終了までの動
作は上述した焦点調節時と同じであるが、唯、スイッチ
ＳＷが閉じたことによって、積分クリア信号ＩＣＧの消
滅から５０ｍＳ後１こＨレベルのＳＨＥＭ信号が出力さ
れ、積分時間が５０ｍＳとなり、差動増幅器２に設定さ
れる倍率が８倍Ｃモニタ受光素子への入射光が遮断され
ているので自動的にそうなる）になっている点が、この
場合における動作上の特徴である。積分が終ると、ＣＣ
ＤＩＯのデータが順次出力され、利得可変アンプ２の出
力がＡ／Ｄ変換器３によってＡ／Ｄ変換されて暗出力測
定データとして制御回路１ｌに入力される。こ＼で制御
回路１１はその暗出力測定データを一旦取込み、平均を
算出し、各データと平均との差及び正負符号を補正用暗
出カデータとして暗出力データメモリｌ２に格納するの
である。このようにして格納された補正用暗出力データ
は、上述のように、次の撮影のための焦点検出時に用い
られる。

訳鈴０図はこの補正用暗出力データのメモＵ一動作をよ
り実際的に示したフローチャートであるが、このフロー
チャートでは暗出力測定時においてもＩＣＧ消滅後５０
ｍｓｅｃ経過前１こＡＧＣＯＳが所定レベルＱ，３５Ｖ
以上低下する場合があり得ることを想定しており、その
ような場合には焦点検出時と同様制陣回路１１からＴＩ
ＮＴ信号が出力される。ここで，ＩＣＧ消滅後５０ｍｓ
ｅｃ経過前にＡＧＣＯＳが所定レベル０．３５Ｖ以上低
下する場合とは、例えばセンサーシャッターＳにゴミが
付着し、それが閉じても完全にイメージャンサーＩ，Ｉ
’及びモニター用受光素子ＭＰを遮光できない場合が１
つである。又、ＡＧＣＯＳの低下速度は周囲温度に位存
して変化するものであり、周囲温度が相当高くなればイ
メージャンサーＩ，Ｉ′及びモニター用受光素子ＭＰが
センサーシャッターＳによって完全に遮光されていても
、ＩＣＧ消滅後５０ｍｓｅｃ内にＡＧＣＯＳの低下量が
２．８ｖに達することもある。

９ 第一図について説明すると、レリーズ釦の２段押しによ
り、上述の如《光電変換部１０の各ホトセンサーでの光
電流積分がセンサーシャッターＳが閉じた状態で開始さ
れ、この光電流積分はＳＨＭ信号又はＴＩＮＴ信号が出
力されるまで最犬５ｏｍｓｅＣ行われる。この積分が終
わると、イメージャンサーＩ，Ｉ’の各ホトセンサーの
出力に対応した暗出力測定データが制■回路ｌ１に順次
入力されるが、制御回路１１はここで積分時間が５０ｍ
ｓｅｃよりも短かかったかどうかをＴＩＮＴ信号の有無
に応じて判定し、５０ｍｓｅｃよりＹｈＳの も短かかったと判定覇合（ＴＩＮＴ信号入力）入力され
た暗出力測定データをすべてクリアする。

したがって、暗出力データメモリー１２は補正用暗出力
データとしてすべて０の値を保存する。これは、このよ
うな場合においては暗出力補正を行うことが意味をもた
ないからである。一万、制御回路ｌ１は、積分時間が５
０ｍｓｅｃよりも短かくなかった、つまり５０ｍｓｅＣ
であったと判定した場合、続いてＡＧＣコントローラ５
からの利得制却信号が示す利得制御データが８倍か、４
倍か、２倍かを順次判定する。普通には、利得制陣デー
タは８倍であり、この場合制聞回路１ｌは入力されたす
べての暗出力測定データそのものの平均値を算出する。

しかし、上述の如《センサーシャッターＳの遮光状態や
周囲温度によってＡＧＣＯＳの低下速度が変化するため
、利得制御データが常に８倍であるとは限らない。利得
制却データが４倍，２倍の場合、制却回路ｌ１はすべて
の暗出力測定データを夫々２倍，４倍し、それらの平均
値を算出する。さら１こ、利得制御データが８倍、４倍
、２倍のいずれでもなく１倍の場合、制御回路１１はす
べての暗出力測定データを８倍し、それらの平均値をめ
る。この平均値の算出が終わると、制却回路１１は続い
て各暗出力測定データし場合に応じて８倍、４倍、２倍
、１倍されたものとこの平均値との差を算出し、各着に
ついてそれが正で有効４ビットを越えているかどうかを
判定する。ここでその差が正で有効４ビ゛ットを越えて
おれば、最大値ｌ５を補正用暗出力データとする。一万
、その差が正で有効４ビット内に収まっているときは今
度はそれが頁で有効４ビットを越えているかどうかを判
定し、ここでその差が負で有効４ビットを越えている場
合は最小値−１６を補正用暗出力データとする。これに
対し、ここでその差が負で有効４ビット内に収まってお
れば、それがそのまま補正用暗出力データとされる。こ
のような判定がすべての差について完了すると、制御回
路１ｌは補正用暗出データについてその正負の符号と大
きさを暗出力データメモリーｌ２に格納するが、これは
次の如くして行われる。すなわち、制御回路１ｌはまず
各補正用暗出力データの符号からメモリーさせ、メモリ
ー１２の各１バイトには８個の補正用暗出力データの符
号が順次メモリーされる。これが終わると、４ビットの
各補正用暗出力データの大きさのメモリーが行われ、メ
モリー１２の各１バイトには２個の補正用暗出カデータ
の大きさがメモリーされる。そして、すべての補正用暗
出力データがこのようにして保存されると、制陣回１ｉ
＠１１は次Ｓこレリーズ釦が一段落しされるまで不必要
な回路部分への供電をストップする信号を出し、カメラ
はストップモードとなる。

第８図は第６図のＡＧＣコントローラ５及び可変利得ア
ンプ２の一例を示している。この図でＴ１０，Ｔｔｔ，
Ｔ１２は夫々第３図の端子Ｔｌ，Ｔ２，Ｔ３に接続され
る端子であり、Ｔ１３は制却回路１１からＳＨＭ信号が
入力される端子である。又、Ｔ１４はＴＩＮＴ信号を出
力する端子、ａ，ｂ，Ｃ，ｄは利得制却信号を出力する
端子、Ｔｌ５はＡ／Ｄ変換器１こ対するアンプ２の出力
端子、Ｔ１６はサンプルホールド信号ＳＨの入力端子で
ある。まず、ＡＧＣマントローラ５から説明すると、こ
の回路は上述の輝度モニター回路ＭＣの出力電圧ＡＧＣ
Ｏ’Ｓの積分クリアパルス消滅後の降下の程度を段階的
に判別するための比較器ＡＣｌ，ＡＣ２，ＡＣ３，ＡＣ
４を備えている。これらの比較器の反転入力はバッファ
Ｂｌを介して端子ＴＩＯに夫々接続されている。一方、
これらの比較器ＡＣＩ，ＡＣ２，ＡＣ３，ＡＣ４の非反
転入力は、抵抗Ｒ１と定電流源■１の接続点Ｊ４、抵抗
Ｒ２と定電流源Ｉ２の接続点Ｊ５、抵抗Ｒ３と定電流源
Ｉ３の接続点Ｊ６、抵抗Ｒ４と定電流源Ｉ４の接続点Ｊ
７に夫々接続されており、抵抗Ｒｌ，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４
はバッファＢ２を介して端子Ｔｌｌに接続されている。

このような回路接続であれば、接続点Ｊ４，Ｊ５，Ｊ６
，Ｊ７には端子Ｔｌｌに印加される上述の基準電圧発生
回路ＲＳの電圧ＤＯＳから夫々抵抗Ｒｌ，Ｒ２，Ｒ３，
Ｒ４での電圧降下を差引いた電圧が発生しており、抵抗
Ｒｌ，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４の抵抗値及び定電流源１１，Ｉ
２，Ｉ３，Ｉ４の電流値を選ぶことによって、端子ＴＩ
Ｏに入力される上述の輝度モニター回路ＭＣの出力電圧
ＡＧＣＯＳの電圧降下の程度に応じて、比較器ＡＣＩ，
ＡＣ２，ＡＣ３，ＡＣ４の出力が順次１１０１１から“
１′′に反転する。

ＤＦ３，ＤＦ４，ＤＦ５は夫々Ｄ入力が比較器ＡＣｌ，
ＡＣ２，ＡＣ３の出力に接続されたＤフリップフロップ
であり、これらのＣＰ入力には第６図の制闘回路１１か
らのＳＨＭ信号が端子Ｔ１３を介して積分クリア信号Ｉ
ＣＧの立下りから所定時間１００ｍｓｅｃ後に入力され
る。そして、そのＳＨＭ信号が入力されると、Ｄフリツ
プフロツプＤＦ３，ＤＦ４，ＤＦ５は、直前の比較器Ａ
Ｃ１，ＡＣ２，ＡＣ３の出力を夫々Ｑ出力し、Ｑ出力か
らは反転出力を出力する。ＡＮ６は一方の入力がＤフリ
ンプフロツプＤＦ３のＱ出力に、もう一万の入力がＤフ
リツプフロツプＤＦ４のＱ出力１こ接続されたアンド回
路、ＡＮ７は一万の入力がＤフリツプフロツプＤＦ４の
Ｑ出力に、もう一方の入力がＤフリツプフロツプＤＦ５
のＱ出力に接続されたアンド回路であり、アンド回路Ａ
Ｎ６，ＡＮ７の出力ｂ，ｃ，Ｄフリツプ７ロツプＤＦ３
のＱ出力ａ％ＤＦ５のＱ出力ｄがＡＧＣコントローラ５
の利得制附！データ出力となる。すなわち、それらの出
力がモニター用受光素子ＰＭで検出した平均輝度レベル
を示す信号となる。

これを第３図（Ｃ）を参照してさらに詳しく説明すると
、第３図（Ｃ）で１！ｌ，Ｉ！２．７？３，ｆ４は積分
クリアパルス消滅時点ｔｏから上述の所定の時間１００
ｍ秒経過時点違３までＩこ生じる電圧降下が夫々０．３
５Ｖ未満の場合、０．３５Ｖから０．７Ｖ未満の場合、
０．７Ｖカラ１．４Ｖ未満の場合、１．４Ｖから２．８
ｖ未満の場合の輝度モニター回路ＭＣの出力電圧変化を
示しており、又、ｌ！５は積分クリアパルス消滅時点；
ｔＯから上述の所定時間１００ｍｓｅｃ経過前の時点ｔ
２で２．８ｖの電圧降下が生じる場合の同モニター回路
ＭＣの出力電圧変化を示している。Ｉ！ｌ，ｌ２，Ｉ！
３，ｌ！４．１！５のいずれの電圧降下となるかは上述
のようにモニター用受光素子ＭＰの光電流の大きさに依
存しており、輝度モニター回路ＭＣの出力電圧変化がＩ
！ｌ，７？ｚ，Ｉ！３，ｉ４のようになる場合は低輝度
の場合、Ｉ！５のようになる場合は高輝度の場合である
。

今、端子Ｊ４１Ｊ５ｊＪ６ｔＪ７の電圧が夫々端子Ｔｌ
ｌに入力される基準電圧発生回路ＲＳの出力電圧ＤＯＳ
よりも、夫々０．３５Ｖ，０．７Ｖ，１．４Ｖ，２．８
Ｖ低《ナルヨうに、上述の抵抗Ｒｌ，Ｒ２，Ｒ３，Ｒ４
の抵抗値及び定電流源Ｉ１１１２■３，Ｉ４の電流値を
設定すると、ランチノマルス発生後におけるｆｌ，ｌ２
，７？３，ｆ４，ｌ５に対応したＤフリツププロップＤ
Ｆ３，ＤＦ４，ＤＦ５のＱ出力、ｄ出力、及び輝度モニ
ター回路ＭＣの出力ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅは次の第１表に
示す通りとなる。

なお、ｌ５の場合、比較器ＡＣ４の出力ｅＣＴＩＮＴ）
は積分クリアパルス消滅時点ｔｏから所定時間１００ｍ
ｓｅｃが経過する前の時点ｔ２で“０″から“１″にな
り、制御回路１ｌに入力されると共に端子Ｔｌ３にも入
力される０ 一方、アンプ２において、ＯＰは演算増幅器であり、そ
の入力端子Ｌｇは入力抵抗Ｒ５，Ｒ６を介して回路４及
び１に夫々接続されている。Ｒ７乃至Ｒ１４は演算増幅
器ＯＰの利得設定のために設けられた抵抗であり、Ｒ５
，Ｒ６，Ｒ７，Ｒ８，Ｒｌｌ，Ｒ１２の抵抗値をｒとす
るとき、Ｒ９ｓＲｌ３は２ｒの抵抗値、ＲＩＯ，Ｒ１４
，は４ｒの抵抗値をもっている。ＡＳＩ乃至ＡＳ８はア
ナログスイッチであり、このうちＡＳＩ乃至ＡＳ４は出
力ａ，ｂ，ｃ，ｄに応じて抵抗Ｒ７乃至ＲＩＯを選択的
に有効化して演算幅器ＯＰの帰還抵抗値を設定するのに
対し、ＡＳ５乃至ＡＳ８は出力ａ，ｂ，ｃ，ｄに応じて
抵抗Ｒｌｌ乃至Ｒｌ４を選択的に有効化して同増幅器Ｏ
Ｐのバイアス抵抗値を設定する。すなわち、上述のｌｌ
，ｌ！２ｆ３，Ｉ！４，１！５の各電圧降下が生じる場
合のそれらのアナログスイッチの状態及び有効化される
抵抗は次の第２表の通りとなる。

上表においてＡは演算増幅器ＯＰの利得である。

第１１図は一眼レフレツクスミラーＭとシャッターＳと
を連結する機構を示す。Ｂは暗箱で図で右方に撮影レン
ズがある。ＰはミラーＭの枠に取付けられたピンであり
、レバーＬ１に押動されて、ばねＳ．ｐに抗して案内溝
Ｇ内を押し上げられることでミラーＭが上昇せしめられ
る。レバーＬｌはリンクｋによって駆動レバーＬ２と連
結されており、Ｌ２が図外の機構により、レリーズボタ
ンの第２段階までの押込みによって時計方向に回動せし
められ、ミラーＭが上昇する。この駆動レバーＬ２の反
対端とシャッターＳを保持しているレバア −Ｌ３とが係合させてある。晶ミラーＭが下った位置に
ある状態を示しており、シャッターＳは窓Ｗから退避し
ている。ミラーＭ３が上るとき、レバーＬ３は矢印方向
に押動されるから、シャッターＳは窓Ｗをカバー滑レバ
ーＬ３のレバーＬ２と係合する腕は板ばねになっており
、レバーＬ２の運動範囲はストッパーＳｔによって規制
されるシャッターＳの必要な運動範囲に対応するレバー
Ｌ３の係合端の運動範囲より多少太き《設定されており
、シャッターＳのストローク端においてはレパーＬ３が
弾性的に少し撓むようになっていて、シャッターＳの開
閉を確実にしている。制却回路１１１こ暗出力測定デー
タの採取動作を行わせるスイッチＳＷはレバーＬ２の下
端によって開閉され、ミラーＭが上ったときＯＮとなる
。Ｑは第２図におけるコンデンサレンズＣＬ，結像レン
ズｌ，ｌイメージセンサＩ，Ｉ’を所定の位置関係で相
互固定して一個のモジュールとしたものである。

第１２図は暗出力データメモリーの他の方法を示すフロ
ーチャートである。この方法では、制御回路１ｌは暗出
力測定データの入力が終わると、ＡＧＣコントローラ５
からの利得制御データが８倍か、４倍か、２倍かを順次
判定し、８倍であればそのまますべての暗出力測定デー
タの平均値を算出するの蚤こ対し、４倍、２倍であれば
、夫々すべての暗出力測定データを４倍、２倍してそれ
らの平均値を算出する。又、利得制御データが８倍、４
倍、２倍のいずれでもなく１倍であれば、センサーシャ
ッターＳの遮光状態がきわめて悪いか、又は周囲温度が
相当高い場合であるので、暗出力測定データをクリアす
る。なお、このフローチャ一トの他の部分は第１０図と
同じである。

第１３図は、第９図又は第１２図の方法で暗出カメモリ
ーが行われたときの暗出力補正の他の方法を示すフロー
チャートである。この方法では、利得制御データが入力
されると、制■回路１１はその利得制卿データが８倍か
、２倍かを判定し、８倍であればメモリー１２の補正用
暗出力データを２倍して補正データとする一万、２倍で
あればメモリー１２の補正用暗出力データを１／２倍し
て補正データとする。又、利得制御データが８倍、２倍
のいずれでもなければメモリー１２からのデータをその
まま補正データとする。続いて制御回路１１は画素信号
データを取入れ、続いて利得制御データが１倍かどうか
を判定する。このとき利得制陣データが１倍であれば、
第３図（ｃ）の１５又はＩ！４の場合であって、暗出力
補正は不要とみなし、画素信号データをそのまま焦点検
出演算回路１４内のメモリーｌこ保存する。すなわち、
この第１３図の方法では、ｌ！５の場合だけでな＜ｌ！
４の場合も暗出力補正を行わない。一方、このとき利得
制御データが１でなければ、制闘回路１１は暗出力補正
回路１３に減算を行わせ、画素信号データと補正データ
の差を焦点検出演算回路１４内のメモリーに保存させる
。すべての画素信号データについてこの補正が行われて
上記メモリーへの保存が完了すれば、焦点検出演算回路
１４は第１０図の場合と同じ動作を行う。

第１４図及び第１５図は、暗出力測定時の光電流積分時
間５０ｍｓｅｃを１００ｍｓｅｃに変えた場合の暗出力
データメモリー及び暗出力補正の方法の一例を示すフロ
ーチャートである。一眼レフレツクスカメラにおいては
、上述の実施例のようにミラーの上昇中に暗出力測定を
行う限り１００ｍｓｅｃという光電流積分時間を確保す
ることは困難であるが、レリーズ釦の第２段の押込みと
同時１こセンサーシャッターＳを閉じて光電流積分を開
始させるように構成すれば１００ｍｓｅｃの光電流積分
時間を確保することも可能となる。

まず、第１４図において、制却回路１１はレリーズ釦の
２段押しによって発生するＩＣＧパルスの消滅から最大
１００ｍｓｅｃの間１こＴＩＮＴ信号又はＳＨＭ信号を
出力して光電流積分を終了させる。この後制御回路１ｌ
はＡＧＣコントローラ５からの利得制御データが８倍か
、４倍か、２倍かを順次判定して行くが、この判定以降
の制却回路１ｌの動作は第１２図の場合と同じである。

第１５図において、制御回路１ｌは最大１００ｍｓｅｃ
の光電流積分が終わると、利得制御データが８倍か２倍
かを順次判定し、８倍であれば補正用暗出力データをそ
のまま補正データとする一方、２倍であれば補正用暗出
力データを１／４倍して補正データとする。又、利得制
御データが８便、２倍のいずれでもなければ、補正用暗
出力データを１／２倍して補正データとする。続いて制
御回路１１は画素信号データを取込み、その後で利得制
御データが１倍かどうかを判定するが、これ以降の動作
は第１３図の場合と同様である。

以上の実施例では、暗出力測定時の光電流積分時間を５
０ｍｓｅｃ，又は１００ｍｓｅｃとしたが、この値をい
くらに選ぶかは任意であり、カメラが撮影動作を行って
いる間に暗出力メモリーが完了するようにすればよい。

又、上記実施例では、暗出力測定データを補正用暗出力
データとしてメモリー１２に保存させるときに、暗出力
測定データの平均値を算出し、暗出力測定データとその
平均値の差を補正用データとして正負の符号と共に保存
させているが、この代わりに、暗出力測定データの最小
値を検出して、暗出力測定データとその最小値の差を補
正用暗出力データとしてメモリー１２に保存してもよい
。この場合は、制却回路ｌ１のプログラム容量ＣＲＯＭ
）に制約がある場合に有効であり、補正用暗出力データ
の符号がすべて正になって以降のメモリー動作が簡単に
なる利点がある。

なお、第１１図において、ねじＳＣＩ，ＳＣ２，ＳＣ３
ハ、結像レンズｇ，ｚ，コンデンサーレンズＣＬ，イメ
ージセンサ・一Ｉ，Ｉ’、モニター用受光素子ＭＰ等を
内蔵した焦点検出モジュールＱをミラーボックスＭＢに
固定するためのねじであるが、このうちＳＣ１はそのモ
ジュールＱの位置調整用のねじを兼ねており、これをね
じ込んで行くとばねＳＰが圧縮され、モジュールＱの位
置調整が可能である。ところが、図に示したようにねじ
ＳＣ１が皿ねじであり、ドライバー先端をその頭部のプ
ラス溝（マイナス溝であってもよい）に当ててＳＣＩを
ねじ込んでいくと、モジュールＱにねじ込み方向の無理
な力がかかり、モジュールＱの台板が変形する恐れがあ
る。これを避けるには、ＳＣＩの頭部を六角レンチを嵌
合させることができるような六角形に形成すればよい。

効果 イメージセンサーの暗出力特性は短時間の間に不規則に
変動するものではないが、温度変化によりまた経時的に
変動するものなので、しばしば測定して暗出力補正デー
タを更新することが必要である。しかしながら撮影の度
毎【こ焦点調節に先立って暗出力特性を測定していると
焦点調節に時間がか＼つで撮影動作の機敏性が損われる
。

本発明によれば前回の撮影の露光動作中シこ暗出力の測
定を行うので、補正データの更新のチャンスは充分に用
意されていることになり、しかも焦点調節動作の時間増
しにはならないと云う利点がある。

また焦点調節時の映像信号測定では被写体輝度に応じて
感度を変えるのに対し、暗出力の測定感度は被写体輝度
と関係なく一定であるが、補正演算の際暗出力補正デー
タに倍率を掛けるようにしているので、過不足なしの暗
出力補正が行われる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に使用する焦点検出装置の原理を説明す
る図、第２図は本発明の一実施例のカメラの要部側面図
、第３図（〜は上記実施例における九電変換部の構成を
示す図、第３図（Ｂ）はホトセンサーアレイを構成する
ホトセンサーの構成を示す説明図、第３図（０は輝度モ
ニター回路の出力ＡＧＣＯＳの低下の仕方を示す図、第
４図はホトセンサーアレイの機能分担を示すマップ、第
５図ア，イ，ウ，工，オは信号処理の各段階における信
号波形図、第６図は上記実施例の回路構成を示すブロッ
ク図、第７図は上記実施例における機構部及び回路部の
動作のタイムチャート、第８図はＡＧＣコントローラ及
び可変利得アンプの回路例を示す回路図、第９図及び第
ｌＯ図は上記実施例における暗出力メモリー及び暗出力
補正の方法を示すフローチャート、第１１図（１）（イ
）は上記実施例におけるセンサーシャッターと一眼レフ
レックスミラーとの連結機構を示す斜視図、第１２，第
１４図は暗出力メモリーの他の方法を示すフローチャー
ト、第１３図、第１５図は暗出力補正の他の方法を示す
フローチャートである。 Ｆ？．ｅ Ｌｎ・・・・撮影レンズ、Ｆ・・・・フィルム等価面、
巷→・・・・コンデンサレンズ、ｌ，ｌ′曲結像レンズ
、ＩＩＩ′・・・・イメージセンサー、Ｍ・・・・一眼
レフレックスミラー、ｍ・・・・サブミラー、Ｗ・・・
くラーボックスの底壁の窓、Ｓ・・・・センサーシャッ
ター、Ｑ・・・・焦点検出モジュール、１曲ピークホー
ルド回路、２・・゜・可変利得アンプ、３・・・・Ａ／
Ｄ変換器、４・・・・減算回路、５・・・・ＡＧＣコン
トローラ、６・・・・シフトパルス発生回路、７・・・
・センサー駆動パルス発生回路、８・・・・レンズ駆動
装置、９・・・・撮影レンズ、ｌｏ聞光電変換部、１１
・・・・制御回路、１２・・・・暗出力データメモリー
、１３・・・・暗出力補正回路、１４・・・・焦点検出
演算回路、１５・・・・表示回路。 ＝８３＝ 一８４一 −８５− −８６− −８７− −８８一 手続補正書（自発） 昭和性９年６月２ら日 （至） 特許庁長官翠杉痺口大殿 １．事件の表示昭和Ｓｃｌ年特許願第６０””３６δ号
２，発明の名称 ＴＪメつの文、六、オ灸出装置 ３．補正をする者 事件との関係特許出願人 任所大阪市東区安土町２丁目３０番地 大阪国際ビル 名称（（ｉ口７）ミノルタカメラ株式＠：’ｉ：代表者
田嶋英雄 ４．代理人 住所大阪市東区横堀５丁目１６番地中甚ビル内，氏名（
７０４５）弁理士縣浩芥 『 ５．補正により増加する発明の数０１−６．補正の対象 明ＩＩＩ書発明の詳細な説明の欄 図＠ＸＧＷｉ＋ｌ３図 ７．補正の内容 別紙の通り 特願昭５９−６０３６８号補正の内容別紙（１）明細書
第１０ページ第１２行目の「５Ｈ」を「ＳＨ」に訂正し
ます。 （２）同第１０ページ第１７行目〜第１１ページ第１行
目の、 「なお、ホトセンサーアレイＰＡの・・・用いられる。 」 を削除します。 （３）同第１３ページ第１１行目の、 「ＴＯ」を「ｔｏ」に訂正します。 （４）同第１５ページ第１９行目の、 「変化さる」を１変化させる」に訂正します。 （５）同第１８ページ第ｌＯ行目〜第１１行目の、「各
ユニット中１〜３第目は空送りユニットであわ、４番」
を、 「各ユニット中１〜４番目は空送りユニットであシ、５
番」に訂正します。 （６）同第２４ページ第８行目の、 「積分フリア信号」を「積分クリア信号」に訂正します
。 （７）同第２６ページ第１３行目の、 「１２．８ＶＪを「２．８ＶＪに訂正します。 （８）同第２７ページ第１４行目の、 「第９図」を「第１０図」に訂正します。 （９）同第２７ページ第１５行目の、 「ＡＧＣコントローフ」を「ＡＧＣコントローラ」に訂
正します。 ００）同第３１ページ第３行目の、 「第９，１０図」を１第９図」に訂正します。 αυ同第３３ページ第１７行目の、 「し場合」を「の場合」に訂正します。 αの同第３３ページ第８行目の、 「各着」を「各差」に訂正します。 Ｑ３）同第３５ページ第７行目の、 「第３図」を「第３図Ａ」に訂正します。 αａ同第３５ページ第１４行目の、 「ＡＧＣマントローラ」を「ＡＧＣコントローラ」に訂
正します。 ａ！５）同第３９ページ第１行目の、 「ラッチパルス」をｌ−ＳＨＭ信号」に訂正します。 （１６）同第３９ページ第１２行目の、「ると共に端子
Ｔ１３にも入刀される。」を「る。制御回路１１はこの
出力ｅ（Ｔ工ＮＴ）の立上りによっても上述のＳＨＭ信
号を出カする。」に訂正します。 αη同第４４ページ第１行目の、 「第１０図」を「第９図」に訂正します。 （１槌同第４６ページ第１行目〜第２行目の、「Ｔ工Ｎ
Ｔ信号又は」を削除します。 手続補正書（方式） 昭和夕９年ｑ月４日 特許庁長官君・貨岑一殿〆，， １．事件の表示昭和５ｃｆ年特許願第６０３６’Ｐ−万 ２．発明の名称 勇メラのＸ煮検出来置 ３．補正をする者 事件との関係特許出願人 住所大阪市車区安土町２丁目３０番地 大ｉ：’ｉｐ．Ｉ際ヒル 名称（６’Ｊ７）ミノルタカメラ株式会社、代二ζ者田
嶋英雄 ４，代理人 住所大阪市東区横堀５丁目１６番地中甚ビル内氏名（７
０４５）弁理士縣浩介 ５．補正命令の日付 昭和５９年６月６日 ６．補正により増加する発明の数０ ７．補正の対象 リ８Ｋ田倉凹ｈ酊Ｏ簡卓詔１覚口月の由明８．補正の内
容 別紙の通り 特願昭５９−″”６０３６８号補正の内容別紙明細書第
４９ページ第１７行目〜第１８行目に、お 「第５図ア、イ、ウ、工、オは」とｌるのを、「第５図
は」と補正する。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ｉｌｌｆｉ影レンズ透過光を積分型ホトセンサアレイに
   より受光し、被写体輝度に応じて積分時間を変えて映像
   信号を得、この映像信号を解析して焦点検出を行う構成
   において、カメラの露光動作と連動して露光動作中上記
   ホトセンサアレイへの光入射を遮蔽するシャッターを設
   け、このシャッターが閉じている期間中に一定積分時間
   を設けて上記ホトセンサアレイの出力を取出してそれに
   対応するデータをメモリに格納し、次回の焦点検出時に
   その時の上記積分時間に応じた倍数を上記メモリに格納
   したデータに掛算してそのときの映像信号から引算する
   ことにより映像信号中の暗電流成分のばらつきを補正す
   ることを特徴とするカメラの焦点検出装置。 （２）焦点検出時のホトセンサアレイの積分時間に上限
   を設け、この上限を超える積分時間を要するときは、映
   像信号の増幅倍率を変えて等価的に積分時間を延長する
   ようにした特許請求の範囲第１項記載のカメラの焦点検
   出装置。