JPS60206884A - 導電性ペ−スト組成物 - Google Patents
導電性ペ−スト組成物Info
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- JPS60206884A JPS60206884A JP6483484A JP6483484A JPS60206884A JP S60206884 A JPS60206884 A JP S60206884A JP 6483484 A JP6483484 A JP 6483484A JP 6483484 A JP6483484 A JP 6483484A JP S60206884 A JPS60206884 A JP S60206884A
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- JP
- Japan
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- paste composition
- conductive paste
- hydrocarbon group
- polyimide precursor
- acid amide
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- Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は横変性を付与した導電性ペースト組成物に関し
、その目的とするところはディスペンス法での塗布方法
に適したチクソトロピー性を有するポリイミド°基前駆
体導電性ペースト組成物を提供するごとにある。
、その目的とするところはディスペンス法での塗布方法
に適したチクソトロピー性を有するポリイミド°基前駆
体導電性ペースト組成物を提供するごとにある。
従来、半導体素子のグイボンディング用接着剤として、
耐熱性に優れ半導体として高い信頼性の得られるポリイ
ミド銀ペーストに代表される導電性ペースト組成物が使
用されてきたことは広く周知である。このポリイミド銀
ペーストは、バインダーとしての樹脂成分が本質的に耐
熱性に優れ。
耐熱性に優れ半導体として高い信頼性の得られるポリイ
ミド銀ペーストに代表される導電性ペースト組成物が使
用されてきたことは広く周知である。このポリイミド銀
ペーストは、バインダーとしての樹脂成分が本質的に耐
熱性に優れ。
熱分解発生物によるチップ汚染が少ないこと、気密封止
型半導体の封止温度(470〜420℃)にも耐えられ
ること、およびNa”、CI−などのイオン性不純物が
少いため、半導体として高い信頼性が得られることがら
、半導体素子のグイボンディング用接着剤として用いら
れてきた。しかし、このボリイミM系銀ペーストには横
変性が小さいという欠点があった。これは、バインダー
であるボリイミV前駆体が溶液中に高濃度で溶解しに<
<、そのため最終ペースト中の溶剤量が多くなり、ため
に横変性が出にくいのであった。横変性が小さいことは
、シリンジを用いたディスペンス法で、IJ −Vフレ
ームトに連続的に銀ペーストを塗布した場合、塗布量が
ばらつくこと、および°“たれ”のため、塗布部分以外
のリート°フレームにもベース)が滴下し、汚染してし
まうこと、などの問題があった。
型半導体の封止温度(470〜420℃)にも耐えられ
ること、およびNa”、CI−などのイオン性不純物が
少いため、半導体として高い信頼性が得られることがら
、半導体素子のグイボンディング用接着剤として用いら
れてきた。しかし、このボリイミM系銀ペーストには横
変性が小さいという欠点があった。これは、バインダー
であるボリイミV前駆体が溶液中に高濃度で溶解しに<
<、そのため最終ペースト中の溶剤量が多くなり、ため
に横変性が出にくいのであった。横変性が小さいことは
、シリンジを用いたディスペンス法で、IJ −Vフレ
ームトに連続的に銀ペーストを塗布した場合、塗布量が
ばらつくこと、および°“たれ”のため、塗布部分以外
のリート°フレームにもベース)が滴下し、汚染してし
まうこと、などの問題があった。
またポリイミド系導電性ペースト組成物の他の用途とし
て、チップ部品の端面外部電極材、水晶発振子の水晶振
動子固定兼電極用接着剤等があるが、このような用途に
対しても、従来のポリイミド系導電性ペースト組成物は
横変性に劣り、その本来の機能を発揮しない錐点があっ
た。
て、チップ部品の端面外部電極材、水晶発振子の水晶振
動子固定兼電極用接着剤等があるが、このような用途に
対しても、従来のポリイミド系導電性ペースト組成物は
横変性に劣り、その本来の機能を発揮しない錐点があっ
た。
本発明はかかる欠点を改良してなるもので、導電性充填
剤を含有するボリイミ)r系前駆体溶液に。
剤を含有するボリイミ)r系前駆体溶液に。
一般式
(式中R,およびR1は炭素数6〜24の一価の炭化水
素基であり、互いに同じであっても異なって1/%でも
よい。R8は炭素数1〜6の二価の炭化水素基である。
素基であり、互いに同じであっても異なって1/%でも
よい。R8は炭素数1〜6の二価の炭化水素基である。
)で示されるアルキレンビス脂肪族モノカルボン酸アミ
Fを添加してなる導電性ペースト組成物に関するもので
ある。
Fを添加してなる導電性ペースト組成物に関するもので
ある。
本発明の導電性ペースト組成物を製造するには。
ポリイミド前駆体溶液中に導電性充填剤およびチクソト
ロピー性付与剤としての前記アルキレンビス脂肪族モノ
カルボン酸アミドF、場合によシ各種界面活性剤、シラ
ンカップリング剤等の添加剤を加え、所望の方法(たと
えばミキサータイプの衝撃分散方式)により混線分散さ
せるのが一般的である。しかし導電性充填剤を含有する
ポリイミド。
ロピー性付与剤としての前記アルキレンビス脂肪族モノ
カルボン酸アミドF、場合によシ各種界面活性剤、シラ
ンカップリング剤等の添加剤を加え、所望の方法(たと
えばミキサータイプの衝撃分散方式)により混線分散さ
せるのが一般的である。しかし導電性充填剤を含有する
ポリイミド。
系前駆体溶液を調整して後、これに前記酸アミル等の残
余成分を所望の方法により均一分散させることもできる
。前記方法において、アルキレンビス脂肪族モノカルボ
ン酸アミドをそのまま用し)てもよいが、これが粉状、
固形状を呈しているときには1分散効率を高め、チクソ
トロピー性を向上させるため、前記酸アミドを溶剤(キ
シレン、トルエン、ブタノール、プチルセロソルフ等)
中テ固形分含量10〜25重量%の膨潤分散体の形態で
用いるのが好ましい。このよンに工夫するとたとえば攪
拌や三本ロールなどのせん断分散方式で導電性ペースト
組成物を製造した際、上記酸アミFが均一分散し微粒子
となる。
余成分を所望の方法により均一分散させることもできる
。前記方法において、アルキレンビス脂肪族モノカルボ
ン酸アミドをそのまま用し)てもよいが、これが粉状、
固形状を呈しているときには1分散効率を高め、チクソ
トロピー性を向上させるため、前記酸アミドを溶剤(キ
シレン、トルエン、ブタノール、プチルセロソルフ等)
中テ固形分含量10〜25重量%の膨潤分散体の形態で
用いるのが好ましい。このよンに工夫するとたとえば攪
拌や三本ロールなどのせん断分散方式で導電性ペースト
組成物を製造した際、上記酸アミFが均一分散し微粒子
となる。
本発明で用いる前記一般式(1)で示されるアIレキレ
ンピス脂肪族モノカルボン酸アミドとしては。
ンピス脂肪族モノカルボン酸アミドとしては。
一般的に分子量250〜900程度のものが用いられる
。
。
好ましい一般式0〕化合物としては、構造式に代表され
るエチレンビス脂肪族モノカルボン酸アミドである。
るエチレンビス脂肪族モノカルボン酸アミドである。
また一般式(1)化合物の添加量は通常、ポリイミド系
前駆体と導電性充填剤の総量に対して0.5〜5重量%
、好ましくは0.8〜2.0重量%とされる。
前駆体と導電性充填剤の総量に対して0.5〜5重量%
、好ましくは0.8〜2.0重量%とされる。
添加量が少なすぎると横変性が不充分となる傾向があシ
、一方多すぎても、使用時に、ペースト組成物硬化体か
らのプルーミングが大となり、たとえば接着剤と用いた
ときに被着体Cす4フレーム等)との界面接着力が低下
してくる恐れがある。
、一方多すぎても、使用時に、ペースト組成物硬化体か
らのプルーミングが大となり、たとえば接着剤と用いた
ときに被着体Cす4フレーム等)との界面接着力が低下
してくる恐れがある。
本発明の導電性ペースト組成物を構成する成分の量的割
合は一般的に下記の割合とされる。・固形分(ポリイミ
ド系前駆体、導電性充填剤および前記一般式(1)化合
物等)含有量は、通常10〜90重量%、好ましくは5
0〜80重量%)−六 。
合は一般的に下記の割合とされる。・固形分(ポリイミ
ド系前駆体、導電性充填剤および前記一般式(1)化合
物等)含有量は、通常10〜90重量%、好ましくは5
0〜80重量%)−六 。
れ、他は有機溶剤である。
固形分レベルでの量的割合は、ボリイミF系前駆体10
0重量部に対して導電性充填剤iso〜1.900重量
部とされ、一般式(1)化合物の量的割合は前記の通シ
である。
0重量部に対して導電性充填剤iso〜1.900重量
部とされ、一般式(1)化合物の量的割合は前記の通シ
である。
前記有機溶剤としては、N−メチル−2−ピロリドン、
N−N’−ジメチルアセトアミド、N−N’〜ジメチ
ルホルムアミド、N−N’−ジメチルスルホキシド、ヘ
キサメチルホルホルアミドの如き高極性塩基性溶剤を挙
げることができる。
N−N’−ジメチルアセトアミド、N−N’〜ジメチ
ルホルムアミド、N−N’−ジメチルスルホキシド、ヘ
キサメチルホルホルアミドの如き高極性塩基性溶剤を挙
げることができる。
また、#I記式CI)化合物を前記の膨潤分散体の形態
で用いて、導電性ペースト組成物を製造した場合にはこ
のとき用いた前記の>R=ffJ有機溶剤が混在する場
合もある。
で用いて、導電性ペースト組成物を製造した場合にはこ
のとき用いた前記の>R=ffJ有機溶剤が混在する場
合もある。
本発明において用いられるポリイミド系前駆体として好
ましいのは1次のシロキチン変性ポリイミF前駆体であ
る。
ましいのは1次のシロキチン変性ポリイミF前駆体であ
る。
即ち、ジアミノシロキチン、珪素を含まない有機ジアミ
ン(珪素不合ジアミン)およびテトラカルボン轟水物(
好ましくは芳香族テトラカルボン轟水物)を反応させて
得ることのでさる0、1〜50モル%、好ましくは1〜
20モル%の式(I)で示される反覆単位と50〜99
.9モル%、好ましくは80〜99モル%の式〔蓋〕で
示される反覆単位からなるシロキサl変性ポリイミド前
駆体である。
ン(珪素不合ジアミン)およびテトラカルボン轟水物(
好ましくは芳香族テトラカルボン轟水物)を反応させて
得ることのでさる0、1〜50モル%、好ましくは1〜
20モル%の式(I)で示される反覆単位と50〜99
.9モル%、好ましくは80〜99モル%の式〔蓋〕で
示される反覆単位からなるシロキサl変性ポリイミド前
駆体である。
(但し、Rは2価の炭化水素基、Teは1価の炭化水素
基、rは4価の有機基、rはケイ素を含まない有機ジア
ミンの残基である2価の有機基、nは1以上の整数であ
る。) ヒ記シロキチン変性ポリイミド前駆体を合成するにあた
り、用いられる芳香族テトラカルボン酸二無水物として
は。
基、rは4価の有機基、rはケイ素を含まない有機ジア
ミンの残基である2価の有機基、nは1以上の整数であ
る。) ヒ記シロキチン変性ポリイミド前駆体を合成するにあた
り、用いられる芳香族テトラカルボン酸二無水物として
は。
0
200〜500程度のもので、その代表的なものを例示
すると以下の如くである。す々わち、ピロメリット酸二
無水物、3・ご・4・4′−ベンゾフェノンテトラカル
ホン酸二無水物、3・γ・4・4′−ビフェニルテトラ
カルボン酸二無水物、2・3・了・4′−ビフェニルテ
トラカルボン酸二無水物、2・3・6・7−ナフタレン
テトラカルボン酸二無水物、1・2・5・6−ナフタレ
ンテトラカルボン酸二無水物、1・4・5・8−ナフタ
レンテトラカルボン酸二熱水物、2・7−ビス(3・4
−ジカルボキシフェニル)プロパンニ無水物、ビス(3
・4−ジカルボキシフェニル)スルホy二無水物、 3
・4・9・10−ペリレンテトラカルボン酸二無水物、
ビス(3・4−ジカルボキシフェニル)エーテルニ無水
物、2・2−ビス(2・3−ジカルボキシフェニル)プ
ロパンニ無水物、l・1−ビス(2・3−ジカルボキシ
フェニル)エタン二無水物。ベンゼン−1・2・3・4
−テトラカルボン酸二無水物、2・3・6・7−アント
ラセンテトラカルボン酸二無水物、1・2・7・8−フ
エナントレソテトラヵルボン酸二無水物などがある。
すると以下の如くである。す々わち、ピロメリット酸二
無水物、3・ご・4・4′−ベンゾフェノンテトラカル
ホン酸二無水物、3・γ・4・4′−ビフェニルテトラ
カルボン酸二無水物、2・3・了・4′−ビフェニルテ
トラカルボン酸二無水物、2・3・6・7−ナフタレン
テトラカルボン酸二無水物、1・2・5・6−ナフタレ
ンテトラカルボン酸二無水物、1・4・5・8−ナフタ
レンテトラカルボン酸二熱水物、2・7−ビス(3・4
−ジカルボキシフェニル)プロパンニ無水物、ビス(3
・4−ジカルボキシフェニル)スルホy二無水物、 3
・4・9・10−ペリレンテトラカルボン酸二無水物、
ビス(3・4−ジカルボキシフェニル)エーテルニ無水
物、2・2−ビス(2・3−ジカルボキシフェニル)プ
ロパンニ無水物、l・1−ビス(2・3−ジカルボキシ
フェニル)エタン二無水物。ベンゼン−1・2・3・4
−テトラカルボン酸二無水物、2・3・6・7−アント
ラセンテトラカルボン酸二無水物、1・2・7・8−フ
エナントレソテトラヵルボン酸二無水物などがある。
珪素不合ジアミン(分子内に珪素原子を含まないジアミ
ノ)は、H,N −R” −Nl2で表わされる芳香族
ジアミン、脂肪族ジアミンおよび脂環族ジアミンが含ま
れる。とくに好適なものは、芳香族ジアミンであり1分
子量1(10〜500程度のものであるが、その代表例
を示すと、たとえばメタフェニレンジアミン、パラフェ
ニレンジアミン、4・47−ジアミツジフエニルメタン
、4・4′−ジアミノジフェニルエーテル、 2・2−
ビス(4−アミノフェニル)プロパン、3・ご−ジアミ
ノジフェニルスルホン。
ノ)は、H,N −R” −Nl2で表わされる芳香族
ジアミン、脂肪族ジアミンおよび脂環族ジアミンが含ま
れる。とくに好適なものは、芳香族ジアミンであり1分
子量1(10〜500程度のものであるが、その代表例
を示すと、たとえばメタフェニレンジアミン、パラフェ
ニレンジアミン、4・47−ジアミツジフエニルメタン
、4・4′−ジアミノジフェニルエーテル、 2・2−
ビス(4−アミノフェニル)プロパン、3・ご−ジアミ
ノジフェニルスルホン。
4・4′−ジアミノジフェニルスルホン、4・4′−ジ
アミノジフェニルスルフィド、ベンジジン、ベンジジン
−3・ご−ジカルボン酸、ベンジジン−3・ご−ジスル
ホン酸、ベンジジン−3−モノカルボン酸、ベンジジン
−3−モノスルホン酸、3・了−ジメトキシ−ベンジジ
ン、パラ−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、メ
タ−ビス(4〜アミノフエノキシ)ベンゼン、メタキシ
リレンジアミン、パラキシリレンジアミンなどが挙げら
れる。
アミノジフェニルスルフィド、ベンジジン、ベンジジン
−3・ご−ジカルボン酸、ベンジジン−3・ご−ジスル
ホン酸、ベンジジン−3−モノカルボン酸、ベンジジン
−3−モノスルホン酸、3・了−ジメトキシ−ベンジジ
ン、パラ−ビス(4−アミノフェノキシ)ベンゼン、メ
タ−ビス(4〜アミノフエノキシ)ベンゼン、メタキシ
リレンジアミン、パラキシリレンジアミンなどが挙げら
れる。
また、ジアミノシロキサンは式
用される。その代表的なものを例示すると以下の如くで
ある。
ある。
CH,Cル
CH,C几
ジアミノシロキサンは、これを使用したポリイミド系導
電性ベース)M放物の硬化物と半導体素子、又は硬化物
とり−Fフレームと界面の密着性を高め、半導体として
の信頼性を高めるのに寄与するところが大きい。
電性ベース)M放物の硬化物と半導体素子、又は硬化物
とり−Fフレームと界面の密着性を高め、半導体として
の信頼性を高めるのに寄与するところが大きい。
このジアミノシロキサンの使用量は、ジアミノシロキサ
ンと珪素不含ジアミンの総合計量中。
ンと珪素不含ジアミンの総合計量中。
0.1〜50モル%とするのが良い。さらに好適には熱
性が低下するので好ましくない。
性が低下するので好ましくない。
シミキチン変性ポリイミド前駆体は、上記芳香族テ)−
1カルボン酸二無水物に対してジアミノシロキサンと珪
素不合ジアミンの合計量を略等モルとし、不活性溶剤中
にて1通常60℃以下、特に好ましくは30℃以下にて
従来の公知の方法に準じて重合を行なうことにより得る
ことがで傘る。
1カルボン酸二無水物に対してジアミノシロキサンと珪
素不合ジアミンの合計量を略等モルとし、不活性溶剤中
にて1通常60℃以下、特に好ましくは30℃以下にて
従来の公知の方法に準じて重合を行なうことにより得る
ことがで傘る。
使用する溶剤は、たとえばN−メチル−2−ピロリFン
、 N−N’−ジメチルアセトアミド、 N−1’f−
ジメチルホルムアミド、 N−に−ジメチルスルrh
キiyド、ヘキサメチルホスホルアミドなどの高極性塩
基性溶剤を挙げるこ七ができる。また、これらの溶剤ト
トモニ、トルエン、キシレン、ベンゾニトリル、ベンゼ
ン、フェノール、ブチルセロソルヴの如き汎用溶剤を併
用することもできる。しかし。
、 N−N’−ジメチルアセトアミド、 N−1’f−
ジメチルホルムアミド、 N−に−ジメチルスルrh
キiyド、ヘキサメチルホスホルアミドなどの高極性塩
基性溶剤を挙げるこ七ができる。また、これらの溶剤ト
トモニ、トルエン、キシレン、ベンゾニトリル、ベンゼ
ン、フェノール、ブチルセロソルヴの如き汎用溶剤を併
用することもできる。しかし。
その使用量は、生成ポリイミド前駆体の溶解膚を低下さ
せない範囲にすべきである。この様にして □ポリイミ
ド前駆体が合成されるが、その溶液粘度は場合にJす、
数十万ボイプにもなり、導電性充填剤を含有してなるペ
ーストは、粘度が高くなシすぎるので、場合によシ、前
駆体溶液を40〜80℃で加熱・熟成して、あらかじめ
溶液粘度を下げてお(のが良い。
せない範囲にすべきである。この様にして □ポリイミ
ド前駆体が合成されるが、その溶液粘度は場合にJす、
数十万ボイプにもなり、導電性充填剤を含有してなるペ
ーストは、粘度が高くなシすぎるので、場合によシ、前
駆体溶液を40〜80℃で加熱・熟成して、あらかじめ
溶液粘度を下げてお(のが良い。
本発明において使用されるポリイミド−系前駆体の固有
粘度(@記シロキチン変性ポリイミド前駆体の場合も含
めて)通常0.3〜3.0とされる。
粘度(@記シロキチン変性ポリイミド前駆体の場合も含
めて)通常0.3〜3.0とされる。
固有粘ばは、溶媒としてN−メチル−2−ピロリVンを
使用し測定温度30±0.01℃(恒温槽)でつぎの式
; %式%) t;ウベローデ粘度計で測定されるポリマー溶液の落下
時間 to; 上記同様に測定される溶媒の落下時間C;ポリ
イミド系樹脂の前駆体濃度(0,5重量%とじた) よシ算出した値である。
使用し測定温度30±0.01℃(恒温槽)でつぎの式
; %式%) t;ウベローデ粘度計で測定されるポリマー溶液の落下
時間 to; 上記同様に測定される溶媒の落下時間C;ポリ
イミド系樹脂の前駆体濃度(0,5重量%とじた) よシ算出した値である。
本発明においては、ポリイミド系前駆体製造時に用いた
反応溶媒を、導電性ペーストの有機溶剤としてそのまま
用いるのが通常である。
反応溶媒を、導電性ペーストの有機溶剤としてそのまま
用いるのが通常である。
また、導電性ペーストを製造する場合、一般的には、ポ
リイミド前駆体溶液に、まず導電性充填剤を添加し1次
いで前記式(1)化合物を所望の方法により均一に分散
させる。
リイミド前駆体溶液に、まず導電性充填剤を添加し1次
いで前記式(1)化合物を所望の方法により均一に分散
させる。
本発明において、導電性充填剤としては、通常Au、
Ag、 Pd、 Pt、 Mn、 Cu、 Ni、 A
I、 Sn、 Fe、 Co、Crなどの金嘱粉または
これらの合金粉、またはRnO,、Cry、、ZnO,
SnO,、Fe2O,、In2O,、PdO,TI、O
,。
Ag、 Pd、 Pt、 Mn、 Cu、 Ni、 A
I、 Sn、 Fe、 Co、Crなどの金嘱粉または
これらの合金粉、またはRnO,、Cry、、ZnO,
SnO,、Fe2O,、In2O,、PdO,TI、O
,。
Ire、、Phi、 Sb、0.、 Bi2O,、Cd
O等の酸化粉なとうちの1種または2種以上使用する。
O等の酸化粉なとうちの1種または2種以上使用する。
また、カーボングラファイト、カーボンブラックの併用
もできる。
もできる。
しかし好ましくは、 Au粉、 Ag粉、 Ag粉とP
d粉との混合粉であり、さらに好適には〜粉である。こ
れら導電性充填剤は、その製法により1種々の形状のも
のがあり、樹状粉、鱗片状粉1球状粉、多孔質粉、針状
粉などが挙げられる。好ましくは。
d粉との混合粉であり、さらに好適には〜粉である。こ
れら導電性充填剤は、その製法により1種々の形状のも
のがあり、樹状粉、鱗片状粉1球状粉、多孔質粉、針状
粉などが挙げられる。好ましくは。
樹状粉、鱗片状粉を用いるのが良い。これら導電性粉末
は、一般に101)メツシュフリーパス、好適には32
5メツシユフリーバスであるのが良い。
は、一般に101)メツシュフリーパス、好適には32
5メツシユフリーバスであるのが良い。
使用量は1組成物*@4・^形イン通常60〜95重量
%、好適には70〜90重量%程度である。
%、好適には70〜90重量%程度である。
ポリイミド前駆体の溶液に、かかる導電性充填剤を混線
分散する方法は、三本ロール、ボールミルなどの分散機
を用いるのが良い力Y、高粘度ペーストを分散できしか
も回収効率の良い三本ロールを用いるのが良い。この導
電性充填剤の分散と同時に、前記チクソトロピー性剤で
あるアルキレンビス脂肪族モノカルボン酸アミド、もし
くは、その膨潤分散体を同時に混線分散するのが作業効
率ヒ好ましいが、後添加による分散でもかまわない。
分散する方法は、三本ロール、ボールミルなどの分散機
を用いるのが良い力Y、高粘度ペーストを分散できしか
も回収効率の良い三本ロールを用いるのが良い。この導
電性充填剤の分散と同時に、前記チクソトロピー性剤で
あるアルキレンビス脂肪族モノカルボン酸アミド、もし
くは、その膨潤分散体を同時に混線分散するのが作業効
率ヒ好ましいが、後添加による分散でもかまわない。
この様にして得られるポリイミド系前駆体パイングーに
よる導電性ペースト組成物はたとえば接着剤として使用
できる。−例を挙げると、これをリードフレームに塗工
し、さらに半導体素子を載置し、乾燥・硬化して有機溶
剤を除去した後。
よる導電性ペースト組成物はたとえば接着剤として使用
できる。−例を挙げると、これをリードフレームに塗工
し、さらに半導体素子を載置し、乾燥・硬化して有機溶
剤を除去した後。
200〜300℃の高温に加熱すると、ポリイミド系前
駆体が分子内閉環反応(イミV化)をおこして硬化し、
半導体素子とリードフレームとを強固に接着させるもの
である。しかも1本発明による導電性ペースト組成物は
、チクソトロピー性に優れる(揺変性が高い)ものであ
るから、シリンジによるディスペンス塗布法での作業性
に優れるものである。
駆体が分子内閉環反応(イミV化)をおこして硬化し、
半導体素子とリードフレームとを強固に接着させるもの
である。しかも1本発明による導電性ペースト組成物は
、チクソトロピー性に優れる(揺変性が高い)ものであ
るから、シリンジによるディスペンス塗布法での作業性
に優れるものである。
この発明で得られる導電性ペースト組成物によれば、高
い揺変性によるところのディスペンス塗布法に優れるの
で、同時にチクソトロピー性を要求されるスクリーン印
刷法ICよる塗布法が用いられる各種分野で使用できる
。また、半導体素子のグイボンディング用接着剤以外に
も、電子部品用接着剤等の各種用途、たとえば高い接着
力を要求されるチップ部品(チップコンデンサー、チッ
プ抵抗器など)のセラミック端面外部電橋用、水晶発振
子の水晶振動板とり−ト°フレームとの導電接着剤とし
ても用いられ、また、印刷回路基板の印刷配線導体とし
ても有用である。すなわち、この導電性ペースト組成物
は、ハイブリッドICやモノシリツクICのグイポンデ
ィング用接着剤、あるいは従来低融点ガラスフリット銀
ペーストなど無機系銀ペーストしか使用できなかったチ
ップコンテンサーやチップ抵抗器などのチップ部品ノ分
野における電極材として、あ゛るいは水晶振動子固定用
導電性接着剤兼電極材、液晶表示セル電極材などに広く
用いられる。
い揺変性によるところのディスペンス塗布法に優れるの
で、同時にチクソトロピー性を要求されるスクリーン印
刷法ICよる塗布法が用いられる各種分野で使用できる
。また、半導体素子のグイボンディング用接着剤以外に
も、電子部品用接着剤等の各種用途、たとえば高い接着
力を要求されるチップ部品(チップコンデンサー、チッ
プ抵抗器など)のセラミック端面外部電橋用、水晶発振
子の水晶振動板とり−ト°フレームとの導電接着剤とし
ても用いられ、また、印刷回路基板の印刷配線導体とし
ても有用である。すなわち、この導電性ペースト組成物
は、ハイブリッドICやモノシリツクICのグイポンデ
ィング用接着剤、あるいは従来低融点ガラスフリット銀
ペーストなど無機系銀ペーストしか使用できなかったチ
ップコンテンサーやチップ抵抗器などのチップ部品ノ分
野における電極材として、あ゛るいは水晶振動子固定用
導電性接着剤兼電極材、液晶表示セル電極材などに広く
用いられる。
第1図〜第5図はこれら使用例を示すものである。第1
図(A)はハイプリツI″ICの平面図であり。
図(A)はハイプリツI″ICの平面図であり。
同図(B)は同1=I線断面図である。両図において1
は金属外囲器、 2m、 2b、 2c、 2d、 2
eはリーVビンである。3はアルミニウム、アルミナま
たはガラスエポキシなどからなる基板であり、この基板
3上に導体層4a、 4b、 4c、4d、 4e、
4f、 4g、 4h、 4i4j、 4に、 41が
設けられている。これら導体層は。
は金属外囲器、 2m、 2b、 2c、 2d、 2
eはリーVビンである。3はアルミニウム、アルミナま
たはガラスエポキシなどからなる基板であり、この基板
3上に導体層4a、 4b、 4c、4d、 4e、
4f、 4g、 4h、 4i4j、 4に、 41が
設けられている。これら導体層は。
銀、金、銀−パラジウムなどを導電フィラーとし、有機
ポリマーおよび低融点ガラスをバインダーとするペース
ト状物を基板上に塗工し、溶媒を除去したのち700〜
1,200℃程度で焼成することにょシ設けられる。
ポリマーおよび低融点ガラスをバインダーとするペース
ト状物を基板上に塗工し、溶媒を除去したのち700〜
1,200℃程度で焼成することにょシ設けられる。
導体層4c上には半導体素子5が、この発明の導電性ペ
ースト組成物を用いて形成されたペースト硬化物層6に
よって強固に接着固定されている。
ースト組成物を用いて形成されたペースト硬化物層6に
よって強固に接着固定されている。
この接着は、導体層4c上に前記の導電性ペースト組成
物を所定量設け、この上に半導体素子5をのせて、前記
組成物を加熱硬化(イミド化)させることによってなさ
れたものである。7a、 7bは他の導体層4b、4d
と電気的に接続するためのボンディングワイヤ、 8a
、8b、 8cは抵抗、コンデンサー、ダイオ−Fなど
のチップ部品である。9は基板1をのせた放熱板であり
、この放熱板91に、アースのために導体層4aとワイ
ヤ111によって電気的に接続された導体層1oが設け
られている。11はエポキシ樹脂などからなる封Ik、
Il脂。
物を所定量設け、この上に半導体素子5をのせて、前記
組成物を加熱硬化(イミド化)させることによってなさ
れたものである。7a、 7bは他の導体層4b、4d
と電気的に接続するためのボンディングワイヤ、 8a
、8b、 8cは抵抗、コンデンサー、ダイオ−Fなど
のチップ部品である。9は基板1をのせた放熱板であり
、この放熱板91に、アースのために導体層4aとワイ
ヤ111によって電気的に接続された導体層1oが設け
られている。11はエポキシ樹脂などからなる封Ik、
Il脂。
12はIJ’ Mピン2a〜2cの外部への延出部を封
止するためのエポキシ樹脂などからなるm指対止部であ
る。
止するためのエポキシ樹脂などからなるm指対止部であ
る。
第2図(A)はモノシリツクICの封止樹脂層を省略し
たモ面図であり、同m (B)は同ト]線断面図である
。両図において13はリーFフレームであり、このリー
ドフレーム13上に半導体素子14が、この発明の導電
性ペースト組成物を用いて形成されたペースト硬化物層
15によって強固に接着固定されている。この接着は前
記のへイブリッドtCにおける導体層と半導体素子との
接着と同様の方法で行われる。16m、16bは他のり
−Vフレーム14m、 14blCポンディングワイヤ
17m。
たモ面図であり、同m (B)は同ト]線断面図である
。両図において13はリーFフレームであり、このリー
ドフレーム13上に半導体素子14が、この発明の導電
性ペースト組成物を用いて形成されたペースト硬化物層
15によって強固に接着固定されている。この接着は前
記のへイブリッドtCにおける導体層と半導体素子との
接着と同様の方法で行われる。16m、16bは他のり
−Vフレーム14m、 14blCポンディングワイヤ
17m。
17bによって電気的に接続された電極、18はト’)
yスファー成形などにより上記の各部品を一体に封+h
したエポキシ樹脂などからなる封止樹脂層である。
yスファー成形などにより上記の各部品を一体に封+h
したエポキシ樹脂などからなる封止樹脂層である。
第3図はチップコンデンサーの断面図である。
同図において19はBaTi0.、 Tie、などを主
成分とするセラミック誘電体、20は有機ポリマーおよ
び低融点ガラスをバインダとする導電性ペースト組成物
から焼結により形成されよ無機系銀、金。
成分とするセラミック誘電体、20は有機ポリマーおよ
び低融点ガラスをバインダとする導電性ペースト組成物
から焼結により形成されよ無機系銀、金。
銀−パラジウムなどのペースト硬化物からなる内部電極
である。21m、21bはこれら内部電極を並列接続す
るように設けられたこの発明の導電性ペースト組成物を
硬化させてなる外部電極である。
である。21m、21bはこれら内部電極を並列接続す
るように設けられたこの発明の導電性ペースト組成物を
硬化させてなる外部電極である。
このチップコンデンサーは、 BaTi0.、 Tie
、などを主成分とするセラミック材料を薄膜シート状に
したものに、前記の無機系銀、金、#−パラジウムなど
の4電性ペ一スト組成物を印1!J L 、この一族シ
ートを数層から数千mに積み直ねて700〜1.200
℃程度で焼結し、次いでこの発明のペースト組成物を硬
化させた外部電極を設けることにより得られる。なお、
外部電極は、チップコンデンサーのハンダ付けの際に、
導電性充填剤としてノ銀のハンダへの溶出防止のため、
Ni等のメッキ層を設ける場合もある。
、などを主成分とするセラミック材料を薄膜シート状に
したものに、前記の無機系銀、金、#−パラジウムなど
の4電性ペ一スト組成物を印1!J L 、この一族シ
ートを数層から数千mに積み直ねて700〜1.200
℃程度で焼結し、次いでこの発明のペースト組成物を硬
化させた外部電極を設けることにより得られる。なお、
外部電極は、チップコンデンサーのハンダ付けの際に、
導電性充填剤としてノ銀のハンダへの溶出防止のため、
Ni等のメッキ層を設ける場合もある。
第4図はチップ抵抗器の断面図である。アルミナ基板2
2hに酸化ルテニウム、カーボンなどの厚膜からなる抵
抗素子23が設けられている。
2hに酸化ルテニウム、カーボンなどの厚膜からなる抵
抗素子23が設けられている。
24はこの発明の導電性ペースト組成物が加熱硬化(イ
ミM化)されて形成されたペースト硬化物であり、ハン
ダ付は性を良くするために錫を主体として設けられたハ
ンダメッキ層26およびニッケル層24′とともに外部
電極25を構成している。
ミM化)されて形成されたペースト硬化物であり、ハン
ダ付は性を良くするために錫を主体として設けられたハ
ンダメッキ層26およびニッケル層24′とともに外部
電極25を構成している。
このニッケルー24′は外部電極25をハンダ付けする
際にペースト硬化物24から導電性充填剤としての銀が
溶出するのを防止するために設けられえものである62
7はガラスからなる保護膜である。
際にペースト硬化物24から導電性充填剤としての銀が
溶出するのを防止するために設けられえものである62
7はガラスからなる保護膜である。
第5図(A)は水晶発振子の切欠側面図である。水晶板
28の両面に銀−金14$ 29m、 29bが設けら
れている。同図(B)は、この−膜29a、29bが設
けられた水晶板28のモ面図である。29’a、29’
bはこの発明の導電性ペースト組成物が加熱硬化(イミ
ド化)されて形成されたペースト硬化物であり、水晶板
28とり−Vフレーム31a、31bとを接着する機能
を有するとともに、前記の銀−金lI膜29a、29b
とともに電極30a。
28の両面に銀−金14$ 29m、 29bが設けら
れている。同図(B)は、この−膜29a、29bが設
けられた水晶板28のモ面図である。29’a、29’
bはこの発明の導電性ペースト組成物が加熱硬化(イミ
ド化)されて形成されたペースト硬化物であり、水晶板
28とり−Vフレーム31a、31bとを接着する機能
を有するとともに、前記の銀−金lI膜29a、29b
とともに電極30a。
30bを構成している。32は金属製ケースである。
以下にこの発明を実施例によって説明する。
各実施例および比較例には、横変性を示す尺度として、
揺変度(チクソトロビックインデックス)を次の式によ
シ定義した。
揺変度(チクソトロビックインデックス)を次の式によ
シ定義した。
揺変度=□
ま
ただし、l;東京計器■製BH型回転粘度針で。
ローターNo 7を用い、 2r−で計つた25℃での
粘度(ボイズ) マ;同じ(20rpmでの粘度(ボイズ)実施例1 攪拌装置、冷却管、温II’計および窒素置換装置を付
したフラスコ′中に、N−メチル−2−ピロリF719
B、3fを加え、ビス(3−アミノプロピル)テトラメ
チルジシロキサン0.879(0,0035モル)4・
1−tyアミ/97z=ルエ−テ+L’19.:l(0
,0965モル)を仕込み、溶解するまで攪拌した。つ
ぎに3・ご・4・4′−ビフェニルテトラカルボン酸二
無水29.4F(0,1モル)を除々に添加した。反応
系を30℃以下になるように保持し、透明粘稠溶液にな
るまで攪拌した。つぎに反応系を60℃に8時間保ち、
この加熱・熟成工程後不揮発固形分、20JI重量%、
溶液粘度が42()ボイズのポリイミド°前駆体の溶液
を作製した。
粘度(ボイズ) マ;同じ(20rpmでの粘度(ボイズ)実施例1 攪拌装置、冷却管、温II’計および窒素置換装置を付
したフラスコ′中に、N−メチル−2−ピロリF719
B、3fを加え、ビス(3−アミノプロピル)テトラメ
チルジシロキサン0.879(0,0035モル)4・
1−tyアミ/97z=ルエ−テ+L’19.:l(0
,0965モル)を仕込み、溶解するまで攪拌した。つ
ぎに3・ご・4・4′−ビフェニルテトラカルボン酸二
無水29.4F(0,1モル)を除々に添加した。反応
系を30℃以下になるように保持し、透明粘稠溶液にな
るまで攪拌した。つぎに反応系を60℃に8時間保ち、
この加熱・熟成工程後不揮発固形分、20JI重量%、
溶液粘度が42()ボイズのポリイミド°前駆体の溶液
を作製した。
得られたボリイミp前駆体の溶液1110 F (固形
分20t)K、325メツシユフリーパスの鱗片状銀粉
(i&大粒径32pm、IP均粒径5.1μy+z)9
6、6 fを加え、3本ロールで混練してボリイミF前
駆体の溶液に分散した。この3本ロールでの混線・分散
工程中に、エチレンビス、ステアリン酸アミFのキシレ
ン中膨潤分散ペースト(有効成分20重量%)5.83
fを加え、銀粉とともにポリイミ1″前駆体の溶液に分
散し、この発明の導電性ペースト組成物を作製した。
分20t)K、325メツシユフリーパスの鱗片状銀粉
(i&大粒径32pm、IP均粒径5.1μy+z)9
6、6 fを加え、3本ロールで混練してボリイミF前
駆体の溶液に分散した。この3本ロールでの混線・分散
工程中に、エチレンビス、ステアリン酸アミFのキシレ
ン中膨潤分散ペースト(有効成分20重量%)5.83
fを加え、銀粉とともにポリイミ1″前駆体の溶液に分
散し、この発明の導電性ペースト組成物を作製した。
逼られた銀ペースト組成物の揺変度を測定したところ、
4.21であり、チクソトロピー性力1高1.)ことが
判った。なお、21)rprt+での粘度は900ポイ
ズであった。次にこれを5ccシリンジに5f充填し、
5kg/cdの空気圧で 9−Fフレームのグイボン
ディングプレート上に、ディスペンチ−を用いて、連続
塗布したところ、吐出量のノ(ラツキが少なく、定量塗
布が可能であり、しかも、°°たれ”が無く、塗布作業
性に優れていることが判った。塗布後、半導体素子を接
着し、120℃で30分間、200℃で60分間、乾燥
・硬化し−た。
4.21であり、チクソトロピー性力1高1.)ことが
判った。なお、21)rprt+での粘度は900ポイ
ズであった。次にこれを5ccシリンジに5f充填し、
5kg/cdの空気圧で 9−Fフレームのグイボン
ディングプレート上に、ディスペンチ−を用いて、連続
塗布したところ、吐出量のノ(ラツキが少なく、定量塗
布が可能であり、しかも、°°たれ”が無く、塗布作業
性に優れていることが判った。塗布後、半導体素子を接
着し、120℃で30分間、200℃で60分間、乾燥
・硬化し−た。
半導体素子と IJ −Vフレームとの接着力をプツシ
ニブルゲージにて測定したところ、105kf/jだっ
た。同様にして350℃での接着力を調べたところ、
25kf/dであり、アセンブリ一工程での組ヴに支障
の無い接着力を示した。
ニブルゲージにて測定したところ、105kf/jだっ
た。同様にして350℃での接着力を調べたところ、
25kf/dであり、アセンブリ一工程での組ヴに支障
の無い接着力を示した。
実施例2
実施例1と同様にして、N−メチル−2−ピロリド°ン
210、Of中にビス(3−アミノプロピル)テトラメ
チルジシロキサン2.4859 (0,01モル)4・
4′−ジアミノジフェニルメタン17.82f(0,0
9モル)を溶解し1次いで3・了・4・l−ベンゾフェ
ノンテトラカルボン酸二無水32.2f(0,1モル)
を反応させ、不揮発固形分19.8重量%、溶液粘度1
43ボイズのポリイミド前駆体溶液を作製した。
210、Of中にビス(3−アミノプロピル)テトラメ
チルジシロキサン2.4859 (0,01モル)4・
4′−ジアミノジフェニルメタン17.82f(0,0
9モル)を溶解し1次いで3・了・4・l−ベンゾフェ
ノンテトラカルボン酸二無水32.2f(0,1モル)
を反応させ、不揮発固形分19.8重量%、溶液粘度1
43ボイズのポリイミド前駆体溶液を作製した。
このポリイミ)’前駆体溶液10・Of(固形分19.
8f)K、325メソシユフリーパスの鱗片状銀粉(最
大粒径32pm、’l’均粒径3.3 am ) 99
.Ofを加え。
8f)K、325メソシユフリーパスの鱗片状銀粉(最
大粒径32pm、’l’均粒径3.3 am ) 99
.Ofを加え。
三本ロールで混線・分散した。このペースト組成物10
0tに、実施例1で使用したエチレンビスステアリン酸
アミド°のキシレン中膨M分歓ヘ−x □ト(有効成分
20膚量%)1.80tを加え、再度3本ロールで分散
し、揺変度 3.73.2Orpmでの粘度830ボイ
ズのこの発明の導電性ペースト組成物を作成した。
0tに、実施例1で使用したエチレンビスステアリン酸
アミド°のキシレン中膨M分歓ヘ−x □ト(有効成分
20膚量%)1.80tを加え、再度3本ロールで分散
し、揺変度 3.73.2Orpmでの粘度830ボイ
ズのこの発明の導電性ペースト組成物を作成した。
実施例1と同様にして、ディスペンス法テ塗布作業性を
調べたところ、塗布作業性に優れ、しかも同様にして半
導体素子を接着し、100℃で30分間、250℃で6
0分間乾燥・硬化した後の半導体素子とリードフレーム
との接着力は、95kf/cd、350℃で23kf/
cdであり、充分な接着力を示した。
調べたところ、塗布作業性に優れ、しかも同様にして半
導体素子を接着し、100℃で30分間、250℃で6
0分間乾燥・硬化した後の半導体素子とリードフレーム
との接着力は、95kf/cd、350℃で23kf/
cdであり、充分な接着力を示した。
実施例3
実施例2で作製したこの発明の導電性銀ペースト組成物
を、5ccシリンジに5f詰め、 3kf/dの空気圧
で、気密封止型水晶発振子の組立に用いる4270イ製
リードフレーム上にディスペンス法で滴下し、水晶振動
板を接着後、120℃で30分間、275℃で90分間
乾燥し硬化し、接着固定した。低融点ガラスを用いて、
ガラス特容器上下を470℃で10分間の条件で密封し
、気密封止型水晶発振子を作製した。この過程でのディ
スペンサー塗布作業では、定量塗布が可能で、しかも、
シリンジ先端からの“°たれ”も無く、塗布作業性に優
れていることが判った。また、42アロイ製リードフレ
ームと水晶振動板との接着力も充分で。
を、5ccシリンジに5f詰め、 3kf/dの空気圧
で、気密封止型水晶発振子の組立に用いる4270イ製
リードフレーム上にディスペンス法で滴下し、水晶振動
板を接着後、120℃で30分間、275℃で90分間
乾燥し硬化し、接着固定した。低融点ガラスを用いて、
ガラス特容器上下を470℃で10分間の条件で密封し
、気密封止型水晶発振子を作製した。この過程でのディ
スペンサー塗布作業では、定量塗布が可能で、しかも、
シリンジ先端からの“°たれ”も無く、塗布作業性に優
れていることが判った。また、42アロイ製リードフレ
ームと水晶振動板との接着力も充分で。
75tMの高さから堅木上へ落下後の導通不良もなかっ
た。また、低融点ガラスでの封止にも充分耐えることか
ら、耐熱性も充分であシ、この発明の導電性ペースト組
成物は半導体素子のグイボンディング接着剤以外の用途
においても有用であることがわかった。
た。また、低融点ガラスでの封止にも充分耐えることか
ら、耐熱性も充分であシ、この発明の導電性ペースト組
成物は半導体素子のグイボンディング接着剤以外の用途
においても有用であることがわかった。
比較例1
実施例2で用いたポリイミド前駆体溶液100t。
鱗片状銀粉99. Ofを相様に3本ロールで混練・分
散した。このペースト組成物の揺変度は、1.43で、
20rpmでの粘度は890ボイズであった。
散した。このペースト組成物の揺変度は、1.43で、
20rpmでの粘度は890ボイズであった。
実施例2と同様にして、塗布作業性を調べたところ、吐
出量にバラツキが有り、定量塗布は困難であった。さら
に、ペースト組成物は塗布作−中に。
出量にバラツキが有り、定量塗布は困難であった。さら
に、ペースト組成物は塗布作−中に。
グイボンディングプレート以外のリードフレーム上に滴
下する場合があり IJ −Mフレームを汚染 ′する
ことがあった。しかし、正常に塗布された場合の半導体
素子とり−Fフレームとの接着力とは。
下する場合があり IJ −Mフレームを汚染 ′する
ことがあった。しかし、正常に塗布された場合の半導体
素子とり−Fフレームとの接着力とは。
実施例2と同様であった。
なお、上、記各実施例および比較例より得られたペース
ト組成物のNa+およびC1イオン含有量は以下の如く
であった。即ち該組成物を120℃。
ト組成物のNa+およびC1イオン含有量は以下の如く
であった。即ち該組成物を120℃。
3()分間を引続く200℃、60 分で乾燥・硬化し
粉砕して得られる150メツシュバス品5tに対して蒸
留水50Fを加えて121℃、2気圧。
粉砕して得られる150メツシュバス品5tに対して蒸
留水50Fを加えて121℃、2気圧。
20時間抽出した抽出水のNa” 、 C1−含有量は
各々5PPM以下であった。
各々5PPM以下であった。
第11図〜第5図はこの発明の導電性銀ペースト組成物
の使用例を示すものであり、第1図(A)はハイブリツ
FICの平面図、第1図(B)は上記第1図(A)のf
−1線断面図、第2図(A)はモノシリツクICの封止
樹脂層を省略したモ面図、第2図(B)は上記第2図(
A)の■−■線断面図、第3図はチップコンデンサーの
断面図、第41文はチップ抵抗器の断面図、第5図(A
)は水晶発振子の切欠側面図、第5図(B)は上記第5
図(A)の水晶振動子部分のモ面図である。 第2図 第3図 第4図
の使用例を示すものであり、第1図(A)はハイブリツ
FICの平面図、第1図(B)は上記第1図(A)のf
−1線断面図、第2図(A)はモノシリツクICの封止
樹脂層を省略したモ面図、第2図(B)は上記第2図(
A)の■−■線断面図、第3図はチップコンデンサーの
断面図、第41文はチップ抵抗器の断面図、第5図(A
)は水晶発振子の切欠側面図、第5図(B)は上記第5
図(A)の水晶振動子部分のモ面図である。 第2図 第3図 第4図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 +11導電性充填剤を含有するポリイミド系前駆体溶液
に、一般式 (式中R0およびR3は炭素数6〜24の一価の炭素水
素基であり、互いに同じであっても異なっていてもよい
。R3は炭素数1〜6の二価の炭化水素基である。)で
示されるアルキレンビス脂肪族モノカルボン酸アミVを
添加してなる導電性ペースト組成物。 (2)アルキレンビス脂肪族モノカルボン酸アミドの添
加量が、ポリイミド°系前駆体と導電性充填剤の合計竜
に対し、0.5〜5重量%である特許請求の範囲第1項
記載の導電性ペースト組成物。 13)アルキレンビス脂肪族モノカルボン酸アミドとし
て、有機溶剤中に肪酸アミドを固形分会量゛ 10〜2
5電量%の割合で膨潤分散させてなる膨潤分散体を用い
てなる特許請求の範囲第1項又は第2項記載の導電性ペ
ースト組成物。 て得ることのできる0、1〜50モル%の式(It)で
示される反覆単位と50〜99.9モル%の式(III
)で示される反覆単位からなるシミキチン変性ボリイミ
F前駆体である特許請求の範囲第1項〜第3項いずれか
記載の導電性ペースト組成物。 (但し、Rは2価の炭化水素基、R′は1価の炭化水素
基、R#は4価の有機基、rはケイ素を含まない有機ジ
アミンの残基である2価の有機基、nは1以上の整数で
ある)。 16)導電性充填剤が銀粉末である特許請求の範囲第1
項〜第4項いずれか記載の導電性ペースト組成物。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6483484A JPS60206884A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 導電性ペ−スト組成物 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6483484A JPS60206884A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 導電性ペ−スト組成物 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60206884A true JPS60206884A (ja) | 1985-10-18 |
Family
ID=13269668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6483484A Pending JPS60206884A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 導電性ペ−スト組成物 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60206884A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6440586A (en) * | 1987-08-07 | 1989-02-10 | Hitachi Chemical Co Ltd | Adhesive composition |
| JPH03270004A (ja) * | 1990-03-19 | 1991-12-02 | Mitsubishi Materials Corp | 積層セラミックコンデンサ |
| US5805409A (en) * | 1995-08-18 | 1998-09-08 | Tdk Corporation | Multi-layer electronic part having external electrodes that have a thermosetting resin and metal particles |
-
1984
- 1984-03-30 JP JP6483484A patent/JPS60206884A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6440586A (en) * | 1987-08-07 | 1989-02-10 | Hitachi Chemical Co Ltd | Adhesive composition |
| JPH03270004A (ja) * | 1990-03-19 | 1991-12-02 | Mitsubishi Materials Corp | 積層セラミックコンデンサ |
| US5805409A (en) * | 1995-08-18 | 1998-09-08 | Tdk Corporation | Multi-layer electronic part having external electrodes that have a thermosetting resin and metal particles |
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