JPS60207645A - 放射線断層撮像装置 - Google Patents
放射線断層撮像装置Info
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- JPS60207645A JPS60207645A JP59064161A JP6416184A JPS60207645A JP S60207645 A JPS60207645 A JP S60207645A JP 59064161 A JP59064161 A JP 59064161A JP 6416184 A JP6416184 A JP 6416184A JP S60207645 A JPS60207645 A JP S60207645A
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
（技術分野）
本発明は、放射線例えばＸ線等を用いて被検体の断層像
を得るコンピュータを利用した断層撮像装置 （Ｃｏ
ｍ ［） ｕ ｔ ｅ ｒ Ｔ ｏ ｍ ｏ ｇ ｒ
ａ ｐ ｈ ｙ ：以下Ｃ１−装置という）に関する。 （従来技術） 従来から、放射線を多数の角ｆ曳方向から被検体にスキ
トン照躬しＣその投影γ−夕を収集し、これらの投影デ
ータから−】ンピュータによる演幹処理によって被検体
各部の敢躬線吸収分イ［」をめ、被検体のＲ１’ｉ層像
を再構成づるＣＴ装置はにり知られている。 第１図はこのようなＣＴ−１’！ｉ 胃の要部を示Ｊ構
成図である。第１図において、１は放射線源として用い
られるＸ線管、２は枚用線検出器どして用いられるＸ線
検出器であり、被検体３を中心として被検１ホ３の周囲
を１回転１０に回転方向を反転させながら回転覆る。そ
して、回転しながら多数の角度方向から被検体３にＸ線
を黒用してイの投影ｉ゛−タを収集し、これらの投影デ
ータをディジタル信号に変換してコンビコータ４にカ１
１え、コンビコータ４は被検体３の断層画像を再構成覆
る。これら投影データの収集にあたつ
を得るコンピュータを利用した断層撮像装置 （Ｃｏ
ｍ ［） ｕ ｔ ｅ ｒ Ｔ ｏ ｍ ｏ ｇ ｒ
ａ ｐ ｈ ｙ ：以下Ｃ１−装置という）に関する。 （従来技術） 従来から、放射線を多数の角ｆ曳方向から被検体にスキ
トン照躬しＣその投影γ−夕を収集し、これらの投影デ
ータから−】ンピュータによる演幹処理によって被検体
各部の敢躬線吸収分イ［」をめ、被検体のＲ１’ｉ層像
を再構成づるＣＴ装置はにり知られている。 第１図はこのようなＣＴ−１’！ｉ 胃の要部を示Ｊ構
成図である。第１図において、１は放射線源として用い
られるＸ線管、２は枚用線検出器どして用いられるＸ線
検出器であり、被検体３を中心として被検１ホ３の周囲
を１回転１０に回転方向を反転させながら回転覆る。そ
して、回転しながら多数の角度方向から被検体３にＸ線
を黒用してイの投影ｉ゛−タを収集し、これらの投影デ
ータをディジタル信号に変換してコンビコータ４にカ１
１え、コンビコータ４は被検体３の断層画像を再構成覆
る。これら投影データの収集にあたつ
【は、基準角度位
置Ｐａまでの助走区間において加速を終了（〕、基準角
度位置Ｐｏて投影データの収集を開始してまず１回目の
投影データを収集し、その後は第２図に示すように一定
速度で回転しながら一定の角度間隔位置１〕ｏへ・［）
１毎に投影データを収集づる。 ところで、一般にこのようなＣｒ装置では、商用電源周
波数に同期してＸ線を照射させることが行われている。 しかし、Ｘ線管１及びＸ線検出器２が基準角反位Ｎ Ｐ
ｏに到達したことを検出した直後の電源電圧のピーク
でＸＩｍを照射させるという従来の方法では、実際にＸ
線照射を開始Ｊる角度位昆Ｐｏ′は、第３図に示すよう
に基準角反位ｍ Ｐ ｏから回転方向にＬｏだけずれて
しまう。又、これらＸ線管１及びＸ線検出器２の回転方
向は１回私毎に反転するために、往復回転間のずれは倍
増することになる。このような回転ずれは再構成した被
検体３の断層画像にも影響を及ぼすことになり、好まし
くない。このような回転ずれを補正する方法として、基
準角度位置検出レンサを回転ずれが零になるようにずら
して配置する方法もあるが、回転速度が低速と高速の２
種類あって、回転方向も２種類あることから、合計４個
の基準角度位置検出はンサが欽ヌとなり、調整及び制御
処理等がｒｌ雑になることから実用的−（はない。 （発明の１」的） 本発明は、上記の点に鑑みｌなされたちのＣ１その目的
は、回転ずれを補１．Ｅ シて被検体のＲＪｉ層画像画
像置再現性を高めることにある。 （発明の構成） この目的を達成りる本発明は、放射線源と放射線検出器
とを被検体を中心として回転さ１！ながら商用電源周波
数に同期して放射線を照射さＵて投影データを収集し、
該投影データに基づいて被検体の断層画像を再構成づる
ように構成されｌ、：、 ｆｌｌｌｌ断線断層撮像装置
いて、投影データの収集を開始した角度と投影データの
収集を１１１始リベき基準角度との差をめ、該角度差情
報に基づいく前記被検体の断層画像の再構成を行うこと
を特徴とづるものである。 （実施例） 以下、図面を参照し、本発明の実施例を詳細に説明する
。 第４図は本発明の一実施例を示タブ【コック図であって
、第１図ど同一部分には同一符号を付し、その説明は省
略づる。第４図において、５はＸ線筈１及びＸ線検出器
２を含む回転部、６は該回転部５の回転動作を制御づる
回転制御部である。回転部５から）沫データ収集装胃７
を介して投影データＳｄが二】ンビュータ４に入力され
ると共に、基準角度検出信号Ｓ＋及び回転方位パルス信
号８２が回転制御部６に入力される。回転制御部６から
は回転制９１信号８３が回転部５に向けて出力されると
共に、ずれ角度情報Ｓ４がコンピュータ４に入力される
。 このように構成された装置の動作について、第５図のタ
イムチト−１〜を用いて説明する。尚、第５図におい（
、（ａ）は商用電源周波数パルスを示し、（ｂ）はＸ線
制°御信号を示し、（Ｃ）は基準角度検出例＠Ｓ１を示
し、（ｄ）は回転方位パルス信号３ ｚを示している。 基準角用検出信号Ｓ１は、Ｘ線管１及びＸ線検出器２が
投影データの収集即ちＸ線の照射を開始づべき基準角度
位置に到達したことを検出づると、回転制御部６に送出
される。回転方ｔｅｌパルス（Ｆｊ号８２は、Ｘ線管１
及びＸ線検出器２が一定角度ずつ回転する旬に１パルス
ずつ回転制御部（８に送出される。本実ｊｈ例では、Ｘ
線管１及びＸ線検出器２が３６０度回転１−ることにに
つ１回転力位パルス信２）Ｓ２は２８８０パルス送出さ
れるものとづる。即ち、本実施例の場合、０．１２５［
回転づることにより１個の回転方位パルス信号Ｓ２が送
出されることになる。回転制御部６は、基準角度検出信
号Ｓ１を検知してから実際に第１回目の投影データの収
集を開始覆るまでの角度差を、その間に発生づる回転方
位パルス信＠Ｓ？のパルス数により計測し、その１測結
果をずれ角度情報Ｓ４としてコンピュータ４に送出づる
。即ち、回転制御部６は、基準角度検出例＠Ｓ１を検知
りるど、その後のＸ線制御信号の立ち上がりエツジまで
の間に発生づる回転方位パルス信号８２のパルス数ｎを
計数してずれ角度量をめる。本実施例で【よ、ずれ角度
量の分解能は前述のように０．１２５麿である。尚、こ
の分解能は、低速回転時にお（プるＸ線照射間隔角度の
１１５となり、高速回転時にお【ノるＸ線照射間隔角度
の１／１０となる。］１ンピコータ４は、このようにし
て入ツノされるずれ角度情報Ｓ４に基づいて、各回にお
【ノるＸ線照射角の補正を行い、それぞれ補正後の角度
で投影データが収集されたものとして被検体３の１ｆｌ
ｉ層画像の再構成処理を行う。ここぐ、基準角度をｅｏ
、ずれ角度量の分解能をθａ、Ｘ線照射間隔角度をΔ０
と覆ると、第１回目のＸＰＡ照射角θ１は、θ、フθＱ
＋ｒｌ・ｅａ となり、第２回目のＸ線照罰角ｅ２は、θ ２ − θ
（、十 ｎ ・ θ ａ −ト Δ θとなり、第３
回目のＸ線熱射角ｅ３は、θ３−００＋「）・θａ＋２
・Δθ となる。 尚、このような角度差ｎ・ｅａを補正しながら被検体３
のｌｌｉ層画像画像構成処理を行うのにあたって、投影
データに補正を加える方法と、逆投影処理において補正
を加える方法とがある。 前当の方法の例としては、隣接する投影データから角度
Ｉｎ・ｅａに応じた線形補間による補正を行い、基ハ「
・角度θ０において第１回［１のＸ線照射がなされた投
影データを作る方法がある。ｒ）・ｅａの角度差を生じ
た第１回目のＸ線照射角をＯｌ、このときの投影データ
をＰ（ｅｉ）、補１丁シた投影データを［〕（θｉ ｌ
’ ）とづると、Ｐ（ｅｉ′）は、 Ｐ （θ １ ′ ） ＝ Ｐ （θ ０ 斗 （ｉ−
１＞−Δ Ｏ）＝（（△θ−ｎ−ｅａ） ・Ｐ（（Ｅｌ
ｉ）−ト ｒ） ・ θ ａ−Ｐ（θ ｉ−１） ）
／Δθ で表わすことができる。 又、後者の方法の例どしては、投影データを逆投影演算
する際、Ｘ線照射角のパラメータを角度差ｎ−ｅａだけ
変更して処理りる方法がある。 尚、上記実施例では、放射線としてＸ線を用いる例を説
明しＩＣが、これに限るものではイＴく、その他の放射
線を用いてもよい。 （発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば、簡単な構成で、
投影デーを商用電源周波数に同期して収集し、被検体の
断層画像を再構成するＣＴ装置にお【ノる回転ずれを補
正して、被検体のｌＩｉ層画像画像置再現１うを高める
ことができる。又、これにより、同一断層面や一定間隔
て複数枚の断層画像を撮影した場合の位置指定を伴った
診断解析の精Ｉ衰を大幅に改善できる。
置Ｐａまでの助走区間において加速を終了（〕、基準角
度位置Ｐｏて投影データの収集を開始してまず１回目の
投影データを収集し、その後は第２図に示すように一定
速度で回転しながら一定の角度間隔位置１〕ｏへ・［）
１毎に投影データを収集づる。 ところで、一般にこのようなＣｒ装置では、商用電源周
波数に同期してＸ線を照射させることが行われている。 しかし、Ｘ線管１及びＸ線検出器２が基準角反位Ｎ Ｐ
ｏに到達したことを検出した直後の電源電圧のピーク
でＸＩｍを照射させるという従来の方法では、実際にＸ
線照射を開始Ｊる角度位昆Ｐｏ′は、第３図に示すよう
に基準角反位ｍ Ｐ ｏから回転方向にＬｏだけずれて
しまう。又、これらＸ線管１及びＸ線検出器２の回転方
向は１回私毎に反転するために、往復回転間のずれは倍
増することになる。このような回転ずれは再構成した被
検体３の断層画像にも影響を及ぼすことになり、好まし
くない。このような回転ずれを補正する方法として、基
準角度位置検出レンサを回転ずれが零になるようにずら
して配置する方法もあるが、回転速度が低速と高速の２
種類あって、回転方向も２種類あることから、合計４個
の基準角度位置検出はンサが欽ヌとなり、調整及び制御
処理等がｒｌ雑になることから実用的−（はない。 （発明の１」的） 本発明は、上記の点に鑑みｌなされたちのＣ１その目的
は、回転ずれを補１．Ｅ シて被検体のＲＪｉ層画像画
像置再現性を高めることにある。 （発明の構成） この目的を達成りる本発明は、放射線源と放射線検出器
とを被検体を中心として回転さ１！ながら商用電源周波
数に同期して放射線を照射さＵて投影データを収集し、
該投影データに基づいて被検体の断層画像を再構成づる
ように構成されｌ、：、 ｆｌｌｌｌ断線断層撮像装置
いて、投影データの収集を開始した角度と投影データの
収集を１１１始リベき基準角度との差をめ、該角度差情
報に基づいく前記被検体の断層画像の再構成を行うこと
を特徴とづるものである。 （実施例） 以下、図面を参照し、本発明の実施例を詳細に説明する
。 第４図は本発明の一実施例を示タブ【コック図であって
、第１図ど同一部分には同一符号を付し、その説明は省
略づる。第４図において、５はＸ線筈１及びＸ線検出器
２を含む回転部、６は該回転部５の回転動作を制御づる
回転制御部である。回転部５から）沫データ収集装胃７
を介して投影データＳｄが二】ンビュータ４に入力され
ると共に、基準角度検出信号Ｓ＋及び回転方位パルス信
号８２が回転制御部６に入力される。回転制御部６から
は回転制９１信号８３が回転部５に向けて出力されると
共に、ずれ角度情報Ｓ４がコンピュータ４に入力される
。 このように構成された装置の動作について、第５図のタ
イムチト−１〜を用いて説明する。尚、第５図におい（
、（ａ）は商用電源周波数パルスを示し、（ｂ）はＸ線
制°御信号を示し、（Ｃ）は基準角度検出例＠Ｓ１を示
し、（ｄ）は回転方位パルス信号３ ｚを示している。 基準角用検出信号Ｓ１は、Ｘ線管１及びＸ線検出器２が
投影データの収集即ちＸ線の照射を開始づべき基準角度
位置に到達したことを検出づると、回転制御部６に送出
される。回転方ｔｅｌパルス（Ｆｊ号８２は、Ｘ線管１
及びＸ線検出器２が一定角度ずつ回転する旬に１パルス
ずつ回転制御部（８に送出される。本実ｊｈ例では、Ｘ
線管１及びＸ線検出器２が３６０度回転１−ることにに
つ１回転力位パルス信２）Ｓ２は２８８０パルス送出さ
れるものとづる。即ち、本実施例の場合、０．１２５［
回転づることにより１個の回転方位パルス信号Ｓ２が送
出されることになる。回転制御部６は、基準角度検出信
号Ｓ１を検知してから実際に第１回目の投影データの収
集を開始覆るまでの角度差を、その間に発生づる回転方
位パルス信＠Ｓ？のパルス数により計測し、その１測結
果をずれ角度情報Ｓ４としてコンピュータ４に送出づる
。即ち、回転制御部６は、基準角度検出例＠Ｓ１を検知
りるど、その後のＸ線制御信号の立ち上がりエツジまで
の間に発生づる回転方位パルス信号８２のパルス数ｎを
計数してずれ角度量をめる。本実施例で【よ、ずれ角度
量の分解能は前述のように０．１２５麿である。尚、こ
の分解能は、低速回転時にお（プるＸ線照射間隔角度の
１１５となり、高速回転時にお【ノるＸ線照射間隔角度
の１／１０となる。］１ンピコータ４は、このようにし
て入ツノされるずれ角度情報Ｓ４に基づいて、各回にお
【ノるＸ線照射角の補正を行い、それぞれ補正後の角度
で投影データが収集されたものとして被検体３の１ｆｌ
ｉ層画像の再構成処理を行う。ここぐ、基準角度をｅｏ
、ずれ角度量の分解能をθａ、Ｘ線照射間隔角度をΔ０
と覆ると、第１回目のＸＰＡ照射角θ１は、θ、フθＱ
＋ｒｌ・ｅａ となり、第２回目のＸ線照罰角ｅ２は、θ ２ − θ
（、十 ｎ ・ θ ａ −ト Δ θとなり、第３
回目のＸ線熱射角ｅ３は、θ３−００＋「）・θａ＋２
・Δθ となる。 尚、このような角度差ｎ・ｅａを補正しながら被検体３
のｌｌｉ層画像画像構成処理を行うのにあたって、投影
データに補正を加える方法と、逆投影処理において補正
を加える方法とがある。 前当の方法の例としては、隣接する投影データから角度
Ｉｎ・ｅａに応じた線形補間による補正を行い、基ハ「
・角度θ０において第１回［１のＸ線照射がなされた投
影データを作る方法がある。ｒ）・ｅａの角度差を生じ
た第１回目のＸ線照射角をＯｌ、このときの投影データ
をＰ（ｅｉ）、補１丁シた投影データを［〕（θｉ ｌ
’ ）とづると、Ｐ（ｅｉ′）は、 Ｐ （θ １ ′ ） ＝ Ｐ （θ ０ 斗 （ｉ−
１＞−Δ Ｏ）＝（（△θ−ｎ−ｅａ） ・Ｐ（（Ｅｌ
ｉ）−ト ｒ） ・ θ ａ−Ｐ（θ ｉ−１） ）
／Δθ で表わすことができる。 又、後者の方法の例どしては、投影データを逆投影演算
する際、Ｘ線照射角のパラメータを角度差ｎ−ｅａだけ
変更して処理りる方法がある。 尚、上記実施例では、放射線としてＸ線を用いる例を説
明しＩＣが、これに限るものではイＴく、その他の放射
線を用いてもよい。 （発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば、簡単な構成で、
投影デーを商用電源周波数に同期して収集し、被検体の
断層画像を再構成するＣＴ装置にお【ノる回転ずれを補
正して、被検体のｌＩｉ層画像画像置再現１うを高める
ことができる。又、これにより、同一断層面や一定間隔
て複数枚の断層画像を撮影した場合の位置指定を伴った
診断解析の精Ｉ衰を大幅に改善できる。
第１図はＣＴ装置の要部を承り構成図、第２図及び第３
図は第１図の動作説明図、第４図は本発明の一実施例を
示リブロック図、第５図は第４図の動作を説明づるため
のタイムチト−トである。 １・・・敢射線源（Ｘ線管〉 ２・・・放射線検出器＜ｘｍ検出器） ３・・・被検体 ４・・・コンピュータ５・・・回転部
６・・・回転制御部 ７・・・データ収集装置 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社第１図 η
図は第１図の動作説明図、第４図は本発明の一実施例を
示リブロック図、第５図は第４図の動作を説明づるため
のタイムチト−トである。 １・・・敢射線源（Ｘ線管〉 ２・・・放射線検出器＜ｘｍ検出器） ３・・・被検体 ４・・・コンピュータ５・・・回転部
６・・・回転制御部 ７・・・データ収集装置 特許出願人 横河メディカルシステム株式会社第１図 η
Claims (1)
- 放射線源と１１ｉ躬線検出器とを被検体を中心として回
転させながら商用電源周波数に同期して放射線を照射さ
せて投影データを収集し、該投影データに基づいて被検
体の断層画像を再構成するように構成された放射線断層
撮像装置において、投影データの収集を開始した角度と
投影データの収集を開始づべぎ基準角度との差をめ、該
角度差情報に塞づいて前記被検体の断層画像の再構成を
行うことを特徴とする放躬線断層九像装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59064161A JPS60207645A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 放射線断層撮像装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59064161A JPS60207645A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 放射線断層撮像装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60207645A true JPS60207645A (ja) | 1985-10-19 |
| JPH0441022B2 JPH0441022B2 (ja) | 1992-07-07 |
Family
ID=13250063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59064161A Granted JPS60207645A (ja) | 1984-03-30 | 1984-03-30 | 放射線断層撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60207645A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5237205A (en) * | 1989-10-02 | 1993-08-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Ground plane for plastic encapsulated integrated circuit die packages |
| WO2011030460A1 (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-17 | 三菱重工業株式会社 | 放射線断層撮影方法 |
| WO2012096287A1 (ja) * | 2011-01-12 | 2012-07-19 | 株式会社 東芝 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
| US8842804B2 (en) | 2011-01-12 | 2014-09-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray computed tomography apparatus |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4420186B2 (ja) * | 2003-09-29 | 2010-02-24 | 株式会社島津製作所 | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1984
- 1984-03-30 JP JP59064161A patent/JPS60207645A/ja active Granted
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5237205A (en) * | 1989-10-02 | 1993-08-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Ground plane for plastic encapsulated integrated circuit die packages |
| WO2011030460A1 (ja) * | 2009-09-14 | 2011-03-17 | 三菱重工業株式会社 | 放射線断層撮影方法 |
| US8218716B2 (en) | 2009-09-14 | 2012-07-10 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Radiation tomography method |
| JP5031095B2 (ja) * | 2009-09-14 | 2012-09-19 | 三菱重工業株式会社 | 放射線断層撮影方法および放射線治療装置制御装置 |
| WO2012096287A1 (ja) * | 2011-01-12 | 2012-07-19 | 株式会社 東芝 | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
| JP2012157691A (ja) * | 2011-01-12 | 2012-08-23 | Toshiba Corp | Ｘ線コンピュータ断層撮影装置 |
| US8842804B2 (en) | 2011-01-12 | 2014-09-23 | Kabushiki Kaisha Toshiba | X-ray computed tomography apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0441022B2 (ja) | 1992-07-07 |
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