JPS60207980A - 画像取込用装置および方法 - Google Patents
画像取込用装置および方法Info
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- JPS60207980A JPS60207980A JP59062204A JP6220484A JPS60207980A JP S60207980 A JPS60207980 A JP S60207980A JP 59062204 A JP59062204 A JP 59062204A JP 6220484 A JP6220484 A JP 6220484A JP S60207980 A JPS60207980 A JP S60207980A
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 19
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 7
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- 239000007787 solid Substances 0.000 claims 1
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、欠陥検査、微小凹凸の為に通常では充分なコ
ントラストが得られず認識困難なマーク等の対象物の自
動読取等に使用して所望の画像を得るための画像取込用
装置および方法に関するものである。
ントラストが得られず認識困難なマーク等の対象物の自
動読取等に使用して所望の画像を得るための画像取込用
装置および方法に関するものである。
最近、素材産業における欠陥検査や部品、部材の寸法測
定、さらには部品表面にほどこされる刻印文字等の自動
読取のため、対象物の画像をCODあるいはビジコンカ
メラを用いて取込み、目的に応じた画像処理を行なう必
要性が増大してきた。従来の画像取込装置においては、
画像取込時にハロゲンランプ等の白色光源を用いて対象
物を照明していた。このとき、1個の光源を使用して照
明(ると、外乱光(周辺光)の取込画像に対する影響が
増大し、光源距離の変化による対象物上での光量の増減
が大きく、そのため取込画像について2値化条件の設定
が困難となる欠点があつlこ 。
定、さらには部品表面にほどこされる刻印文字等の自動
読取のため、対象物の画像をCODあるいはビジコンカ
メラを用いて取込み、目的に応じた画像処理を行なう必
要性が増大してきた。従来の画像取込装置においては、
画像取込時にハロゲンランプ等の白色光源を用いて対象
物を照明していた。このとき、1個の光源を使用して照
明(ると、外乱光(周辺光)の取込画像に対する影響が
増大し、光源距離の変化による対象物上での光量の増減
が大きく、そのため取込画像について2値化条件の設定
が困難となる欠点があつlこ 。
さらに、上述した欠点を除去するため、複数個の光源を
同時に点灯して対象物を均一に照明しようとする例もあ
るが、この場合でも基本的には散乱光を用いた照明であ
るため、例えば部品表面にほどこされる刻印の場合を例
にとると0の字を均一に照明して良好に判断することが
できず、そのため画像処理装置等でソフト的に処理しな
ければならず手間のかかる欠点があった。また、上述し
た複数個の光源を同時に点灯づ゛る場合は、構造化のメ
リッ1−を出しにくい欠点があった。
同時に点灯して対象物を均一に照明しようとする例もあ
るが、この場合でも基本的には散乱光を用いた照明であ
るため、例えば部品表面にほどこされる刻印の場合を例
にとると0の字を均一に照明して良好に判断することが
できず、そのため画像処理装置等でソフト的に処理しな
ければならず手間のかかる欠点があった。また、上述し
た複数個の光源を同時に点灯づ゛る場合は、構造化のメ
リッ1−を出しにくい欠点があった。
本発明の目的は、上述した不具合を解消して、所定の位
置に設置した複数光源を順次aa点灯し、各点灯毎の画
像を撮像して合成することにより、必要な画像情報をh
速に取出せる画像取込用装置および方法を提供しようと
するものである。
置に設置した複数光源を順次aa点灯し、各点灯毎の画
像を撮像して合成することにより、必要な画像情報をh
速に取出せる画像取込用装置および方法を提供しようと
するものである。
本発明は、測定対象物を特定波長域を含む光で異なる角
度から照明するように所定の位置関係で配置された高速
点灯可能な複数の光源ど、これら複数の光源を順次切替
で点灯制御する光源ドライバと、前記特定波長域の光だ
けを透過するフィルタと、前記フィルタを透過した光を
光源毎にfIi像して取り込むための撮像装置と、この
IIl像装置で撮像した画像のゲインを調整する自動ゲ
インコントロール回路と、対象物上では均一な光mとな
るよう画像データを補正する光量補正回路と、画像のエ
ツジ部分を強調するエツジ強調回路とを含む前処理回路
と、前記各装置および回路の11111flとともに光
源毎の画像を処理して所望の測定を行なう画像処理装置
とを具えることを特徴とするものである。
度から照明するように所定の位置関係で配置された高速
点灯可能な複数の光源ど、これら複数の光源を順次切替
で点灯制御する光源ドライバと、前記特定波長域の光だ
けを透過するフィルタと、前記フィルタを透過した光を
光源毎にfIi像して取り込むための撮像装置と、この
IIl像装置で撮像した画像のゲインを調整する自動ゲ
インコントロール回路と、対象物上では均一な光mとな
るよう画像データを補正する光量補正回路と、画像のエ
ツジ部分を強調するエツジ強調回路とを含む前処理回路
と、前記各装置および回路の11111flとともに光
源毎の画像を処理して所望の測定を行なう画像処理装置
とを具えることを特徴とするものである。
さらに本発明は、測定対象物を異なる角度から照明する
ような位置関係に配置された複数個の光源を順次切替点
灯して、光源の各点灯毎の画像を各別に撮像することに
より、所望の画像を取り込むことを特徴とするものであ
る。
ような位置関係に配置された複数個の光源を順次切替点
灯して、光源の各点灯毎の画像を各別に撮像することに
より、所望の画像を取り込むことを特徴とするものであ
る。
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は、本発明の画像取込用装置の一実施例を示すブ
ロック図である。第1図に示す例では、光源が2個の例
を示している。光源1,2はGaAs’固体レーザ(出
力20mW、波長830nm )により構成され、画像
処理装置9の制御のもとに光源ドライバであるレーザド
ライバ10により高速で交互に点灯する。各点灯毎の対
象物3の画像は、GaAs固体レーザの有ヅる波長(8
30nm )の光だけを透過するフィルタ4を介してT
Vカメラ5に入射して1lil像される。撮像されIC
画像データは、まずAGC回路6に供給される。AGC
回路6にJ3いては、画像データの分散を考慮してその
データが各画像の最大出力と最小出力の間に亘って広く
分布するように信号の利得を制御する。AGC回路6で
の処理を終えた画像データは、光量補正回路7へ供給さ
れ、光源位置の変化による対象物上での照明光量の増減
を、対象物上では均一な光量となる画像データを得るよ
うに照明光強度分イIIと逆の利得を与えて補正する。
ロック図である。第1図に示す例では、光源が2個の例
を示している。光源1,2はGaAs’固体レーザ(出
力20mW、波長830nm )により構成され、画像
処理装置9の制御のもとに光源ドライバであるレーザド
ライバ10により高速で交互に点灯する。各点灯毎の対
象物3の画像は、GaAs固体レーザの有ヅる波長(8
30nm )の光だけを透過するフィルタ4を介してT
Vカメラ5に入射して1lil像される。撮像されIC
画像データは、まずAGC回路6に供給される。AGC
回路6にJ3いては、画像データの分散を考慮してその
データが各画像の最大出力と最小出力の間に亘って広く
分布するように信号の利得を制御する。AGC回路6で
の処理を終えた画像データは、光量補正回路7へ供給さ
れ、光源位置の変化による対象物上での照明光量の増減
を、対象物上では均一な光量となる画像データを得るよ
うに照明光強度分イIIと逆の利得を与えて補正する。
補正後の画像データはエツジ強調回路8により画像中の
エツジ部分を強調された後、画像処理装置9内のグレイ
ンtりに各点灯の画像毎にデジタル値として記憶され、
2値化等の画像処理を行なうのに使用される。」二連し
たAGC6,光間補正7.エツジ強調8の各回路よりな
る前処理回路は、アナログ回路として構成してもデジタ
ル回路として構成してもとららでも良い。
エツジ部分を強調された後、画像処理装置9内のグレイ
ンtりに各点灯の画像毎にデジタル値として記憶され、
2値化等の画像処理を行なうのに使用される。」二連し
たAGC6,光間補正7.エツジ強調8の各回路よりな
る前処理回路は、アナログ回路として構成してもデジタ
ル回路として構成してもとららでも良い。
次に、例えばタイヤ製造工程中の欠陥検査に」二連した
構成の画像取込用装置を使用した例を承り。
構成の画像取込用装置を使用した例を承り。
まず第2図のようなベルトコンベヤ上を移動Jる加硫前
のゴムシート上にV字状の欠陥がある場合を考えると、
光源1により照明したときの画像は第3図に示づように
なり、V字状欠陥の0面は黒レベルとして表示されるた
め簡単に2値化して欠陥と判断できるが、V字状欠陥の
0面は黒レベルと1よならず背景とは微妙に相違するが
ハーフトーンとなるため、簡単には2値化できず欠陥と
判断Jるには多くの手間がかかる。これに対して光源2
により照明した場合は、第4図に示すように0面は簡単
に欠陥と判断できるが0面は判断に手間がかかる。その
ため、単一光源による画像(第3゜4図のいずれか一方
のみ)の2値化では欠陥を正確に判断できないし、また
両光源を同時に照明してもC,D両面がハーフトーンに
なってしまい欠陥と判断することは困難であった。そこ
で本発明の上述した構成においては、光源1.2の照射
毎の画像を画像処理装置9中のグレイメモリに階層的に
記憶してそれらのANDをとるような形で画面をオーバ
ラップさせることによって、正確に欠陥を検知している
。
のゴムシート上にV字状の欠陥がある場合を考えると、
光源1により照明したときの画像は第3図に示づように
なり、V字状欠陥の0面は黒レベルとして表示されるた
め簡単に2値化して欠陥と判断できるが、V字状欠陥の
0面は黒レベルと1よならず背景とは微妙に相違するが
ハーフトーンとなるため、簡単には2値化できず欠陥と
判断Jるには多くの手間がかかる。これに対して光源2
により照明した場合は、第4図に示すように0面は簡単
に欠陥と判断できるが0面は判断に手間がかかる。その
ため、単一光源による画像(第3゜4図のいずれか一方
のみ)の2値化では欠陥を正確に判断できないし、また
両光源を同時に照明してもC,D両面がハーフトーンに
なってしまい欠陥と判断することは困難であった。そこ
で本発明の上述した構成においては、光源1.2の照射
毎の画像を画像処理装置9中のグレイメモリに階層的に
記憶してそれらのANDをとるような形で画面をオーバ
ラップさせることによって、正確に欠陥を検知している
。
上述した本発明の画像取込用装置および方法では、従来
のような単一画像の211g化処理では画像メモリ上で
のグレースケール演算等の手法を用いて必要な情報の取
り出しにかなりの時間を要していたのに対し、これらの
ソフト的処理の一部を構造化された複数の光源を順次切
替え使用りることにより必要情報の取出しがほぼ実時間
で達成出来る為に従来方式に比べかなり高速化が得られ
るという特長をもつ。
のような単一画像の211g化処理では画像メモリ上で
のグレースケール演算等の手法を用いて必要な情報の取
り出しにかなりの時間を要していたのに対し、これらの
ソフト的処理の一部を構造化された複数の光源を順次切
替え使用りることにより必要情報の取出しがほぼ実時間
で達成出来る為に従来方式に比べかなり高速化が得られ
るという特長をもつ。
第5図は本発明による画像取込7’J法を実/11!す
る装置の他の例を示す線図である。測定対象物3上の垂
直線の左右対称な位置に第1および第2のTVカメラ1
1.12を配置すると共に同じく左右対称に第1および
第2の光源13.14を配置する。カメラ11および1
2の前面には特定の波長の光を透過するフィルタ15お
よび1Gをそれぞれ配置する。これら2台のTVカメラ
13および14はカメラコントローラ17によって駆動
制御する。その他の構成は前述した実施例と同様であり
、光源11J3よび12は画像処理装置17によりイン
ターフェース18および光源ドライバ19を介して駆動
制御され、TVカメラ13および14からの画像信号を
インターフェース20、AGC回路21.光量補正回路
22およびエツジ強調回路23を介して画1象処理装@
11へ取込むように構成する。本例では先ず第1の光源
11を点灯して、第1および第2のTVカメラ13およ
び14で撮像を行ない、次に第1の光源11を消灯し、
第2の光源12を点刻して第1および第2のTVカメラ
1:J3よび14により@像を行なう。このようにして
異なる角度から見た4つの画面についての画像情報を各
別に画像処理装置17に取込むことができるので、画像
処理装置17においてこれらを適切に処理づることによ
り必要な情報を正確に得ることができる。
る装置の他の例を示す線図である。測定対象物3上の垂
直線の左右対称な位置に第1および第2のTVカメラ1
1.12を配置すると共に同じく左右対称に第1および
第2の光源13.14を配置する。カメラ11および1
2の前面には特定の波長の光を透過するフィルタ15お
よび1Gをそれぞれ配置する。これら2台のTVカメラ
13および14はカメラコントローラ17によって駆動
制御する。その他の構成は前述した実施例と同様であり
、光源11J3よび12は画像処理装置17によりイン
ターフェース18および光源ドライバ19を介して駆動
制御され、TVカメラ13および14からの画像信号を
インターフェース20、AGC回路21.光量補正回路
22およびエツジ強調回路23を介して画1象処理装@
11へ取込むように構成する。本例では先ず第1の光源
11を点灯して、第1および第2のTVカメラ13およ
び14で撮像を行ない、次に第1の光源11を消灯し、
第2の光源12を点刻して第1および第2のTVカメラ
1:J3よび14により@像を行なう。このようにして
異なる角度から見た4つの画面についての画像情報を各
別に画像処理装置17に取込むことができるので、画像
処理装置17においてこれらを適切に処理づることによ
り必要な情報を正確に得ることができる。
本発明は上述した実施例にのみ限定されるものではなく
、幾多の変形、変更を加えることができる。例えば上述
した実施例では、2個の光源を設りたが、測定対象物を
中心として4個の光源を90°の角度を以って設けるこ
ともでき、この場合には、rOJのようなアルファベラ
1−を正確に認IIることかできる。また、上述した実
施例では前処理としてAGC5光量補正、エツジ強調の
処理を画像に対して施したが、他の処理を前処理として
行なっても良い。
、幾多の変形、変更を加えることができる。例えば上述
した実施例では、2個の光源を設りたが、測定対象物を
中心として4個の光源を90°の角度を以って設けるこ
ともでき、この場合には、rOJのようなアルファベラ
1−を正確に認IIることかできる。また、上述した実
施例では前処理としてAGC5光量補正、エツジ強調の
処理を画像に対して施したが、他の処理を前処理として
行なっても良い。
以上詳細に説明したところから明らかなように、本発明
の画像取込用a置おJ:び方法によれば、複数光源を順
次異なる方向から点灯して対象物を照明して、各点月毎
の画像を合成して必要な画像情報を得ているため、高速
かつ正確に欠陥や部品表面にほどこされる刻印の読取等
の処理が可能となる。また、狭帯域の波長を持つ固体レ
ーザを狭帯域フィルタおよびカメラと組み合わせること
によって、外乱光等の影響を最小限にすることができる
。ざらにレーザ光はビームエクスパンダ等を通すことに
よりさらに指向性が良くなり、白色光と比較して距離に
よる減衰比が小となる。このため、対象物と光源との距
離関係がある程度自由となる。
の画像取込用a置おJ:び方法によれば、複数光源を順
次異なる方向から点灯して対象物を照明して、各点月毎
の画像を合成して必要な画像情報を得ているため、高速
かつ正確に欠陥や部品表面にほどこされる刻印の読取等
の処理が可能となる。また、狭帯域の波長を持つ固体レ
ーザを狭帯域フィルタおよびカメラと組み合わせること
によって、外乱光等の影響を最小限にすることができる
。ざらにレーザ光はビームエクスパンダ等を通すことに
よりさらに指向性が良くなり、白色光と比較して距離に
よる減衰比が小となる。このため、対象物と光源との距
離関係がある程度自由となる。
また、複数光源を用いて照明をかなり複雑に[i化でき
るため、必要な画像情報を取り出すためのアルゴリズム
作成の自由度が大きくなる利点もある。
るため、必要な画像情報を取り出すためのアルゴリズム
作成の自由度が大きくなる利点もある。
第1図は本発明の画像取込用装置の一実施例を示すブロ
ック図、 第2図は本発明によるゴムシート部の欠陥を検査する場
合の一実施例を示す斜視図、 第3.4図は各照明毎に取り込んだ画像の状態を示す図
、 第5図は本発明の画像取込用装置の他の実施例を示タブ
ロック図である。 1、 2.11.12・・・光源 3・・・対象物4、
15.16・・・フイ/Lz夕5.13.14−TVカ
メラ6.21・・・AGC回路 7,22・・・光量補
正回路8.23・・・エツジ強調回路 9.17・・・画像処理装置 10.19・・・光源ド
ライバ。 第1図 第2図 第3図 第4図 Cυ 第5図
ック図、 第2図は本発明によるゴムシート部の欠陥を検査する場
合の一実施例を示す斜視図、 第3.4図は各照明毎に取り込んだ画像の状態を示す図
、 第5図は本発明の画像取込用装置の他の実施例を示タブ
ロック図である。 1、 2.11.12・・・光源 3・・・対象物4、
15.16・・・フイ/Lz夕5.13.14−TVカ
メラ6.21・・・AGC回路 7,22・・・光量補
正回路8.23・・・エツジ強調回路 9.17・・・画像処理装置 10.19・・・光源ド
ライバ。 第1図 第2図 第3図 第4図 Cυ 第5図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、測定対象物を特定波長域を含む光で異なる角度から
照明するように所定の位置関係で配置された高速点灯可
能な複数の光源と、これら複数の光源を順次切替で点灯
制御する光源ドライバと、 前記特定波長域の光だけを透過するフィルタと、 前記フィルタを透過した光を光源毎に撮像して取り込む
ための撮像装置と、 この撮像装置で撮像した画像のゲインを調整する自動ゲ
インコントロール回路と、対象物」二では均一な光量と
なるよう画像データを補正する光量補正回路と、画像の
エツジ部分を強調するエツジ強調回路とを含む前処理回
路と、 前記各装置および回路の制御とともに光源毎の画像を処
理して所望の測定を行なう画像処理装置とを具えること
を特徴とJる画像取込用装置。 2、前記光源としてQa AS固体レーザを使用するこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の画像取込用
装置。 3、測定対象物を異なる角度から照明するような位置関
係に配置された複数個の光源を順次切替点灯して、光源
の各点灯毎の画像を各別に撮像することにより、所望の
画像を取り込むことを特徴とする画像取込方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59062204A JPS60207980A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 画像取込用装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59062204A JPS60207980A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 画像取込用装置および方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60207980A true JPS60207980A (ja) | 1985-10-19 |
Family
ID=13193380
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59062204A Pending JPS60207980A (ja) | 1984-03-31 | 1984-03-31 | 画像取込用装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60207980A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6180372A (ja) * | 1984-09-26 | 1986-04-23 | Nippon Steel Corp | 打刻印の検出方法 |
| JPS62137681A (ja) * | 1985-12-11 | 1987-06-20 | Omron Tateisi Electronics Co | 物体表面の観察装置 |
| JPS63126081A (ja) * | 1986-11-14 | 1988-05-30 | Nippon Steel Corp | 打刻印の検出方法 |
| US4974077A (en) * | 1988-08-05 | 1990-11-27 | Bridgestone Corporation | Apparatus for detecting edge position of elongated article |
| JP2008527492A (ja) * | 2004-12-30 | 2008-07-24 | シンボル テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 情報キャプチャイルミネーションのための方法および装置 |
-
1984
- 1984-03-31 JP JP59062204A patent/JPS60207980A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6180372A (ja) * | 1984-09-26 | 1986-04-23 | Nippon Steel Corp | 打刻印の検出方法 |
| JPS62137681A (ja) * | 1985-12-11 | 1987-06-20 | Omron Tateisi Electronics Co | 物体表面の観察装置 |
| JPS63126081A (ja) * | 1986-11-14 | 1988-05-30 | Nippon Steel Corp | 打刻印の検出方法 |
| US4974077A (en) * | 1988-08-05 | 1990-11-27 | Bridgestone Corporation | Apparatus for detecting edge position of elongated article |
| JP2008527492A (ja) * | 2004-12-30 | 2008-07-24 | シンボル テクノロジーズ, インコーポレイテッド | 情報キャプチャイルミネーションのための方法および装置 |
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