JPS60213040A - ウエ−ハプロ−バ装置 - Google Patents

ウエ−ハプロ−バ装置

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JPS60213040A
JPS60213040A JP59069072A JP6907284A JPS60213040A JP S60213040 A JPS60213040 A JP S60213040A JP 59069072 A JP59069072 A JP 59069072A JP 6907284 A JP6907284 A JP 6907284A JP S60213040 A JPS60213040 A JP S60213040A
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    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10P74/00—Testing or measuring during manufacture or treatment of wafers, substrates or devices

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、半導体ウェーハ加工工程において、グローブ
検査工程に使用されるウエーハグローバ装置に関するも
のである。
〔発明の背景〕
一般にプローブ検査工程では、半導体ICテスターと連
動してウェーハ上に形成されたチップのブロービングを
順次笑行する自動ウエーハプローバ装置が使用されてい
る。
第1図に、従来用いられているこの種のウエーハプロー
バ装置の構成例を示す。図において、グローブ検査され
るウェーハIU、X、Y、Zおよび回転方向に移動する
XYzθテーブル2に真空固着される。XYzθテーブ
ル2け、モーター、ねじ送りなどにより直線および回転
方向に駆動される。モータアンプ部3は、これらXYz
θに電力を与え、位置検出部4はXYzθテーブル2に
取付りられたXYZおよび回転位置検出センサからのテ
ーブル位置情報を受ける。XYZθテーブル制御ユニッ
ト5社、演算制御部60指令を受け位置検出部4の検出
出力に応じてモータアンプ部3を制御(7テーブル2の
速度制御および位置決め制御を行なう。
プローバ装置ベース7にはウェーハ1の粗位置を検出す
るウェーハ位置検出器8が取付けられ、ウェーハ1の外
周およびオリフラ位置を演算検出するためウェーッ・位
置検出インターフェース部9に電気接続さ7している。
また、ベース7にはウェーハ1上のチップパターンを認
識するウェーッSg識装@ioが設置され、ウェーッ・
認識制御部11に接続されている。ウェーッ・認識制御
部11は、演算制御部6とインターフェースをとってウ
ェーハ1上のチップパターンを演算認識させ、高精度の
位置検出を行なう。
次に、後述するティーチイン作業が完了し、プローブ針
群12の位置が演算制御部6に既に記憶されている場合
の通常作業について、上記グローバ装置におけるブロー
ビング作業を説明する。
ウェーハIViXYZθテーブル2に対し±2mm程度
のばらつきで、また回転方向線不定の状態で自動供給さ
れる。したがって、プローバ基準点からのウェーハ1の
位fItは不明でめる。そこで、次の手順により位置検
出を行なう。
すなわち、プローバ基準点に対するXYzθテーブル2
0位置鉱位置横位置検出部4力情報により既知でるるた
め、演算制御部6はテーブル制御ユニット5に指令を出
してウェーハ位置検出器8下の特定位置へテーブル2を
送る。次にその位置でテーブル2t−回転させ、ウェー
ハ1をウェーハ位置検出器8下で回転させる。この場合
検出器8はウェーハ1外部が振れても十分な検出範囲を
持っている。
回転中に、ウェーハ位置検出インターフェース部9全通
して演算制御部6蝶ウエーハ1の中心位置およびオリフ
ラの位置全演算検出する。次いでそのめた位置全基準と
してさらに高精度の位置決めを行なうために次の作業を
行なう。
すなわち、ウェーハ1の中心位置および回転方向がウェ
ーハ位置検出器80レベルの精度で既知となったため、
次にXYzθテーブル2を移動させウェーハ上のろる特
定のチップパターン部分音ウェーハU識装fi[10下
の検出領域に入れることができる。演算制御部6は、ウ
ェーハ認識制御部11と父信しチップパターンからチッ
プの位置を高精度に演算認識する。このようなチップパ
ターンを予めウェーハ内の離れた位置に2個以上選定し
ておき、2個所以上の位置情報から、演算制御部6にお
いて最終的にウェーハ位置を所定の精度で検知する。
以上の作業でウェーハ1の位置がプローバ基準点に対し
高精度で既知になる。プローブ針群12の位置は演算制
御部6において既知でるるため、XYzθテーブル制御
ユニット5に指令を出してプローブ針群121にウェー
ハ1上のチップ内にあるポンディングパッドに正確に位
置決め接触させることができる。また、ウェーッ′−1
上の各チップ間のX方向ピッチ、Y方向ピッチの情報は
予め記憶されているので、ウェーハ1上の多数のチップ
を順次プロービングすることができる。
しかし、プローブカード13の交換また線取外し調整を
行なった場合には、一般にプローブ針群の位置が移動し
、演算制御部6に記憶されているプローブ針群12の位
置情報が無効となる。この場合、新たにグローバ装置ペ
ース7に装着されたグローブカード13についてプロー
ブ針群12の位置を検出する必要がある。そこで次にこ
の位置の検出および演算制御部6へのその位置情報のテ
ィーチイン作業が必ず必要になる。次にこの作業につい
て説明する。
まず、ろるウェーハをXYzθテーブル2に自動供給す
る。次にこのウェー71について、上述したウェーハ位
置検出作業を冥施させ、プローバ基準位置に対するウェ
ーハ位置を既知とする。ここで、手動操作によりXYZ
θステック14を操作し、XYzθテーブル2を移動さ
せ、ウェーハ1全の特定チップのポンディングパッドを
プローブ針群12に位置合せ接触させる。この位置合せ
作業にh顕微鏡15ケ使用し、目視により感応作業でポ
ンチインクパッドとプローブ針との相対位置の判定ヶし
、両者の目合せ一致を図る。この間、演算制御部6Fi
XYZθスデツク14にXYzθテーブル2か追従′f
るように、XYZθテーブル制御ユニット5に指令を出
しており、目合せ一致がとれたところでXYZθデープ
ル2の位置情報を位置検出部4〃)ら取り出し、XYz
θテーブル制御ユニット5を通じて演算制御部6にティ
ーチインさせる。
このように位置の既知なウェーッ蔦にグローブ針を目合
せし、その時のXYZ&テーブル2の位置情報を記憶す
ることによジ新たに装着されたプローブ針群の位置がプ
ローバ基準位置に対して既知となp演算制御部6に記憶
される。なお、これらの作業は演算制御部6に予めスト
アされた制御プログラム6a K*行によV笑施される
。
以上説明したように、従来のウェーッ\プローバ装置に
2いては、グローブカード全取外す毎に、プローブ針群
の位置検出作業およびその位置情報の演算制御部へのテ
ィーチイン作業が必要となる。
この作業は、顕微鏡下の目視作業でhv、熟#!を要す
るとともに時間を要する。また、感応作業のためティー
チインされる位置情報も正確さを欠き、ブロービングミ
スの低減は困難でめる。
〔発明の目的〕
本発明はこのような事情に鑑みてなされたもので、その
目的は、プローブ針群の位置検出およびその位置情報の
演算制御部へのティーチイン作業を正確かつ自動的に行
なうことが可能なウェー・〜プローブ針群を提供するこ
とにめる。
〔発明の概要〕
このような目的を達成するために、本発明は、対物受像
口とプローブ針群とをXYZ方向に相対スキャン運動さ
せるXYzスキャン機構部と、各受像口からの光学画像
を光学処理し電気信号に変換する光学撮像部と、上記電
気信号を画像処理してグローブ針像、つまり針寸法およ
び位置を認識するパターン認識処理部とを設け、その認
識結果情報から演算制御部においてプローブ針群の寸法
けらつきおよび平均位置を認識演算するようにしたもの
である。以下、実施例を用いて本発明の詳細な説明する
。
〔発明の実施例〕
第2図は本発明の一実施例を示す構成図である。
本実施例は、対物受像口15a をXYZθチーグル2
のXYZ可動部に取り付けたサポート16により支持し
XYzスキャン運動させることを特徴トする。XYZθ
テーブル2は、従来通りモータアンプ部3によ0XYZ
お↓び回転方向に駆動される。すなわちXYZθテーブ
ル2Vi、ウェーハ1全XYZおよび回転方向に移動さ
せるとともに対物受像口15aをXYZ方向に移動させ
る機能を兼ねている。
一方、受像口15a から入ったプローブ針群12の儂
ハ、ファイバースコープ17で送られ光学撮像部18に
おいてこの像の倍率を調整し、内蔵した撮像素子により
光学−電気変換する。また光源19はファイバーガイド
20により照明光を伝送し光学撮像部18内のハーフミ
ラ−およびファイバースコープ17全介して対物受像口
15a J: 9プロ一ブ針群12の照明を行ない、光
学画像のコントラストを調整する。
テレビ信号発生部21f′i、光学撮像部18内の撮像
素子を駆動し、またビデオ信号を発生させてパターン認
識処理部22にこれを伝送する。パターン認識処理部2
2は、ビデオ信号をデジタル化し、メモリに記憶させ、
記憶された画像情報を・・−ド的に実時間で処理する方
式または内蔵した演算回路のソフト処理による方式など
によりプローブ針群12の位置およびばらつき程夏を認
識する。
演算制御部6はこのパターン認識処理部22とインター
フェースし、認識に必要な情報を与えるとともに認識結
果情報を受け取り、最終的にブロービング12の位置お
よびばらつきなどを演nVCよりめ決定する。
本実施例によれば、通常のブロービング作業は従来通り
行なえるとともに、グローブカード13を交換したとき
などのプローブ針群12の位置検出作業すなわち、ティ
ーチイン作業を自動で行なうことができる。次に、この
作業について説明する。
グローバ装置ベースff新たに着装されたプローブカー
ド13は、グローピング作業ができる程の位i1精琥は
持たないがXY方向においでf1mm以内には入ってい
る。しfCがって、XYZθテーブルを予め決めておい
た位置に移動させたとき、対物受像口15a はプロー
ブ針群12の像を捕えることができる。第3図において
円Aで示した範囲がこのときの対物受像口15a の視
野とする。
位置検出¥t1度′fc3μmとした場合グローブ針1
2aを3本程度視野に入れるようにする。
次に、XYzθテーブル2tZ方向にスキャンしながら
パターン認識処理部22を制御し、対物受181015
aのフォーカスを自動調整する。演算制御部6において
、このときの位置検出センサの2方向の位置情報を位置
検出部4よジ読めば、A視野でのプローブ針群の高さ、
すなわち2位置が既知となる。さらにA視野の画像をパ
ターン認識処理部22における別のハードおよびソフト
処理することによりグローブ針12aの先端位置および
先端ピッチを認識し検知する。演算制御部6においてこ
の情報を記憶することにより、A視野のプローブ針12
aの位置および先端のばらつきが既知となる。
次いでXYZθテーブル2を駆動し対物受像口15a 
全Bの視野までスキャンさせる。B視野でも上述したと
同様のパターン認識処理を行ない、B視野でのプローブ
針の位置および先端のばらつきが既知となる。さらに、
例えばC,D視野について、あるいはさらに多くの視野
について同様に認識し、そこでのグローブ針の位置およ
び先端のばらつきが既知となる。
演算制御部1、これらの視野の位置データを総合し、演
算してプローブ針群12のXYz平均位置および回転を
知り、位置検出作業が終了すると同時にティーチイン作
業も終了したこととなる。
なお、グローブ針の位置検出精度、光学撮像部18内の
I偉素子の分解能およびグローブカード13の大きさを
考慮し、受像ロ15aTh適宜スキャン運動させてプロ
ーブ針群12の必要位置検出精度を得る。
以上の作業は、演算制御部60制御プログラム6aに追
加した位置検出作業制御プログラム部6bの実行として
自動的に行な5゜ 次に、第4図は本発明の他の実施例を示す構成図でろる
。本実施例は、第1対物受像口24および第2対物受像
口25の2台の受像口を備え、それぞれ第1光学系XY
zスキヤン機構部26と第2光学系XYZスキヤン機構
部2Tに支柱28゜29により保持嘔れプローブ針群1
2をスキャンする構造をとっていることt−特徴とする
。
第1制御ユニツト30および第2制御ユニツト31は、
それぞれ第1光学系XYZスキヤン機構部26および第
2光学系xYzスキヤン機構部2Tの位置決め作業をコ
ントロールし、また現在位置を情報として保持し検出し
ていくことができる。
これら各制御ユニット30.31も、演算制御部60指
令により制御される。
第1対物受像口24お↓び第2対物受像口25から入る
光学像は、第1フアイバースコープ32、第2フアイバ
ースコープ33で光学転送され、それぞれ第1光学撮像
部34、第2光学撮像部35により、像の倍率をgte
された土で内蔵された撮像素子により電気信号に変換さ
れる。また、第1光源36および第2光源37は第2図
の例と同様に光学画像を得るための照明を行ない、さら
に画像のコントラストを調整する。第1テレビ信号発生
部38および第2テレビ信号発生部39もまた第2図の
例と同様に撮像素子全駆動させ、またビデオ信号を発生
させパターン[を処理部40に伝送する。パターン認識
処理部40は、第1テレビ信号発生部3Bおよび第2テ
レビ信号発生部3902チャンネルに指合金出17、ま
た伝送された2チヤンネルのビデオ信号を処理する。
本実施例では、XYzθテーブル2f′f、モータア7
1部3、位置検出部4によりコントロールされ、またX
YZθテーブル制御ユニット51に介して演算制御部6
に接続される。ウェーッ・位置検出器も、ウェーハ位置
検出インターフェース部9を介して演算制御部6に接続
されるが、第2Nのウェーッ)gPQ装Bioおよびウ
ェーッ・認識制御部11のようなプローブ針止12から
離れた位置でチツプノくターンを高精度で認識するとい
う方式社とらず、プローブ釦#12直下でチップパター
ン像をと9、パターン認識処理11i4LIで高精度の
認識、位置決め勿行なう方式全とることに/I?徴とす
る。次に本実施例におりるこrしらのブロービング作業
を説明する。
グローブカード13の父換または取外し調整作業全実施
した場合、本実施例においても、プローブ針群の位置と
通常のブロービング作業の前に予め検出しておいた方が
ブロービング作業時間全短縮するために有利でめるので
、まずこのティーチイン作業について説明する。
ブローバ装置ベース7にセットされたプローブカード1
3のベース7に対する取付精度は、低くはるってもめる
範囲内に入るため、第1元学系XYZスキャン機構部2
6により第1対物受像口24を予め決定された特定位置
に移動させたとき例えば第3図の視野Aの像が第1対物
受像口24で得ることができる。さらに同様の作業に↓
ジ第2対物受像ロ25に視野Cの像を得ることができる
。
次いで第2図の例と同様に第1対物受像口24でプロー
ブ針12a先端のフォーカス自動合せおよび視野A〃・
ら視野Bまでのスキャン動作をさせ、また第2対物受像
口25でもプローブ針先端のフォーカス自動合せおよび
視野C2)=らDへのスキャン動作を行なわせることな
どにより、グローブ針の位置および寸法ばらつきが演算
制御部6においてめられる。これにより、プローブ針群
12の位置および寸法ばらつきが既知とカリ、ティーチ
イン作業が終る。
次に、グローピング作業について説明する。投入された
ウェーッ・1は、XYZθテーブル2に固着され、従来
装置と同様にウェーッ・位置検出器8にニジウェー・・
1の中心位置およびオリフラ付備。
が検出される。これにより、ウェーッ1の粗い位置情報
が既知となる。
次いでXYZθテーブル2を特定の位1!1まで駆動位
置決めさせると、第1対物受像口24および第2対物受
像口25によpそれぞれ第5図に示した視野Eおよび視
野Fを捕えることができる。先に述べたプローブ針の位
gl認識と同様にウェー711上のチップ41のパター
ン像を処理し、チップのXYZ位置寸法および回転角を
演算にJ、請求める。これによりウェー・・の位置が高
精度で既知となる。ここでウェーッ・の位置情報と先に
めたグローブ針の位置情報とから両者のずれ量を算出し
、そのずれiをなくす方向で、プローブ針群12にウェ
ーハ1上のチップ内にるるポンプイングツ(ラド42に
第6図に示したように正確に位置決め接触させることが
できる。
本実施例ではさらに次のような閉ループによる位置決め
作業によジ、さらに傷頼性の高いブロービング作業が行
なえる。すなわち、対物受像口がプローブ針群12とポ
ンディングパッド42が位置決め接触されたときのプロ
ーブ針群、チップパターンの画像の同時取込みのできる
配置であるため、高精度で相対位置ずれ量をg識できる
とともに、このずれ量を次のピッチ移動後のチップにお
けるXYzθテーブル2の位置決めにフィードバックし
、ここでもグローブ針、チップパターンの同時画像を得
て順々に次のチップへとずれ量をフィードバック修正し
て行く閉ループ位置決め作業が可能となる。これらの作
業は、演算制御部60制御プログラム6cの実行として
行なう。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明によれば、対物受像口とプ
ローブ針群とをXYZ方向に相対スキャン運動させるX
Yzスキャ/機構部と、各受像口からの光学画像を電気
信号に変換する光学撮像部と、上記電気信号を画像処理
してプローブ針寸法を認識するパターン認識処理部とを
設けたことにより、プローブ針群の位置検出および当該
位置情報のティーチイン作業を手動で行なう必要がなく
なり、顕微鏡下の目視作業も不要となる。このため、作
業のスピードアップが図れるとともに、ブロービングミ
スも減少させることができる。特に対物受像口をプロー
ブ針群とチップパターンとの重なった光学画像が得られ
る配置とし、閉ループ方式をとることにより、ブロービ
ング作業の信頼就をさらに向上させることが可能となる
。
【図面の簡単な説明】
第1図社従来のウエーハプローバ装置の一例を示す構成
図、第2図は本発明の一実施例を示す構成図、第3図は
対物受像口の視野を説明するための平面図、兜4図は本
発明の他の実施例を示す構成図、第5図は対物受像口の
視野を説明するための平面図、第6図はブロービング完
了状態を示す平面図でろる。 1・・・・つx−ハ、2・・・・XYZθテーブル、6
・・・・演算制御部、6a ・・・・制御プログラム、
6b ・・・・位置検出作業制御プログラム、6c −
争・―演算制御プログラム、15a。 24.25−・・一対物受像口、18,34.35・・
・・光学撮像部、22.40・・・・パターン認識処理
部、26.27・争・・光学系XYZスキャン機構部、
34.35・・・・光学撮像部、40・・・・パターン
認識処理部。 代理人 弁理士 高 橋 明 夫 第1図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 i、xyzθテーブル上の被ブロービングウェーハにプ
    ローブ針群を接触させてブロービングラ行なうウエーハ
    プローバ装置において、少なくとも1個の対物受像口を
    備え当該受像口とプローブ針群とをXYz方向に相対ス
    キャン運動させるXYZスキャン機構部と、上記各受像
    口からの光学面11Iを光学処理し電気信号に変換する
    光学撮像部と、上記電気信号全画像処理しプローブ針像
    を認識するパターン認識処理部と、上記XYZスキャン
    機構部およびパターン認識処理部を駆動制御するととも
    にパターン認識処理部による認識結果情報からプローブ
    針群の寸法ばらつきおよび平均位置を認識演算する演算
    制御部とを設けたことを特徴とするウェー2、プローバ
    装置。 2、対物受像口をプローブ針群と被ブロービングウェー
    ハ上のチップパターンとの重なった光学画像が得られる
    配置とし、対物受像口、光学撮像部、パターン認識処理
    部および演算制御部によジ上記グローブ針群およびチッ
    プパターンの光学画像の位置関係情報1xyzθテーブ
    ルの駆動出力にフィードバックする閉ループを構成した
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のウェーッ
    ・プローバ装置。
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