JPS60228070A - 両面研摩装置 - Google Patents
両面研摩装置Info
- Publication number
- JPS60228070A JPS60228070A JP60058312A JP5831285A JPS60228070A JP S60228070 A JPS60228070 A JP S60228070A JP 60058312 A JP60058312 A JP 60058312A JP 5831285 A JP5831285 A JP 5831285A JP S60228070 A JPS60228070 A JP S60228070A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- surface plates
- films
- sides
- abrasive
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、ウェーハ、磁気ディスク、水晶振i動板など
の薄板材の両面研摩装置に関するものである。
の薄板材の両面研摩装置に関するものである。
従来の両面研摩装置を図に従って説明する。
第1図は両面ラップ盤と呼ばれ、鋳鉄やその他の金属の
上、下定盤1,2とそれぞれの定盤の間に、加工物3を
配置したキャリア4をはさみ、それぞれを相対運動させ
、遊離砥粒を分散させた研摩剤5を供給しながら加工物
5の両面をラッピングする装置であり、また第2図は両
面ボリシ盤と呼ばれ、前記上、下定盤の表面にボリシン
グクロス6,7を張り付け、加工物5およびキャリア4
をはさみ、ラッピングと同様に両面を研摩する装置であ
る。両面ラッピングでは、平面度が良く、周辺部ブレが
少なく形状精度の良い加工面を得る加工法であるが、加
工時間とともに上、下定盤の形状精度が劣化し、このた
め定期的に定盤修正作業を必要とし、研摩作業を中断し
なげればならない。また遊離砥粒を用い、砥粒の転動作
用による加工が主となる加工機構であるので、加工面が
梨地面となり鏡面が得にく(、また遊離砥粒を分散させ
研摩剤を作成する作業が必要であり、さらに研摩剤の飛
散等で作業環境が悪い。
上、下定盤1,2とそれぞれの定盤の間に、加工物3を
配置したキャリア4をはさみ、それぞれを相対運動させ
、遊離砥粒を分散させた研摩剤5を供給しながら加工物
5の両面をラッピングする装置であり、また第2図は両
面ボリシ盤と呼ばれ、前記上、下定盤の表面にボリシン
グクロス6,7を張り付け、加工物5およびキャリア4
をはさみ、ラッピングと同様に両面を研摩する装置であ
る。両面ラッピングでは、平面度が良く、周辺部ブレが
少なく形状精度の良い加工面を得る加工法であるが、加
工時間とともに上、下定盤の形状精度が劣化し、このた
め定期的に定盤修正作業を必要とし、研摩作業を中断し
なげればならない。また遊離砥粒を用い、砥粒の転動作
用による加工が主となる加工機構であるので、加工面が
梨地面となり鏡面が得にく(、また遊離砥粒を分散させ
研摩剤を作成する作業が必要であり、さらに研摩剤の飛
散等で作業環境が悪い。
両面ボリシングでは、一般的にラッピングに較べ表面粗
さは良く、鏡面を得る加工法であイが、上、下定盤に張
りつけたボリシング、クロスは人工皮革や繊維から構成
され、厚さが0.5〜’1rninの弾性体であり、こ
の弾性変形によつ℃。
さは良く、鏡面を得る加工法であイが、上、下定盤に張
りつけたボリシング、クロスは人工皮革や繊維から構成
され、厚さが0.5〜’1rninの弾性体であり、こ
の弾性変形によつ℃。
加工物の周辺部ダレが大きく生じやす(、平面度の良い
加工面を得ることが難しい。また、加工物の被加工面が
大きくなると、ポリシング。
加工面を得ることが難しい。また、加工物の被加工面が
大きくなると、ポリシング。
クロスと加工面との間に新しい遊離砥粒が介在4しに(
<、加工面にはオレンジビールなどの欠陥が生じやす(
なる。
<、加工面にはオレンジビールなどの欠陥が生じやす(
なる。
さらに、研摩剤の供給方法は、上定盤を通し、上、下定
盤の間に供給するが、遊離砥粒が下足。
盤の間に供給するが、遊離砥粒が下足。
盤の表面に蓄積され、加工物の両面に対する作。
用砥粒数が異なるため、加工物の両面で加工量。
差が生じる欠点がある。
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をな(し、周
辺部ダレの少ない高度な平面度かつスクラッチやオレン
ジビールなどの表面欠陥のない鏡面を得る、薄板平板の
両面を同時に研摩、。
辺部ダレの少ない高度な平面度かつスクラッチやオレン
ジビールなどの表面欠陥のない鏡面を得る、薄板平板の
両面を同時に研摩、。
する装置を提供するにある。
本発明は、加工面の周辺部ダレを防ぎ、鏡面を得るため
、微細砥粒な数十μmの厚さのポリエステルフィルムに
固着した研摩フィルムを平面形状に加工した金属定盤あ
るいはセラミック定盤に張り付け、研摩液を供給しなが
らそれぞFの上、下定盤および加工物、キャリアを相対
幻勅させ薄板平板の両面を研摩する。更に上、]定盤に
は、加工中の温度上昇による平面度劣化を防ぐため冷却
機能を具備し、また研摩フィAムからの脱落砥粒や研摩
屑を排除するためにクロスカットあるいは放射状に溝を
形成する。
、微細砥粒な数十μmの厚さのポリエステルフィルムに
固着した研摩フィルムを平面形状に加工した金属定盤あ
るいはセラミック定盤に張り付け、研摩液を供給しなが
らそれぞFの上、下定盤および加工物、キャリアを相対
幻勅させ薄板平板の両面を研摩する。更に上、]定盤に
は、加工中の温度上昇による平面度劣化を防ぐため冷却
機能を具備し、また研摩フィAムからの脱落砥粒や研摩
屑を排除するためにクロスカットあるいは放射状に溝を
形成する。
上記した薄い研摩フィルムを張りつけた上。
下定盤を用いることによって、加工面は鏡面を得、また
周辺部ダレの少ない高度な平面度を携る。また従来の遊
離砥粒にかわって微細砥粒な固着した固定砥粒を用いる
ので、オレンジピールの発生がほとんどない良好な加工
面を得る。
周辺部ダレの少ない高度な平面度を携る。また従来の遊
離砥粒にかわって微細砥粒な固着した固定砥粒を用いる
ので、オレンジピールの発生がほとんどない良好な加工
面を得る。
また研摩フィルムの劣化による工具交換は研摩フィルム
を張り換えるだけで良く、定盤の平面度劣化を防ぐ。さ
らには、固定砥粒な用(・るので従来の遊離砥粒な研摩
液忙分散した研摩剤を必要とせず研摩液のみの供給で良
く、加工物の両面で均一な加工量を得る。
を張り換えるだけで良く、定盤の平面度劣化を防ぐ。さ
らには、固定砥粒な用(・るので従来の遊離砥粒な研摩
液忙分散した研摩剤を必要とせず研摩液のみの供給で良
く、加工物の両面で均一な加工量を得る。
実施例を図に従って説明する。第5図は本発明の一実施
例を示す両面研摩機の断面図である。
例を示す両面研摩機の断面図である。
冷却孔11を内蔵し、クロスカットの溝を表面に形成し
た径24インチのステンレス製の上、下定盤1,2これ
らの定盤の間に配置し、加工物5を回転駆動させる4〜
5個のキャリア4、これら。
た径24インチのステンレス製の上、下定盤1,2これ
らの定盤の間に配置し、加工物5を回転駆動させる4〜
5個のキャリア4、これら。
のキャリア4を遊星運動させるセンタキア12゜インタ
ーナルギア15.また上、下定盤1.2の表面に張り付
けた研摩フィルム8,9およヒ研摩i供給部10から成
る両面研摩機において、粒度−#8000のアルミナ砥
粒を+MILのポリエステルフィルムに固着した研摩フ
ィルム8,9を上、下定盤に張り付けた。このとき、研
摩フィルムは第4図に示すごとく定盤の溝によって数十
μ扉の凹部が存在した。研摩圧50奉にて研摩液を供給
し、上、下定盤を水冷させながら板厚2rILrnのア
ルミ円板を両面研摩した。前加工面粗さ2〜5μmの加
工面に対し、周辺部ダレが少なく、平面度の高い、表面
粗さ0.01μm7LRα以下の鏡面を得た。
ーナルギア15.また上、下定盤1.2の表面に張り付
けた研摩フィルム8,9およヒ研摩i供給部10から成
る両面研摩機において、粒度−#8000のアルミナ砥
粒を+MILのポリエステルフィルムに固着した研摩フ
ィルム8,9を上、下定盤に張り付けた。このとき、研
摩フィルムは第4図に示すごとく定盤の溝によって数十
μ扉の凹部が存在した。研摩圧50奉にて研摩液を供給
し、上、下定盤を水冷させながら板厚2rILrnのア
ルミ円板を両面研摩した。前加工面粗さ2〜5μmの加
工面に対し、周辺部ダレが少なく、平面度の高い、表面
粗さ0.01μm7LRα以下の鏡面を得た。
比較例:厚さ1.4mmのポリシングクロスを上、下定
盤に張り付け、粒径1.0μm以下の微細粒子を水溶性
研摩液に分散させた研摩剤を供給しながら、実施例1と
同一条件でボリシングした結果、加工面にはオレンジピ
ールの表面欠陥が生じやすく、周辺部ダレも大きく、平
面度も実施例に較べ約2倍以上となった。
盤に張り付け、粒径1.0μm以下の微細粒子を水溶性
研摩液に分散させた研摩剤を供給しながら、実施例1と
同一条件でボリシングした結果、加工面にはオレンジピ
ールの表面欠陥が生じやすく、周辺部ダレも大きく、平
面度も実施例に較べ約2倍以上となった。
以上説明したように本発明によれば、数十μmのポリエ
ステルフィルムに微細砥粒を固着した研摩フィルムを、
冷却機能を内蔵し、表面に溝を形成した上、下定盤に張
り付け、薄板平板を両面研摩することによって、従来の
ボリシングクロスを用いた両面研摩法と較べ、周辺部ダ
レが少な(、平面度が向上し、しかも加工能率良(鏡面
を得ることができる。また固定砥粒の研。
ステルフィルムに微細砥粒を固着した研摩フィルムを、
冷却機能を内蔵し、表面に溝を形成した上、下定盤に張
り付け、薄板平板を両面研摩することによって、従来の
ボリシングクロスを用いた両面研摩法と較べ、周辺部ダ
レが少な(、平面度が向上し、しかも加工能率良(鏡面
を得ることができる。また固定砥粒の研。
摩フィルムを用いるので、研摩液を供給するだけで良く
、従来の遊離砥粒を分散させ、凝集さ。
、従来の遊離砥粒を分散させ、凝集さ。
せずに加工機まで供給する手段が不要となり、しかも加
工面精度においても砥粒の転動作用によるオレンジピー
ルの発生を非常に少なくする。
工面精度においても砥粒の転動作用によるオレンジピー
ルの発生を非常に少なくする。
ことができ、また加工物の両面で加工量が均一となる。
また、両面ラッピングの場合に必要である定。
盤修正作業が不要であり、常に高精度な加工面。
精度を得ることができる。
第1図は、従来の両面ラップ盤の概略図、第2図は従来
の両面ポリシ盤の概略図、第5図は本発明による研摩フ
ィルムを用いた両面研摩装置の概略図、第4図は上、下
定盤に研摩フィルムを張りつけた状態の断面図である。 8.9・・・研摩フィルム 10・・・研摩液供給部 11・・・冷却孔 12・・・センターギア 15・・・インターナルギア 第 1 図 第 2 口 埠 3 図
の両面ポリシ盤の概略図、第5図は本発明による研摩フ
ィルムを用いた両面研摩装置の概略図、第4図は上、下
定盤に研摩フィルムを張りつけた状態の断面図である。 8.9・・・研摩フィルム 10・・・研摩液供給部 11・・・冷却孔 12・・・センターギア 15・・・インターナルギア 第 1 図 第 2 口 埠 3 図
Claims (1)
- 冷却用空孔部を有し、且つ相対する表面にクロスカット
あるいは放射状の溝を形成し、更に微細砥粒を数十μm
厚のポリエステル上に固着した研摩フィルムを表面に張
り付けた上、下定盤を設け、試料に研摩液を供給する供
給部を設け、上記上、下定盤の間に試料およびキャリア
を介し、上、下定盤およびキャリアを回転させながら試
料の両面を研摩するように構成したことを特徴とする両
面研摩装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60058312A JPS60228070A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 両面研摩装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60058312A JPS60228070A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 両面研摩装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60228070A true JPS60228070A (ja) | 1985-11-13 |
Family
ID=13080728
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60058312A Pending JPS60228070A (ja) | 1985-03-25 | 1985-03-25 | 両面研摩装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60228070A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995029039A1 (en) * | 1994-04-22 | 1995-11-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Separation type grinding surface plate and grinding apparatus using same |
| EP1031398A3 (en) * | 1999-02-25 | 2002-05-22 | Obsidian, Inc. | Polishing media stabilizer |
| US6485359B1 (en) | 2000-09-15 | 2002-11-26 | Applied Materials, Inc. | Platen arrangement for a chemical-mechanical planarization apparatus |
| US6561884B1 (en) | 2000-08-29 | 2003-05-13 | Applied Materials, Inc. | Web lift system for chemical mechanical planarization |
| US6837964B2 (en) | 2001-08-16 | 2005-01-04 | Applied Materials, Inc. | Integrated platen assembly for a chemical mechanical planarization system |
| JP2017144495A (ja) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | 国立研究開発法人海洋研究開発機構 | 仕上研磨用定盤、仕上研磨装置 |
| JP2020128008A (ja) * | 2020-05-26 | 2020-08-27 | 国立研究開発法人海洋研究開発機構 | 仕上研磨用定盤、仕上研磨装置及び研磨方法 |
-
1985
- 1985-03-25 JP JP60058312A patent/JPS60228070A/ja active Pending
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1995029039A1 (en) * | 1994-04-22 | 1995-11-02 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Separation type grinding surface plate and grinding apparatus using same |
| US6083083A (en) * | 1994-04-22 | 2000-07-04 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Separation type grinding surface plate and grinding apparatus using same |
| EP1031398A3 (en) * | 1999-02-25 | 2002-05-22 | Obsidian, Inc. | Polishing media stabilizer |
| US7040964B2 (en) | 1999-02-25 | 2006-05-09 | Applied Materials, Inc. | Polishing media stabilizer |
| US7381116B2 (en) | 1999-02-25 | 2008-06-03 | Applied Materials, Inc. | Polishing media stabilizer |
| US6561884B1 (en) | 2000-08-29 | 2003-05-13 | Applied Materials, Inc. | Web lift system for chemical mechanical planarization |
| US6485359B1 (en) | 2000-09-15 | 2002-11-26 | Applied Materials, Inc. | Platen arrangement for a chemical-mechanical planarization apparatus |
| US6837964B2 (en) | 2001-08-16 | 2005-01-04 | Applied Materials, Inc. | Integrated platen assembly for a chemical mechanical planarization system |
| JP2017144495A (ja) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | 国立研究開発法人海洋研究開発機構 | 仕上研磨用定盤、仕上研磨装置 |
| WO2017141812A1 (ja) * | 2016-02-15 | 2017-08-24 | 国立研究開発法人海洋研究開発機構 | 仕上研磨用定盤、仕上研磨装置、及び研磨方法 |
| JP2020128008A (ja) * | 2020-05-26 | 2020-08-27 | 国立研究開発法人海洋研究開発機構 | 仕上研磨用定盤、仕上研磨装置及び研磨方法 |
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